一种PLC测试装置及方法与流程

文档序号:19490799发布日期:2019-12-24 13:47阅读:292来源:国知局
一种PLC测试装置及方法与流程

本发明涉及plc测试技术领域,具体涉及一种plc测试装置及方法。



背景技术:

老化就是让电子元器件进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现,避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化,很多电子元器件产品由于器件和制造过程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。因此为了达到满意的合格率,几乎所有电子元器件产品在出厂前都要先藉由老化然后进行测试。plc产品也不例外。

然而老化测试不可避免的会带来不少的成本问题,主要由以下几个问题:

1)老化时间成本。

2)老化和测试两个步骤的效率成本。

3)同类型不同型号产品的老化测试设备成本。

所以为了节省生产成本,克服以上测试效率及成本问题就成了重中之重。



技术实现要素:

为解决现有技术中的不足,本发明提供一种plc测试装置及方法,解决了现有技术中plc测试成本高、效率低的技术问题。

为了实现上述目标,本发明采用如下技术方案:

一种plc测试装置,包括框架及安装于框架的加热组件、组装测试组件;加热组件用于向测试的plc提供热气流;

组装测试组件包括底板、模块上平台、夹持装置及探针组件,底板连接于框架,夹持装置包括x轴夹持装置、y轴夹持装置,x轴夹持装置包括固定连接于模块上平台的端部定位块及连接于模块上平台的、可相对端部定位块滑动的夹紧压板,y轴夹持装置包括固定连接于底板的固定侧挡边、可相对固定侧挡边滑动的活动侧挡边;

探针组件包括输入探针组件、输出探针组件,输入探针组件包括可沿y轴滑动的输入端长型探针、输入端短型探针,输入端长型探针、输入端短型探针还连接可沿x轴滑动的横移装置,

输出探针组件包括可沿y轴滑动的输出端长型探针、输出端短型探针。

优选,前述的一种plc测试装置,加热组件包括加热板、散热片及散热风扇,散热片连接于加热板,散热风扇用于调节控制plc老化的温度。

优选,前述的一种plc测试装置,还包括自动门系统,自动门系统包括防护门、至少两根导杆、分别连接于导杆两端的自动门前固定板、自动门后固定板,防护门与自动门后固定板之间还设有用于驱动防护门沿着导杆滑动的笔形气缸,自动门前固定板、自动门后固定板连接于框架。

优选,前述的一种plc测试装置,输入端长型探针还设有定位装置,当输入端长型探针连接plc的输入口时,定位装置用于锁定横移装置。

优选,前述的一种plc测试装置,组装测试组件还包括用于检测plc是否存在的存在检测传感器。

优选,前述的一种plc测试装置,还包括用于检测夹紧压板位置的多个夹紧检测传感器。

优选,前述的一种plc测试装置,横移装置包括直线滑轨、可沿直线滑轨滑动的换位滑块,换位滑块连接换位气缸。

优选,前述的一种plc测试装置,还包括用于检测换位滑块位置的多个换位检测传感器。

优选,前述的一种plc测试装置,输入探针组件内沿还设有行程开关压条,行程开关压条连接压条检测传感器,压条检测传感器连接报警提示装置。

一种plc测试方法,当将plc放置于组装测试组件时,夹持装置将plc固定,夹紧检测传感器根据夹紧压板的位置检测plc的型号:

当检测的plc型号为siemenscpusr20时,输出端长型探针、输出端短型探针伸出与plc的输出端口接触;输入端长型探针与plc的输入端口接触;当夹紧检测传感器一、换位检测传感器二被同时触发时,探针才可通电;

当检测的plc型号为siemenscpusr40时,输出端长型探针、输出端短型探针伸出与plc的输出端口接触;输入端长型探针、输入端短型探针与plc的输入端口均接触;当夹紧检测传感器二、换位检测传感器一同时被触发时,探针才可通电。

本发明所达到的有益效果:

相对于现有技术,本发明自动化程度较高,不仅能够在对plc进行老化后直接进行测试,测试过程简洁、快速,提升老化测试效率;而且本发明能对多种plc进行老化和测试,降低多种plc老化测试的设备成本。

本发明的防反措施能够避免plc被放反。

本发明的安全防护措施能够避免探针误通电,确保探针连接正确之后再通电。

本发明的误操作防护措施能够避免输入探针未缩回时,横移装置动作,避免探针被折弯或与plc的输入口发生误触。

附图说明

图1是本发明整体结构轴测图;

图2是本发明组装测试组件轴测图;

图3是本发明组装测试组件俯视图;

图4是本发明组装测试组件剖视图;

图5是本发明组装测试组件正视图;

图6是本发明加热组件主视图;

图7是本发明自动门系统轴测图;

附图标记的含义:1-按钮面板;2-警示标示;4-框架;5-笔形气缸;6-气缸连接支架;7-自动门前固定板;8-导杆固定座;9-导杆;10-直线轴承;11-直线轴承垫块;12-防护门;13-透明板;14-自动门后固定板;15-加热组件底板;16-恒温加热板;17-温度传感器;18-散热片;19-金属保护罩;20-散热风扇;21-底板;22-存在检测传感器;23-端部定位块;24-长型探针安装板;25-直线滑轨固定块;26-直线滑轨;27-换位滑板;28-换位拨片;29-换位气缸;30-换位气缸安装座;31-换位调整螺钉;32-短型探针安装板;33-夹紧压板;34-夹紧垫块;35-活动侧挡边;36-模块上平台;37-底座立柱;38-输出端薄型气缸一;39-输出端长型探针;40-输出端薄型气缸二;41-输出端短型探针;42-行程开关压条;43-输入端长型探针;44-输入端薄型气缸一;45-换位检测螺栓一;46-输入端短型探针;47-输入端薄型气缸二;48-换位检测螺栓二;49-夹紧检测螺栓;50-夹紧固定板;51-活动挡边薄型气缸;52-夹紧薄型气缸;53-压条检测传感器;54-夹紧检测传感器一;55-换位检测传感器一;56-通用检测传感器支架;57-换位检测传感器二;58-夹紧检测传感器二;59-通用气缸连接块;60-探针;61-固定侧挡边;62-安全防护螺栓。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案,而不能以此来限制本发明的保护范围。

如图1至图7所示:本实施例公开了一种plc测试装置:包括框架4及安装于框架4的加热组件、组装测试组件;加热组件用于向测试的plc提供热气流,对plc进行老化。其中框架4包括框架本体及罩壳,其中罩壳上设有用于操作本实施例的按钮面板1及警示标示2。

组装测试组件包括底板21、模块上平台36、夹持装置及探针组件,其中,底板21安装在框架4上,底板21通过若干根等长的底座立柱37连接于模块上平台36,将整个组装测试组件分成两层。

夹持装置用于对需要测试的plc进行夹持,包括x轴夹持装置、y轴夹持装置,x轴夹持装置包括固定连接于模块上平台36的端部定位块23及连接于模块上平台36的、可相对端部定位块23滑动的夹紧压板33,夹紧压板33的夹持面设有弹性的夹紧垫块34,用于对plc起到保护的作用,同时增加夹持的弹性。夹紧压板33通过设置在模块上平台36下表面的夹紧薄型气缸52驱动。

y轴夹持装置包括固定连接于底板21的固定侧挡边61、可相对固定侧挡边61滑动的活动侧挡边35;活动侧挡边35通过安装在模块上平台36下表面的活动挡边薄型气缸51驱动。

探针组件用于通过若干探针60连接plc的各个端口,实现与plc的电连接。探针组件包括输入探针组件、输出探针组件。其中,输入探针组件包括可沿y轴滑动的输入端长型探针43、输入端短型探针46,两种探针分别通过输入端薄型气缸一44、输入端薄型气缸二47驱动,输入端薄型气缸一44、输入端薄型气缸二47安装在横移装置上,横移装置(其移动方向是图2中的x方向)的移动方向垂直于输入端薄型气缸一44、输入端薄型气缸二47的伸缩方向。

本实施例的横移装置包括直线滑轨26、可沿直线滑轨26滑动的换位滑块27,换位滑块27连接换位气缸29。为了检测输入端长型探针43、输入端短型探针46的横移位置,本实施例还设有多个换位检测传感器,具体包括用于检测换位滑块27位置的换位检测传感器一55及换位检测传感器二57,换位检测传感器一55、换位检测传感器二57均通过通用检测传感器支架56安装于底板21。

输出探针组件包括可沿y轴滑动的输出端长型探针39、输出端短型探针41,输出端长型探针39、输出端短型探针41分别通过安装在输出端薄型气缸一38、输出端薄型气缸二40驱动。需要说明的是:输出端长型探针39、输出端短型探针41、输入端长型探针43、输入端短型探针46均是多个探针60组成的多个探针组,为了便于探针60的连接及更换,输出端短型探针41与输出端薄型气缸二40之间、输入端短型探针46与输入端薄型气缸二47之间均通过短型探针安装板32进行连接;同样,输出端薄型气缸一38与输出端长型探针39之间、输入端长型探针43与输入端薄型气缸一44之间均通过长型探针安装板24进行连接。

本实施例的组装测试组件还包括用于检测plc是否存在的存在检测传感器22。

为了避免plc放置错误,本实施例输入探针组件内沿还设有行程开关压条42,行程开关压条42连接压条检测传感器53,压条检测传感器53连接报警提示装置。

加热组件为本实施例集成了plc的老化装置,降低plc老化测试的设备成本与时间成本,用于模拟plc在超负荷工作环境下的使用寿命,使plc在本实施例上老化之后再进行测试,即为plc提供热风,加热组件包括加热板16、散热片18及散热风扇20,散热片18连接于加热板16,散热风扇20用于调节控制plc老化的温度,为了便于温度控制,还包括用于实时检测加热板16温度的温度传感器17,加热组件的底部设有用于连接于底板21的加热组件底板15。

结合图1及图7:本实施例还包括自动门系统,自动门系统包括防护门12、至少两根导杆9、分别连接于导杆9两端的自动门前固定板7、自动门后固定板14,防护门12与自动门后固定板14之间还设有用于驱动防护门12沿着导杆9滑动的笔形气缸5,自动门前固定板7、自动门后固定板14连接于框架的罩壳上,防护门12最好还设有透明板13,用于对内部进行观察。

本实施例还公开了一种plc测试方法:现以siemenscpusr40和cpusr20两款plc为例进行说明,两款plc长度不同、宽度相同、plc接口位置少许不同。

当将plc放置于组装测试组件时,存在检测传感器22检测plc放置成功后,活动侧挡边35推动plc的一边,直到推动至固定侧挡边61,预留细微间隙,plc可在两个侧挡边内滑动,此时完成了plc在x方向滑动,操作夹紧压板33,使夹紧垫块34与端部定位块23共同固定plc。由于sr40与sr20的长度不同,使得夹紧压板33夹紧之后,夹紧压板33与端部定位块23之间的距离也不同,则会使夹紧固定板上的夹紧检测螺栓49对应的位置不同,夹紧检测传感器一54和夹紧检测传感器二58两个传感器其中一个被感应触发。

当plc为长度较短的cpusr20时,夹紧检测传感器一54被夹紧检测螺栓49触发,输出端长型探针39、输出端短型探针41伸出与plc的输出端口接触;输入端长型探针43与plc的输入端口接触。

当检测的plc型号为siemenscpusr40时,由于其长度较长,因此夹紧检测传感器二58被夹紧检测螺栓49所触发,输出端长型探针39、输出端短型探针41伸出与plc的输出端口接触;换位气缸29动作,带动换位滑板27移动至对应的plc位置,换位检测传感器一55被触发(当测试cpusr20时,换位检测传感器二57被触发)之后,输入端长型探针43、输入端短型探针46与plc的输入端口均接触。

当相应探针对plc的输入、输出口接触时,即可通电进行测试。当需要进行老化测试时,开启加热组件,可通过加热装置对plc进行老化,老化完成之后直接进行测试,效率高。

本实施例具有防反措施:因为plc放置时上下不可能放反,左右有可能放反,故而利用plc外形上底部一侧为直角、一侧为斜角这一特点,plc放入固定位置时,如果左右放反的话,plc直角侧将压在行程开关压42条上,使压条检测传感器53感应,从而判定放反错误。

安全防护措施:因为两种plc,金属探针通电220v,为避免损坏plc和其他的危险,当plc为短长度的plc时,必须夹紧检测传感器一54和换位检测传感器二57同时感应,金属探针才能通电;当plc为长长度的plc时,必须夹紧检测传感器二58和换位检测传感器一55同时感应,金属探针才能通电。

误操作防护措施:因为金属探针抵压在plc上时,如果没有收回就误操作移动换位气缸29,金属探针尺寸狭长纤细,容易损坏,并且金属探针带220v电也会损坏plc。因此输入端长型探针43还设有定位装置,当输入端长型探针43连接plc的输入口时,定位装置用于锁定横移装置。具体是在输入端薄型气缸一44的通用气缸连接块上安装有安全防护螺栓62,同时固定侧挡边61上对应有通孔,在输入端薄型气缸一44伸出时,安全防护螺栓62插入固定侧挡边61上的对应通孔中,起到固定、防止移动的误操作防护作用。

相对于现有技术,本发明自动化程度较高,不仅能够在对plc进行老化后直接进行测试,测试过程简洁、快速,提升老化测试效率;而且本发明能对多种plc进行老化和测试,降低多种plc老化测试的设备成本。

以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变形,这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。

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