一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置的制作方法

本发明涉及半导体自动测试设备测试领域，尤其是涉及自动测试设备的拓展卡助拔推进装置。

背景技术：

半导体自动测试设备测试是对集成电路或芯片进行检测，旨在通过对比测量电路或芯片的输出和理论值，确定集成电路或芯片功能是否满足客户需求的过程。测试方法为，通过测试拓展卡(loadboard)与探针台或封测机对接，实现集成电路或芯片的测试。测试拓展卡与半导体自动测试设备通过欧式插座连接在一起，使用时需要频繁更换测试集成电路板或芯片，因此就需要更换测试拓展卡，故测试拓展卡在现实应用环境中需要频繁的插拔。

在传统的测试设备上使用的是链条和钢丝的简易装置实现助拔机构的推进。推进的距离需要依靠定位装置来辅助完成推进距离的确认，但是推进的距离仍然不精准并且导致结构复杂，成本昂贵。

由于在手动插拔的过程中，不能保证每个欧式插座所受的力是相同的，就会把欧式插座的针插弯或者公母座配合的时候摩擦了过大，从而增加了欧式插座的磨损，进而减少了座子的使用寿命。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置，解决原来推进装置推进距离精度不够和结构复杂成本昂贵的问题，通过手柄扳手配合连杆的结构来实现。

参照图1，一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置，由手柄扳手1、手柄扳手固定板2、u型推进杆3、滚针轴承4、滑槽5、限位顶针6和固定轴7组成，所述滑槽5为圆弧形，限位顶针6塞在滑槽5中，只能在滑槽5中滑动；所述u型推进杆3开设有腰孔，腰孔套装在滚针轴承4上；所述滚针轴承4只能在u型推进杆3的腰孔中沿u型推进杆3运动的垂直方向滑动。

所述手柄扳手固定板2固定在测试设备上，所述手柄扳手1通过固定轴7与手柄扳手固定板2连接；所述滚针轴承4固定在手柄扳手1上。

所述的手柄扳手1有两种状态：推进状态和未推进状态，可以实现u型推进杆3的前后移动；当处于未推进状态时，手柄扳手1与u型推进杆3成90°，应用于本装置时在拨开脱机状态；当处于推进状态时，手柄扳手1与u型推进杆3成180°，相对于未推进状态，测试拓展卡向下压固定的距离，实现板卡上公母对插状态。

有益效果

本发明装置简单、成本低廉，能够保证每次推进距离固定，推进的距离精确，投入生产成本较低。

附图说明

图1为本发明的提出的一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置结构图。

图2为本发明提出的一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置工作状态-未推进状态图。

图3为本发明提出的一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置工作状态-推进状态图。

附图标记：1、手柄扳手；2、手柄扳手固定板；3、u型推进杆；4、滚针轴承；5、滑槽；6、限位顶针；7、固定轴。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。

一种半导体自动测试设备测试拓展卡助拔推进装置，手柄扳手固定板固定在测试设备上，手柄扳手通过固定轴与手柄扳手固定板连接，滚针轴承固定在手柄扳手上。

具体的，手柄扳手固定板开有滑槽，与限位卡针配合使用，达到限位的作用，实现对推进距离的把控。滚针轴承塞在u型推进杆上所开的腰孔上，推动u型推进杆前后滑动。

参照图2，显示的是未推进状态，手柄扳手与u型推进杆成90度，应用于本装置是在拔开脱离状态；

参照图3，显示的是推进状态，手柄扳手与u型推进杆成180度，在此位置，相对于上面的位置测试拓展卡向下压指定距离，以实现板卡上欧式插座的公母对插状态；通过这两种状态的切换可实现一定距离的精确推进。