1.一种圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：包括冲击衬套(1)和压装件(2)，所述冲击衬套(1)内具有沿其长度方向设置的冲击腔(10)，该冲击腔(10)一端敞口，并且截面为圆形，冲击腔(10)的侧壁上具有沿其长度方向设置的引线窗口(11)；
所述压装件(2)的外径小于等于冲击腔(10)的直径，其内具有用于固定待测电子组件的安装腔(20)，该安装腔(20)的轴线与压装件(2)的轴线相互垂直，所述压装件(2)的侧壁上具有与该安装腔(20)贯通的引线穿出孔(21)。
2.根据权利要求1所述的圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：所述压装件(2)包括以可拆卸方式相连的前压座(2a)和后压座(2b)，所述前压座(2a)和后压座(2b)均呈柱状结构，其中前压座(2a)上具有前弧形槽(2a0)，后压座(2b)上具有正对前弧形槽(2a0)设置的后弧形槽(2b0)，所述前弧形槽(2a0)和后弧形槽(2b0)合围形成所述安装腔(20)。
3.根据权利要求1所述的圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：所述压装件(2)上设有用于安装传感器的安装槽(22)。
4.根据权利要求1或3所述的圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：所述压装件(2)的一端具有以可拆卸方式设置的缓冲衬垫a(3)。
5.根据权利要求4所述的圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：所述缓冲衬垫a(3)呈圆柱状结构，其大小与压装件(2)相适应，并与所述压装件(2)同轴设置。
6.根据权利要求1所述的圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：所述冲击衬套(1)远离冲击腔(10)敞口的一端具有呈盘状的承载部(12)，所述承载部(12)直径大于或等于冲击腔(10)直径。
7.根据权利要求6所述的圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：所述承载部(12)外侧以可拆卸方式设有缓冲衬垫b(4)。
8.根据权利要求1所述的圆柱状电子组件径向冲击加载测试装置，其特征在于：所述安装腔(20)内设有能够限制待测电子组件轴向移动的限位结构。