导电胶的电阻检测装置的制作方法

本实用新型涉及导电胶性能检测技术领域，特别涉及一种导电胶的电阻检测装置。

背景技术：

目前，关于导电胶与接触基材之间的接触电阻的测试，在国际上还没有明确的标准以及相应的测试方法。虽然也有开发出一些测试仪器，专利公告号为cn206378533u的中国专利，公开了一种用于fip导电胶水的表面电阻测试装置，包括ⅰ号镀金电极、ⅱ号镀金电极，所述ⅰ号镀金电极上端、ⅱ号镀金电极上端分别电路接入到欧姆表的两端，所述ⅰ号镀金电极、ⅱ号镀金电极均固定在绝缘块中，所述ⅰ号镀金电极下端、ⅱ号镀金电极下端均与金属表面上的fip导电胶条相连，所述绝缘块上端设置有可拆装配种块，所述绝缘块侧端通过铰链与支座相连。该专利申请能够测试固化后fip导电胶条及其它弹性体导电材料的表面电阻。

但是，目前的测算仪器的设备一般都非常的昂贵，制样的方法也非常复杂，成本也较高。太过繁琐和昂贵的测试，提高了导电胶的研发成本，同时也大大的延长了导电胶的研发周期。

技术实现要素：

本实用新型为了解决上述技术问题而提出，目的在于提供一种导电胶的电阻检测装置。本实用新型的导电胶的电阻检测装置，通过设置将导电胶打入到导电胶限位片的限位槽内，然后在导电胶的两侧利用第一基材、第二基材盖覆，利用电阻检测组件分别连接第一基材和第二基材，从而能够检测出第一基材、第二基材以及导电胶作为整体时的总电阻，进而能够计算得出导电胶和第一基材、第二基材的接触电阻，所使用的工具和材料简单，制样效率高，测试成本低，适于在研发初期大致的测试导电胶与基材的接触电阻。

具体来说，本实用新型提供了一种导电胶的电阻检测装置，包括：

第一基材；

第二基材，层叠设置于所述第一基材上；

导电胶限位片，位于所述第一基材和所述第二基材之间，所述导电胶限位片上开设有镂空的限位槽；

电阻检测组件，连接所述第一基材和所述第二基材的相对的两侧，检测所述第一基材、所述第二基材以及所述导电胶作为整体时的总电阻。

相较于现有技术而言，本实用新型提供的导电胶的电阻检测装置，将导电胶打入到导电胶限位片的限位槽内，然后在导电胶的两侧利用第一基材、第二基材盖覆，利用电阻检测组件分别连接第一基材和第二基材，从而能够检测出第一基材、第二基材以及导电胶作为整体时的总电阻，然后通过对第一基材、第二基材以及导电胶的电阻率的计算、导电胶与第一基材、第二基材的接触面积的测量和计算，从而能够计算得出导电胶和第一基材、第二基材的接触电阻。本实用新型所使用的工具和材料简单，制样效率高，测试成本低，适于在研发初期大致的测试导电胶与基材的接触电阻。

另外，作为优选，所述电阻检测组件包括：

电阻测试仪；

电阻探针，具有两个，所述电阻探针的一端连接所述电阻测试仪、另一端连接所述第一基材或者所述第二基材。

根据该优选方案，利用电阻测试仪和电阻探针测量第一基材、第二基材以及导电胶作为整体时的总电阻，具有设备简单，测量快速精准等优点。

进一步地，作为优选，所述第一基材、所述第二基材以及所述导电胶限位片的外围轮廓一致。

根据该优选方案，能够在将导电胶限位片盖覆在第一基材上、将第二基材盖覆在导电胶限位片上时，将三者进行整理，使其轮廓完全一致，从而方便对第一基材、第二基材以及填充在导电胶限位片内的导电胶进行检测。

另外，作为优选，所述导电胶限位片呈正方形板状设置，所述导电胶限位片的边长为10～30mm，厚度为0.5～2mm。

进一步地，作为优选，所述导电胶限位片的边长为20mm，厚度为1mm。

根据该优选方案，位于导电胶限位片的限位槽中的导电胶，其与第一基材、第二基材的接触面积以及厚度均是以1为开头的，在利用测量出的总电阻进行接触电阻的计算时，能够减少计算误差，从而提高计算出的接触电阻的精准度。

另外，作为优选，所述限位槽的槽口大小为100mm2。

根据该优选方案，不论限位槽的形状如何，只要保证限位槽的槽口大小为100mm2，也就保证了位于限位槽中的导电胶与第一基材第二基材的接触面积以1为开头，在利用测量出的总电阻进行接触电阻的计算时，能够减少计算误差，从而提高计算出的接触电阻的精准度。

另外，作为优选，所述限位槽呈正方形槽设置，所述限位槽的边长为10mm。

根据该优选方案，正方形的限位槽结构简单，方便制作，且位于限位槽中的导电胶与第一基材第二基材的接触面积以1为开头，在利用测量出的总电阻进行接触电阻的计算时，能够减少计算误差，从而提高计算出的接触电阻的精准度。

另外，作为优选，所述限位槽呈圆形槽设置，所述限位槽的半径为10mm。

根据该优选方案，圆形的限位槽结构简单，方便制作。

另外，作为优选，所述导电胶限位片为一体成型的聚四氟乙烯片，所述第一基材和所述第二基材均为由金属制成的一片式板状。

根据该优选方案，导电胶限位片不可导电，从而在进行电阻的测量时，测量出的结果不受到导电胶限位片的影响。而金属制的第一基材和第二基材具有导电能力，从而能够与导电胶一起作为整体进行电阻的测量，并且，金属制的第一基材、第二基材的电阻较低，还可以在对电阻测量要求不高的情况下，将第一基材和第二基材的电阻忽略，简化导电胶与第一基材、第二基材的接触电阻的计算。

附图说明

图1是本实用新型第一实施方式中第一基材、第二基材以及导电胶限位片的示意图；

图2是本实用新型第一实施方式中导电胶的电阻检测装置的整体示意图；

图3是本实用新型第一实施方式中第一基材、第二基材以及导电胶限位片作为整体的剖视图；

图4是是本实用新型第二实施方式中导电胶限位片的结构示意图。

附图标记说明：

1、第一基材；2、第二基材；3、导电胶限位片；4、限位槽；5、导电胶；6、电阻检测组件；7、电阻测试仪；8、电阻探针。

具体实施方式

下面结合说明书附图，对本实用新型进行进一步的详细说明。附图中示意性地简化示出了导电胶的电阻检测装置的结构等。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

实施方式一

本实用新型的第一实施方式提供了一种导电胶的电阻检测装置，参见图1和图2所示，包括第一基材1、第二基材2以及位于第一基材1和第二基材2之间的导电胶限位片3，在导电胶限位片3上开设有镂空的限位槽4，导电胶5（见图3）注入限位槽4内，第一基材1、导电胶限位片3以及第二基材2层叠设置。导电胶的电阻检测装置还包括有电阻检测组件6，电阻检测组件6连接第一基材1和第二基材2的相对的两侧，检测第一基材1、第二基材2以及导电胶5作为整体时的总电阻。

相较于现有技术而言，本实施方式一提供的导电胶的电阻检测装置，将导电胶5打入到导电胶限位片3的限位槽4内，然后在导电胶5的两侧利用第一基材1、第二基材2盖覆，利用电阻检测组件6分别连接第一基材1和第二基材2，从而能够检测出第一基材1、第二基材2以及导电胶5作为整体时的总电阻，然后通过对第一基材1、第二基材2以及导电胶5的电阻率的计算、导电胶5与第一基材1的接触面积的测量和计算，从而能够计算得出导电胶5和第一基材1的接触电阻。本实施方式一所使用的工具和材料简单，制样效率高，测试成本低，适于在研发初期大致的测试导电胶5与第一基材1、第二基材2的接触电阻。

具体的，在使用时，将第一基材1放置于水平桌面上，将导电胶限位片3层叠设置于第一基材1上，向导电胶限位片3的限位槽4内打入导电胶5，为保证导电胶5充分填充在限位槽4内并与第一基材1、第二基材2良好接触，过量地打入导电胶5，然后将溢出到限位槽4外的导电胶5用刮刀刮除干净。然后，将第二基材2层叠于导电胶限位片3上，并在第二基材2上压上重物，等待导电胶5固化成型，制样成功。然后，将固化成型后的第一基材1、填充有导电胶5的导电胶限位片3以及第二基材2作为整体，使用电阻检测组件6测量整体的整体电阻r总。

整体电阻r总包括第一基材1和第二基材2的自身电阻，导电胶5与第一基材1和第二基材2的两个接触电阻以及导电胶5自身的电阻r胶。本实施方式中，第一基材1和第二基材2的材质相同，因此，第一基材1和第二基材2的自身电阻为r基材，导电胶5与第一基材1和第二基材2的接触电阻均为r接触，也即r总=2r基材+2r接触+r胶。电阻率的计算公式为r=ρl/s，因此r总=2r基材+2r接触+r胶=2ρ基材*h基材/s基材+2r接触+ρ胶*h胶/s胶,r接触=（r总-2ρ基材*h基材/s基材-ρ胶*h胶/s胶）/2。其中，ρ基材为基材的电阻率，h基材为基材的厚度，s基材为基材的面积，ρ胶为导电胶5的电阻率，h胶为固化成型后的导电胶5的厚度，s胶为固化成型后的导电胶5的面积。其中，第一基材1、第二基材2以及导电胶5的电阻率ρ基材和ρ胶可以通过测试得出，第一基材1、第二基材2以及固化成型后的导电胶5的厚度可以通过测量得出。

导电胶限位片3为一体成型的聚四氟乙烯片，导电胶限位片3不可导电，从而在进行电阻的测量时，测量出的结果不受到导电胶限位片3的影响。当然，导电胶限位片3也可以是其他材质的非导电片，只要能够实现不导电以及有利于导电胶5的脱模即可。

第一基材1和第二基材2均为由金属制成的一片式板状。而金属制的第一基材1和第二基材2具有导电能力，从而能够与导电胶5一起作为整体进行电阻的测量，并且，金属制的第一基材1、第二基材2的电阻较低，还可以在对电阻测量要求不高的情况下，将第一基材1和第二基材2的电阻忽略，简化导电胶5与第一基材1、第二基材2的接触电阻的计算。

假设第一基材1、第二基材2是采用电阻率低的铜制作而成，基材的ρ基材较低，将基材的电阻r基材忽略不计，则导电胶5的接触电阻r接触=（r总-2*0-ρ胶*h胶/s胶）/2=（r总-ρ胶*h胶/s胶）/2。

电阻检测组件6包括电阻测试仪7以及两个电阻探针8，两个电阻探针8的一端均连接电阻测试仪7、另一端连接第一基材1或者第二基材2。利用电阻测试仪7和电阻探针8测量第一基材1、第二基材2以及导电胶5作为整体时的总电阻，具有设备简单，测量快速精准等优点。

第一基材1、第二基材2以及导电胶限位片3的外围轮廓一致，从而能够在将导电胶限位片3盖覆在第一基材1上、将第二基材2盖覆在导电胶限位片3上时，将三者进行整理，使其轮廓完全一致，从而方便对第一基材1、第二基材2以及填充在导电胶限位片3内的导电胶5进行检测。

导电胶限位片3呈正方形板状设置，导电胶限位片3的边长为10～30mm，厚度为0.5～2mm。导电胶限位片3的结构简单，便于生产制作。优选地，导电胶限位片3的边长为20mm，厚度为1mm。如此设置，位于导电胶限位片3的限位槽4中的导电胶5，其与第一基材1、第二基材2的接触面积以及厚度均是以1为开头的，在利用测量出的总电阻进行接触电阻的计算时，能够减少计算误差，从而提高计算出的接触电阻的精准度。

例如是，导电胶5的接触电阻可以简化为r接触=（r总-ρ胶*1mm*h胶/s胶）/2=（r总-100ρ胶*h胶/s胶）/2。

特别地，设置限位槽4的槽口大小为100mm²，不论限位槽4的形状如何，只要保证限位槽4的槽口大小为100mm²，也就保证了位于限位槽4中的导电胶5与第一基材1、第二基材2的接触面积以1为开头，在利用测量出的总电阻进行接触电阻的计算时，能够减少计算误差，从而提高计算出的接触电阻的精准度。

例如是，导电胶5的接触电阻可以简化为r接触=（r总-100ρ胶*h胶/100mm²）/2=1000*（r总-10⁴*ρ胶*h胶）。

特别地，限位槽4呈正方形槽设置，限位槽4的边长为10mm。正方形的限位槽4结构简单，方便制作，且位于限位槽4中的导电胶5与第一基材1、第二基材2的接触面积以1为开头，在利用测量出的总电阻进行接触电阻的计算时，能够减少计算误差，从而提高计算出的接触电阻的精准度。

实施方式二

本实用新型的第二实施方式提供了一种导电胶的电阻检测装置，第二实施方式是对第一实施方式的进一步改进，未做特别说明的部分包括附图标记及文字描述，均与第一实施方式相同，在此不再赘述。

第二实施方式相对于第一实施方式的主要改进之处在于，在本实用新型的第二实施方式中，结合图4来看，限位槽4呈圆形槽设置，限位槽4的半径为10mm，圆形的限位槽4结构简单，方便制作。

当然，也可以设置限位槽4的面积为100mm²，与实施方式一中的效果一致，位于限位槽4中的导电胶5与第一基材1、第二基材2的接触面积以1为开头，在利用测量出的总电阻进行接触电阻的计算时，能够减少计算误差，从而提高计算出的接触电阻的精准度。

本领域的普通技术人员可以理解，在上述的各实施方式中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于上述各实施方式的种种变化和修改，也可以基本实现本申请各权利要求所要求保护的技术方案。因此，在实际应用中，可以在形式上和细节上对上述实施方式作各种改变，而不偏离本实用新型的精神和范围。