一种COG模组的ITO+PIN电阻的检测电路及检测方法与流程

本发明涉及显示器技术领域，尤其涉及一种cog模组的ito+pin电阻的检测电路，还涉及一种cog模组的ito+pin电阻的检测方法。

背景技术：

现有各种显示器，例如液晶显示器(lcd，liquidcrystaldisplay)中的薄膜电晶体液晶显示器(tftlcd，thinfilmtransistorliquidcrystaldisplay)，被越来越多地应用在车载系统上，而lcd中的cog模组通常使用pin+lcd的方式进行连接，参照图1，常常因为pin+lcd的总电阻值比较大而导致主机在连接传输数据时会出现lcd显示异常或无显示，特别是i²c接口的产品对pin+lcd电阻更加敏感。连接i²c的产品在传输完成8bit数据后，会读取从机的ack(acknowledgecharacter)信号，当pin+lcd电阻过大时，返回的ack电平超过了电平极限值，会导致主机误判从机无应答导致lcd无显示或异常显示。

技术实现要素：

针对上述问题，本发明提出一种cog模组的ito+pin电阻的检测电路及检测方法，主要解决背景技术中的问题。

本发明提出一种cog模组的ito+pin电阻的检测电路，根据io与gnd或vdd间有保护二极管可构成回路的特点，在被测pin电阻的gnd端外接电压为u的恒压源，在i²c总线的信号端scl端外接特定电流值的恒流源，所述恒流源与scl端之间设置有开关k1，在电源输入端vdd端同样外接特定电流值的恒流源，所述恒流源与vdd端之间设置有开关k2。

进一步改进在于，所述检测电路还包括差分电路，利用差分电路测量每个通路的电压值，经a/d模数转换后发送到微控制单元mcu进行数据处理，在终端显示上显示每个被测pin电阻的电阻值。

本发明还提出一种cog模组的ito+pin电阻的检测方法，包括以下步骤：

s1、闭合k1，测量gnd端到scl端的电压值u1；

s2、在电源输入端电压端vdd端外接电流值为a1的恒流源；

s3、闭合k2，测量gnd端到scl端的电压值u2；

s4、根据检测到的u1和u2计算电阻值rito_gnd；

s5、将i²c的信号端scl外接的电流值为a1的恒流源更换为电流值为a2的恒流源，闭合k1，断开k2，测量gnd端到scl端的电压值u3；

s6、根据检测到的u3和u1计算二极管电压降vf；

s7、根据二极管电压降vf和电阻值rito_gnd分别计算电阻值rito_scl和电阻值rito_vdd，得出被测pin电阻值；

s8、预设2倍测量电阻值以内均为标准值，微控制单元mcu进行数据处理后，在终端显示上显示每个被测pin电阻的电阻值；同时判断被测pin电阻值是否超出标准值，若判断结果为超出，会控制终端显示发出提示并告警。

进一步改进在于，所述步骤s1还包括：

电压值u1＝a1×(rito_gnd+rito_scl)+vf。

进一步改进在于，所述步骤s3还包括：

电压值u2＝a1×rito_gnd+1ma×rito_scl+vf。

进一步改进在于，所述步骤s4还包括：

电阻值rito_gnd＝(u1-u2)/a1。

进一步改进在于，所述步骤s5还包括：

电压值u3＝a2×(riito_gnd+rito_scl)+vf′。

进一步改进在于，所述步骤s6具体包括：

s61、预设外接恒流源电流值为a1时二极管的电压降vf等于当外接恒流源电流值为a2时二极管的电压降vf′；

s62、根据检测到的u3和u1计算二极管电压降vf，且

电压降vf＝2u1-u3。

进一步改进在于，所述步骤s8具体包括：利用差分电路测量得出每个通路的电压值，然后经过a/d模数转换后发送到微控制单元mcu进行数据处理，最后在终端显示上显示每个被测pin电阻的电阻值，预设2倍测量电阻值以内均为标准值，判断被测pin电阻值是否超出标准值，若判断结果为不超出，微控制单元mcu控制进入下一个被测pin电阻的检测，若判断结果为超出，微控制单元mcu控制终端显示进行提示并控制报警电路告警。

与现有技术相比，本发明的有益效果为：

本发明根据io与gnd或vdd间有保护二极管可构成回路的特点，采用外加恒流源的方法，分别测量gnd或vdd与其他每一个pin的ito电压，利用差分电路得出每个通路的电压，然后经a/d模数转换后进入微控制单元mcu进行数据处理，最后达到检测每个pin电阻值并对检测到的故障引脚在终端显示提示并告警的目的，本检测方法为全自动测量及检测数据，检测过程方便快捷，可以对故障引脚进行及时的排查与清除，进而提高lcd产品质量，减轻员工的工作强度，提高工作效率。

附图说明

附图仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；为了更好说明本实施例，附图某些部件会有省略、放大或缩小，并不代表实际产品的尺寸；对于本领域技术人员来说，附图中某些公知结构及其说明可能省略是可以理解的。

图1为现有技术中lcd+pin产品结构示意图；

图2为本发明一实施方式的测量电路原理示意图；

图3为本发明一实施方式的步骤s1电路示意图；

图4为本发明一实施方式的步骤s3电路示意图；

图5为本发明一实施方式的步骤s5电路示意图；

图6为本发明一实施方式的测量系统整体结构示意图；

图7为二极管的正向特性曲线示意图；

图8为本发明的tester结构示意图；

图9为本发明的测试板testboard结构示意图；

图10为本发明终端显示数据的一示意图；

图11为本发明终端显示数据的另一示意图；

图12为pcf2119x内部io与vss或vdd的保护电路示意图。

具体实施方式

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以是通过中间媒介间接连接，可以说两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明的具体含义。下面结合附图和实施例对本发明的技术方案做进一步的说明。

参照图1，现有技术中通常采用pin+lcd的方式进行连接，然而pin+lcd的总电阻值较大往往会导致主机在连接传输数据时会出现lcd显示异常或无显示，特别是i²c接口的产品对pin+lcd电阻更加敏感。因此，为了防止在读取从机的ack信号时，因为pin+lcd电阻过大而导致主机误判进而导致lcd无显示或异常显示的问题，有必要在生产时对pin的电阻进行测量检测。

参照图12，pcf2119x为nxp公司的低功耗lcd控制器和驱动器，可以驱动2行16字符或1行32字符的点阵lcd显示器，图12中列举了其内部io与vss或vdd的保护电路示意图，通过观察发现，pcf2119x中io与vss或vdd间的回路均由保护二极管串联，本发明通过这个特征，采用外加恒流源的方法，可以在不损坏集成电路块ic的前提下分别测量gnd或vdd与其他每一个pin的ito电压。

本发明根据io与gnd或vdd间有保护二极管可构成回路的特点，采用外加恒流源的方法，分别测量gnd或vdd与其他每一个pin的ito电压，利用差分电路得出每个通路的电压，然后经a/d模数转换后进入微控制单元mcu进行数据处理，最后达到检测每个pin电阻值并对检测到的故障引脚在终端显示提示并告警的目的，本检测方法为全自动测量及检测数据，检测过程方便快捷，可以对故障引脚进行及时的排查与清除，进而提高lcd产品质量，减轻员工的工作强度，提高工作效率。

参照图2和图6，本发明提出一种cog模组的ito+pin电阻的检测电路，在被测pin电阻的gnd端外接电压为u的恒压源，在i²c总线的信号端scl端外接特定电流值的恒流源，所述恒流源与scl端之间设置有开关k1，在电源输入端vdd端同样外接特定电流值的恒流源，所述恒流源与vdd端之间设置有开关k2，所述检测电路还包括差分电路，利用差分电路测量每个通路的电压值，经a/d模数转换后发送到微控制单元mcu进行数据处理，在终端显示上显示每个被测pin电阻的电阻值。

参照图2和图6，本发明还提出一种cog模组的ito+pin电阻的检测方法，包括以下步骤：

s1、参照图3，闭合k1，可以测量gnd端到scl端的电压值u1；

具体而言，在本实施例中设置所述恒压源电压值为+3.3v，设置所述恒流源电流值a1为1ma，所述电压值u1＝1ma×(rito_gnd+rito_scl)+vf，其中，1ma为回路电流值，rito_gnd为接地端gnd的电阻值，rito_scl为i²c总线的信号端scl的电阻值，vf为保护二极管流经电流为1ma时的电压降。

s2、在电源输入端vdd端外接电流值为a1的恒流源；

s3、参照图4，闭合k2，测量gnd端到scl端的电压值u2；

具体而言，在本实施例中设置所述恒流源的电流值a1为1ma，所述电压值u2＝2ma×rito_gnd+1ma×rito_scl+vf，其中，2ma为总回路电流值，1ma为scl端的支路电流值，rito_gnd为接地端gnd的电阻值，rito_scl为i²c总线的信号端scl的电阻值，vf为保护二极管流经电流为1ma时的电压降。

s4、根据检测到的u1和u2计算电阻值rito_gnd，所述电阻值rito_gnd＝(u1-u2)/a1；

s5、参照图5，将i²c的信号端scl外接的电流值为a1的恒流源更换为电流值为a2的恒流源，闭合k1，断开k2，测量gnd端到scl端的电压值u3；

具体而言，在本实施例中设置所述恒流源电流值a2为2ma，所述电压值u3＝2ma×(riito_gnd+rito_scl)+vf′，其中，所述vf′为保护二极管流经电流为2ma时的电压降。

s6、根据检测到的u3和u1计算二极管电压降vf；

在本发明实施例中，所述s6具体包括：

s61、预设外接恒流源电流值为a1时二极管的电压降vf等于当外接恒流源电流值为a2时二极管的电压降vf′；

具体而言，参照图7，图7摘录自leshanradiocompany,ltd.lrb521s-30t1g的规格书，图示了保护二极管的正向特性曲线，由图可知，当恒流源由1ma更换为2ma时，电压降vf变化了～0.02v，即电阻值变化了～200hm，这个误差值相对于产品个pin的电阻值来说是可以忽略不计的，因此，可预设外接恒流源为1ma时二极管的电压降vf等于当外接恒流源为2ma时二极管的电压降vf′。

s62、根据检测到的u3和u1计算二极管电压降vf，且电压降vf＝2u1-u3。

s7、根据二极管电压降vf和电阻值rito_gnd分别计算电阻值rito_scl和电阻值rito_vdd，得出被测pin电阻值；

s8、预设2倍测量电阻值以内均为标准值，微控制单元mcu进行数据处理后，在终端显示上显示每个被测pin电阻的电阻值；同时判断被测pin电阻值是否超出标准值，若判断结果为超出，会控制终端显示发出提示并告警。

具体而言，参照图6、图8和图9，本发明采用的测量系统包括被测的cog模组以及图9所示的测试板(testboard)、图8所示的终端显示器所述的tester,具体是，参照图6，采用外加恒流源的方法，使测试板(testboard)与被测cog模组的集成电路快ic进行连接，分别测量gnd或vdd与其他每一个pin的ito电压，利用差分电路测量得出每个通路的电压值，然后经过a/d模数转换后发送到微控制单元mcu进行数据处理，最后在终端显示上显示每个被测pin电阻的电阻值，预设2倍测量电阻值以内均为标准值，参照图10和图11，判断被测pin电阻值是否超出标准值，若判断结果为不超出，微控制单元mcu控制进入下一个被测pin电阻的检测，若判断结果为超出，微控制单元mcu控制终端显示进行提示并控制报警电路告警。

图中，描述位置关系仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制；显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明权利要求的保护范围之内。