1.一种平整度的测量装置，其特征在于，包括：
主尺，所述主尺的顶面设置有水平泡，所述主尺的底面设置有可伸缩调节的调节件，根据所述水平泡对应调节所述调节件的长度，使得所述主尺水平；以及
安装于所述主尺顶面且可沿所述主尺的长度方向移动调节的激光测距仪，通过沿所述主尺移动所述激光测距仪并向待测结构发射激光以测得若干组所述主尺与所述待测结构之间的间距，从而对比得出所述待测结构的平整度。
2.如权利要求1所述的平整度的测量装置，其特征在于，还包括滑设于所述主尺的滑动件，所述激光测距仪以可转动的方式安装于所述滑动件，通过转动调节所述激光测距仪，以改变激光发射的方向使得发射的激光垂直地射向所述待测结构的表面。
3.如权利要求2所述的平整度的测量装置，其特征在于，所述主尺的侧部开设有滑槽；
所述滑动件包括卡设于所述滑槽的卡块以及一端与所述卡块固定连接的连接板，所述连接板的另一端向靠近所述主尺的方向弯折以形成与所述主尺的顶面相对的平台面，所述激光测距仪安装于所述平台面上。
4.如权利要求3所述的平整度的测量装置，其特征在于，所述滑槽的截面呈t形，所述卡块的截面对应呈t形。
5.如权利要求3所述的平整度的测量装置，其特征在于，还包括底座，所述激光测距仪固定于所述底座的顶部，所述底座的侧部和底部均开设有螺孔；
所述平台面上固定安装有与所述螺孔相匹配的螺杆；
在所述待测结构呈水平状时，利用位于所述底座底部的螺孔与所述螺杆连接，使得所述激光测距仪发射的激光垂直地射向所述待测结构的表面；
在所述待测结构呈竖直状时，利用位于所述底座侧部的螺孔与所述螺杆连接，并通过沿垂直于所述主尺的方向转动所述底座，以调节激光发射的方向使得所述激光测距仪发射的激光垂直地射向所述待测结构的表面。
6.如权利要求5所述的平整度的测量装置，其特征在于，所述底座呈立方体状。
7.如权利要求1所述的平整度的测量装置，其特征在于，所述调节件包括一端固定于所述主尺的底面的固定管、插设于所述固定管且部分自所述固定管的另一端露出的伸缩杆以及螺合于所述固定管侧部的螺栓；
通过沿所述固定管移动所述伸缩杆以调节所述伸缩杆露出部分的长度，进而旋拧所述螺栓，使得所述螺栓的端部抵住所述伸缩杆以固定所述伸缩杆，从而改变所述调节件的长度。
8.如权利要求1所述的平整度的测量装置，其特征在于，所述主尺的顶面刻有刻度尺。
9.一种如权利要求1所述的平整度的测量装置的使用方法，其特征在于，包括如下步骤：
提供所述测量装置，将所述测量装置置于待测的所述待测结构附近的地面上；
根据所述水平泡对应调节所述调节件的长度，使得所述主尺水平；
启动所述激光测距仪以向所述待测结构的表面垂直地发射激光，并沿所述主尺移动所述激光测距仪，通过所述激光测距仪向待测结构发射激光以测得若干组所述主尺与所述待测结构之间的间距，从而对比得出所述待测结构的平整度。
10.如权利要求9所述的平整度的测量装置的使用方法，其特征在于，还包括滑设于所述主尺的滑动件，所述激光测距仪以可转动的方式安装于所述滑动件；
所述待测结构呈水平状时，转动所述激光测距仪以垂直地向所述待测结构的表面发射激光，移动所述激光测距仪以测得所述待测结构的平整度；
所述待测结构呈竖直状时，沿垂直于所述主尺的方向转动所述激光测距仪以使得激光向所述待测结构发射，移动所述主尺使得所述主尺的侧部贴合于所述待测结构，移动所述激光测距仪以测得所述待测结构的平整度。