箱体的密封性的检测方法及其检测系统与流程

1.本发明涉及气密性检测技术领域，特别是涉及一种箱体的密封性的检测方法及其检测系统。


背景技术：

2.一些箱体，尤其大容积的箱体，主要采用多块板材并按照接触式密封、胶接式密封和焊接密封等方式进行密封而制作。此种方式得到的箱体需要检测其密封性后才能使用，否则恐因密封性问题影响箱体的正常使用。一些研究通过使箱体内部为负压，然后将箱体没入水中，观察箱体内是否有液体渗入，从而判定箱体的密封性。此种设置不能确定箱体的泄露系数，并且不适用于大容积箱体的密封性能的检测。


技术实现要素：

3.基于此，有必要提供一种能够检测大容积箱体的密封性且能够确定箱体的泄露系数的箱体的密封性的检测方法。
4.此外，还提供一种箱体的密封性的检测系统。
5.一种箱体的密封性的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：提供待测箱体，所述待测箱体设有间隔且孔径相同的第一泄露孔和第二泄露孔；调节所述待测箱体内的压力至预设压力，然后同时打开所述第一泄露孔和所述第二泄露孔，以使所述待测箱体内的压力恢复至常压，并测定所述待测箱体内的压力从所述预设压力恢复至常压的第一时间；调节所述待测箱体内的压力至所述预设压力，然后打开所述第一泄露孔并密封所述第二泄露孔，以使所述待测箱体内的压力恢复至常压，并测定所述待测箱体内的压力从所述预设压力恢复至常压的第二时间；及根据公式：，计算所述待测箱体的待测流量系数，若所述待测流量系数大于0，则所述待测箱体有泄露，其中，所述k为0.1~0.25，所述标准流量系数为标准箱体的流量系数，所述标准时间为所述标准箱体内的压力从所述预设压力恢复至常压的时间，所述标准箱体的体积与所述待测箱体的体积相同，所述标准箱体无泄露，所述标准箱体设有标准孔，所述第一泄露孔的孔径与所述标准孔的孔径相同。
6.上述箱体的密封性的检测方法中，通过提供具有间隔且孔径相同的第一泄露孔和第二泄露孔的待测箱体；调节待测箱体内的压力至预设压力，然后同时打开第一泄露孔和第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压的第一时间；调节待测箱体内的压力至预设压力，然后打开第一泄露孔并密封第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压的第二时间；构建公式：，并根据该公式计算待测箱体的待测流量系数，若待测流量系数大于0，则待测箱体有泄露，其中，k为0.1~0.25，标准流量系数为标准箱体的流量系数，标准时间为标准箱体内的压力从预设压力恢复至常压的时间，标准箱体的体积与待测箱体
的体积相同，标准箱体无泄露，标准箱体设有标准孔，第一泄露孔的孔径与标准孔的孔径相同。通过上述箱体的密封性的检测方法无需将待测箱体没入液体中即能够测定待测箱体是否有泄露，并且能够确定待测箱体的泄露系数，适用于大容积箱体的密封性检测。
7.在其中一个实施例中，所述第二泄露孔有多个，多个所述第二泄露孔间隔设置；所述然后同时打开所述第一泄露孔和所述第二泄露孔的步骤包括：然后同时打开所述第一泄露孔和其中一个所述第二泄露孔，并密封其他所述第二泄露孔；所述然后打开所述第一泄露孔并密封所述第二泄露孔的步骤包括：然后打开所述第一泄露孔并密封每个所述第二泄露孔。
8.在其中一个实施例中，所述第一泄露孔位于所述待测箱体的一表面的中部，所述待测箱体的每个所述拐角处均设有一个所述第二泄露孔，若所述待测箱体有泄露，根据所述公式计算所述待测箱体的所述待测流量系数的步骤之后，还包括测定所述待测箱体的泄露位置的步骤：打开所述第一泄露孔并密封每个所述第二泄露孔，然后调节所述待测箱体内的压力，以使所述待测箱体内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化，获得所述待测箱体内的压力与测试时间的标准波形；按照如下步骤测定每个所述拐角对应的测试波形：打开一个所述拐角处的所述第二泄露孔并密封其他所述第二泄露孔，然后调节所述待测箱体内的压力，以使所述待测箱体内的压力以所述预设周期在所述第一压力与所述第二压力之间交替变化，获得所述待测箱体内的压力与测试时间的变化曲线，得到一个所述拐角对应的所述测试波形；及比对每个所述拐角对应的所述测试波形与所述标准波形的相位差，最小所述相位差对应的所述拐角有泄露。
9.在其中一个实施例中，所述第二压力的负值等于所述第一压力。
10.在其中一个实施例中，所述第二压力为相对压力，且所述第二压力为1.0pa~30.0 pa。
11.在其中一个实施例中，所述预设周期为10s~50s。
12.在其中一个实施例中，所述预设压力为相对压力，所述预设压力为1.0pa~30.0 pa；及/或，所述标准孔的孔径为2.0mm~3.0mm；及/或，所述标准流量系数为0.38[ml/(s*pa)]~0.87[ml/(s*pa)]，所述标准时间为10s~50s。
[0013]
一种箱体的密封性的检测系统，包括：调压装置，能够设置在待测箱体上并能够调节待测箱体内的压力至预设压力，所述待测箱体具有间隔且孔径相同的第一泄露孔和第二泄露孔；密封件，能够密封所述第二泄露孔；计时装置，能够测定所述第一泄露孔和所述第二泄露孔同时打开以使所述待测箱体内的压力从所述预设压力恢复至常压的第一时间，并且能够测定所述第一泄露孔打开且所述第二泄露孔密封以使所述待测箱体内的压力从所述预设压力恢复至常压的第二时间；及检测装置，能够与所述计时装置连接并接收所述计时装置传输的时间信号，然后根据公式：计算所述待测箱体的待测流量系数，若所述待测流量系数大于0，则所述待测箱体有
泄露，其中，所述k为0.1~0.25，所述标准流量系数为标准箱体的流量系数，所述标准时间为所述标准箱体内的压力从所述预设压力恢复至常压的时间，所述标准箱体的体积与所述待测箱体的体积相同，所述标准箱体无泄露，所述标准箱体设有标准孔，所述第一泄露孔的孔径与所述标准孔的孔径相同。
[0014]
在其中一个实施例中，所述第一泄露孔位于所述待测箱体的一表面的中部，所述第二泄露孔有多个，所述待测箱体的每个所述拐角处均设有一个所述第二泄露孔，所述调压装置还能够调节所述待测箱体内的压力，以使所述待测箱体内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化，所述检测装置还能够与所述调压装置连接以接收所述调压装置输送的压力信号，然后测定所述第一泄露孔对应的标准波形及每个所述拐角对应的测试波形，然后能够比对每个所述拐角对应的所述测试波形与所述标准波形的相位差，并能够通过确定最小所述相位差对应的所述拐角的位置以确定所述待测箱体的泄露位置；其中，所述标准波形为打开所述第一泄露孔且密封每个所述第二泄露孔时，所述待测箱体内的压力以所述预设周期在所述第一压力与所述第二压力之间交替变化过程中，所述待测箱体内的压力与测试时间的变化曲线；所述测试波形为打开一个所述拐角处的所述第二泄露孔并密封其他所述第二泄露孔时，所述待测箱体内的压力以所述预设周期在所述第一压力与所述第二压力之间交替变化过程中，所述待测箱体内的压力与测试时间的变化曲线。
附图说明
[0015]
图1为一实施方式的箱体的密封性的检测系统及待测箱体的结构示意图；图2为图1所示的箱体的密封性的检测系统及待测箱体另一角度的结构示意图；图3为图1所示的箱体的密封性的检测系统及待测箱体另一角度的结构示意图；图4为实施例1中待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压过程中箱内压力与时间的变化曲线图；图5为实施例1中标准波形和测试波形的对比图。
具体实施方式
[0016]
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳的实施例。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容的理解更加透彻全面。
[0017]
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。
[0018]
以下内容中，如无特别说明，相对压力是一种以大气压力作为基准所表示的压力，相对压力等于真实压力减去大气压。常压为一个标准大气压，一个标准大气压为101325pa。拐角为至少三个表面共同连接形成的连接处。
[0019]
一实施方式的箱体的密封性的检测方法，能够检测大容积箱体的密封性，并且能够确定箱体的泄露系数。该箱体的密封性的检测方法包括如下步骤s110~s140：s110、提供待测箱体，待测箱体设有间隔且孔径相同的第一泄露孔和第二泄露孔。
[0020]
具体地，提供待测箱体的步骤包括：在待测箱体上开设间隔且孔径相同的第一泄露孔和第二泄露孔。需要说明的是，若待测箱体上已经设有的第一泄露孔和第二泄露孔时，在待测箱体上开设间隔且孔径相同的第一泄露孔和第二泄露孔的步骤可以省略。
[0021]
其中，待测箱体的体积为500l~1000l。第一泄露孔的孔径为2.0mm~3.0mm。在其中一个实施例中，待测箱体的体积为500l，第一泄露孔的孔径为2.0mm。在其中一个实施例中，待测箱体的体积为800l，第一泄露孔的孔径为2.0mm。在其中一个实施例中，待测箱体的体积为1000l，第一泄露孔的孔径为2.5mm。
[0022]
需要说明的是，待测箱体的体积不限于上述指出的范围，其他体积的待测箱体的密封性也能够采用本技术的箱体的密封性的检测方法进行检测，可以根据需要进行选择。需要说明的是，第一泄露孔的孔径不限于上述指出的范围，可以根据需要进行设置。
[0023]
在其中一个实施例中，待测箱体为多块板材通过密封连接而制成。此时，至少三块板材共同连接形成的拐角处非常容易出现泄漏问题。
[0024]
s120、调节待测箱体内的压力至预设压力，然后同时打开第一泄露孔和第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压的第一时间。
[0025]
其中，调节待测箱体内的压力至预设压力的步骤包括：密封第一泄露孔和第二泄露孔，在待测箱体上开设第一通气孔，将第一调压器安装在待测箱体上并堵塞第一通气孔且与待测箱体密封连接，通过第一调压器经第一通气孔向待测箱体内通入气体，直至待测箱体内的压力升高至预设压力，停止通气。进一步地，气体为空气。第一调压器例如可以为充气泵或者真空泵。采用密封件密封第一泄露孔和第二泄露孔。更进一步地，密封件例如可以为气塞。
[0026]
其中，预设压力为相对压力，预设压力为1pa~30pa。需要说明的是，预设压力不限于上述指出的范围，可以根据需要进行设置。
[0027]
在其中一个实施例中，第二泄露孔有多个，多个第二泄露孔间隔设置；然后同时打开第一泄露孔和第二泄露孔的步骤包括：然后同时打开第一泄露孔和其中一个第二泄露孔，并密封其他第二泄露孔。
[0028]
s130、调节待测箱体内的压力至上述预设压力，然后打开第一泄露孔并密封第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从上述预设压力恢复至常压的第二时间。
[0029]
其中，s130中调节待测箱体内的压力至预设压力的步骤与s120中调节待测箱体内的压力至预设压力的步骤相同，具体参见上文，此处不再赘述。
[0030]
在其中一个实施例中，第二泄露孔有多个，多个第二泄露孔间隔设置；然后打开第一泄露孔并密封第二泄露孔的步骤包括：然后打开第一泄露孔并密封每个第二泄露孔。
[0031]
需要说明的是，s120与s130的步骤不限，可以先进行s120的操作再进行s130的操作，也可以先进行s130的操作再进行s120的操作。
[0032]
s140、根据公式：，计算待测箱体的待测流量系数，若待测流量系数大于0，则待测箱体有泄露。
[0033]
其中， k为0.1~0.25，标准流量系数为标准箱体的流量系数，标准时间为标准箱体内的压力从预设压力恢复至常压的时间，标准箱体的体积与待测箱体的体积相同，标准箱
体无泄露，标准箱体设有标准孔，第一泄露孔的孔径与标准孔的孔径相同。
[0034]
需要说明的是，标准箱体无泄露是指标准箱体除了标准孔以外无其他泄露位置。
[0035]
其中，标准箱体的体积为500l~1000l。标准孔的孔径为1.0mm~3.2mm。标准流量系数为0.38ml/(s*pa)~0.87ml/(s*pa)，标准时间为10s~50s。
[0036]
在其中一个实施例中，标准箱体的体积为500l。标准孔的孔径为2.0mm。标准流量系数为0.38 ml/(s*pa)。标准时间为12s。
[0037]
在其中一个实施例中，标准箱体的体积为800l。标准孔的孔径为2.0mm。标准流量系数为0.38ml/(s*pa)，即在1pa压力下，标准箱体的标准孔的流量为0.38ml/s。标准时间为18s。
[0038]
在其中一个实施例中，标准箱体的体积为1000l。标准孔的孔径为2.5mm。标准流量系数为0.6ml/(s*pa)。标准时间为16s。
[0039]
需要说明的是，标准箱体的流量系数和标准时间均可以根据标准箱体的产品说明书中查得，也可以根据本领域中常规的测量方法测量得到。例如：标准箱体的流量系数的测定方法包括：在箱体内且靠近标准孔处设置流量计和压差传感器，从标准孔向标准箱体内通入具有一定压力的气体，用流量计测定箱体内且靠近标准孔处的气体的流量，用压差传感器检测标准孔处箱体内外的压力差，然后用流量除以压力差则得到标准气体的流量系数。标准箱体的标准时间的测定方法包括：向标准箱体中通入气体，以使标准箱体内的压力为上述预设压力，打开标准孔，以使标准箱体的压力恢复至常压，并检测标准箱体内的压力恢复至常压的时间，得到标准时间；其中，标准箱体的标准时间测定中的预设压力与待测箱体的第一时间和第二时间测定时的预设压力相等。
[0040]
在其中一个实施例中，第一泄露孔位于待测箱体的一表面的中部，第二泄露孔有多个，多个第二泄露孔间隔设置。待测箱体的每个拐角处均设有一个第二泄露孔，若待测箱体有泄露，根据上述公式计算待测箱体的待测流量系数的步骤之后，还包括测定待测箱体的泄露位置的步骤。具体地，测定待测箱体的泄露位置的步骤包括s151~s153：s151、打开第一泄露孔并密封每个第二泄露孔，然后调节待测箱体内的压力，以使待测箱体内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化，获得待测箱体内的压力与测试时间的标准波形。
[0041]
其中，然后调节待测箱体内的压力的步骤包括：在待测箱体上开设第二通气孔，将第二调压器安装在待测箱体上并遮蔽第二通气孔且与待测箱体密封连接，第二调压器调节待测箱体内的压力。进一步地，第二调压器为往复泵。第二调压器能够安装待测箱体上。更进一步地，第二调压器为活塞泵。具体地，通过第二调压器向待测箱体内注入空气，以使待测箱体内的压力为第二压力；然后通过第二调压器从待测箱体内抽出空气，以使待测箱体内的压力为第一压力。更具体地，通过第二调压器向待测箱体内注入20ml~40ml的空气，以使待测箱体内的压力为第二压力。通过第二调压器从待测箱体内抽出20ml~40ml的空气，以使待测箱体内的压力为第一压力。
[0042]
其中，第二压力的负值等于第一压力。进一步地，第二压力为相对压力，且第二压力为1.0pa~30pa。相应地，第一压力也为相对压力，第一压力为-1pa~-30pa。更进一步地，第二压力为5pa。第一压力为-5pa。需要说明的是，第一压力和第二压力不限于为上述设置，可以根据需要进行设置。
[0043]
其中，预设周期为10s~50s。进一步地，预设周期为30s。需要说明的是，预设周期不限于为上述设置，可以根据需要进行设置。
[0044]
s152、按照如下步骤测定每个拐角对应的测试波形：打开一个拐角处的第二泄露孔并密封其他第二泄露孔，然后调节待测箱体内的压力，以使待测箱体内的压力以上述预设周期在上述第一压力与上述第二压力之间交替变化，获得待测箱体内的压力与测试时间的变化曲线，得到一个拐角对应的测试波形。
[0045]
其中，s152中调节待测箱体内的压力的步骤与s151中调节待测箱体内的压力的步骤相同，具体详见上文，此处不再赘述。
[0046]
需要说明的是，测定每个拐角对应的测试波形的测定方法基本相同，不同之处在于，需要测定哪个拐角对应的测试波形则需要打开该拐角处的第二泄露孔并关闭其他第二泄露孔。需要说明的是，测定每个拐角对应的测试波形时，第一泄露孔的开闭状态不限，第一泄露孔可以为开启状态，可以为密封状态，但是需要保证每个拐角对应的测试波形的测定过程中，第一泄露孔的开闭状态相同。
[0047]
需要说明的是，s151与s152的顺序不限，可以先进行s151的操作再进行s152的操作，也可以先进行s152的操作再进行s151的操作。
[0048]
s153、比对每个拐角对应的测试波形与标准波形的相位差，最小相位差对应的拐角有泄露。
[0049]
需要说明的是，当最小相位差对应的拐角有多个时，各个最小相位差对应的拐角均有泄露。需要说明的是，若各个拐角对应的相位差均相等时，各个拐角均有泄露。
[0050]
需要说明的是，若只需要测定待测箱体是否有泄露，则测定待测箱体的泄露位置的步骤可以省略。
[0051]
在一个具体示例中，待测箱体为立方体形，由八块板材密封连接制成。第一泄露孔位于待测箱体的一表面的中部。第二泄露孔有九个。其中一个第二泄露孔与第一泄露孔位于同一表面，且靠近第一泄露孔设置。其余八个第二泄露孔分别位于待测箱体的八个拐角处。其中，拐角为待测箱体中三个表面的连接处。此时，箱体的密封性的检测方法中，s120包括：调节待测箱体内的压力至预设压力，然后同时打开第一泄露孔和与第一泄露孔位于同一表面的第二泄露孔，并密封其他第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压的第一时间；s130包括：调节待测箱体内的压力至上述预设压力，然后打开第一泄露孔并密封每个第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从上述预设压力恢复至常压的第二时间。
[0052]
上述设置中，通过使第一泄露孔位于待测箱体的一个表面的中部，并通过使一个第二泄露孔与第一泄露孔位于同一表面，且靠近第一泄露孔设置，使得便于进行待测箱体的密封性的操作。需要说明的是，与第一泄露孔位于同一表面且靠近第一泄露孔设置的第二泄露孔可以省略。与第一泄露孔位于同一表面且靠近第一泄露孔设置的第二泄露孔省略时，箱体的密封性的检测方法中，s120包括：调节待测箱体内的压力至预设压力，然后同时打开第一泄露孔和其中一个第二泄露孔，并密封其他第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压的第一时间。
[0053]
上述箱体的密封性的检测方法中，通过提供具有间隔且孔径相同的第一泄露孔和第二泄露孔的待测箱体；调节待测箱体内的压力至预设压力，然后同时打开第一泄露孔和
第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压的第一时间；调节待测箱体内的压力至预设压力，然后打开第一泄露孔并密封第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压的第二时间；构建上述公式并根据该公式计算待测箱体的待测流量系数，若待测流量系数大于0，则待测箱体有泄露，其中，k为0.1~0.25，标准流量系数为标准箱体的流量系数，标准时间为标准箱体内的压力从预设压力恢复至常压的时间，标准箱体的体积与待测箱体的体积相同，标准箱体无泄露，标准箱体设有标准孔，第一泄露孔的孔径与标准孔的孔径相同。通过上述箱体的密封性的检测方法无需将待测箱体没入液体中即能够测定待测箱体是否有泄露，并且能够确定待测箱体的泄露系数，适用于大容积箱体的密封性检测。
[0054]
进一步地，上述箱体的密封性的检测方法中，通过第一泄露孔位于待测箱体的一表面的中部，第二泄露孔有多个，待测箱体的每个拐角处均设有一个第二泄露孔，打开第一泄露孔并密封每个第二泄露孔，然后调节待测箱体内的压力，以使待测箱体内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化，获得待测箱体内的压力与测试时间的标准波形，测定每个拐角处的第二泄露孔对应的测试波形，比对每个拐角处的第二泄露孔对应的测试波形与第一泄露孔的标准波形的相位差，最小相位差对应的拐角有泄露，从而能够检测待测箱体的泄露位置。
[0055]
目前，箱体的密封性能检测主要采用负压下液体渗入或充入正压气体在液体中观察气泡点的方式，对箱体的泄露量不能精确定量，不能检测大型箱体密封性能，对大型箱体的检测需要更大型的密封箱体和装卸等设备，检测方式繁琐，检测周期长，泄露量定量和位置确认周期长，不利于产品的量产和快速交付；对于特定检测用密封箱体的密封系数，不能快速确定。本研究的箱体的密封性的检测方法，操作简单，能够确定箱体的泄露系数和泄露位置，检测时间短，泄露量检测时间约为5分钟，泄露位置检测时间约为20分钟，并且能够进行泄露系数和泄漏位置的实时检测。
[0056]
可以理解，测定待测箱体是否泄漏时，第一泄露孔不限于位于待测箱体的一表面的中部，也可以为其他位置。
[0057]
可以理解，待测箱体不限于为立方体形，也可以为其他形状，例如可以为棱锥、棱柱、球形或者圆锥形，可以根据需要进行选择。需要说明的是，待测箱体为球形或者圆锥形等无拐角的形状时，采用本研究的箱体的密封性的检测方法能够测定待测箱体是否有泄露，不能准确测定待测箱体接缝处的泄露位置。
[0058]
可以理解，第二泄露孔的数量不限于为八个或者九个，若仅需要测定待测箱体是否泄漏，则第二泄露孔可以有一个，若还需要测定待测箱体的泄露位置，则可以根据待测箱体的拐角的数量进行设置，以保证每个拐角处均有一个第二泄露孔即可。
[0059]
此外，还提供一实施方式的箱体的密封性的检测系统，能够根据上述实施方式的箱体的密封性的检测方法检测大容积箱体的密封性，并且确定箱体的泄露系数。
[0060]
请参阅图1，具体地，该箱体的密封性的检测系统包括调压装置110、密封件120、计时装置（图未示）和检测装置（图未示）。
[0061]
调压装置110能够调节待测箱体200内的压力至预设压力。待测箱体200具有间隔且孔径相同的第一泄露孔210和第二泄露孔220。其中，待测箱体200、第一泄露孔210和第二泄露孔220的具体描述请参见上文，此处不再赘述。
[0062]
在其中一个实施例中，箱体的密封性的检测系统还包括开孔装置（图未示）。开孔装置能够在待测箱体200上开设第一泄露孔210和第二泄露孔220。需要说明的是，若待测箱体200已具有间隔且孔径相同的第一泄露孔210和第二泄露孔220时，开孔装置可以省略。
[0063]
在其中一个实施例中，第一泄露孔210位于待测箱体200的一表面的中部，第二泄露孔220为多个，待测箱体200的每个拐角处均设有一个第二泄露孔220，调压装置110还能够调节待测箱体200内的压力，以使待测箱体200内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化。其中，预设周期、第一压力和第二压力的具体描述请参见上文，此处不再赘述。
[0064]
请结合参阅图2~3，进一步地，调压装置110包括第一调压器112和第二调压器114。
[0065]
第一调压器112能够调节待测箱体200内的压力至预设压力。进一步地，第一调压器112能够安装在待测箱体200上，以能够向待测箱体200内通入气体，以使待测箱体200内的压力调至预设压力。更进一步地，待测箱体200开设有第一通气孔，第一调压器112能够安装在待测箱体200上并遮蔽第一通气孔且与待测箱体200密封连接，第一调压器112能够经第一通气孔向待测箱体200内通入气体，以调节待测箱体200内的压力。具体地，第一调压器112为充气泵或者真空泵。
[0066]
第二调压器114能够调节待测箱体200内的压力，以使待测箱体200内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化。进一步地，待测箱体200开设有第二通气孔，第二调压器114能够安装在待测箱体200上并遮蔽第二通气孔且与待测箱体200密封连接。更进一步地，第二调压器114为往复泵。具体地，第二调压器114为活塞泵。
[0067]
密封件120能够密封第二泄露孔220。进一步地，密封件120还能够密封第二泄露孔220。具体地，密封件120为气塞。需要说明的是，密封件120不限于为气塞，也可以为其他密封件120，只要能够密封孔即可。
[0068]
在其中一个实施例中，箱体的密封性的检测系统还包括压力检测器（图未示）。压力检测器有多个，每个压力检测器均能够设置在待测箱体200内，以使第一泄露孔210和每个第二泄露孔220处均设置有一个压力检测器。进一步地，压力检测器为压力传感器。
[0069]
计时装置能够测定第一泄露孔210和第二泄露孔220同时打开以使待测箱体200内的压力从预设压力恢复至常压的第一时间。计时装置还能够测定第一泄露孔210打开且第二泄露孔220密封以使待测箱体200内的压力从预设压力恢复至常压的第二时间。计时检测还能够记录待测箱体200内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化的测试时间。
[0070]
检测装置能够与计时装置连接并接收计时装置传输的时间信号，然后根据上述公式计算待测箱体200的待测流量系数，若待测流量系数大于0，则待测箱体200有泄露。
[0071]
进一步地，检测装置还能够根据待测流量系数测定待测箱体200的泄露情况。具体地，检测装置还能够具有显示或者报警的功能。若检测装置确定待测箱体200有泄露，则可以通过显示或者发出报警的方式提示待测箱体200有泄露的检测结果。
[0072]
在其中一个实施例中，检测装置还能够与调压装置110连接以接收调压装置110输送的压力信号，然后测定第一泄露孔210对应的标准波形及每个拐角对应的测试波形，然后能够比对每个拐角对应的测试波形与标准波形的相位差，并能够通过确定最小相位差对应的拐角的位置以确定待测箱体200的泄露位置。其中，标准波形为打开第一泄露孔210且密
封每个第二泄露孔220时，待测箱体200内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化过程中，待测箱体200内的压力与测试时间的变化曲线。测试波形为打开一个拐角处的第二泄露孔220并密封其他第二泄露孔220时，待测箱体200内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化过程中，待测箱体200内的压力与测试时间的变化曲线。
[0073]
上述箱体的密封性的检测系统的测定待测箱体200的密封性的操作如下：1、测定待测箱体200是否有泄露的操作过程如下：（1）采用密封件120密封第一泄露孔210和每个第二泄露孔220，将第一调压器112安装在待测箱体200上并遮蔽第一通气孔且与待测箱体200密封连接。检测装置与计时装置连接。检测装置与压力检测器连接。
[0074]
（2）通过第一调压器112向待测箱体200内通入气体，以使待测箱体200内的压力调至预设压力，然后停止通气。同时打开第一泄露孔210和一个第二泄露孔220，以使待测箱体200内的压力恢复至常压；并且，计时装置检测从预设压力恢复至常压的第一时间，并将第一时间传输至检测装置。
[0075]
（3）通过第一调压器112向待测箱体200内通入气体，以使待测箱体200内的压力调至预设压力，然后停止通气。打开第一泄露孔210，以使待测箱体200内的压力恢复至常压；并且，计时装置检测从预设压力恢复至常压的第二时间，并将第二时间传输至检测装置。
[0076]
（4）检测装置根据接收到的第一时间和第二时间，并公式：，计算待测箱体200的待测流量系数。若待测流量系数大于0，则待测箱体200有泄露。
[0077]
2、确定待测箱体200有泄露后，检测待测箱体200的泄露位置的操作过程如下：（1）采用密封件120密封第一泄露孔210和每个第二泄露孔220。将第二调压器114安装在待测箱体200上并遮蔽第二通气孔且与待测箱体200密封连接。
[0078]
（2）打开第一泄露孔210，通过第二调压器114调节待测箱体200内的压力，以使待测箱体200内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化。压力检测器记录待测箱体200的压力变化，并将压力信号传输给检测装置。计时装置待测箱体200内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化的测试时间，并将测试时间传输给检测装置。检测装置根据压力信号和测试检测确定标准波形，并确定标准波形的相位。
[0079]
（3）打开一个拐角处的第二泄露孔220，密封第一泄露孔210并密封其余第二泄露孔220。通过第二调压器114调节待测箱体200内的压力，以使待测箱体200内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化。压力检测器记录待测箱体200的压力变化，并将压力信号传输给检测装置。计时装置待测箱体200内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化的测试时间，并将测试时间传输给检测装置。检测装置根据压力信号和测试检测确定测试波形，并确定测试波形的相位。按照相同的操作测定每个拐角对应的测试波形。
[0080]
（4）检测装置比对每个拐角对应的测试波形与标准波形的相位差，并通过确定最小相位差对应的拐角的位置以确定待测箱体200的泄露位置。
[0081]
通过上述箱体的密封性的检测系统，无需将待测箱体200没入液体中即能够测定待测箱体200是否有泄露，并且能够确定待测箱体200的泄露系数，适用于大容积箱体的密封性检测。
[0082]
以下为具体实施例部分：
实施例1将箱体充入一定气压的气体，整体放入水中，观察箱体接缝处是否有持续的气泡，以判定箱体的漏气位置，不能得出泄露量。
[0083]
1、测定待测箱体是否有泄露的过程如下：（1）提供待测箱体。待测箱体为立方体形，由八块板材密封连接制成，体积为500l。第一泄露孔位于待测箱体的一表面的中部。第二泄露孔有九个。其中一个第二泄露孔与第一泄露孔位于同一表面，且靠近第一泄露孔设置。其余八个第二泄露孔分别位于待测箱体的八个拐角处。已知待测箱体的一个拐角处有泄露。
[0084]
（2）调节待测箱体内的压力至预设压力，然后同时打开第一泄露孔和与第一泄露孔位于同一表面的第二泄露孔，并密封其他第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压的第一时间。预设压力为3pa。第一时间为18s。待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压过程中箱内压力与时间的变化曲线详见图4。图4中t1为第一时间，p为预设压力。
[0085]
（3）调节待测箱体内的压力至上述预设压力，然后打开第一泄露孔并密封每个第二泄露孔，以使待测箱体内的压力恢复至常压，并测定待测箱体内的压力从上述预设压力恢复至常压的第二时间。预设压力为3pa。第一时间为18s。待测箱体内的压力从预设压力恢复至常压过程中箱内压力与时间的变化曲线详见图4。图4中t2为第二时间，p为预设压力。
[0086]
（4）根据公式：，计算待测箱体的待测流量系数。k为0.15。标准箱体的体积为800l。标准孔的孔径为2.0mm。标准流量系数为0.38ml/(s*pa)。标准时间为18s。
[0087]
经计算，待测流量系数为0.12 ml/(s*pa)，待测箱体有泄露。
[0088]
2、待测箱体的泄露位置的检测过程如下：（1）打开第一泄露孔并密封每个第二泄露孔，然后调节待测箱体内的压力，以使待测箱体内的压力以预设周期在第一压力与第二压力之间交替变化，获得待测箱体内的压力与测试时间的标准波形。第二压力为1bar。第一压力为-1bar。预设周期为30s。标准波形如图5所示。图5中t1所在曲线为标准波形。
[0089]
（2）按照如下步骤测定每个拐角对应的测试波形：打开一个拐角处的第二泄露孔并密封其他第二泄露孔，然后调节待测箱体内的压力，以使待测箱体内的压力以上述预设周期在上述第一压力与上述第二压力之间交替变化，获得待测箱体内的压力与测试时间的变化曲线，得到一个拐角对应的测试波形。按照同样的操作测定其他拐角对应的测试波形，测定该拐角对应的测试波形，则打开该拐角处的第二泄露孔并密封其他第二泄露孔。其中一个拐角对应的测试波形如图5所示。图5中t2所在曲线为测试波形。
[0090]
（3）比对每个拐角对应的测试波形与标准波形的相位差。每个拐角处对应的测试波形与标准波形的相位差如表1所示。表1中位置1~8对应待测箱体的8个拐角。
[0091]
从表1可以看出，相位差为22 ms的位置6对应的拐角处有泄露。位置
∆
t（ms）111215312419
512622718816
[0092]
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
[0093]
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。