1.一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：包括待测模型(1)、第二反射镜(2)、高平行度同轴光源(3)、第三反射镜(4)、第一反射镜(5)和高解析度相机(6)；其中，待测模型(1)为中空长方体结构；高平行度同轴光源(3)水平设置在待测模型(1)的侧壁处；待测模型(1)的侧壁对应高平行度同轴光源(3)的位置设置有通孔；实现高平行度同轴光源(3)发射的测试光通过通孔照射入待测模型(1)内；第二反射镜(2)、第三反射镜(4)和第一反射镜(5)设置在待测模型(1)内部；且第一反射镜(5)设置在与高平行度同轴光源(3)相对的待测模型(1)侧壁上，位置与测试光对应；第二反射镜(2)设置在与第一反射镜(5)相对的待测模型(1)侧壁上；第三反射镜(4)设置在待测模型(1)的底板上；高解析度相机(6)竖直设置在待测模型(1)的顶部；且待测模型(1)顶部对应高解析度相机(6)位置设置有通孔；实现测试光依次经第一反射镜(5)反射、第二反射镜(2)反射、第三反射镜(4)反射后，到达高解析度相机(6)，高解析度相机(6)实现解析成像。
2.根据权利要求1所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：所述高平行度同轴光源(3)的距地高度为100-200mm；第一反射镜(5)的安装高度与高平行度同轴光源(3)高度对应，第一反射镜(5)与待测模型(1)竖直侧壁的夹角为α；第二反射镜(2)的安装高度为400-800mm，第二反射镜(2)与待测模型(1)竖直侧壁的夹角为β；第三反射镜(4)水平距第二反射镜(2)300-600mm；第三反射镜(4)与待测模型(1)水平底板的夹角为γ；3个夹角的关系满足：β+γ-α＝45°；且β＞2α。
3.根据权利要求2所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：所述第二反射镜(2)、第三反射镜(4)和第一反射镜(5)为相同尺寸的圆形结构；且第二反射镜(2)、第三反射镜(4)和第一反射镜(5)的镜面上均贴有光吸收膜(7)；其中，光吸收膜(7)为弓形形状；光吸收膜(7)的半径与反射镜的半径对应；光吸收膜(7)的弧长为反射镜弧长的1/3。
4.根据权利要求3所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：设定第二反射镜(2)、第三反射镜(4)和第一反射镜(5)的顶部为0°位置；第一反射镜(5)中，光吸收膜(7)贴在第一反射镜(5)的0°-120°圆弧与弦线围成的弓形区域；第二反射镜(2)中，光吸收膜(7)贴在第二反射镜(2)的120°-240°圆弧与弦线围成的弓形区域；第三反射镜(4)中，光吸收膜(7)贴在第三反射镜(4)的240°-360°圆弧与弦线围成的弓形区域。
5.根据权利要求4所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：所述高平行度同轴光源(3)发出的测试光的波长为633nm，光束发散角小于1.7mrad。
6.根据权利要求5所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：高解析度相机(6)的最大分辨率为2560*1920；在待测模型(1)的振动过程中，高解析度相机(6)实现对测试光的高速拍照，满幅采集速度为1600fps，位移测量精度优于1μm。
7.根据权利要求6所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：光吸收膜(7)实现对测试光的吸收；实现反射光照射在光吸收膜(7)位置的光停止继续反射；光吸收膜(7)采用氟化镁材料；吸光率大于99.8％。
8.根据权利要求7所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：所述测试装置的测试过程为：
初始状态，高平行度同轴光源(3)发出平行测试光进入待测模型(1)内部；平行测试光依次经第一反射镜(5)、第二反射镜(2)、第三反射镜(4)反射后到达高解析度相机(6)；高解析度相机(6)解析出正常状态下测试光经过光吸收膜(7)后的成像图形；
对待测模型(1)施加振动，高平行度同轴光源(3)发出平行测试光进入待测模型(1)内部；平行测试光依次经第一反射镜(5)、第二反射镜(2)、第三反射镜(4)反射后到达高解析度相机(6)；高解析度相机(6)解析出振动状态下测试光经过光吸收膜(7)后的成像图形；
将正常状态下的成像图形与振动状态下的成像图形进行对比，得到振动对光学相机成像质量的影响。
9.根据权利要求8所述的一种航天器微振动对光学相机成像质量影响测试装置，其特征在于：振动过程中，待测模型(1)的振动频率为0.5-1000hz，振动幅度为0.5-500μm。