卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型定量测定方法与流程

文档序号:21715098发布日期:2020-08-05 01:01阅读:743来源:国知局
卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型定量测定方法与流程

本发明涉及一种化合物定量测定方法,特别是一种基于x射线粉末衍射技术的卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型含量的测定方法,属于医药技术领域。



背景技术:

卡格列净(canagliflozin)为fda批准的首个sglt2抑制剂,用于治疗成年患者的ii型糖尿病,是一种新的钠-葡萄糖协同转运蛋白2(sglt2)抑制剂药物,通过抑制肾脏对葡萄糖的重吸收,增加葡萄糖排泄,进而降低糖尿病患者已升高的血糖水平。

wo2008069327a1和cn101573368公开了一种卡格列净半水合物的晶型及其xrd特征图谱,cn201480019637公开了一种卡格列净一水合物的晶型及其xrd特征图谱。一般而言,同一药物的不同晶型在溶解度上会存在一定的差异,从而造成不同晶型药物的体外溶出及体内生物利用度存在明显差异,尤其是水难溶性药物,晶型对其溶解度的影响更大。此外,同一药物的不同晶型在稳定性上往往也存在一定差异,从而影响药物的贮存和使用。临床使用的卡格列净晶型为半水合物药用晶型(acn103896930a)。为了更好的控制卡格列净半水合物的质量和疗效,对卡格列净半水合物药用晶型纯度的研究具有十分重要的意义。



技术实现要素:

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的不足,提供了一种准确度高、快速便捷的卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型含量的测定方法。

本发明所要解决的技术问题是通过以下的技术方案来实现的,本发明是一种基于x射线粉末衍射技术的卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型的定量测定方法,其特点是:选择2θ=3.8±0.1°作为卡格列净半水合物晶型的参比特征峰,选择2θ=4.2±0.1°和8.4±0.1°作为卡格列净一水合物晶型的定量特征峰,选用两种晶型的定量衍射峰强度比值为定量参数,建立标准曲线,测定卡格列净半水合物中一水合物晶型的含量。

以上所述的卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型的定量测定方法,其进一步优选的技术方案是:测定时使用x射线粉末衍射仪,以cukα射线为衍射源,λ=1.5406a,工作电压为40kv,工作电流为40ma,步长为0.02°,扫描速度为0.10s每步,狭缝宽度为0.2mm,索拉2.5°,镍滤光片,扫描角度范围为3°~40°。

以上所述的卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型的定量测定方法,其进一步优选的技术方案是:测定前分别取卡格列净半水合物和卡格列净一水合物晶型,充分研磨后,过100目筛,称取适量样品置样品盘中,分别进行扫描,选择2θ=3.8±0.1°作为卡格列净半水合物参比特征峰,选择2θ=8.4±0.1°和4.2±0.1°作为卡格列净一水合物定量特征峰。

以上所述的卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型的定量测定方法,其进一步优选的技术方案是:其步骤如下:

(1)分别取卡格列净半水合物和一水合物晶型,充分研磨后,过100目筛,取样品适量置样品盘中制样,分别进行x射线衍射测试;

(2)测定参数:x射线粉末衍射仪,以cukα射线为衍射源,λ=1.5406a,工作电压为40kv,工作电流为40ma,步长为0.02°,扫描速度为0.10s每步,狭缝宽度为0.2mm,索拉2.5°,镍滤光片,扫描角度范围为3~40°;

(3)选择半水合物的特征峰为2θ=3.8±0.1°,一水合物的特征峰为2θ=8.4±0.1°和4.2±0.1°;测定卡格列净半水合物中一水合物晶型含量的x射线粉末衍射法,选择一水合物的特征衍射峰与半水合物的特征衍射峰强度之比作为定量参数,建立标准曲线,进行计算。

与现有技术相比,本发明方法具有以下有益效果:

(1)本发明方法采用粉末x射线粉末衍射分析的方法研究卡格列净半水合物中一水合物晶型的含量,由于该方法属无损检测,能够真实的反映样品中各种晶型的含量。

(2)用本发明方法测定卡格列净半水合物中一水合物晶型含量的准确度高,快速便捷,可有效控制卡格列净半水合物中一水合物晶型含量。

附图说明

图1为卡格列净半水合物的x射线粉末衍射图;

图2为卡格列净半水合物dsc图;

图3为卡格列净一水合物的x射线粉末衍射图;

图4为卡格列净一水合物dsc图。

具体实施方式

下面通过具体实施例子并结合附图对本发明进一步阐述。应当理解,以下实施例只是为进一步说明本发明的特征和优点,对本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进。这些都属于本发明的保护范围。

实施例1,卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型的定量测定方法,其步骤如下:

(1)分别取卡格列净半水合物和一水合物晶型,充分研磨后,过100目筛,取样品适量置样品盘中制样,分别进行x射线衍射测试;

(2)测定参数:x射线粉末衍射仪,以cukα射线为衍射源,λ=1.5406a,工作电压为40kv,工作电流为40ma,步长为0.02°,扫描速度为0.10s每步,狭缝宽度为0.2mm,索拉2.5°,镍滤光片,扫描角度范围为3~40°;

(3)选择半水合物的特征峰为2θ=3.8±0.1°,一水合物的特征峰为2θ=8.4±0.1°和4.2±0.1°;测定卡格列净半水合物中一水合物晶型含量的x射线粉末衍射法,选择一水合物的特征衍射峰与半水合物的特征衍射峰强度之比作为定量参数,建立标准曲线,进行计算。

实施例2,卡格列净半水合物药用晶型中一水合物晶型的定量测定方法:

测试方法:

brukerd8advancex射线粉末衍射仪,以cukα射线为衍射源,λ=1.5406a,工作电压为40kv,工作电流为40ma,步长为0.02°,扫描速度为0.10s每步,狭缝宽度为0.2mm,索拉2.5°,镍滤光片,扫描角度范围为3~40°。

差示扫描量热法分析(dsc)仪器:netzschdsc204型差热分析仪,温度范围:30-230℃,升温速率:10℃/min。

1样品制备

1.1卡格列净半水合物晶型标准品制备

取卡格列净半水合物晶型样品,充分均匀研磨,先过100目筛,收集通过100目筛网后的样品,然后过200目筛,收集未能通过200目筛网的样品,使得样品的颗粒度尽量保持一致,以降低择优取向引起的检测误差。取该样品进行pxrd检测,3.8±0.1°处特征峰明显(参照图1,1号峰);dsc检测,在92.6℃附近只有一个吸收峰(见图2),水分含量为2.1%,该样品作为纯卡格列净半水合物药用晶型标准品。

1.2卡格列净一水合物晶型对照品制备

取卡格列净一水合物晶型样品,充分均匀研磨,先过100目筛,收集通过100目筛网后的样品,然后过200目筛,收集未能通过200目筛网的样品,使得样品的颗粒度尽量保持一致。取样进行pxrd检测(见图3);dsc检测只有一个吸收峰,在100.5℃附近(见图4),水分含量为3.9%,该样品作为纯卡格列净一水合物晶型用于配制混合样品。

2特征峰的选取

2.1将卡格列净半水合物晶型x射线衍射图谱(见图1)和卡格列净一水合物晶型x射线衍射图谱(见图3)进行比对,发现2θ位置为8.4±0.1°(参见图3,2号衍射峰)和4.2±0.1°(参见图3,1号衍射峰)的卡格列净一水合物晶型特征峰在卡格列净半水合物晶型x射线衍射图谱相应位置均无其他衍射峰干扰,且两峰为卡格列净一水合物晶型的最强衍射峰和次强衍射峰。

2.2参比特征峰的选取

将卡格列净半水合物晶型x射线衍射图谱(见图1)和卡格列净一水合物晶型x射线衍射图谱(见图3)进行比对,发现2θ位置为3.8±0.1°的卡格列净半水合物晶型有特征峰,在卡格列净一水合物晶型x射线衍射图谱相应位置中,2θ位置为3.8±0.1°无其它特征峰的干扰,因此选择该位置的特征峰作为参比特征峰。

2.3标准曲线的绘制

用等量递增法向卡格列净半水合物晶型中加入卡格列净一水合物晶型,制备7个样品(分别含卡格列净一水合物1%、2%、3%、5%、7%、9%、10%),采用震荡器进行震荡混合后,制样,测定x射线粉末衍射情况,计算样品中已选取的2θ位置为8.4±0.1°的特征峰强度与参比特征峰(2θ为3.8±0.1°)强度的比值,以该比值为横坐标,样品中一水合物晶型的含量百分比为纵坐标,根据最小二乘法原理绘制标准曲线,得到线性方程为y=0.0141x+0.0108(r2=0.9932)。

2.4准确度考察

拟控制卡格列净半水合物中一水合物晶型的含量不超过3%,按已知晶型纯度含量的卡格列净标准品的制备方法制备3组质量水平晶型纯度的样品(一水合物晶型含量分别为1.5%、3%和4.5%),每个样品检测3次,计算回收率。平均回收率为96.3%,rsd为4.6%(n=9)。

以上所述仅是本发明的实施方式的举例,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明内容、精神和范围的前提下对本发明所述的卡格列净中晶型含量的测定方法进行改动或适当变更与组合,来实现本发明技术,所有相类似的改进和变型对本领域技术人员来说是显而易见的,这些改进和变型都被视为包括在本发明的内容、精神和范围中。

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