一种扫描电子显微镜电子枪灯丝枪尖振动位移激光测量方法与流程

文档序号:23063607发布日期:2020-11-25 17:47阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种扫描电子显微镜电子枪灯丝枪尖振动位移测量计算方法,其特征在于,在扫描电子显微镜工作时,利用三个激光多普勒测振探头x1、x2和x3向电子枪灯丝枪尖发射激光,测量电子枪灯丝的振动位移,利用振动位移测量结果,计算电子枪灯丝的实际振动位移。

2.如权利要求1所述的一种扫描电子显微镜电子枪灯丝枪尖振动位移激光测量方法,其特征在于,所述的三个激光多普勒测振探头x1、x2和x3,其中x1和x2与电子枪灯丝枪尖端面放置在同一水平面内,测振探头x3与x2和电子枪灯丝枪尖的中心轴线在同一竖直面内。

3.如权利要求1所述的一种扫描电子显微镜电子枪灯丝枪尖振动位移激光测量方法,其特征在于,包括如下步骤:

1)电子枪灯丝尚未开始工作时,使测振探头x1、x2和x3发射的激光汇聚于电子枪灯丝枪尖的端面圆心位置,并设定此时的位移为零;

2)电子枪灯丝工作时,测振探头x1、x2和x3测量电子枪灯丝枪尖沿三个方向的振动位移;

3)利用测振探头x1和x2的测量结果计算电子枪灯丝枪尖在水平面的实际位移;

4)利用测振探头x1、x2和x3的测量结果计算电子枪灯丝枪尖在竖直方向的实际位移。


技术总结
本申请公开了一种扫描电子显微镜电子枪灯丝枪尖振动位移激光测量方法,利用三个多普勒激光测振探头测量电子枪灯丝枪尖的振动位移,并根据振动位移测量结果,计算得到电子枪灯丝枪尖的实际振动位移;实际位移的计算结果能够用于削弱电子枪灯丝枪尖自身振动的影响,进而提升利用扫描电子显微镜进行集成电路检测的准确性。

技术研发人员:彭朝琴;孙郑义
受保护的技术使用者:北京航空航天大学
技术研发日:2020.06.24
技术公布日:2020.11.24
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