一种校验光台的制作方法

本发明涉及电子设备光校验领域，尤其涉及一种校验光台。

背景技术：

目前超大尺寸的触摸屏产品(即触摸屏的尺寸大于50英寸)包含透光区(视窗区/触摸区)与非透光区(油墨区/logo区)，通常对触摸屏产品进行光检验时包括对透光区的对光检验以及对非透光区的反光校验。然而，由于超大尺寸的触摸屏产品自身的尺寸或者体积较大，使得人为拿取或者移动超大尺寸的触摸屏产品进行光校验时存在一定困难。

因此，为解决人为拿取或者移动超大尺寸触摸屏不易的问题，目前采用一种校验台对超大尺寸的触摸屏进行光校验；其中，该校验台包括支撑架，位于支撑架上的支撑柱，触摸屏产品放置在支撑柱形成的支撑面上，且触摸屏产品的下方设置有日光灯以进行对光或者反光校验。

然而采用该校验台进行校验，主要存在以下缺陷：首先日光灯发出的光不均匀，造成触摸屏上的不同区域的校验存在标准差异；其次，作业员肉眼观察触摸屏时，日光灯发出的光线通过透光区直达作业员的眼睛，会导致作业员产生视觉疲劳，严重时会伤害作业员的眼睛视网膜，对作业员的眼部安全造成危害；再者，采用该校验台进行校验时，其日光灯的灯光颜色不能切换，因此无法通过更换背景颜色来校验触摸屏的不良缺陷；并且该校验台的支撑柱无法移动，在需要观察支撑柱与触摸屏接触的位置时，作业员需要抬起整个触摸屏，导致操作繁琐不易；最后，该校验台仅设置了位于触摸屏下方的日光灯，因此只可对触摸屏进行对光校验，而反光校验只能依赖于外界环境的灯光，导致对环境光线要求较高。综上，目前采用的校验台的校验效果并不好。

技术实现要素：

本申请实施例公开了一种校验光台，其校验效果较好。

本申请实施例提供一种校验光台，包括：

机架；

第一光源组件，设于所述机架上且用于提供第一校验光；

第二光源组件，设于所述机架上且位于所述第一光源组件下方且用于提供第二校验光；及

校验平台，可移动地设于所述第二光源组件靠近所述第一光源组件的一侧表面，且与所述第一光源组件、所述第二光源组件之间均形成有作业空间。

进一步地，所述校验平台包括可移动的支撑组件以及形成于所述支撑组件远离所述第二光源组件的一端端面的校验支撑面，所述校验支撑面用于放置待校验产品；所述可移动的支撑组件可相对于所述待校验产品移动，以改变所述支撑组件的所述端面相对于所述待校验产品的位置。

进一步地，所述支撑组件包括若干个支撑件，各所述支撑件可相对于所述第二光源组件移动，且所述支撑柱在所述第二光源组件靠近所述第一光源组件的一侧表面间隔分布。

进一步地，所述支撑件包括：

支撑杆；

包覆于所述支撑杆远离所述第二光源组件的一端端部的软质布件；及

填充于所述软质布件与所述支撑杆的端部之间的柔性填充物。

进一步地，所述支撑组件包括并列设置的至少两根支撑横杆以及设置于相邻的两根支撑横杆之间的至少两根支撑纵杆；其中，所述支撑横杆和所述支撑纵杆中的一者可相对于另一者滑动。

进一步地，相邻的两根所述支撑横杆均设置有沿所述支撑横杆的延伸长度方向延伸的第一滑轨，所述支撑纵杆的两端分别位于相邻的两根所述支撑横杆的所述第一滑轨内，以沿着所述第一滑轨滑动。

进一步地，相邻的两根支撑纵杆均设置有沿所述支撑纵杆的延伸长度方向延伸的第二滑轨，所述支撑横杆的两端分别位于相邻的两根所述支撑纵杆的所述第二滑轨内，以沿着所述第二滑轨滑动。

进一步地，所述第一光源组件包括第一箱体以及位于所述第一箱体内的第一控制部件、及若干第一发光部件，所述第一控制部件用于控制所述第一发光部件的发光强度，且所述第二发光部件发出的光线朝向所述校验平台；

所述第二光源组件包括第二箱体以及位于所述第二箱体内的第二控制部件、及若干第二发光部件，所述第二控制部件用于控制所述第二发光部件的发光强度，且所述第二发光部件发出的光线朝向所述校验平台。

进一步地，所述第一箱体靠近所述校验平台的一侧设置有第一雾化板，所述第一雾化板靠近所述校验平台的一侧设置有第一雾化膜；

所述第二箱体靠近所述校验平台的一侧设置有第二雾化板，所述第二雾化板靠近所述校验平台的一侧设置有第二雾化膜。

进一步地，所述作业空间包括第一作业空间和第二作业空间；其中，所述第一作业空间位于所述校验平台与所述第一校验光源之间，所述第一作业空间为校验空间和/或第一清洁空间；所述第二作业空间位于所述校验光台与所述第二校验光源之间，所述第二作业空间为第二清洁空间。

进一步地，所述第二箱体靠近所述校验光台的一侧与所述校验光台对应设置有背景板，所述背景板可相对于所述校验平台位置可变，以改变所述第二发光部件朝向所述校验平台发出的光线的色差。

进一步地，所述背景板与所述支撑横杆可滑动连接；或，

所述背景板设置为百褶形，以使得所述背景板可相对于所述校验平台在卷收状态和展开状态之间切换；或，

所述背景板包括卷轴，所述背景板卷收在所述卷轴上；所述卷轴与所述支撑横杆滑动连接，以使得所述卷轴可沿着所述支撑横杆移动以在卷收状态和展开状态之间切换。

进一步地，所述机架的底部设置有滑动轮；所述机架采用不锈钢材质制成。

与现有技术相比，本发明的有益效果在于：

本申请实施例提供一种校验光台，包括：机架、第一光源组件、第二光源组件及校验平台，且校验平台用于在第一光源组件和第二光源组件提供校验光的条件下用于对待校验产品进行对光校验或者反光校验，从而实现两种光源的校验以提高校验精度，以避免相关技术中对待校验产品的反光校验依赖于外界环境的灯光从而对环境要求较高的问题；并且，校验平台可移动地设于第二光源组件的表面，使得校验平台在相对于第二光源组件移动时改变其与待校验产品之间的接触位置，从而避免相关技术中校验平台无法移动使得需要观察校验平台与待校验产品接触的位置时需要抬起整个待校验产品导致的操作繁琐问题。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1a为本发明实施例提供的第一种校验光台的结构示意图；

图1b为本发明实施例提供的第二种校验光台的结构示意图；

图2a为本发明实施例提供的第一种校验光台的第一光源组件、校验平台与第二光源组件的结构示意图；

图2b为本发明实施例提供的第二种校验光台的第一光源组件、校验平台与第二光源组件的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的第一种校验光台的支撑柱的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的第二种校验光台的支撑纵杆和支撑横杆的局部配合结构示意图；

图5为本发明实施例提供的校验光台的第一雾化板的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的校验光台的第一雾化板设置有第一雾化膜的结构示意图；

图7为本发明实施例提供的校验光台的第二雾化板的结构示意图；

图8为本发明实施例提供的校验光台的第二雾化板设置有第二雾化膜的结构示意图；

图9为本发明实施例提供的校验光台的电路结构示意图。

附图标记说明：

1-机架；

2-第一光源组件；21-第一箱体；22-第一控制部件；23-第一发光部件；24-第一雾化板；241-第一雾化膜；

3-第二光源组件；31-第二箱体；32-第二控制部件；33-第二发光部件；34-第二雾化板；341-第二雾化膜；

4-校验平台；41-支撑组件；411-支撑杆；412-软质布件；413-柔性填充物；414-无尘布扎带；415-支撑横杆；416-支撑纵杆；417-第一滑轨；

5-待校验产品；

61-第一作业空间；62-第二作业空间；

7-背景板；71-卷轴；

8-电源。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明中，术语“上”、“下”、“左”、“右”、“前”、“后”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“中”、“竖直”、“水平”、“横向”、“纵向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系。这些术语主要是为了更好地描述本发明及其实施例，并非用于限定所指示的装置、元件或组成部分必须具有特定方位，或以特定方位进行构造和操作。

并且，上述部分术语除了可以用于表示方位或位置关系以外，还可能用于表示其他含义，例如术语“上”在某些情况下也可能用于表示某种依附关系或连接关系。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解这些术语在本发明中的具体含义。

此外，术语“安装”、“设置”、“设有”、“连接”、“相连”应做广义理解。例如，可以是固定连接，可拆卸连接，或整体式构造；可以是机械连接，或电连接；可以是直接相连，或者是通过中间媒介间接相连，又或者是两个装置、元件或组成部分之间内部的连通。对于本领域普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

此外，术语“第一”、“第二”等主要是用于区分不同的装置、元件或组成部分(具体的种类和构造可能相同也可能不同)，并非用于表明或暗示所指示装置、元件或组成部分的相对重要性和数量。除非另有说明，“多个”的含义为两个或两个以上。

下面将结合具体实施例和附图对本申请的技术方案作进一步的说明。

如图1a、图1b所示，本申请公开一种校验光台，包括：机架1、第一光源组件2、第二光源组件3及校验平台4，且校验平台4用于在第一光源组件2和第二光源组件3提供校验光的条件下用于对待校验产品5进行对光校验或者反光校验，从而实现两种光源的校验以提高校验精度，以避免相关技术中对待校验产品5的反光校验依赖于外界环境的灯光从而对环境要求较高的问题；并且，校验平台4可移动地设于第二光源组件3的表面，使得校验平台4在相对于第二光源组件3移动时改变其与待校验产品5之间的接触位置，从而避免相关技术中校验平台4无法移动使得需要观察待校验产品5上与校验平台4接触的位置时需要抬起整个待校验产品5导致的操作繁琐问题。

具体的，在本实施例中，机架1用于提供安装位置以安装第一光源组件2、第二光源组件3及校验平台4，以及给第一光源组件2、第二光源组件3及校验平台4足够的安装空间或者其他操作空间，本实施例中，将机架1设为如图1所示的框架机构。并且，为了降低整个校验光台的重量，机架1采用不锈钢等材料制成，并且可以起到避免产尘与防静电的作用。另外，为可以切换校验光台的使用场地，在机架1的底部可以设置滑轮或者万向轮等使得整个校验光台可移动，从而方便移动至所需场所。

具体的，第一光源组件2可以设于机架1上且位于第二光源组件3的上方用于提供第一校验光从而对待校验产品5进行反光校验。第一光源组件2可以发出恒定的光源，其功率恒定，可以避免出现忽明忽暗的情况，从而利于进行反光校验；相比于相关技术中并无专门设置用于进行反光校验的光源而仅靠外部环境的光源而言，本实施例设置第一光源组件2进行反光校验可以提升校验精度。

在本实施例中，第一光源组件2可以用于发出第一校验光的实现方式可以为：设置若干个亮度可调且均匀分布的灯管，其中亮度可调的目的在于根据实际场景需要切换灯管的亮度(即光源强度)，从而可以根据校验时的外部环境调整灯管的强度，以更好的进行反光校验；均匀分布的目的在于提供亮度均匀恒定的光源，避免出现局部亮度过强或者局部亮度过暗影响反光校验结果的问题。

具体的，第二光源组件3可以设于机架1上且位于第一光源组件2的下方用于提供第二校验光从而对待校验产品5进行对光校验。第二光源组件3可以发出恒定的光源，其功率恒定，可以避免出现忽明忽暗的情况，从而利于进行对光校验；相比于相关技术中并无专门设置用于进行对光校验的光源而仅靠外部环境的光源而言，本实施例设置第二光源组件3进行对光校验可以提升校验精度。

在本实施例中，第二光源组件3用于发出第二校验光的实现方式也可以为：设置若干个亮度可调且均匀分布的灯管，亮度可调的目的在于根据实际场景需要切换灯管的亮度(即光源强度)，从而可以根据校验时的外部环境调整灯管的强度，以更好的进行对光校验；均匀分布的目的在于提供亮度均匀恒定的光源，避免出现局部亮度过强或者局部亮度过暗影响反光校验结果的问题。

综上，本实施例通过设置第一光源组件2和第二光源组件3，可以在实际校验过程中根据实际需求选择开启第一光源组件2进行反光校验或者开启第二光源组件3进行对光校验，从而在不翻转待校验产品5的情况下对其进行对光校验或者反光校验，以实现对光校验和反光校验的任意切换，既可以满足不同校验需求且可以提高稳定且均匀的光源以提高校验准确度。

需要理解的是，在本实施例中，用于对光校验和反光校验的光源强度、光谱等可以设置为一致或者根据实际需要分别设定，本实施例对此不做具体限定。另外，在一般校验中，设定第一校验光和第二校验光的光照度介于300lux-1200lux之间，比如，第一校验光和第二校验光的光照度均可以为300lux，500lux，800lux，1200lux等，具体根据实际需要设定，本实施例对此不做具体限定。

更具体的，如图1a、图1b所示，校验平台4可移动地设于第二光源组件3靠近第一光源组件2的一侧表面，即校验平台4形成于第二光源组件3的上表面且校验平台4与第二光源组件3的上表面、第一光源组件2的下表面之间均留有空间，该空间形成用于进行校验操作或者人工清洁的作业空间。具体的作业空间的大小根据实际操作时所需空间而定，本实施例对此不做具体限定。

校验平台4的上表面用于放置待校验产品5，从而通过校验平台4上方的第一光源组件2对待校验产品5进行反光校验，且通过校验平台4下方的第二光源组件3对待校验产品5进行对光校验，从而实现对待校验产品5的对光校验或者反光校验。

具体地，待校验产品5可以是触摸屏、电子屏等对于表面洁净度以及瑕疵度要求较高的产品，因此为使得校验平台4对于待校验产品5不会造成大面积的接触污染或者对其接触的待校验产品造成损伤，需要设置校验平台4与待校验产品5的接触面的面积尽可能的小，具体的校验平台4与待校验产品5的接触部位的面积大小根据实际情况而定，本实施例对此不做具体限定。

另外，为使得待校验产品5与校验平台4接触的部位可以同样被校验到，在本实施例中设定校验平台4可移动地设于第二光源组件3的上表面，使得校验平台4可相对于待校验产品5位置改变以露出之前被校验平台4遮挡的待校验产品5的局部位置，从而可以对该局部位置进行校验。

进一步地，如图2a所示，如上文所述，校验平台4可相对于待校验产品移动以使得待校验产品可以完全被校验到，具体的校验平台4的一种移动方式可以为：校验平台4包括可移动的支撑组件41以及形成于支撑组件41远离第二光源组件3的一端端面的校验支撑面，该校验支撑面用于放置待校验产品5，即待校验产品5搭置在多个支撑组件41形成的校验支撑面上，使得多个支撑组件41的上端面共同形成用于支撑待校验产品5的校验支撑面；并且，可移动的支撑组件41可相对于待校验产品5移动，以改变支撑组件41的端面相对于待校验产品5的位置。

具体的，支撑组件41包括若干个支撑件，各支撑件可相对于第二光源组件3移动，比如，支撑件与第二光源组件3之间接触而不固定，使得可随意移动多个支撑件中的某个支撑件后从而观察为移动前与该支撑件接触的待校验产品5的局部位置，通过该方式，可以完整地观察校验整个待校验产品5的表面。且支撑柱在第二光源组件3靠近第一光源组件2的一侧表面间隔分布，从而使得多个支撑件形成的支撑面足够用于支撑待校验产品5，具体的支撑件的数目可以为如图1a所示的6个，也可以根据实际需要设置4个，或者8个，具体根据实际需要选择，本实施例对此不做具体限定。

更具体的，如图2a所示，为避免支撑件的上端端面与待校验产品5接触时会对待校验产品5的表面造成污染或者损伤，在本实施例中，可以将与待校验产品5接触的支撑件接触的一端的端面采用柔软的材质进行包覆以避免污染或者损伤待校验产品5。具体实现方式为：支撑件包括：支撑杆411、包覆于支撑杆411远离第二光源组件3的一端端部的软质布件412、及填充于软质布件412与支撑杆411的端部之间的柔性填充物413。具体的软质布件412可以为棉质布或者丝绵布等，用于起到防止污染待校验产品5的作用；并且为了避免支撑杆411对待校验产品5造成硬物损伤，可以在软质布件412与支撑杆411的端部之间填充柔性填充物413，用于增强与待校验产品5接触的支撑杆411的端部顶靠在待校验产品5的表面之间的柔软度。具体的柔性填充物413可以为海绵或者棉花等，也可以根据实际需要选择其他柔软的材料。

补充说明的是，在支撑杆411的端部包覆软质布件412时，可以设置无尘布扎带414固定该软质部件412，以防止软质布件412脱落。具体的，无尘布扎带414缠绕在软质布件412上并可缠绕一圈或者多圈从而实现固定软质布件412的作用。另外，为使得支撑杆411可以可靠地支撑待校验产品5，因此，在本实施例中支撑杆411设置为硬质结构，且支撑杆411的材料优选为透光率高的材料，减少第二光源组件3发出的光线穿过支撑杆411照射到待校验产品5时的光线损失。此外，支撑杆411与待校验产品5接触的部分的硬度需要低于待校验产品5的硬度。支撑杆411的高度可以设置为100mm-200mm之间，比如可以设置为100mm，150mm，200mm，具体根据实际需要选择，本实施例对此不做具体限定。

如图1b、图2b、图4所示，校验平台4的另一种移动方式可以为：支撑组件41包括并列设置的至少两根支撑横杆415以及设置于相邻的两根支撑横杆415之间的至少两根支撑纵杆416；其中，支撑横杆415和支撑纵杆416中的一者可相对于另一者滑动，从而使得支撑横杆415可以相对于支撑纵杆416滑动，即支撑横杆415前后滑动，从而改变其与待校验产品5的接触位置；或者使得支撑纵杆416相对于支撑横杆415移动，即支撑纵杆416左右滑动，从而改变其与待校验产品5的接触位置，从而通过上述移动的方式可以使得与支撑横杆415或者支撑纵杆416接触的待校验产品5也可以通过支撑横杆415或者支撑纵杆416的移动使其露出来进行对光校验或者反光校验。

比如，支撑纵杆416左右滑动的具体实现方式为：相邻的两根支撑横杆415均设置有沿支撑横杆415的延伸长度方向延伸的第一滑轨417，支撑纵杆416的两端分别位于相邻的两根支撑横杆415的第一滑轨417内，以沿着第一滑轨417滑动。

比如，支撑横杆415前后滑动的具体实现方式为：相邻的两根支撑纵杆416均设置有沿支撑纵杆416的延伸长度方向延伸的第二滑轨(图中未示出)，支撑横杆415的两端分别位于相邻的两根支撑纵杆416的第二滑轨内，以沿着第二滑轨滑动。

进一步地，如图1a、图1b、图9所示，第一光源组件2包括第一箱体21以及位于第一箱体21内的第一控制部件22、及若干第一发光部件23，第一控制部件22用于控制第一发光部件23的发光强度，且第二发光部件23发出的光线朝向校验平台4用于对待校验产品5的反光校验；第二光源组件3包括第二箱体31以及位于第二箱体31内的第二控制部件32、及若干第二发光部件33，第二控制部件32用于第二发光部件33的发光强度，且第二发光部件33发出的光线朝向校验平台4用于对待校验产品5进行对光校验。

具体的，第一发光部件23、第二发光部件33可以采用外接的电源8或者蓄电源供电，以保证光照恒定，不会出现忽明忽暗的情况影响校验结果。并且，第一发光部件23和第二发光部件33分别设置有用于控制其开关的第一控制部件22和第二控制部件32，使得第一发光部件23和第二发光部件32的独立控制，以免光源之间产生干扰，并可以切换对光校验或者反光校验。并且，为了适应于待校验产品5的校验强度，第一控制部件22可以控制第一发光部件23的发光强度，同理，第二控制部件32可以控制第二发光部件33的发光强度。

第一控制部件22、第二控制部件32可以为相关技术中常见的控制开关结构，具体根据实际需要选择，本实施例对此不做具体限定。

如图1a、图1b、图5至图8所示，第一箱体21靠近校验平台4的一侧设置有第一雾化板24，第一雾化板24靠近校验平台4的一侧设置有第一雾化膜241，从而减弱第一光源组件2发出的光线会导致操作人员产生视觉疲劳，避免严重时伤害眼睛视网膜，对人身造成危害；第二箱体31靠近校验平台4的一侧设置有第二雾化板34，第二雾化板34靠近校验平台4的一侧设置有第二雾化膜341，从而减弱第二光源组件3发出的光线会导致操作人员产生视觉疲劳，避免严重时伤害眼睛视网膜，对人身造成危害。具体的，第一雾化板24、第二雾化板34的材质、厚度根据实际需要选择，第一雾化膜241、第二雾化膜341的材质以及厚度根据实际需要选择，本实施例对此不做具体限定。

进一步地，如图1a所示，如上文所述，在第一光源组件2与校验平台4之间、第二光源组件3与校验平台4之间留有作业空间，其中作业空间包括第一作业空间61和第二作业空间62；其中，第一作业空间61位于校验平台4与第一校验光源之间，第一作业空间61为校验空间和/或第一清洁空间，可用于方便操作人员放置待校验产品5进行校验，或者还可以用于进行清洁；第二作业空间62位于校验光台4与第二校验光源之间，第二作业空间62为第二清洁空间，便于操作人员进行清洁。第一作业空间61和第二作业空间62的空间大小根据实际需要设定，本实施例对此不做具体限定。

进一步地，如图1b所示，第二作业空间62内还可以设置用于改变光源色差的装置，以改变用于进行对光校验的光线反射的色差以更高的进行对光校验，具体的切换色差的方式可以为：第二箱体31靠近校验光台4的一侧与校验光台4对应设置有背景板7，背景板7可相对于校验平台4位置可变，以改变第二发光部件33朝向校验平台4发出的光线的色差，以提高对光校验的校验精度。

背景板7可相对于校验平台4位置可变的一种实现方式为：背景板7与支撑横杆415可滑动连接，比如，支撑横杆415的外侧侧壁上设置有第三滑轨，背景板7滑动设置在第三滑轨内以沿着第三滑轨(即如图1b所示的左右方向)滑动，以改变背景板相对于校验平台4的位置。

另一种实现方式为：背景板7设置为百褶形，以使得背景板7可相对于校验平台在卷收状态和展开状态之间切换，从而改变背景板7相对于校验平台4的位置。

再一种实现方式为：如图1b所示，背景板7包括卷轴71，背景板71卷收在卷轴上；卷轴与支撑横杆415滑动连接，以使得卷轴可沿着支撑横杆415移动以在卷收状态和展开状态之间切换，从而改变背景板7相对于校验平台4的位置。

以上对本发明实施例公开的一种校验光台进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的校验光台及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。