多电路测试机的制作方法

文档序号:23588062发布日期:2021-01-08 14:22阅读:65来源:国知局
多电路测试机的制作方法

本发明涉及电路测试技术领域,具体为多电路测试机。



背景技术:

电路板作为多个电器元件集成的板状结构,在生产过程中,为确保电路的质量,需要对电路上的多个元件进行测试,电路批量生产应用越来广泛,对电路的测试采用人工手段进行测试,效率较低。

经检索,专利公开号为cn2311004,公开了一种电路板测试承接装置包括:一测试基座,成中空状并具有第一面,测试基座具有由内部贯穿第一面的对应于受测电路板的数个第一贯穿孔,第一面设有对应于受测电路板的测试定位孔的测试定位销;至少二导柱,其一端设置于第一面,而其另一端具有卡止部;一保护板,具有第二面及朝向第一面的第三面,并具有贯穿第二面及第三面的分别对应于第一贯穿孔、测试定位销及导柱的第二贯穿孔、定位销贯穿孔及导孔,保护板藉由导孔沿着导柱于第一面与卡止部之间移动;数个探针,分别以可伸缩方式设置于第一贯穿孔内,并延伸至第二贯穿孔,探针与藉由测试定位销及测试定位孔而放置于第二面的受测电路板接触,受测电路板与电路测试机电连接;数个由弹力将保护板推压至卡止部而使测试定位销突出于定位销贯穿孔的弹性件,分别设于第一面与第三面之间;一依据保护板沿着导柱移动的动作而计算探针的使用次数的计数器,设置于保护板与测试基座之间。

上述中的现有技术方案中仍存在以下缺陷:在测试时,需要使用者手动对电路板上的测试部位进行按压操作,不便于对大批量的电路板进行检测,效率较低,实用性较低。



技术实现要素:

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足,本发明提供了该便于对大批量的电路板进行检测,效率较高,实用性较高的多电路测试机。

(二)技术方案

为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种多电路测试机,包括测试承接装置,所述测试承接装置的顶端左部和顶端右部均固定连接有立板,两个立板的相对端均通过螺钉连接有横板,各所述横板的底端均固定连接有光轴,各所述光轴的底端均和所述测试承接装置的顶端固定连接,所述测试承接装置的上侧设置有架板,所述架板的后端和各所述立板的前端上部通过螺钉连接,所述架板的前端设置有双轴气缸,所述双轴气缸的输出端固定连接有转接板,所述转接板的底端设置有压板,所述压板的后部和各所述光轴的圆周外壁上下滑动连接,所述压板的左部和右部均固定连接有滑套,各所述滑套分别套装在各对应所述光轴的圆周外壁上,所述压板的底端固定连接有多个压棒。

进一步的,所述架板的后端设置有夹板,所述双轴气缸的后端和所述夹板的前端通过第一定位螺钉连接,所述架板的中部设置有和各所述第一定位螺钉相对应的第一长条孔,所述第一定位螺钉的后端穿过各对应第一长条孔并和所述夹板的前端和各所述第一定位螺钉的后端通过螺纹连接。

作为本发明再进一步的,所述测试承接装置包括底板,所述测试承接装置的顶端中部固定连接有针板,所述针板的顶端四角位置区域均固定连接有限位轴,所述针板的上侧设置有载板,所述载板的底端四角位置区域分别和各对应所述限位轴的上部滑动配合,所述针板的四角位置区域均安装有弹簧杆,各所述弹簧杆的顶端均和所述载板的底端接触,所述针板的中部设置有多个探测针,各所述探测针的顶端均穿过所述载板的中部,所述底板的顶端左部、顶端右部分别通过螺钉连接有支板,所述底板的顶端前部和顶端右部分别通过螺钉连接有前板和后板,所述前板和后板分别和各支板的相对端通过螺钉连接,所述底板的顶端左部设置有测试组件,所述测试组件的后端设置有连接头,所述连接头和所述测试组件电连接,所述测试组件的顶端和各所述探测针的底部连接,所述底板的顶端右部安装有开关电源,所述底板的上侧设置有安装板,所述安装板的后端和所述后板的顶部通过铰链连接,所述安装板的前部和各所述支板的上部可拆连接,所述安装板的顶端左部和顶端右部分别和各对应立板的底端固定连接,所述安装板的顶端和各所述光轴的底端固定连接。

优选的,两个所述支板的相反端上部均和所述安装板的底端通过卡扣连接,两个所述支板的相反端均固定连接有把手。

进一步的,两个立板的相对中间区域设置有加强板,所述加强板的左端和右端分别和各立板的相对端通过螺钉连接。

再进一步的,所述载板的顶端设置有卡槽,所述卡槽的四角位置区域均设置有让位槽,所述卡槽的内部固定连接有多个支撑条。

作为本发明再进一步的方案,所述架板的中部设置有两个过线孔。

在前述方案的基础上,所述转接板的底端和所述压板的顶端通过第二定位螺钉连接,所述转接板的左部和右部分别设置有第二长条孔,所述第二定位螺钉的中部穿过各对应所述第二长条孔。

(三)有益效果

与现有技术相比,本发明提供了该多电路测试机,具备以下有益效果:

该多电路测试机,通过使用者在测试时,使双轴气缸的输出端伸出,进而带动转接板、压板和压棒下降,通过压棒压住测试部位,进而使测试承接装置对电路板的测试部位进行检测,并通过滑套限制住压板的位置,减少压板和压棒的测试位置偏斜的情况,提高使用稳定性,通过压棒一次对电路板上多个部位进行检测,代替人工检测,达到便于对大批量的电路板进行检测,效率较高,实用性较高的效果。

附图说明

图1为本发明的结构示意图;

图2为本发明的测试承接装置内部的立体结构示意图;

图3为本发明的立体结构示意图;

图4为本发明中针板、限位轴、载板和探测针的立体结构示意图。

图中:1、立板;2、横板;3、光轴;4、架板;5、双轴气缸;6、转接板;7、压板;8、滑套;9、压棒;10、针板;11、限位轴;12、载板;13、弹簧杆;14、探测针;15、夹板;16、第一定位螺钉;17、底板;18、支板;19、前板;20、后板;21、测试组件;22、连接头;23、开关电源;24、安装板;25、卡扣;26、把手;27、加强板;28、第二定位螺钉;29、支撑条。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

实施例一:

请参阅图1-4,一种多电路测试机,包括测试承接装置,测试承接装置的顶端左部和顶端右部均固定连接有立板1,两个立板1的相对中间区域设置有加强板27,加强板27的左端和右端分别和各立板1的相对端通过螺钉连接;通过加强板27加强两个立板1之间的连接强度,减少在使用过程中立板1的变形,提高使用可靠性的效果,两个立板1的相对端均通过螺钉连接有横板2,各横板2的底端均固定连接有光轴3,各光轴3的底端均和测试承接装置的顶端固定连接,测试承接装置的上侧设置有架板4,架板4的后端和各立板1的前端上部通过螺钉连接,架板4的前端设置有双轴气缸5,架板4的中部设置有两个过线孔;通过使用者在使用时将控制双轴气缸5的管路和连接线,通过穿过过线孔后通向后方,达到减少双轴气缸5的管路和连接线弯折的情况,双轴气缸5的输出端固定连接有转接板6,转接板6的底端设置有压板7,压板7的后部和各光轴3的圆周外壁上下滑动连接,压板7的左部和右部均固定连接有滑套8,各滑套8分别套装在各对应光轴3的圆周外壁上,压板7的底端固定连接有多个压棒9;通过使用者在测试时,使双轴气缸5的输出端伸出,进而带动转接板6、压板7和压棒9下降,通过压棒9压住测试部位,进而使测试承接装置对电路板的测试部位进行检测,并通过滑套8限制住压板7的位置,减少压板7和压棒9的测试位置偏斜的情况,提高使用稳定性,通过压棒9一次对电路板上多个部位进行检测,代替人工检测,达到便于对大批量的电路板进行检测,效率较高,实用性较高的效果。

进一步的,测试承接装置包括底板17,测试承接装置的顶端中部固定连接有针板10,针板10的顶端四角位置区域均固定连接有限位轴11,针板10的上侧设置有载板12,载板12的底端四角位置区域分别和各对应限位轴11的上部滑动配合,针板10的四角位置区域均安装有弹簧杆13,各弹簧杆13的顶端均和载板12的底端接触,针板10的中部设置有多个探测针14,各探测针14的顶端均穿过载板12的中部,底板17的顶端左部、顶端右部分别通过螺钉连接有支板18,底板17的顶端前部和顶端右部分别通过螺钉连接有前板19和后板20,前板19和后板20分别和各支板18的相对端通过螺钉连接,底板17的顶端左部设置有测试组件21,测试组件21的后端设置有连接头22,连接头22和测试组件21电连接,测试组件21的顶端和各探测针14的底部连接,底板17的顶端右部安装有开关电源23,底板17的上侧设置有安装板24,安装板24的后端和后板20的顶部通过铰链连接,安装板24的前部和各支板18的上部可拆连接,两个支板18的相反端上部均和安装板24的底端通过卡扣25连接,两个支板18的相反端均固定连接有把手26;通过卡扣25连接的方式,有效实现支板18和安装板24之间的可拆连接,并且卡扣25拆卸较为方便,并通过使用者拉动把手26,代替使用者直接移动整体,达到便于使用者移动整体的效果,安装板24的顶端左部和顶端右部分别和各对应立板1的底端固定连接,安装板24的顶端和各光轴3的底端固定连接;与现有的测试承接装置相比,增加了开关电源23,便于对内部电源的控制,通过安装板24的后部和后板20之间铰接的形式,并且安装板24前部和支板18上部可拆连接的方式,代替底板17和上方部件通过卡扣25连接的方式,使用者在维修时,仅通过将安装板24前部拆下,并旋转上部的部件,代替将底板17以上部件抬起的方式,达到节省使用者在维修时的力气,便于使用者维修的效果,载板12的顶端设置有卡槽,卡槽的四角位置区域均设置有让位槽,卡槽的内部固定连接有多个支撑条29;通过卡槽固定住特定大小电路板的位置,减少电路板偏移的情况,并通过让位槽让出电路板四角的空间,减少电路板四角磕碰损坏的情况,通过多个支撑条29支撑住电路板,减少电路板和探测针14接触过度而损坏的情况。

综上所述,该多电路测试机,在使用时,首先使用者在测试时,使双轴气缸5的输出端伸出,进而带动转接板6、压板7和压棒9下降,通过压棒9压住测试部位,进而使测试承接装置对电路板的测试部位进行检测,并通过滑套8限制住压板7的位置,通过压棒9一次对电路板上多个部位进行按压,并通过测试承接装置进行检测。

实施例二:

参照图1-4,一种多电路测试机,架板4的后端设置有夹板15,双轴气缸5的后端和夹板15的前端通过第一定位螺钉16连接,架板4的中部设置有和各第一定位螺钉16相对应的第一长条孔,第一定位螺钉16的后端穿过各对应第一长条孔并和夹板15的前端和各第一定位螺钉16的后端通过螺纹连接;通过使用者拧松第一定位螺钉16后,移动双轴气缸5,进而使第一定位螺钉16在第一长条孔内移动,进而调整双轴气缸5的位置,进而便于调整压棒9的下压高度,转接板6的底端和压板7的顶端通过第二定位螺钉28连接,转接板6的左部和右部分别设置有第二长条孔,第二定位螺钉28的中部穿过各对应第二长条孔;通过使用者在使用时,移动压板7,进而带动第二定位螺钉28在第二长条孔内移动,进而调整压板7的横向位置,提高实用性。

本实施例与实施例一的区别在于,在实施例一的基础上增加了夹板15、第一定位螺钉16和第二定位螺钉28。

本实施例的工作原理为,在实施一的基础上,通过使用者拧松第一定位螺钉16后,移动双轴气缸5,进而使第一定位螺钉16在第一长条孔内移动,进而调整双轴气缸5的纵向位置,通过使用者在使用时,移动压板7,进而带动第二定位螺钉28在第二长条孔内移动,进而调整压板7的横向位置,进而调整压板7的横向位置和下压高度。

其中,双轴气缸5选用型号为tn32-100,此气缸为市面上直接购买的本领域技术人员的公知设备,在这里我们只是对其进行使用,并未对其进行结构和功能上的改进,在此我们不再详细赘述,且气缸设置有与其配套的控制开关,控制开关的安装位置根据实际使用需求进行选择,便于操作人员进行操作控制。

其中,探测针14、连接头22、测试组件21均为现有部件,其为该领域技术人员所熟知,并且在专利公开号为cn2311004的专利中有记载,故不赘述。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

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