技术特征：
1.一种用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)采用荧光免疫分析仪以设定的测试频率f、测试时间t对试剂卡进行测试，按序输出荧光强度值，从而在以输出数值序号i为横坐标、荧光强度值f为纵坐标的坐标系上得到(f
×
t)个荧光强度点，得到对应的荧光强度散点图；(2)峰检测：从荧光强度散点图中找出波峰位置，包括以下步骤：a.计算荧光强度点的斜率值k
i
，将斜率值以其对应的输出数值序号i从小到大作为排列顺序进行排序得到对应的斜率数组；设定斜率数组中斜率值最大值与最小值间数据个数的最小阈值m；b.遍历上一步骤所得的斜率数组找出斜率值的最大值和最小值，根据斜率值的最大值、最小值找到其对应的荧光强度数据点对应的输出数值序号，分别记为i
min
、i
max
；c.计算i
min
、i
max
之间的数据个数n＝|i
max-i
min
|+1；d.判断所述数据个数n是否大于m：若n≤m，则在最接近的一个步骤所得斜率数组中将i
min
、i
max
之间的数据点及端点排除，剩余的斜率值组成新的斜率数组，在新的斜率数组中重复进行上述步骤b-d直至满足n＞m；若n＞m，则在最接近的一个步骤所得斜率数组中其对应的输出数值序号在i
min
至i
max
之间的斜率值中找到斜率值绝对值最小的值，确定该斜率值绝对值最小的值对应的输出数值序号i，该输出数值序号i对应的荧光强度值则为波峰值，其位置则为波峰位置。2.根据权利要求要求1所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，步骤a中所述斜率值k
i
按以下公式计算：其中，x为输出数值序号；y为输出数值序号对应的荧光强度值，i＝m+1，m+2
…
,f
×
t-m；m为预设的已知整数，m≥1。3.根据权利要求要求2所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，所述m为1或2。4.根据权利要求要求2所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，所述最小阈值m＝a
×
(2m+1)，a＝希望排除突变点的个数。5.根据权利要求要求4所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，所述a为3或4。6.根据权利要求要求1所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，步骤(1)中所述荧光免疫分析仪采用aducm360作为数据采集主芯片，所述设定的测试频率f为500hz，所述测试时间t为2s。7.根据权利要求要求1所述用于荧光强度峰检测的方法，其特征在于，所述步骤(2)前还包括将步骤(1)所述荧光强度点进行平滑滤波处理，从而得到处理后的荧光强度散点图。