交流接触器测试方法、装置、存储介质及电子设备与流程

1.本申请涉及电路控制技术领域，特别地涉及一种交流接触器测试方法、装置、存储介质及电子设备。


背景技术：

2.交流接触器因其可快速切断交流与直流主回路和可频繁地接通与大电流控制电路的装置，所以经常运用于电动机做为控制对象﹐也可用作控制工厂设备﹑电热器﹑工作母机和各样电力机组等电力负载，接触器不仅能接通和切断电路，而且还具有低电压释放保护作用。接触器控制容量大，适用于频繁操作和远距离控制。是自动控制系统中的重要元件之一。
3.因此交流接触器的动作性能参数在是实际使用过程中显得尤为重要，生产厂家在出厂前都要求进行交流接触器的动作性能实验，吸合实验和释放实验，记录最低吸合电压与释放电压，同时一些需要大批量使用的厂家也会要求对交流接触器的动作性能进行入厂抽检测试，但现有的交流接触器测试方法全过程为人工操作，全程人工操作，一次只能测试一个交流接触器，费时费力，效率低下，且测试人员一边要操作变压器调节接触器线圈驱动电压，一边要使用万用表测量接触器触点导通情况，过程操作复杂，容易导致得到的测试结果不准确。


技术实现要素：

4.针对上述问题，本申请提供一种交流接触器测试方法、装置、存储介质及电子设备，解决了相关技术中由于人工操作测试交流接触器，导致测试效率低下，测试结果不准确的技术问题。
5.第一方面，本申请提供了一种交流接触器测试方法，所述方法包括：
6.在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值；
7.接通待测交流接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电；
8.按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压；
9.当所述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值；
10.按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压；
11.当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。
12.可选的，所述交流接触器测试方法，还包括：
13.对所述测试结果进行符合性判断；
14.若所述测试结果通过符合性判断，则判定所述待测交流接触器通过测试；
15.若所述测试结果未通过符合性判断，则判定所述待测交流接触器未通过测试。
16.可选的，所述对所述测试结果进行符合性判断，包括：
17.判断所述测试结果中记录的吸合电压是否小于143v交流电压，且大于44v交流电压；判断所述测试结果中记录的释放电压是否小于132v交流电压，且大于44v交流电压；
18.若所述测试结果中记录的吸合电压小于143v交流电压，且大于44v交流电压，且所述测试结果中记录的释放电压小于132v交流电压，且大于44v交流电压，则判定所述待测交流接触器通过测试；
19.若所述测试结果中记录的吸合电压大于或等于143v交流电压，或者小于或等于44v交流电压，和/或所述测试结果中记录的释放电压小于或等于44v交流电压，则判定所述待测交流接触器未通过测试。
20.可选的，所述待测交流接触器为至少一个待测交流接触器，每个待测交流接触器对应一个继电器。
21.可选的，所述将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值，包括：
22.通过可编程逻辑控制器plc变频电源将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值。
23.可选的，所述将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值，包括：
24.通过可编程逻辑控制器plc变频电源将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值。
25.可选的，所述第一预设速率包括：
26.测试电压提升的时间间隔和每次提升的电压值。
27.可选的，所述第二预设速率包括：
28.测试电压降低的时间间隔和每次降低的电压值。
29.第二方面，一种交流接触器测试装置，所述装置包括：
30.调整单元，用于在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值；当所述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值；
31.供电单元，用于接通待测交流接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电；
32.检测单元，用于按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压；按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压；当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。
33.第三方面，一种存储介质，该存储介质存储的计算机程序，可被一个或多个处理器执行，可用来实现如上述第一方面所述的交流接触器测试方法。
34.第四方面，一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，该计算机程序被所述处理器执行时，执行如上述第一方面所述的交流接触器测试的方法。
35.本申请提供的一种交流接触器测试方法、装置、存储介质及电子设备，包括：在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值；接通待测交流
接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电；按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压；当所述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值；按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压；当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。本申请通过自动调节测试电压的方式，实现了测试全自动化，并可以实现多个交流接触器同时测试，大幅提高了测试效率和准确性。
附图说明
36.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
37.图1为本申请实施例提供的一种交流接触器测试方法的流程示意图；
38.图2为本申请实施例提供的一种交流接触器测试装置的连接结构图；
39.图3为本申请实施例提供的触摸屏显示内容示意图；
40.图4为本申请实施例提供的另一种交流接触器测试装置的结构示意图；
41.图5为本申请实施例提供的一种电子设备的连接框图。
具体实施方式
42.以下将结合附图及实施例来详细说明本申请的实施方式，借此对本申请如何应用技术手段来解决技术问题，并达到相应技术效果的实现过程能充分理解并据以实施。本申请实施例以及实施例中的各个特征，在不相冲突前提下可以相互结合，所形成的技术方案均在本申请的保护范围之内。
43.由背景技术可知，交流接触器的动作性能参数在是实际使用过程中显得尤为重要，生产厂家在出厂前都要求进行交流接触器的动作性能实验，吸合实验和释放实验，记录最低吸合电压与释放电压，同时一些需要大批量使用的厂家也会要求对交流接触器的动作性能进行入厂抽检测试，但现有的交流接触器测试方法全过程为人工操作，全程人工操作，一次只能测试一个交流接触器，费时费力，效率低下，且测试人员一边要操作变压器调节接触器线圈驱动电压，一边要使用万用表测量接触器触点导通情况，过程操作复杂，容易导致得到的测试结果不准确。
44.有鉴于此，本申请提供一种交流接触器测试方法、装置、存储介质及电子设备，解决了相关技术中由于人工操作测试交流接触器，导致测试效率低下，测试结果不准确的技术问题。
45.实施例一
46.图1为本申请实施例提供的一种交流接触器测试方法的流程示意图，如图1所示，本方法包括：
47.s101、在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下
限值。
48.s102、接通待测交流接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电。
49.s103、按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压。
50.s104、当所述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值。
51.s105、按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压。
52.s106、当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。
53.需要说明的是，在接收测试开始指令之前，需要将待测交流接触器与测试装置进行连接，具体连接结构如图2所示，为本申请交流接触器测试装置的连接结构图，其中，plc为可编程逻辑控制器(programmable logic controller，plc)，是一种用于自动化控制的数字逻辑控制器，用于根据触摸屏上设置的参数调整测试电压。如图3所示，为本申请实施例触摸屏显示内容示意图。由于本申请的交流接触器测试装置测试的是交流接触器的动作性能，所以也可以称为交流接触器动作性能测试装置。
54.具体的，触摸屏的显示界面包括：题目交流接触器动作性能测试装置，日期和时间，全局实验参数设置区域和测试操作及结果显示区域。
55.其中，所述全局实验参数设置区域包括吸合测试调压范围、吸合重测次数、释放测试调压范围、调压步幅和调压时间间隔。而调压步幅和调压时间间隔就是所述预设速率，表示测试电压调整的时间间隔和每次调整的电压值。吸合测试调压范围和释放测试调压范围即为预先设置的吸合测试电压下限值、下限值，以及预先设置的释放测试电压下限值、上限值。
56.测试操作及结果显示区域实时显示测试相关数据以及测试结果。如图3所示，本实施例包含测试工位8个，这就表示可以同时对8个交流接触器进行测试，大幅提高测试效率，当然，本申请包括但不限于同时对8个交流接触器进行测试，可以根据具体需要和承载能力减少或增加工位数。
57.可选的，所述交流接触器测试方法，还包括：
58.对所述测试结果进行符合性判断；
59.若所述测试结果通过符合性判断，则判定所述待测交流接触器通过测试；
60.若所述测试结果未通过符合性判断，则判定所述待测交流接触器未通过测试。
61.可选的，所述对所述测试结果进行符合性判断，包括：
62.判断所述测试结果中记录的吸合电压是否小于143v交流电压，且大于44v交流电压；判断所述测试结果中记录的释放电压是否小于132v交流电压，且大于44v交流电压；
63.若所述测试结果中记录的吸合电压小于143v交流电压，且大于44v交流电压，且所述测试结果中记录的释放电压小于132v交流电压，且大于44v交流电压，则判定所述待测交流接触器通过测试；
64.若所述测试结果中记录的吸合电压大于或等于143v交流电压，或者小于或等于44v交流电压，和/或所述测试结果中记录的释放电压小于或等于44v交流电压，则判定所述
待测交流接触器未通过测试。
65.需要说明的是，交流接触器的正常工作电压在220v的65％～120％之间任何时候，必须保证接触器能可靠地闭合(除部分编码图纸有特殊要求外)。
66.交流接触器的最低吸合电压为220v的65％，即143v交流电压，此时触点必须吸合，在某些特殊情况或要求下比143v更低也是合格的，但最低不能低到220v的20％以下，即44v，而超过220v的65％时不吸合的交流接触器是不合格的。
67.测试装置在测试交流接触器时，控制测试电压由吸合测试电压的下限值开始升压，寻找稳定的触点吸合电压，记录该吸合电压。
68.测试装置可以进行多个交流接触器的同步测试，只需同步控制施加于说是有交流接触器的测试电压提升即可。
69.交流接触器的释放电压为220v的20％～60％之间，即132v到44v交流电压之间，只要交流接触器在这个电压区间能够断开即可；如果到了220v的20％以下还未断开，则不合格。
70.测试装置在测试交流接触器时，控制测试电压由释放测试电压的上限值开始降压，寻找稳定的触点释放电压，记录该释放电压。
71.测试装置可以进行多个交流接触器的同步测试，只需同步控制施加于说是有交流接触器的测试电压降低即可。
72.可选的，所述待测交流接触器为至少一个待测交流接触器，每个待测交流接触器对应一个继电器。
73.需要说明的是，如图3所示，每一个交流接触器对应一个继电器，用于通过继电器给交流接触器供电。
74.可选的，所述将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值，包括：
75.通过可编程逻辑控制器plc变频电源将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值。
76.可选的，所述将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值，包括：
77.通过可编程逻辑控制器plc变频电源将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值。
78.需要说明的是，可编程逻辑控制器plc变频电源能够实现电压的自动变化，以解放人工，是实现全自动化的交流接触器测试的基础。
79.可选的，所述第一预设速率包括：
80.测试电压提升的时间间隔和每次提升的电压值。
81.可选的，所述第二预设速率包括：
82.测试电压降低的时间间隔和每次降低的电压值。
83.需要说明的是，对于不同型号的交流接触器以及对于测试精度的不同要求可以相应修改第一预设速率和第二预设速率，在满足需求的同时完成测试。
84.综上所述，本申请实施例提供了一种交流接触器测试方法，包括：在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值；接通待测交流接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电；按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压；当所
述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值；按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压；当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。本申请通过自动调节测试电压的方式，实现了测试全自动化，并可以实现多个交流接触器同时测试，大幅提高了测试效率和准确性。
85.实施例二
86.基于上述本发明实施例公开的交流接触器测试方法，图4具体公开了应用该交流接触器测试方法的交流接触器测试装置。
87.如图4所示，本发明实施例公开了一种交流接触器测试装置，该装置包括：
88.调整单元401，用于在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值；当所述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值；
89.供电单元402，用于接通待测交流接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电；
90.检测单元403，用于按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压；按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压；当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。
91.需要说明的是，在接收测试开始指令之前，需要将待测交流接触器与测试装置进行连接，具体连接结构如图2所示，为本申请交流接触器测试装置的连接结构图，其中，plc为可编程逻辑控制器(programmable logic controller，plc)，是一种用于自动化控制的数字逻辑控制器，用于根据触摸屏上设置的参数调整测试电压。而触摸屏上具体显示的内容如图3所示，由于本申请的交流接触器测试装置测试的是交流接触器的动作性能，所以也可以称为交流接触器动作性能测试装置。
92.具体的，触摸屏的显示界面包括：题目交流接触器动作性能测试装置，日期和时间，全局实验参数设置区域和测试操作及结果显示区域。
93.其中，所述全局实验参数设置区域包括吸合测试调压范围、吸合重测次数、释放测试调压范围、调压步幅和调压时间间隔。而调压步幅和调压时间间隔就是所述预设速率，表示测试电压调整的时间间隔和每次调整的电压值。吸合测试调压范围和释放测试调压范围即为预先设置的吸合测试电压下限值、下限值，以及预先设置的释放测试电压下限值、上限值。
94.测试操作及结果显示区域实时显示测试相关数据以及测试结果。如图3所示，本实施例包含测试工位8个，这就表示可以同时对8个交流接触器进行测试，大幅提高测试效率，当然，本申请包括但不限于同时对8个交流接触器进行测试，可以根据具体需要和承载能力减少或增加工位数。
95.可选的，所述交流接触器测试装置，还包括：
96.判断单元，对所述测试结果进行符合性判断；
97.若所述测试结果通过符合性判断，则判定所述待测交流接触器通过测试；
98.若所述测试结果未通过符合性判断，则判定所述待测交流接触器未通过测试。
99.可选的，所述判断单元，用于判断所述测试结果中记录的吸合电压是否小于143v交流电压，且大于44v交流电压；判断所述测试结果中记录的释放电压是否小于132v交流电压，且大于44v交流电压；
100.若所述测试结果中记录的吸合电压小于143v交流电压，且大于44v交流电压，且所述测试结果中记录的释放电压小于132v交流电压，且大于44v交流电压，则判定所述待测交流接触器通过测试；
101.若所述测试结果中记录的吸合电压大于或等于143v交流电压，或者小于或等于44v交流电压，和/或所述测试结果中记录的释放电压小于或等于44v交流电压，则判定所述待测交流接触器未通过测试。
102.需要说明的是，交流接触器的正常工作电压在220v的65％～120％之间任何时候，必须保证接触器能可靠地闭合(除部分编码图纸有特殊要求外)。
103.交流接触器的最低吸合电压为220v的65％，即143v交流电压，此时触点必须吸合，在某些特殊情况或要求下比143v更低也是合格的，但最低不能低到220v的20％以下，即44v，而超过220v的65％时不吸合的交流接触器是不合格的。
104.测试装置在测试交流接触器时，控制测试电压由吸合测试电压的下限值开始升压，寻找稳定的触点吸合电压，记录该吸合电压。
105.测试装置可以进行多个交流接触器的同步测试，只需同步控制施加于说是有交流接触器的测试电压提升即可。
106.交流接触器的释放电压为220v的20％～60％之间，即132v到44v交流电压之间，只要交流接触器在这个电压区间能够断开即可；如果到了220v的20％以下还未断开，则不合格。
107.测试装置在测试交流接触器时，控制测试电压由释放测试电压的上限值开始降压，寻找稳定的触点释放电压，记录该释放电压。
108.测试装置可以进行多个交流接触器的同步测试，只需同步控制施加于说是有交流接触器的测试电压降低即可。
109.可选的，所述待测交流接触器为至少一个待测交流接触器，每个待测交流接触器对应一个继电器。
110.需要说明的是，如图3所示，每一个交流接触器对应一个继电器，用于通过继电器给交流接触器供电。
111.可选的，所述调整单元，用于通过可编程逻辑控制器plc变频电源将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值。
112.可选的，所述调整单元，用于通过可编程逻辑控制器plc变频电源将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值。
113.需要说明的是，可编程逻辑控制器plc变频电源能够实现电压的自动变化，以解放人工，是实现全自动化的交流接触器测试的基础。
114.可选的，所述第一预设速率包括：
115.测试电压提升的时间间隔和每次提升的电压值。
116.可选的，所述第二预设速率包括：
117.测试电压降低的时间间隔和每次降低的电压值。
118.需要说明的是，对于不同型号的交流接触器以及对于测试精度的不同要求可以相应修改第一预设速率和第二预设速率，在满足需求的同时完成测试。
119.综上所述，本申请实施例提供了一种交流接触器测试装置，包括：在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值；接通待测交流接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电；按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压；当所述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值；按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压；当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。本申请通过自动调节测试电压的方式，实现了测试全自动化，并可以实现多个交流接触器同时测试，大幅提高了测试效率和准确性。
120.实施例三
121.本实施例还提供一种计算机可读存储介质，如闪存、硬盘、多媒体卡、卡型存储器(例如，sd或dx存储器等)、随机访问存储器(ram)、静态随机访问存储器(sram)、只读存储器(rom)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、可编程只读存储器(prom)、磁性存储器、磁盘、光盘、服务器、app应用商城等等，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时可以实现如实施例一的方法步骤，本实施例在此不再重复赘述。
122.实施例四
123.图5为本申请实施例提供的一种电子设备500的连接框图，如图5所示，该电子设备500可以包括：处理器501，存储器502，多媒体组件503，输入/输出(i/o)接口504，以及通信组件505。
124.其中，处理器501用于执行如实施例一中的交流接触器测试方法中的全部或部分步骤。存储器502用于存储各种类型的数据，这些数据例如可以包括电子设备中的任何应用程序或方法的指令，以及应用程序相关的数据。
125.处理器501可以是专用集成电路(application specific integrated circuit，简称asic)、数字信号处理器(digital signal processor，简称dsp)、数字信号处理设备(digital signal processing device，简称dspd)、可编程逻辑器件(programmable logic device，简称pld)、现场可编程门阵列(field programmable gate array，简称fpga)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述实施例一中的交流接触器测试方法。
126.存储器502可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，例如静态随机存取存储器(static random access memory，简称sram)，电可擦除可编程只读存储器(electrically erasable programmable read
‑
only memory，简称eeprom)，可擦除可编程只读存储器(erasable programmable read
‑
only memory，简称eprom)，可编程只读存储器(programmable read
‑
only memory，简称prom)，只读存储器(read
‑
only memory，简称rom)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。
127.多媒体组件503可以包括屏幕和音频组件，该屏幕可以是触摸屏，音频组件用于输出和/或输入音频信号。例如，音频组件可以包括一个麦克风，麦克风用于接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器或通过通信组件发送。音频组件还包括至少一个扬声器，用于输出音频信号。
128.i/o接口504为处理器501和其他接口模块之间提供接口，上述其他接口模块可以是键盘，鼠标，按钮等。这些按钮可以是虚拟按钮或者实体按钮。
129.通信组件505用于该电子设备500与其他设备之间进行有线或无线通信。无线通信，例如wi
‑
fi，蓝牙，近场通信(near field communication，简称nfc)，2g、3g或4g，或它们中的一种或几种的组合，因此相应的该通信组件505可以包括：wi
‑
fi模块，蓝牙模块，nfc模块。
130.综上，本申请提供的一种交流接触器测试方法、装置、存储介质及电子设备，该方法包括：在接收到测试开始指令时，将测试电压调整为预先设置的吸合测试电压下限值；接通待测交流接触器对应的继电器给所述待测交流接触器供电；按照第一预设速率提升所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由分离状态转为吸合状态时记录吸合电压；当所述测试电压达到预先设置的吸合测试电压上限值时，将所述测试电压调整为预先设置的释放测试电压上限值；按照第二预设速率降低所述测试电压，实时检测待测交流接触器的触点状态，并在触点状态由吸合状态转为分离状态时记录释放电压；当所述测试电压达到预先设置的释放测试电压下限值时，完成测试，得到测试结果。本申请通过自动调节测试电压的方式，实现了测试全自动化，并可以实现多个交流接触器同时测试，大幅提高了测试效率和准确性。
131.在本申请实施例所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的方法，也可以通过其它的方式实现。以上所描述的方法实施例仅仅是示意性的。
132.需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
133.虽然本申请所揭露的实施方式如上，但上述的内容只是为了便于理解本申请而采用的实施方式，并非用以限定本申请。任何本申请所属技术领域内的技术人员，在不脱离本申请所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本申请的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。