一种同轴检测机构的制作方法

[0001]
本发明属于x光检测装置领域，具体涉及一种同轴检测机构。


背景技术：

[0002]
x射线检测设备广泛应用于食品、医疗检测、工业检查等领域，工业上利用x光检测的原理是：x射线通过物质被吸收时，可使组成物质的分子分解成为正负离子，称为电离作用，离子的多少和物质吸收的x射线量成正比。通过空气或其它物质产生电离作用，利用仪表测量电离的程度就可以计算x射线的量。由成像器转换成数字信号，再通过计算机辅助软件还原成图像以后进行判图、标注、储存等。
[0003]
工业ct能在被检测物体无损伤的情况下，以二维断层图像或三维立体图像的形式，清晰、准确、直观地展示被检测物体的内部结构、组成、材质及缺损状况，被誉为当今最佳无损检测和无损评估技术，现有工业ct多为专机专用，通用性差，且重量大价格贵，对于流水线作业来说成本较高。


技术实现要素：

[0004]
鉴于以上，本发明提供一种同轴检测机构，此机构检测单元中射线源和平板探测器能够手动左右调节，加上检测位工件载台可进行３６０度旋转，实现三轴联动，自由度高，根据检测工件的大小和种类手动调节平板接收器的位置，适用性强，同时机构主体为铝合金型材框架，强度高，重量轻，更适用于流水线作业。
[0005]
具体技术方案如下：
[0006]
一种同轴检测机构，其特征在于：包括支架、底座、检测单元和工件载台，所述支架通过x轴双导轨组件活动的设置在底座的两侧，所述支架为铝合金型材框架，所述检测单元包括射线源和平板接收器，所述射线源通过双导轨组件活动的设置在一侧支架上，所述平板接收器通过双导轨组件活动的设置在与射线源相对一侧的支架上；所述工件载台通过y轴双导轨组件活动的设置在ｘ轴双导轨组件上，可进行相对y轴双导轨组件的圆周运动，x轴双导轨组件、y轴双导轨组件可分别带动工件载台进行水平横向、纵向的平移运动；所述工件载台位于所述射线源与平板接收器的中间，三者的中心连线在一条直线上。
[0007]
本发明附加的方面和优点将在下面的描述中进一步给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
[0008]
本发明的上述和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0009]
图1所示为同轴检测机构的正面结构示意图；
[0010]
图2所示为同轴检测机构的俯视结构图；
[0011]
其中，1为底座，２为支架，３为射线管，４为平板接收器，５为工件载台，６为x轴双导轨
组件，７为y轴双导轨组件，８为双导轨组件。
具体实施方式
[0012]
下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。
[0013]
在本发明的描述中，需要理解的是，术语
ꢀ“
上”、“下”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
[0014]
图1示出了本发明同轴检测机构的一种实施例结构示意图，也是一种优选实施例示意图。参照图1-2，一种同轴检测机构，包括支架２、底座１、检测单元和工件载台５，支架２通过x轴双导轨组件６活动的设置在底座１的两侧，支架２为铝合金型材框架，检测单元包括射线源３和平板接收器４，射线源３通过双导轨组件８活动的设置在一侧支架２上，平板接收器４通过双导轨组件８活动的设置在与射线源３相对一侧的支架２上；工件载台５通过y轴双导轨组件７活动的设置在ｘ轴双导轨组件６上，可进行相对y轴双导轨组件７的圆周运动，x轴双导轨组件６、y轴双导轨组件７可分别带动工件载台进行水平横向、纵向的平移运动；工件载台５位于射线源３与平板接收器４的中间，三者的中心连线在一条直线上。其中射线源2用于发射x光束照射到工件上，平板接收器3用于采集工件图像。在本实施例中，由于双导轨型组件为较成熟技术，不影响理解，因此不做过多展示说明。
[0015]
本实施例中的同轴检测机构由伺服电机提供动力，主体为铝合金型材框架，强度高，重量轻。主轴采用双导轨结构，能够保证射线源３、平板探测器、检测位工件载台5运动到同一轴线。射线源3及平板接收器4能够手动左右调节，与检测位的工件载台5实现三轴联动，自由度高。
[0016]
尽管参照本发明的示意性实施例对本发明的具体实施方式进行了详细的描述，但是必须理解，本领域技术人员可以设计出多种其他的改进和实施例，这些改进和实施例将落在本发明原理的精神和范围之内。具体而言，在前述公开、附图以及权利要求的范围之内，可以在零部件和/或者从属组合布局的布置方面作出合理的变型和改进，而不会脱离本发明的精神。除了零部件和/或布局方面的变型和改进，其范围由所附权利要求及其等同物限定。