一种串口测试装置的制作方法

本申请涉及设备技术领域，尤其涉及一种串口测试装置。

背景技术：

为方便后续对产品的检测维护，设备产品在出货时一般预留有串口接口，目前，一般是在产品的pcb板上预留rj45座子，或在pcb板上预留排针，以作调试串口使用。

即为了实现串口测试，需要在产品上设置rj45座子或排针，通过与其匹配的元件与其配合实现对产品的串口测试，如此，导致产品的成本较高。

技术实现要素：

本申请实施例提供一种串口测试装置，以解决目前在产品中设置rj45座子或排针用于串口测试，导致产品成本较高的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

第一方面，本申请实施例提供了一种串口测试装置，包括：

壳体；

测试板，位于所述壳体内；

探针部件，所述探针部件的一端与所述测试板连接，所述探针部件的另一端穿过所述壳体的第一端伸出所述壳体外；

引线，所述引线的一端与所述测试板连接，所述引线的另一端穿过所述壳体的第二端伸出所述壳体外。

可选的，还包括至少一个卡持部件，所述卡持部件设置在所述壳体的外侧面。

可选的，所述至少一个卡持部件包括第一卡持部件和第二卡持部件，所述第一卡持部件设置在所述壳体的第一外侧面，所述第二卡持部件设置在所述壳体的第二外侧面，所述第一外侧面与所述第二外侧面相对。

可选的，所述第一卡持部件包括第一卡持臂以及设置在所述第一卡持臂的一端的第一凸起，所述第一卡持臂的另一端安装在所述第一外侧面，所述第一凸起背向所述第一外侧面；

所述第二卡持部件包括第二卡持臂以及设置在所述第二卡持臂的一端的第二凸起，所述第二卡持臂的另一端安装在所述第二外侧面，所述第二凸起背向所述第二外侧面。

可选的，所述探针部件包括探针、弹性件以及套筒，所述弹性件和诉述套筒均位于壳体内，所述弹性件与所述套筒的一端连接，所述套筒的另一端安装在所述壳体内，所述探针的一端通过所述弹性件以及所述套筒安装于所述壳体内，所述探针的另一端穿过所述壳体的第一端伸出所述壳体外。

可选的，所述第一卡持臂的一端相对所述壳体的第一端的距离小于所述探针的另一端相对所述壳体的第一端的距离，所述第二卡持臂的一端相对所述壳体的第一端的距离小于所述探针的另一端相对所述壳体的第一端的距离。

可选的，所述第一卡持臂的一端相对所述壳体的第一端的距离与所述第二卡持臂的一端相对所述壳体的第一端的距离相同。

可选的，所述探针的数量为多个，且所述探针的数量、所述弹性件的数量以及所述套筒的数量相同。

可选的，所述壳体由pp或pc材料制成。

本申请实施例的串口测试装置中，设置有壳体，通过将探针部件的一端与壳体内的测试板连接，另一端伸出壳体外，只需将探针部件的另一端与待测设备的预留触点接触，读取串口信息，通过引线输出串口信息即可，通过本实施例的串口测试装置，只需在待测设备中设置预留触点，无需额外设置rj45座子和排针，即可实现对待测设备的测试，降低待测设备的成本。

附图说明

图1为本申请实施例提供的串口测试装置的结构图之一；

图2为本申请实施例提供的串口测试装置的结构图之二；

图3为本申请实施例提供的串口测试装置的结构图之三；

图4为本申请实施例提供的串口测试装置的结构图之四。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

参见图1-4，提供一个实施例的串口测试装置100，包括：

壳体101；

测试板102，位于所述壳体内101；

探针部件103，所述探针部件103的一端与所述测试板102连接，所述探针部件103的另一端穿过所述壳体101的第一端伸出所述壳体101外；

引线104，所述引线104的一端与所述测试板103连接，所述引线104的另一端穿过所述壳体101的第二端伸出所述壳体101外。

其中，探针部件103的另一端用于与待测设备的预留触点202接触，可以用于与待测设备的pcb板201的预留触点202接触，即在待测设备中设置有预留触点202，用于与探针部件103接触，待测设备的串口信息通过触点202传递给探针部件103，实现探针部件103对串口信息的读取，可以理解探针部件103通过与预留触点202的接触读取待测设备的串口信息，通过测试板102将串口信息传递给引线104，通过引线104输出，从而实现串口测试。

在本实施例的串口测试装置100，设置有壳体101，通过将探针部件103的一端与壳体101内的测试板102连接，另一端伸出壳体101外，只需将探针部件103的另一端与待测设备的预留触点202接触，读取串口信息，通过引线104输出串口信息即可，通过本实施例的串口测试装置100，只需在待测设备中设置预留触点202，无需额外设置rj45座子和排针，即可实现对待测设备的测试，降低待测设备的成本。

在一个实施例中，还包括第一卡持部件和第二卡持部件，壳体具有容纳腔，测试板位于容纳腔内，壳体包括内侧面以及外侧面，内侧面面向容纳腔，外侧面背向容纳腔，外侧面包括相对的第一外侧面和第二外侧面，第一卡持部件设置在壳体的第一外侧面，第二卡持部件设置在壳体的第二外侧面。

即在壳体101的相对第一外侧面和第二外侧面分别设置卡持部件，用于与待测设备卡合，如此可使串口测试装置100能更加稳固与待测设备固定。作为一个示例，第一卡持部件和第二卡持部件相对壳体101对称，如此，可使串口测试装置100更好地与待测设备卡合。

作为一个示例，待测设备的外壳203设有卡孔，待测设备的pcb板201设有预留触点202，卡持部件可穿过卡孔与所述外壳203卡合。卡孔的数量与卡持部件的数量相同，卡孔之间间隔设置，且外壳203上卡孔之间的距离与卡持部件之间的距离匹配。

在一个实施例中，如图1所示，第一卡持部件包括第一卡持臂105以及设置在第一卡持臂105的一端的第一凸起107，第一卡持臂105的另一端安装在第一外侧面，第一凸起107背向第一外侧面。第二卡持部件包括第二卡持臂106以及设置在第二卡持臂106的一端的第二凸起108，第二卡持臂106的另一端安装在第二外侧面，第二凸起108背向第二外侧面。

第一卡持部件通过第一卡持臂105和第一凸起107可与待测设备进行卡合，第二卡持部件通过第二卡持臂106和第二凸起108可与待测设备进行卡合，例如，如图3所示，待测设备的外壳203中的卡孔包括第一子卡孔204和第二子卡孔205，朝着壳体101的方向按压第一卡持臂105，第一卡持臂105的一端穿过第一子卡孔204后松开第一卡持臂105，第一卡持臂105的部分位于第一卡孔中，第一凸起107与外壳203的内壁相抵持，从而实现第一卡持部件与外壳203的卡合，探针部件103的另一端与预留触点202接触。同理，朝着壳体101的方向按压第二卡持臂106，第二卡持臂106的一端穿过第二子卡孔205后松开第二卡持臂106，第二卡持臂106的部分位于第二卡孔中，第二凸起108与外壳203的内壁相抵持，从而实现第二卡持部件与外壳203的卡合。

作为一个示例，探针部件103伸出壳体101外的部分、第一卡持臂105的与壳体101相对的部分以及第二卡持臂106的与壳体101相对的部分平行，探针部件103的部分位于第一卡持臂105和第二卡持臂106之间，可以理解，第一凸起107背向探针部件103，第二凸起108背向探针部件103。

在一个实施例中，沿探针部件103的延伸方向，第一卡持臂105的一端相对壳体101的第一端的距离小于探针部件103的另一端相对壳体101的第一端的距离，第二卡持臂106的一端相对壳体101的第一端的距离小于探针部件103的另一端相对壳体101的第一端的距离。

即沿着同一方向(例如，探针部件103的另一端向探针部件103的一端的方向，即沿探针部件103的延伸方向)，第一卡持臂105的一端相对壳体101的第一端的长度比探针1031的另一端相对壳体101的第一端的长度短，沿着该方向，第二卡持臂106的一端相对壳体101的第一端的距离比探针部件103的另一端相对壳体101的第一端的距离短，如此，通过第一卡持臂105与待测设备外壳203卡合后，使探针部件103的另一端与预留触点202更好地接触。

作为一个示例，待测设备的外壳203的第一子卡孔204和第二子卡孔205之间还设有通孔206，探针1031穿过通孔206，第一卡持臂105的一端穿过第一子卡孔204，第二卡持臂106的一端穿过第二子卡孔205，探针部件103与外壳203卡合，探针部件103的另一端与第一卡持臂105的第一凸起107的第一面(面向第二端的一面)之间的沿着探针部件103的另一端向探针部件103的一端的方向的距离大于或等于外壳203到与设置预留触点202的pcb板201之间的距离，如此，能确保探针1031能与预留触点202接触。

在一个实施例中，第一卡持臂105的一端相对壳体101的第一端的距离与第二卡持臂106的一端相对壳体101的第一端的距离相同。如此，可提高第一卡持部件和第二卡持部件与其他设备的卡合效果。作为一个示例，沿同一方向，例如，探针部件103的延伸方向，第一卡持臂105的一端相对壳体101的第一端的距离与第二卡持臂106的一端相对壳体101的第一端的距离相同。

在一个实施例中，探针部件103的延伸方向、第一卡持壁105的延伸方向和第二卡持壁106的延伸方向相同，例如，均为壳体101的第二端向第一端的方向，如此，既能通过第一卡持壁105和第二卡持壁106实现串口测试装置与待测设备的卡合，又能实现探针部件103与待测设备中的预留触电的接触。

在一个实施例中，探针部件103包括探针1031、弹性件1032以及套筒1033，弹性件1032和套筒1033均位于壳体101内，弹性件1032的一端与套筒1033的一端连接，套筒1033的另一端安装在壳体101内，探针1031的一端与弹性件1032的另一端连接，即探针1031的一端通过弹性件1032以及套筒1033安装于壳体101内，探针1031的另一端穿过壳体101的第一端伸出壳体101外。

即探针1031的一端通过弹性件1032与套筒1033的一端连接，而套筒1033的另一端安装在壳体101内，从而实现探针1031的一端通过弹性件1032和套筒1033安装在壳体101内。探针1031的另一端用于与待测设备的预留触点202接触，可以用于与待测设备的pcb板201的预设触点202接触，即在待测设备中设置有预留触点202，用于与探针1031的另一端接触，待测设备的串口信息通过触点202传递给探针1031的另一端，实现探针1031对串口信息的读取，可以理解探针1031的一端通过与预留触点202的接触读取待测设备的串口信息，并通过引线104输出，从而实现串口测试。在本实施例中，探针1031与套筒1033之间通过弹性件1032连接，如此，利用探针1031穿过卡孔与外壳203卡合时更灵活。作为一个示例，弹性件1032可以为弹簧。

在一个实施例中，探针部件103的数量为多个，多个探针部件103间隔设置。每个探针部件103包括探针1031、弹性件1032和套筒1033，探针部件103的数量有多个，可以理解，探针1031的数量、弹性件1032的数量以及套筒1033的数量均为多个，且探针1031的数量、弹性件1032的数量以及套筒1033的数量相同，以及分别与探针部件103的数量相同。即，探针1031、弹性件1032和套筒1033一一对应，能确保探针1031更好地安装于壳体101。

在一个实施例中，多个探针部件103的另一端距离壳体101的第一端的距离相同，如此，可使多个探针部件103更好地与预留触点接触。作为一个示例，多个探针部件103中的探针1031间隔设置，且平行，多个探针部件103的另一端距离壳体101的第一端的距离相同，可以理解为，沿探针部件的延伸方向，多个探针部件103的另一端距离壳体101的第一端的距离相同，个探针部件103中的探针1031的另一端距离壳体101的第一端的距离相同。

在一个实施例中，壳体101由pp材料或pc材料制成，如此，可提高壳体101的使用寿命，从而提高串口测试装置100的使用寿命。

下面以一个具体实施例对上述串口测试装置100的结构和原理加以说明。

如图1-2所示，本实施例的串口测试装置100包括弹性探针部件103、测试板102(测试pcb板)、引线104以及一套带卡持部件的塑胶壳体101。本实施了的探针部件103和普通固定长度的探针1031的区别在于，本实施例的探针部件103由三部分构成，即探针1031、弹性件1032以及套筒1033。如图3所示，本实施例的串口测试装置100的探针1031插入待测设备的外壳203上的通孔206后，与待测设备中的pcb板201上的预留的测试触点202(预留触点202)接触。第一卡持臂105再穿过外壳203上的第一子卡孔204，第二卡持臂106穿过外壳203上的第二子卡孔205后，第一凸起107与外壳203内壁卡持，第二凸起108与外壳203内壁卡持，弹性探针部件103可以始终保证探针1031和预留触点202的接触，串口测试装置100与待测设备之间的装备完成。整体的装配结构示意图如图4所示。当使用完成后，用手指轻压第一卡持臂105和第二卡持臂106，穿出卡孔，实现脱扣，探针1031的弹力会自动弹出装置。

利用本实施例的串口测试装置100，待测设备的pcb201上无需在出货设置贴rj45座子或排针以作串口调试接口，节省待测设备的成本。且待测设备的pcb板201上只预留了几个测试触点202，通过现有与rj45座子或排针配合进行测试的期间无法通过触点202读取串口信息，避免信息安全风险。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

上面结合附图对本申请的实施例进行了描述，但是本申请并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本申请的启示下，在不脱离本申请宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，均属于本申请的保护之内。