一种型芯及包括该型芯的导电组件的制作方法

本实用新型涉及电子测试技术领域。更具体地，涉及一种型芯及包括该型芯的导电组件。

背景技术：

随着科技的发展，电子产品不断的迭代更新，制造工艺越发复杂、结构设计趋于精密，功能更加全面，鉴于此，保障电子产品的性能及其质量是电子产品生产工艺中至关重要的环节。

现有技术中，电子产品在出厂前需要对其各个性能参数进行测试，一般是通过电连接件将被测产品与测试设备导通，通过测试设备输出被测信号并接收被测产品反馈的信息，以确认被测产品是否存在不良之处。

导电组件为一种常用的用以连接被测产品与测试设备形成信号传输的电连接件，通常情况下，导电组件包括有用以放置导电件的型芯，型芯在其延伸方向包括有用以固定呈平行排列的两行导电件的放置槽。然而，该常用型芯结构导致导电组件体积相对较大，且放置槽的并排排列布置的方式，放置槽的数量也受到一定限制，由此现有技术存在的缺陷在于，在该型芯结构尺寸较大的基础上进一步组装成型制作的导电组件的结构尺寸必然较大，无法满足一些测试设备的安装要求。当型芯出现损伤或者损坏时，只能型芯取出整体更换，报废率很高，成本难以控制。并且根据被测产品测试点布局方式的不同，测试点规格大小的不同，导致采用的导电件的结构样式也不尽相同，显然现有的型芯件已无法满足标准化制作，且可共用性以及通用性的市场要求。

技术实现要素：

鉴于上述问题，本实用新型要解决的一个技术问题是提供一种型芯。实现型芯各部件可标准化生产制作，以适用于测试点布局方式不同的被测产品，提高型芯的共用性以及通用性，降低生产制作成本。

本实用新型要解决的另二个技术问题是提供一种包括上述型芯的导电件。

为解决上述第一个技术问题，本实用新型采用下述技术方案：

本实用新型提供一种型芯，所述型芯包括：

具有容纳腔的安装基座；

若干位于容纳腔一边侧的被收容固定在所述容纳腔内的呈区隔排列的第一隔片；以及

若干位于容纳腔另一边侧的被收容固定在所述容纳腔内的呈区隔排列的第二隔片；

若干第一隔片与若干第二隔片呈相对的交错布置；

所述第二隔片的至少部分内侧壁与相对的相邻两个第一隔片间的区隔空间形成用以放置导电件的第一放置槽；

所述第一隔片的至少部分内侧壁与相对的相邻两个第二隔片间的区隔空间形成用以放置导电件的第二放置槽。

此外，优选地方案是，所述第一隔片的内侧壁与第二隔片的内侧壁之间包括有相互抵接固定的部分。

此外，优选地方案是，所述第一隔片的内侧壁上包括有与第一隔片延伸方向相同的第一卡槽；

所述第一卡槽与相对的相邻两个第二隔片间的区隔空间形成用以放置导电件的第二放置槽；

所述第二隔片的内侧壁上包括有与第二隔片延伸方向相同的第二卡槽；

所述第二卡槽与相对的相邻两个第一隔片间的区隔空间形成用以放置导电件的第一放置槽。

此外，优选地方案是，所述型芯包括有由若干第一隔片与若干第二隔片形成的若干第一放置槽以及若干第二放置槽；

若干第一放置槽的宽度均相等；

若干第二放置槽的宽度均相等；

所述第一放置槽的宽度与所述第二放置槽的宽度相等。

此外，优选地方案是，所述第一放置槽包括有位于容纳腔一端边缘位置的第一边缘放置槽；

所述第一边缘放置槽由所述第二隔片的至少部分内侧壁与相对的第一隔片与安装基座内壁之间所形成的区隔空间形成。

此外，优选地方案是，所述第二放置槽包括有位于容纳腔另一端边缘位置的第二边缘放置槽；

所述第二边缘放置槽由所述第一隔片的至少部分内侧壁与相对的第二隔片与安装基座内壁之间所形成的区隔空间形成。

此外，优选地方案是，第一边缘放置槽所对应的第二隔片的内侧壁上包括有与第二隔片延伸方向相同的第二边缘卡槽。

此外，优选地方案是，第二边缘放置槽所对应的第一隔片的内侧壁上包括有与第一隔片延伸方向相同的第一边缘卡槽。

此外，优选地方案是，所述第一隔片以及第二隔片分别包括有向外延伸的第一凸块和第二凸块，所述安装基座上包括有供所述第一凸块以及第二凸块插装的插槽。

为解决上述第二个技术问题，本实用新型采用下述技术方案：

本实用新型还提供一种导电组件，所述导电组件包括：

具有内腔的壳体；以及

收容固定在所述内腔内的如上所述的型芯；

所述导电组件还包括有被收容固定于所述型芯第一放置槽和\或第二放置槽内的导电件；

所述壳体包括上盖以及底盖；

所述上盖上包括有用于供导电件的检测端部贯穿的第一限位口；

所述下盖上包括有内陷的定位槽，所述型芯底部被限位于所述定位槽内，所述限位槽的底壁上包括有供导电件的接触端部贯穿的第二限位口。

本实用新型的有益效果如下：

实用新型提供的型芯通过第一隔片与第二隔片呈相对的交错布置形成第一放置槽与第二放置槽的结构方式，能够有效减小型芯的宽度尺寸，可适用于与现有被测产品中导电件配置方式不同的被测产品结构。与现有技术相比，本实用新型提供的型芯结构还具有所有部件精度均可以通过加工保证，各部件可标准化生产制作，可以大批量复制，效率得到很大提高；单一隔片损坏后，可以快速互换，相较之前型芯结构中某一部件损坏后需要整体更换整体型芯构件，成本大幅下降等优势。

附图说明

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明。

图1示出本实用新型所提供型芯结构示意图。

图2示出图1的局部放大示意图。

图3示出本实用新型所提供型芯装配结构示意图。

图4示出本实用新型所提供型芯与底盖以及导电件相互配合的结构示意图。

图5示出本实用新型所提供导电组件结构示意图。

图6示出本实用新型所提供导电组件的装配结构示意图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本实用新型的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本实用新型的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本实用新型及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

本领域技术人员可以理解的是，为了便于区分位于不同边侧的隔片，本实用新型在技术方案以及实施方式中将隔片以第一隔片和第二隔片进行区分描述，除非有特别的说明，本实用新型不以第一和第二来限定隔片的具体结构，并且为了便于型芯的拆装，安装基座由两个半体构成，本文中所称的安装基座以两个半体共同所构成的结构作为安装基座本体，上述描述方式不以限定本实用新型所请求保护的技术方案。

为解决现有技术的缺陷，以实现型芯各部件可标准化生产制作，以适用于测试点布局方式不同的被测产品，提高型芯的共用性以及通用性的发明目的，根据本实用新型的一个方面，首先本实用新型提供一种型芯，结合图1至图6所示，具体地，所述型芯包括：

具有容纳腔的安装基座1；

若干位于容纳腔一边侧的被收容固定在所述容纳腔内的呈区隔排列的第一隔片2；以及

若干位于容纳腔另一边侧的被收容固定在所述容纳腔内的呈区隔排列的第二隔片3；

若干第一隔片2与若干第二隔片3呈相对的交错布置；

所述第二隔片3的至少部分内侧壁与相对的相邻两个第一隔片2间的区隔空间形成用以放置导电件6的第一放置槽4；

所述第一隔片2的至少部分内侧壁与相对的相邻两个第二隔片3间的区隔空间形成用以放置导电件6的第二放置槽5。

本实用新型提供的型芯通过第一隔片与第二隔片呈相对的交错布置形成第一放置槽与第二放置槽的结构方式，能够有效减小型芯的宽度尺寸(即图式结构中型芯的相对较短边侧的尺寸)，可适用于与现有被测产品中导电件配置方式不同的被测产品结构。与现有技术相比，本实用新型提供的型芯结构还具有所有部件精度均可以通过加工保证，而且可以大批量复制，效率得到很大提高；单一隔片损坏后，可以快速互换，相较之前型芯结构中某一部件损坏后需要整体更换整体型芯构件，成本大幅下降等优势。此外，由于隔片以及安装基座可标准化生产制作，实际应用过程中，根据所选用的导电件的尺寸以及数量，可通过在安装基座内配置不同结构尺寸的隔片进行搭配，拓宽了本实用新型所提供型芯结构的适用范围。

本实用新型利用第一隔片与第二隔片相对内侧壁可将安装基座容纳腔分隔为若干个呈交错阵列分布用以容纳固定导电件的放置通道(即：第一放置槽以及第二放置槽)，以为每导电件主体提供一个相对隔离、充裕且稳固的装配及动作空间，利用第一隔片以及第二隔片来防止相邻导电件之间因受压后发生变形接触而引发短路的问题。

本实施例中安装基座和隔片可分别由耐高温的绝缘材料通过注塑成型工艺制作而成，保证部件的品质、降低生产成本及材料成本，也可以防止因测试过程中导电件发热使相关部件变形等影响测试的准确性。

结合图1至图3所示，本实施方式中，第一隔片2和第二隔片3通过安装基座1容纳腔内侧壁所围纳限定的尺寸精确定位安装。所述第一隔片2的内侧壁与第二隔片3的内侧壁之间包括有相互抵接固定的部分10。相互抵接固定的部分10可保证第一隔片2与第二隔片3之间能够产生一个相互的作用力，以保证整个型芯结构的稳定。可以理解的是，所述第一隔片2的外侧壁以及第二隔片3的外侧壁分别与对应的安装基座1的内壁抵接固定，以保证隔片装配的稳定性，不会出现偏斜的情况，影响导电件的插装固定。

为便于型芯的快速拆装以及将型芯所配置的导电件进行快速拆装，并增强导电件装配的准确性、流畅性，防止出现导电件因对位不准而造成相邻导电件间间距难以控制的问题，在一个实施方式中，所述第一隔片2的内侧壁上包括有与第一隔片2延伸方向相同的第一卡槽21；所述第一卡槽21与相对的相邻两个第二隔片3间的区隔空间形成用以放置导电件6的第二放置槽5。

所述第二隔片3的内侧壁上包括有与第二隔片3延伸方向相同的第二卡槽31；所述第二卡槽31与相对的相邻两个第一隔片2间的区隔空间形成用以放置导电件的第一放置槽4。

优选地，所述第一卡槽21的宽度等于第二放置槽5的宽度，第二卡槽31的宽度等于第一放置槽4的宽度，且第一放置槽4的宽度等于第二放置槽5的宽度。以此，简化生产工艺，可将第一隔片以及第二隔片制作形成标准件。

此外，基于上述的第一卡槽21以及第二卡槽31的设计，一方面可通过对卡槽深度的设计，针对同一安装基座配备不同结构尺寸的隔片，以适应不同宽度结构尺寸的导电件。另一方面，呈交错排布的第一卡槽21以及第二卡槽31在型芯本体长度方向上((即图式结构中型芯的相对较长边侧的方向上)，第一放置槽和第二放置槽包括有重叠的部分。

在此实施方式中，第一放置槽4和第二放置槽5包括有重叠的部分，可以在上述的呈交错排布减小型芯宽度尺寸的基础上进一步地减小型芯的宽度，从而有效减小型芯体积。

具体地，可根据需要调节第一放置槽4与第二放置槽5重叠的区域。其他实施例中，第一放置槽与第二放置槽也可不重合，即第一放置槽与第二放置槽不包括第一卡槽与第二卡槽，在装配完成后导电件呈两排平行且交错分布的样式。

第一放置槽4内配置的导电件6与被测产品对应的检测端部以及第二放置槽5内配置的导电件6与被测产品对应的检测端部，在型芯的长度方向上可成重叠状态，即所有导电件的与被测产品对应的检测端部呈一排区隔配置，适用于对不同类型及样式的被测产品的测试工作，实现型芯的共用性、通用性。

本实用新型提供的型芯结构中，所述型芯包括有由若干第一隔片2与若干第二隔片3形成的若干第一放置槽4以及若干第二放置槽5；

若干第一放置槽4的宽度均相等；

若干第二放置槽5的宽度均相等；

所述第一放置槽4的宽度与所述第二放置槽5的宽度相等。以此，简化生产工艺，第一隔片2以及第二隔片3可制作形成标准件，实现隔片的共用性、通用性。

通过上述的实施方式可知，为了至少达到简化生产工艺，第一隔片以及第二隔片可制作形成标准件，实现隔片的共用性、通用性的有益效果，在实际应用过程中，位于容纳腔区段位置的第一隔片以及第二隔片实为结构相同的呈对向配置在安装基座内以实现将安装基座容纳腔分隔为若干个呈交错阵列分布用以容纳固定导电件的放置通道(即放置槽)，但会出现需要通过安装基座结构来对位于容纳腔两端边缘位置放置槽的结构补偿，该结构补偿可通过安装基座内侧壁上形成结构凸起提供，但结构凸起限定了安装基座的自身结构。由此，结合图示结构，在本实用新型中，无论隔片上是否包括卡槽，对于隔片自身结构而言，位于容纳腔边缘位置处的第一隔片结构或者第二隔片结构，与位于容纳腔区段位置处的第一隔片结构或者第二隔片结构会略有不同，即位于容纳腔两端边缘位置的第一隔片以及第二隔片分别包括有缺失部，位于容纳腔边缘位置处的第一隔片与第二隔片相对于型芯整体结构而言呈中心对称，位于容纳腔边缘位置处的第一隔片结构或者第二隔片结构可通过标准化加工而成的隔片结构去料形成，或者单独开模制作，边缘位置隔片与区段位置隔片的结构的不同，并不影响本实用新型的隔片标准化制作，可大批量复制，单一隔片损坏后，可以快速互换，实现隔片的共用性、通用性的发明目的及产生的有益效果。具体地，所述第一放置槽4包括有位于容纳腔一端边缘位置的第一边缘放置槽41；所述第一边缘放置槽41由所述第二隔片3的至少部分内侧壁与相对的第一隔片2与安装基座1内壁之间所形成的区隔空间形成。在一个实施例中，第一边缘放置槽41所对应的第二隔片3的内侧壁上包括有与第二隔片3延伸方向相同的第二边缘卡槽32。也就是说，与所述第一边缘放置槽41对应的第二隔片3的内侧壁上包括与第二隔片3延伸方向相同的第二边缘卡槽32，第二边缘卡槽32呈半包围结构状态。

由于位于容纳腔边缘位置处的第一隔片2与第二隔片3相对于型芯整体结构而言呈中心对称，与上述第一边缘放置槽41结构向类似的，所述第二放置槽5包括有位于容纳腔另一端边缘位置的第二边缘放置槽51；所述第二边缘放置槽51由所述第一隔片2的至少部分内侧壁与相对的第二隔片3与安装基座1内壁之间所形成的区隔空间形成。在一个实施例中，第二边缘放置槽51所对应的第一隔片2的内侧壁上包括有与第一隔片2延伸方向相同的第一边缘卡槽22。也就是说，与所述第二边缘放置槽51对应的第一隔片2的内侧壁上包括与第一隔片2延伸方向相同的第一边缘卡槽22，第一边缘卡槽22与第二边缘卡槽32一样呈半包围结构状态。

为能够准确且快速地将第一隔片以及第二隔片装配于安装基座上，所述第一隔片2以及第二隔片3分别包括有向外延伸的第一凸块23和第二凸块33，所述安装基座1上包括有供所述第一凸块23以及第二凸块33插装的插槽11。通过在隔片上设置凸块以及在安装基座配置与凸块对应配合的插槽的方式，在型芯装配时能够对隔片进行有效地限位固定，以此，保证隔片可被准确快速地装配在安装基座的容纳腔内，而且有利于增强隔片与安装基座件间结构牢固性，从而为导电件的布置提供一个稳固的空间。

根据本实用新型的另一个方面，本实用新型还提供一种导电组件，结合图4至图6所示，所述导电组件包括：

具有内腔的壳体；以及

收容固定在所述内腔内的如上所述的型芯；

所述导电组件还包括有被收容固定于所述型芯第一放置槽和\或第二放置槽内的导电件6；

所述壳体包括上盖7以及底盖8；

所述上盖7上包括有用于供导电件的检测端部贯穿的第一限位口71；

所述下盖8上包括有内陷的定位槽81，所述型芯底部被限位于所述定位槽81内，所述限位槽81的底壁上包括有供导电件6的接触端部贯穿的第二限位口82。

整组导电组件可通过定位销和螺钉定位并固定到测试治具上。利用开设的第一限位口以及第二限位口可为导电件的接触端部和检测端部分别提供一个贯通的行程通道，以保证导电件的检测端部能够与诸如被测产品测试点(或称为信号引脚)以及接触端部能够与测试治具信号引脚进行良好的接触，从而完成电子测试的目的。

在一个实施例中，导电组件还可包括有位于上盖顶部上方位置的限位板，所述限位板可为浮动板，所述浮动板被配置为可在导电件的连接方向上相对于上盖下压浮动。所述浮动板通过浮动件固定于所述上盖的顶面上，浮动件为弹性部件，例如弹簧，作用力方向为导电件的电导通连接方向，浮动件呈对称配置，避免单一浮动件在压接过程中偏斜，浮动件使浮动板能够实现被测产品测试点(或称为信号引脚)与导电组件内导电件间的浮动压接的目的，使被测产品测试点与测试治具间能够通过所述导电组件形成紧密配合。同时在不测试产品时，浮动板上浮，导电件的检测端部可没入浮动板内，以保护导电件的检测端部不被损坏。

显然，本实用新型的上述实施例仅仅是为清楚地说明本实用新型所作的举例，而并非是对本实用新型的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本实用新型的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之列。