技术特征：
1.一种集成电路测试装置，包括测试仪本体(1)，其特征在于：所述测试仪本体(1)的顶部设有方杆(2)，所述方杆(2)的内部设有滚球(17)，所述方杆(2)上设有滑杆(18)，所述滑杆(18)的端部设有第一连接块(3)，所述第一连接块(3)的侧面设有连接杆(4)，所述连接杆(4)的端部设有滑动块(5)，所述滑动块(5)的内部设有第二连接块(15)、弹簧(16)，所述滑动块(5)的侧面设有支撑块(6)，所述滑动块(5)的顶部设有方盖(7)，所述方盖(7)的内部设有扭簧(8)，所述扭簧(8)穿出方盖(7)的端部上设有压块(9)，所述滑动块(5)的表面设有限位杆(10)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述方杆(2)的内部开设有滑腔，所述滚球(17)位于滑腔内，所述滑杆(18)与滚球(17)连接，所述滑杆(18)与方杆(2)滑动连接。3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述第一连接块(3)的内部设有第一滑块、滑槽，所述连接杆(4)一端穿过第一连接块(3)并与第一滑块连接，所述连接杆(4)与第一连接块(3)滑动连接，所述连接杆(4)与滑动块(5)滑动连接。4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述第一连接块(3)的侧面开设有圆形的定位槽，所述限位杆(10)为“l”型结构，所述限位杆(10)与定位槽匹配。5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述连接杆(4)依次穿过滑动块(5)、弹簧(16)的端部与第二连接块(15)连接，所述方盖(7)内设有盲孔，所述扭簧(8)的两端与方盖(7)内表面连接及中间部分与压块(9)连接，所述方盖(7)中间位置开设有弧槽。6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述支撑块(6)、压块(9)对立的表面上均开设有半圆柱形的放置槽，支撑块(6)、压块(9)贴合时组成一个整圆的线槽。7.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述测试仪本体(1)的底部设有稳固块(11)、两个固定板(14)，所述稳固块(11)的底部转动连接有“l”型结构的转杆(12)，所述转杆(12)的端部设有放置盒(13)，所述放置盒(13)上设有磁铁(19)，所述磁铁(19)与固定板(14)吸附连接，所述放置盒(13)表面开设有安放槽，安放槽位于两个磁铁(19)之间，所述放置盒(13)位于安放槽内设有分隔板。