1.一种便于使用的半导体测试治具，包括测试托盘(1)，其特征在于：所述测试托盘(1)表面开设有凹槽(2)，所述凹槽(2)内腔安装有电动吸盘(3)，所述测试托盘(1)内腔设有挡板(4)，所述挡板(4)右侧壁中部安装有限位杆(5)，所述测试托盘(1)顶部表面右侧转动连接有锁紧螺栓(7)，所述测试托盘(1)右侧壁顶部一侧镶嵌连接有限位管(8)，所述限位管(8)内腔插接有引导柱(9)，所述测试托盘(1)底部表面四角均安装有支撑机构(11)，所述支撑机构(11)由卡板(1101)、减震弹簧(1102)、底板(1103)和防滑垫(1104)组成。
2.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述凹槽(2)具体设有若干组，且多组凹槽(2)呈阵列式分布。
3.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述限位杆(5)一端贯穿测试托盘(1)右侧壁，所述限位杆(5)右端安装有拉手(6)。
4.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述锁紧螺栓(7)与限位杆(5)摩擦相连。
5.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述引导柱(9)一端与挡板(4)右侧壁表面相连，所述引导柱(9)另一端转动连接有螺帽(10)。
6.根据权利要求1所述的一种便于使用的半导体测试治具，其特征在于：所述卡板(1101)底部表面表面安装有减震弹簧(1102)，所述减震弹簧(1102)底部表面安装有底板(1103)，所述底板(1103)底部表面粘接有防滑垫(1104)。