一种可再分散性乳胶粉灼烧残渣测量装置的制作方法

本公开涉及可再分散性乳胶粉检测技术领域，具体涉及一种可再分散性乳胶粉灼烧残渣测量装置。

背景技术：

可再分散乳胶粉产品为水溶性可再分散粉末，分为乙烯/醋酸乙烯酯的共聚物、醋酸乙烯/叔碳酸乙烯共聚物、丙烯酸共聚物等等，喷雾干燥后制成的粉体粘合剂，以聚乙烯醇作为保护胶体。这种粉体在与水接触后可以很快再分散成乳液，由于可再分散乳胶粉具有高粘结能力和独特的性能，如：抗水性，施工性及隔热性等，因此，它们的应用范围是极其广泛的。

在生产过程中，由于性能需求和成本要求，需要在可再分散乳胶粉产品中加入一定的间隔剂，第一能够有效地阻隔乳胶粉相互黏连结团，第二采用成本更低的填料以便降低材料成本。这种间隔剂通常是不可燃烧的无机材料，这就使得通过可再分散性乳胶粉灼烧残渣可以测试出其中间隔剂的大概含量，以此来计算出可再分散性乳胶粉中有效成分的含量。简单来说，可再分散性乳胶粉灼烧残渣能够测试出可再分散性乳胶粉的纯度，防止不良商家加入过多的间隔剂来降低成本。

现在测试可再分散性乳胶粉灼烧残渣为通过高温炉反复灼烧，直至样品质量不再变化，再计算其占据放入样品质量的比例来得出灼烧残渣的数值，该方法需要实验人员将高温的样品反复从高温炉中拿出再放入，第一容易发生安全隐患造成烫伤，第二反复拿出样品的过程中，容易造成样品飞散，产生实验误差。

技术实现要素：

本申请的目的是针对以上问题，提供一种可再分散性乳胶粉灼烧残渣测量装置。

第一方面，本申请提供一种可再分散性乳胶粉灼烧残渣测量装置，包括密闭的测试箱，所述测试箱内设置温度调节机构、温度传感器、坩埚架；所述测试箱的顶部设有可启闭的排气口，测试箱一侧设有箱门，测试箱底部设有质量测量机构；所述坩埚架上设有若干坩埚，所述质量测量机构下方设有显示单元。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述温度调节机构设置为鼓风干燥系统。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述测试箱顶部对应排气口设置电磁控制阀。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述质量测量机构及温度传感器分别与显示单元信号连接。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述坩埚架包括坩埚平台，所述坩埚平台表面向内凹陷有若干放置槽，所述坩埚放置在所述放置槽内。

根据本申请实施例提供的技术方案，测试箱底板表面对应所述坩埚平台设置一对滑槽，所述坩埚平台底面对应一对所述滑槽分别设置外凸的卡接条，所述卡接条可滑移地卡接在所述滑槽内。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述坩埚平台靠近箱门的一侧设置抽拉环。

根据本申请实施例提供的技术方案，所述放置槽的顶端边缘设置一圈防滑胶圈。

本发明的有益效果：本申请提供一种可再分散性乳胶粉灼烧残渣测量装置，通过温度调节机构调节测试箱内温度，并保持一定范围内恒温；将可再分散性乳胶粉放置在坩埚内，通过温度调节机构对测试箱内升温，使得乳胶粉在坩埚内自燃发生灼烧；本装置将繁琐的测试程序简化到一个装置内，可以在本装置内完成可再分散性乳胶粉灼烧残渣的测量，避免将坩埚反复拿出高温炉造成样品飞散或者打翻的可能，减小误差，提高成功率，同时由于本装置中就可完成整体全部测试，避免实验人员反复接触高温炉，出现烫伤、灼伤等情况。

附图说明

图1为本申请第一种实施例的结构示意图；

图2为本申请第一种实施例中坩埚架的结构示意图；

图中所述文字标注表示为：100、测试箱；110、排气口；120、箱门；130、滑槽；200、温度调节机构；300、温度传感器；400、坩埚架；410、坩埚平台；411、卡接条；412、抽拉环；420、放置槽；421、防滑胶圈；500、质量测量机构；600、坩埚；700、显示单元。

具体实施方式

为了使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本申请进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本申请的保护范围有任何的限制作用。

如图1所示为本申请的第一种实施例的示意图，包括密闭的测试箱100，所述测试箱100内设置温度调节机构200、温度传感器300、坩埚架400；所述测试箱100的顶部设有可启闭的排气口110，测试箱100一侧设有箱门120，测试箱100底部设有质量测量机构500；所述坩埚架400上设有若干坩埚600，所述质量测量机构500下方设有显示单元700。

本实施例中，温度调节机构200用于对测试箱100进行加热并控温，测试箱100设置为密闭结构可防止样品放在测试箱100内发生飞散，从而影响测量结构，同时密闭结构可有效防止测试箱100内的热量流失泄露。

本实施例的实验过程为：

打开箱门120，将坩埚架400取出，在其中的坩埚600内放入称量好的一定质量的样品，将坩埚架400放回测试箱100内，关闭箱门120；

关闭排气孔，通过显示单元700记录质量测量机构500此时示数m1；

启动温度调节机构200使得测试箱100内温度达到设定高温度，通过显示单元700实时观察测试箱100内温度；

将样品在设定高温度加热第一设定时间后，通过温度调节机构200调节测试箱100温度逐渐降低至室温，通过显示单元700观察此时质量测量机构500数值，将样品在测试箱100内冷却至室温第二设定时间后，将测试箱100内温度再重新升温至设定高温度，重复上述过程使得测试箱100内的样品反复升温、降温，实时观察质量测量机构500数值，直至数值不再变化时记录其示数m2；

m1与m2的差值即为除灼烧残渣以外的质量，同时灼烧残渣比例为1-(m1-n2)/(m1*100)；

关闭温度调节机构200，当现实单元显示测试箱100内温度降至室温及以下时，打开排气孔，将测试箱100内的气体排入通风橱，待测试箱100内空气清新后，将箱门120打开，取出坩埚600及坩埚架400进行清洗。

在一优选实施方式中，所述温度调节机构200设置为鼓风干燥系统。

在一优选实施方式中，所述测试箱100顶部对应排气口110设置电磁控制阀。通过电磁控制阀控制排气孔的开启或关闭，以及调节排气孔的大小。

在一优选实施方式中，所述质量测量机构500及温度传感器300分别与显示单元700信号连接。

在一优选实施例中，如图2所示，所述坩埚架400包括坩埚平台410，所述坩埚平台410表面向内凹陷有若干放置槽420，所述坩埚600放置在所述放置槽420内。本优选实施例中，放置槽420的槽口尺寸可不同，以满足不同容积的坩埚600的放置需求。

在一优选实施方式中，测试箱100底板表面对应所述坩埚平台410设置一对滑槽130，所述坩埚平台410底面对应一对所述滑槽130分别设置外凸的卡接条411，所述卡接条411可滑移地卡接在所述滑槽130内。本优选实施方式中，在坩埚平台410底部设置与测试箱100底板连接的卡接条411可使得坩埚平台410稳定连接在测试箱100底板上，同时设置的滑槽结构可方便坩埚架400的整体移动以及抽拉。

优选地，所述坩埚平台410靠近箱门120的一侧设置抽拉环412。本优选实施方式中，设置抽拉环412方便坩埚平台410在测试箱100内的取放。

优选地，所述放置槽420的顶端边缘设置一圈防滑胶圈421。防滑胶圈421的使得可使得坩埚600更加稳定地放置在坩埚平台410上，增加测试系统的稳定性。

本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想。以上所述仅是本申请的优选实施方式，应当指出，由于文字表达的有限性，而客观上存在无限的具体结构，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进、润饰或变化，也可以将上述技术特征以适当的方式进行组合；这些改进润饰、变化或组合，或未经改进将申请的构思和技术方案直接应用于其它场合的，均应视为本申请的保护范围。