一种热老化试验箱的校准装置的制作方法

1.本实用新型涉及热老化试验箱校准技术领域，特别涉及一种热老化试验箱的校准装置。


背景技术：

2.空气热老化试验箱的温度参数和换气量参数是其主要的计量性能。
3.现国内对热老化试验箱的校准检测主要依据的是空气热老化试验箱相关的行业标准jb/t 7444
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94《空气热老化试验箱》、jb/t 4278.6
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2011《第6部分自然通风老化试验箱》等和《jjf1101
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2003环境试验设备温度、湿度校准规范》中的温度参数校准方法，主要用的标准器为温湿度自动采集校准系统。
4.现有的校准装置并不适用于热老化试验箱的温度参数的计算方法和校准方法，原因如下：
5.1)热老化试验箱与烘箱类仪器结构不同：热老化箱有换气阀可与外界交换空气，且换气率可控。烘箱为封闭空间，没有换气功能。
6.2)两者使用温度不同：热老化试验箱使用温度一般为(250～300)℃，烘箱常用温度为105℃左右。
7.3)用途不同：热老化箱针对橡胶、塑料产品、电气绝缘材料以及其他材料进行热氧老化试验，或者对电子零配件、塑化产品的换气老化试验。烘箱用于企业、学校、医疗以及科研单位进行非挥发性物品的干燥、烘焙及灭菌等，广泛用于食品、建材和化工等行业。
8.4)参考规范不同：热老化箱无国家校准规范，烘箱类依据《jjf1101
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2003环境试验设备温度、湿度校准规范》。
9.现有的温湿度自动采集校准装置只能单独采集温度参数，还需其他单独标准器例如电能表和风速仪来完成换气量以及风速参数的检测，这样做会将各参数的检测分离开来，耗费人力及时间，因此，需要一种热老化试验箱的校准装置，能够同时进行温度和电能的检测，且准确度高。


技术实现要素：

10.(一)要解决的技术问题
11.为了解决现有技术的上述问题，本实用新型提供一种热老化试验箱的校准装置，能够同时进行温度和电能的检测，且准确度高。
12.(二)技术方案
13.为了达到上述目的，本实用新型采用的主要技术方案包括：
14.一种热老化试验箱的校准装置，包括温度传感器、电能单元和单片机；
15.所述温度传感器和电能单元分别与所述单片机电连接。
16.进一步地，还包括液晶屏，所述液晶屏与所述单片机电连接。
17.进一步地，还包括滤波电路、选通电路和第一模拟数字转换器；
18.所述温度传感器依次通过所述滤波电路、选通电路和第一模拟数字转换器与所述单片机电连接。
19.进一步地，还包括感应线圈和第二模拟数字转换器；
20.所述电能单元依次通过所述感应线圈和第二模拟数字转换器与所述单片机电连接。
21.进一步地，所述温度传感器为pt100温度传感器。
22.进一步地，所述电能单元的型号为sui
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101a。
23.进一步地，所述单片机的型号为c8051f340。
24.(三)有益效果
25.本实用新型的有益效果在于：通过设置温度传感器、电能单元和单片机；所述温度传感器和电能单元分别与所述单片机电连接，能够同时进行温度和电能的检测，且准确度高。
附图说明
26.图1为本实用新型实施例的热老化试验箱的校准装置的整体结构示意图。
27.【附图标记说明】
28.1：热老化试验箱的校准装置；2：单片机；3：液晶屏；4：第一模拟数字转换器；5：选通电路；6：滤波电路；7：温度传感器；8：第二模拟数字转换器；9：感应线圈；10：电能单元。
具体实施方式
29.为了更好的解释本实用新型，以便于理解，下面结合附图，通过具体实施方式，对本实用新型作详细描述。
30.一种热老化试验箱的校准装置1，包括温度传感器7、电能单元10和单片机2；
31.所述温度传感器7和电能单元10分别与所述单片机2电连接。
32.具体地，所述电能单元10用于检测热老化试验箱开启或关闭时消耗的电能数据。
33.还包括液晶屏3，所述液晶屏3与所述单片机2电连接。
34.还包括滤波电路6、选通电路5和第一模拟数字转换器4；
35.所述温度传感器7依次通过所述滤波电路6、选通电路5和第一模拟数字转换器4与所述单片机2电连接。
36.具体地，通过设置温度传感器7依次通过所述滤波电路6、选通电路5和第一模拟数字转换器4与所述单片机2电连接，便于提高温度测量的准确度。
37.还包括感应线圈9和第二模拟数字转换器8；
38.所述电能单元10依次通过所述感应线圈9和第二模拟数字转换器8与所述单片机2电连接。
39.具体地，通过设置电能单元10依次通过所述感应线圈9和第二模拟数字转换器8与所述单片机2电连接，便于提高电能单元10测量电能参数的准确度。
40.所述温度传感器7为pt100温度传感器7。
41.具体地，通过使用pt100温度传感器7，温度测量范围为(
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40～300)℃，准确度优于0.3℃，测量的准确度高。
42.所述电能单元10的型号为sui
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101a。
43.所述单片机2的型号为c8051f340。
44.还包括sd卡插接口，用于连接sd卡，所述sd卡接口与所述单片机2电连接。
45.所述校准装置1所检测的数据可以同步至上位机，便于进行后续处理。
46.以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。