样本分析仪及废液处理装置的制作方法

文档序号:29654870发布日期:2022-04-14 19:48阅读:95来源:国知局
样本分析仪及废液处理装置的制作方法

1.本技术涉及医疗器械技术领域,尤其涉及一种样本分析仪及废液处理装置。


背景技术:

2.样本分析仪是用于测定和分析样本的仪器,典型地,样本分析仪包括细胞分析仪、生化分析仪和尿液分析仪等。部分样本分析仪在使用过程中会产生废液,这些废液会通过废液处理装置进行收集。然而,由于废液处理装置的容量有限,需要定期对废液处理装置进行更换或清空。
3.因此,如何在废液处理装置进行更换或清空时,实现样本分析仪的自动控制,是本领域技术人员正在研究的热门课题。


技术实现要素:

4.本技术实施例的主要目的在于提供一种样本分析仪及废液处理装置,旨在进行废液处理时,实现样本分析仪的自动控制。
5.第一方面,本技术实施例提供一种样本分析仪,包括:
6.加样装置,用于向样本检测区提供待测样本;
7.检测装置,用于对所述样本检测区内的待测样本进行检测分析,以获取对应的检测结果;
8.废液处理装置,用于收集所述样本分析仪在进行样本分析过程中产生的废液,并根据废液量生成对应的反馈信号,以根据所述反馈信号控制所述样本分析仪执行相应的操作;
9.其中,所述废液处理装置包括:
10.废液收集器,所述废液收集器形成具有开口的容置腔,用以收集所述样本分析仪在进行样本分析过程中产生的废液;
11.封盖组件,与所述废液收集器可拆卸连接,用于封盖所述容置腔的开口;
12.液位检测组件,用于检测所述容置腔内的废液量是否超于废液量阈值,并根据检测结果生成对应的废液状态信号;
13.封盖检测组件,用于检测所述封盖组件是否封盖于所述容置腔的开口,并根据检测结果生成对应的封盖状态信号,其中,所述封盖检测组件包括与所述控制器电连接的光发射器和光接收器;所述光发射器设置于所述封盖组件的一侧,用于向所述容置腔发射光线;所述光接收器对应所述光发射器设置,用于接收所述光发射器发出的光线,并根据所接收到的光线生成对应的封盖状态信号;及
14.控制器,与所述液位检测组件和所述封盖检测组件电连接,并用于根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号控制所述样本分析仪执行相应的操作。
15.第二方面,本技术实施例提供一种废液处理装置,用于为样本分析仪进行废液处理,所述废液处理装置包括:
16.废液收集器,所述废液收集器形成具有开口的容置腔,用以收集所述样本分析仪在进行样本分析过程中产生的废液;
17.封盖组件,与所述废液收集器可拆卸连接,用于封盖所述容置腔的开口;
18.液位检测组件,用于检测所述容置腔内的废液量是否超于废液量阈值,并根据检测结果生成对应的废液状态信号;
19.封盖检测组件,用于检测所述封盖组件是否封盖于所述容置腔的开口,并根据检测结果生成对应的封盖状态信号,其中,所述封盖检测组件包括与所述控制器电连接的光发射器和光接收器;所述光发射器设置于所述封盖组件的一侧,用于向所述容置腔发射光线;所述光接收器对应所述光发射器设置,用于接收所述光发射器发出的光线,并根据所接收到的光线生成对应的封盖状态信号;及
20.控制器,与所述液位检测组件和所述封盖检测组件电连接,并用于根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中控制所述样本分析仪执行相应的操作。
21.本技术实施例提供了一种样本分析仪及废液处理装置,在一实施方式中,所述样本分析仪包括:加样装置,用于向样本检测区提供待测样本;检测装置,用于对所述样本检测区内的待测样本进行检测分析,以获取对应的检测结果;废液处理装置,用于收集所述样本分析仪在进行样本分析过程中产生的废液,并根据废液量生成对应的反馈信号,以根据所述反馈信号控制所述样本分析仪执行相应的操作;其中,所述废液处理装置包括:废液收集器,所述废液收集器形成具有开口的容置腔,用以收集所述样本分析仪在进行样本分析过程中产生的废液;封盖组件,与所述废液收集器可拆卸连接,用于封盖所述容置腔的开口;液位检测组件,用于检测所述容置腔内的废液量是否超于废液量阈值,并根据检测结果生成对应的废液状态信号;封盖检测组件,用于检测所述封盖组件是否封盖于所述容置腔的开口,并根据检测结果生成对应的封盖状态信号,其中,所述封盖检测组件包括与所述控制器电连接的光发射器和光接收器;所述光发射器设置于所述封盖组件的一侧,用于向所述容置腔发射光线;所述光接收器对应所述光发射器设置,用于接收所述光发射器发出的光线,并根据所接收到的光线生成对应的封盖状态信号;及控制器,与所述液位检测组件和所述封盖检测组件电连接,并用于根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号控制所述样本分析仪执行相应的操作。通过分析液位检测组件和封盖检测组件的检测结果,控制样本分析仪执行对应的操作,实现了在对样本分析仪在进行废液更换时,该样本分析仪能够自动控制,使用户能更方便的使用样本分析仪。
附图说明
22.为了更清楚地说明本技术实施例技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
23.图1是本技术实施例提供的样本分析仪的结构示意框图;
24.图2是本技术实施例提供样本分析仪进行待测样本分析的场景示意图;
25.图3是本技术实施例提供的废液处理装置的结构示意框图;
26.图4是本技术实施例提供的废液处理装置的立体结构示意;
27.图5是本技术实施例提供的废液处理装置的封盖组件和废液收集器配合的结构示
意;
28.图6是本技术实施例提供的控制方法的步骤流程示意图;
29.图7是废液处理装置的废液收集器内液位大于或等于液位阈值时对应状态的场景示意;
30.图8是废液处理装置的封盖组件封盖于废液收集器,且废液收集器内液位小于液位阈值时对应状态的场景示意;
31.图9是废液处理装置的封盖组件未封盖于废液收集器时对应状态的场景示意。
具体实施方式
32.下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
33.在本技术的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
34.本技术实施例提供了一种样本分析仪、废液处理装置及控制方法,在一实施方式中,所述样本分析仪包括:加样装置,用于向样本检测区提供待测样本;检测装置,用于对所述样本检测区内的待测样本进行检测分析,以获取对应的检测结果;废液处理装置,用于收集所述样本分析仪在进行样本分析过程中产生的废液,并根据废液量生成对应的反馈信号,以根据所述反馈信号控制所述样本分析仪执行相应的操作;其中,所述废液处理装置包括:废液收集器,所述废液收集器形成具有开口的容置腔,用以收集所述样本分析仪在进行样本分析过程中产生的废液;封盖组件,与所述废液收集器可拆卸连接,用于封盖所述容置腔的开口;液位检测组件,用于检测所述容置腔内的废液量是否超于废液量阈值,并根据检测结果生成对应的废液状态信号;封盖检测组件,用于检测所述封盖组件是否封盖于所述容置腔的开口,并根据检测结果生成对应的封盖状态信号;及控制器,用于根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中至少一者控制所述样本分析仪执行相应的操作。通过分析液位检测组件和封盖检测组件的检测结果,控制样本分析仪执行对应的操作,实现了在对样本分析仪在进行废液更换时,该样本分析仪能够自动控制,使用户能更方便的使用样本分析仪。
35.下面结合附图,对本技术的一些实施方式作详细说明,在不冲突的情况下,下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
36.请参照图1-2,本技术一实施例提供的样本分析仪1,用于对待分析样品进行检测分析,以获取对应的检测结果。该样本分析仪1包括加样装置10、检测装置20及废液处理装置30。
37.其中,加样装置10用于向样本检测区40提供待测样本,该待测样本包括但不限于尿液样本。检测装置20用于对样本检测区40内的待测样本进行检测分析,以获取对应的检
测结果。废液处理装置30用于收集样本分析仪1在进行样本分析过程中产生的废液,并检测收集的废液量,然后根据判断废液量是否超过废液量阈值生成对应的反馈信号,样本分析仪1以根据反馈信号执行相应的操作。
38.示例性地,以样本分析仪1为尿液分析仪为例进行说明,但不局限于该样本分析仪仅可以为尿液分析仪。
39.如图2所示,当样本分析仪1为尿液分析仪时,待分析样本为尿液样本,在需要对待测尿液样品进行检测时,通过加样装置10从待测尿液样本存放容器中获取待测尿液样本,并向样本检测区40内用于存放待测样本检测池加注待测尿液样本。待测尿液样本在检测区40的检测池内经过静置沉降或离心加速沉降后,形成有形成分。检测装置20通过获取待测尿液样本的有形成分的图像,并对该图像进行分析,以获取对应的分析结果。具体地,检测装置20包括用于获取检测池中待测尿液样本的有形成分图像的成像机构201、及用于对成像机构 201获取的图像进行分析以获取对应分析结果的图像分析机构202,其中,成像机构201包括相机和透镜组件,通过透镜组件获取待测尿液样本中的有形成分的清晰视野,以利用相机拍摄获取有形成分对应的目标图像,从而将目标图像传输至图像分析机构202进行检测分析,以获取对应的检测分析结果。
40.在待测尿液样本完成检测后,通过废液处理装置30对完成检测的尿液样本进行回收,同时清洗检测池时产生的废液也可以通过废液处理装置30回收。
41.在一些实施方式中,尿液分析仪还设置有回收驱动装置50,该回收驱动装置50通过管道连通样本检测区40内的检测池和废液处理装置30。在对检测池内产生的废液进行废液回收时,回收驱动装置50提供动力使得废液从检测池流向废液处理装置30。
42.请参阅图3-4,废液处理装置30包括废液收集器301、封盖组件302、液位检测组件303、封盖检测组件304及控制器305。其中,废液收集器301是具有开口3011的容置腔,用于接收样本分析仪1在进行样本分析过程中产生的废液,封盖组件302与废液收集器301通过螺纹连接、卡扣连接或过盈配合实现可拆卸连接,用于封盖废液收集器301的开口3011。
43.封盖组件302通过废液管3021和样本检测区40连通,用于将样本检测区 40产生的废液导入废液收集器301的容置腔内,其中,废液管3021设置的数量可以是一根也可以是多根,在此不做限定。液位检测组件303设置在封盖组件 302上或容置腔内,用于检测废液收集器301内的液位信息,也即废液收集器 301内所收集到的废液量是否超过废液量阈值,并根据检测结果生成对应的废液状态信号。其中,液位检测组件303可以为接触式的液位传感器,如激光液位传感器,也可以为非接触式的液位传感器,如静压式液位传感器,在此不做限定。封盖检测组件304设置在封盖组件302或废液收集器301上,用于检测封盖组件302是否封盖于废液收集器301的开口3011处,并根据检测结果生成对应的封盖状态信号。其中液位检测组件303和封盖检测组件304与控制器305 电性连接,控制器305用于根据液位检测组件303传来的废液状态信号和封盖检测组件304传来的封盖状态信号中至少一者控制样本分析仪1执行相应的操作。
44.其中,控制样本分析仪1和废液处理装置30的控制器可以是分别独立的控制器,也可以是同一个控制器,在此不做限定。本技术中为便于对所保护的技术方案理解,以样本分析仪1和废液处理装置30的控制器为同一控制器为例进行说明。
45.在一些实施方式中,液位检测组件303为激光液位传感器,设置在封盖组件302上,
通过激光液位传感器检测当前废液收集器301容置腔内收集的废液的液面高度,通过液面高度判断废液量是否超过废液量阈值。
46.在一些实施方式中,液位检测组件303为静压式液位传感器,设置在封盖组件302上,通过静压式液位传感器检测当前废液收集器301容置腔内底部的压力值,计算该压力值得到废液收集器301容置腔内收集的废液的液面高度,通过液面高度判断废液量是否超过废液量阈值。
47.如图4所示,在一些实施方式中,封盖检测组件304包括与控制器305电连接的光发射器3041和光接收器3042,光发射器3041设置于封盖组件302的一侧,用于向容置腔发射光线;光接收器3042对应光发射器3041设置,用于接收光发射器3041发出的光线,并根据所接收到的光线生成对应的封盖状态信号。
48.如图5所示,当封盖组件302封盖于废液收集器301上时,废液收集器301 阻隔在了光发射器3041和光接收器3042之间的光通路,使光接收器3042接收到光发射器3041发出的光线的强度发生改变。当光接收器3042接收到的光强小于设定阈值时,则判断封盖组件302封盖于废液收集器301上,从而生成对应的封盖状态信号;反之,当光接收器3042接收到的光强大于或等于设定阈值时,则判断封盖组件302未封盖于废液收集器301上从而生成对应的封盖状态信号。
49.在一些实施方式中,封盖检测组件304包括于控制器305电连接的霍尔元件、及用于触发霍尔元件以使霍尔元件输出对应封盖状态信号的磁性件,磁性件和霍尔元件中一者设置于封盖组件302,另一者对应设置于废液收集器301。通过检测霍尔元件是否被磁性件触发,从而判断封盖组件302是否封盖于废液收集器301上,从而生成对应的封盖状态信号,如,当封盖组件302封盖于废液收集器301上时,霍尔元件与磁性件对应,从而使得霍尔元件被触发,生成对应的表征封盖组件302封盖于废液收集器301的封盖状态信号;当封盖组件 302未封盖于废液收集器301上时,霍尔元件未能被磁性件触发,从而生成对应的表征封盖组件302未封盖于废液收集器301的封盖状态信号。
50.在一些实施方式中,封盖检测组件304包括机械开关,机械开关设置于封盖组件302或废液收集器301;当封盖组件302封盖于废液收集器301或与废液收集器301分离时,所述机械开关被触发,以使封盖检测组件304输出对应的封盖状态信号。通过检测机械开关是否被触发,判断封盖组件302是否封盖于废液收集器301上,从而生成对应的封盖状态信号。
51.在一些实施方式中,控制器305包括存储器和处理器,存储器和处理器及通信接口。通信接口、存储器、处理器通过总线连接进行通信。
52.其中,存储器可以是易失性存储器(volatile memory),例如随机存取存储器(random access memory,ram);或者非易失性存储器(non-volatile memory),例如只读存储器(read only memory,rom),快闪存储器(flash memory),硬盘(hard disk drive,hdd)或固态硬盘(solid-state drive,ssd);或者以上种类的存储器的组合。存储器用于存储计算机程序,可以向处理器提供指令和数据。
53.处理器可以是中央处理单元(central processing unit,cpu),该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor,dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit,asic)、现场可编程门阵列 (field-programmable gate array,fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、
分立硬件组件等。其中,通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
54.在一些实施方式中,控制器305用于根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中至少一者控制所述样本分析仪1执行相应的操作。
55.在一些实施方式中,所述废液状态信号包括表示所述容置腔内的废液量超过废液量阈值的第一废液状态信号;控制器305根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中至少一者控制所述样本分析仪1执行相应的操作,包括:当接收到所述液位检测组件303发送的第一废液状态信号时,控制所述样本分析仪1 在执行完预设任务后进入非预设工作模式,并生成第一提示信息。
56.在一些实施方式中,所述废液状态信号包括表示所述容置腔内的废液量未超过废液量阈值的第二废液状态信号;所述封盖状态信号包括表示所述封盖组件302封盖于所述容置腔的开口的第一封盖状态信号;控制器305根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中至少一者控制所述样本分析仪1执行相应的操作,包括:当接收到所述液位检测组件303发送的第二废液状态信号,且接收到所述封盖检测组件304发送的第一封盖状态信号时,控制所述样本分析仪1 进入预设工作模式。
57.在一些实施方式中,所述封盖状态信号包括表示所述封盖组件302未封盖于所述容置腔的开口的第二封盖状态信号;控制器305根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中至少一者控制所述样本分析仪1执行相应的操作,包括:当接收到所述封盖检测组件304发送的第二封盖状态信号时,控制所述样本分析仪1生成第二提示信息。
58.在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见下文针对控制方法的详细描述,此处不再赘述。
59.以下将结合样本分析仪和废液处理装置的工作原理,对本技术实施例提供的控制方法进行详细说明。
60.请参阅图6,该控制方法应用于样本分析仪或废液处理装置,该控制方法包括步骤s101-步骤s102。
61.步骤s101、获取所述液位检测组件输出的废液状态信号,并获取所述封盖检测组件输出的封盖状态信号。
62.通过液位检测组件获取废液收集器的液位信息,该液位信息用于表征废液收集器的容置腔内的废液量,通过液位信息判断容置腔内的废液量是否超过废液量阈值,然后根据废液量的判断结果生成对应的废液状态信号。通过封盖检测组件判断封盖组件是否封盖于废液收集器,然后根据判断结果生成对应的封盖状态信号。
63.步骤s102、根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中至少一者控制所述样本分析仪执行相应的操作。
64.控制器通过废液状态信号和封盖状态信号来判断废液处理装置的当前工作状况,并根据废液处理装置的当前工作状况生成对应的控制指令,以实现样本分析仪根据废液处理状态实现自动控制。
65.示例性地,当封盖组件没有封盖于废液收集器时,则表明操作员正在对废液处理装置进行废液处理,或因为操作不当导致封盖组件没有正确的封盖于废液收集器上。当封盖组件封盖于废液收集器,且液位检测组件检测到容置腔内的废液量超过废液量阈值时,
则表明需要对废液处理装置进行废液处理。当封盖组件封盖于废液收集器,且液位检测组件检测到容置腔内的废液量没有超过废液量阈值时,则表明当前废液收集器还可继续收集废液,即废液处理装置可以正常工作。
66.控制器可以根据液位检测组件输出的废液状态信号和所述封盖检测组件输出的封盖状态信号控制样本分析仪执行对应的预设操作。
67.在一些实施例中,所述废液状态信号包括用于表示所述容置腔内的废液量超过废液量阈值的第一废液状态信号;所述根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中至少一者控制所述样本分析仪执行相应的操作,包括:
68.当接收到所述液位检测组件发送的第一废液状态信号时,控制所述样本分析仪在执行预设任务后进入非预设工作模式,并生成第一提示信息。
69.示例性地,如图7所示,当液位检测组件303检测到废液收集器301内的废液量超过废液量阈值时,则表明需要操作员对废液处理装置30进行废液处理,生成第一废液状态信号和第一提示信息。控制器根据第一废液状态信号获取样本分析仪当前的工作状态信息,并根据当前的工作状态信息获知样本分析仪当前是否处于工作状态,若样本分析仪处于工作状态时,则在样本分析仪完成预设任务后,控制该样本分析仪在预设缓冲时间后进入非预设工作模式,其中,非预设工作模式包括休眠、关机及暂停等。同时,控制器控制样本分析仪生成对应的第一提示信息以向操作员发出需要对废液处理装置30进行废液处理的提示。其中,第一提示信息可以为语音提示、警铃提示、灯光提示及文字提示等。
70.例如,当液位检测组件303检测到容置腔内的废液液面高于或等于预设高度h时,则表明废液收集器301内的废液量超过废液量阈值,则这时液位检测组件303生成第一废液状态信号。控制器根据第一废液状态信号获取样本分析仪的当前工作状态为“正在进行样本检测”,则,控制器在样本分析仪执行完当前检测任务后,在预设缓冲时间t后控制样本分析仪进入休眠状态。同时控制样本分析仪生成语音提示“请进行废液更换!”,以提示操作人员对废液处理装置收集的废液进行处理。
71.在一些实施例中,所述废液状态信号包括表示所述容置腔内的废液量未超过废液量阈值的第二废液状态信号;所述封盖状态信号包括表示所述封盖组件封盖于所述容置腔的开口的第一封盖状态信号;所述根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中至少一者控制所述样本分析仪执行相应的操作,包括:
72.当接收到所述液位检测组件发送的第二废液状态信号,且接收到所述封盖检测组件发送的第一封盖状态信号时,控制所述样本分析仪进入预设工作模式。
73.示例性地,如图8所示,当液位检测组件303检测到容置腔内的废液液面高于低于预设高度h时,即液位检测组件303检测到废液收集器301内的废液量未超过废液量阈值时,则生成第二废液状态信号。当封盖检测组件301检测到在预设时间段内,封盖组件302封盖于容置腔的开口时,生成第一封盖状态信号。当控制器同时接收到第二废液状态信号和第一封盖状态信号时,则表明废液收集器301内的废液量没有超过废液量阈值,且封盖组件302封盖于容置腔的开口,那么表明当前样本分析仪可以不用进行废液处理,即表明当前废液收集器301还可继续收集废液,则样本分析仪继续当前的预设工作模式。
74.在一些实施例中,所述封盖状态信号包括表示所述封盖组件未封盖于所述容置腔的开口的第二封盖状态信号;所述根据所述废液状态信号和所述封盖状态信号中至少一者
控制所述样本分析仪执行相应的操作,包括:
75.当接收到所述封盖检测组件发送的第二封盖状态信号时,控制所述样本分析仪生成第二提示信息。
76.示例性地,如图9所示,当封盖检测组件304检测到在预设时间段内,封盖组件302没有封盖于容置腔的开口时,则生成第二封盖状态信号。当控制器接收到第二封盖状态信号时,则表明封盖组件302没有封盖于废液收集器301 容置腔的开口,那么表明当前样本分析仪正在进行废液更换或因为操作不当导致封盖组件302没有正确的封盖与废液收集器301上,则控制器控制生成提示操作员封盖组件未封盖与废液收集器的第二提示信息。其中,第二提示信息可以为语音提示、警铃提示、灯光提示及文字提示等。
77.通过封盖检测组件和液位检测组件检测废液处理装置的当前工作状态,并根据废液处理装置的当前工作状态控制样本分析仪执行对应的操作,实现了在对样本分析仪在进行废液更换时,该样本分析仪能够自动控制,使用户能更方便的使用样本分析仪。
78.应当理解,在此本技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本技术。如在本技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样,除非上下文清楚地指明其它情况,否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
79.还应当理解,在本技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个
……”
限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
80.上述本技术实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。以上所述,仅是本技术的具体实施方式,但本技术的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本技术揭露的技术范围内,可轻易想到各种等效的修改或替换,这些修改或替换都应涵盖在本技术的保护范围之内。因此,本技术的保护范围应以权利要求的保护范围为准。
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