具有集成光传感器的基于无损检测（NDT）的装备的制作方法

具有集成光传感器的基于无损检测(ndt)的装备
1.相关申请
2.本国际申请要求于2019年4月9日提交的发明名称为“具有集成光传感器的基于无损检测(ndt)的装备”的美国专利申请序列号16/379,449的优先权。美国专利申请序列号16/379,449的全部内容通过引用并入本文。


背景技术：

3.无损检测(ndt)用于评估材料、部件和/或系统的特性和/或特征，而不会造成损坏或改变被测项。因为无损检测不会永久性地改变被检查的制品，所以它是一种非常有价值的技术，可以在用于产品评估、故障排除和研究时节省成本和/或时间。经常使用的无损检测方法包括磁粉检查、涡流检测、液体(或染剂)渗透检查、射线检查、超声检测和目视检测。无损检测(ndt)通常用于比如机械工程、石油工程、电气工程、系统工程、航空工程、医学、艺术等领域。
4.在一些情况下，专用材料和/或产品可以用于无损检测。例如，对特定类型的制品的无损检测可能需要(例如，通过喷涂、注入、穿过等)对待测制品或零件施加被配置用于执行无损检测的材料。在这方面，可以基于具有适合于无损检测的特定磁性特征、视觉特征等(例如，允许检测待测制品中的缺陷、不规则和/或瑕疵(下文称为“缺陷”))来选择和/或制造这种材料(下文称为“ndt材料”或“ndt产品”)。
5.基于ndt的检查的一种形式或类型是基于光照的ndt检查。在的ndt检查中，可以使用光(例如，与施加至待检查制品的ndt材料结合)基于光照来在视觉上进行检查，以检查缺陷。在这方面，可以基于例如颜色对比度或一些与光相关的行为来在视觉上识别缺陷。在这种基于光照的ndt检查中使用的光可以是可用的环境光。替代地或附加地，可以使用光源(例如，特殊灯)来提供满足用于进行检查的特定标准的光。然而，基于光照的ndt检查具有其独特的挑战。
6.通过将这种方法与在本公开内容的其余部分中参照附图阐述的本方法和系统的一些方面相比较，常规方法的进一步局限性和缺点对本领域内的技术管理人员而言将变得显而易见。


技术实现要素：

7.本公开内容的方面涉及产品检测和检查。更具体地，根据本公开内容的各种实施方式涉及用于实施和操作具有集成光传感器的基于无损检测(ndt)的装备的方法和系统，基本上如至少一个附图展示或结合至少一个附图描述的、以及如权利要求中更完整地阐述的。
8.从以下描述和附图，将更加充分地理解本公开内容的这些和其他优点、方面和新颖特征以及本公开内容的所展示实施方式的细节。
附图说明
9.图1展示了示例基于光照的无损检测(ndt)检查装备，其可以被配置用于根据本公开内容的操作。
10.图2展示了根据本公开内容的具有集成光传感器的基于光照的示例无损检测(ndt)检查装备。
11.图3展示了根据本公开内容的多个方面的用于在与具有集成光传感器的检查灯结合使用的基于无损检测(ndt)的装备中使用的示例控制器。
12.图4展示了根据本公开内容的多个方面的用于在具有集成光传感器的ndt检查装备中进行基于光照的无损检测(ndt)的示例过程的流程图。
具体实施方式
13.根据本公开内容的各种实施方式涉及提供增强的和优化的基于光照的无损检测(ndt)检查，特别是通过实施和操作具有集成光传感器的基于无损检测(ndt)的装备。在这方面，如上所述，在基于光照的ndt检查中，可以在视觉上进行检查，典型地使用光(例如，与施加至待检查制品的ndt材料组合)以检查缺陷。例如，可以基于展现某些独特和可识别特征来在视觉上识别缺陷，比如基于颜色对比度或一些与光相关的行为。然而，基于光照的ndt检查具有其独特的挑战。在这方面，现有的解决方案存在某些缺点，这些缺陷可能会阻碍基于光照的ndt检查的有效性和/或成本。例如，现有的解决方案可能没有考虑可能影响检查的光照条件，特别是在检查期间可能存在(或成为因素)的条件——即，在检查开始之后，至少不要求停止检查或以其他方式改变检查环境。因此，可能期望克服这些缺点中的至少一些缺点的ndt相关机器或系统。
14.因此，根据本公开内容的实施方式解决了这种问题和缺点，比如通过提供允许监测和说明当前的光照条件的基于光照的基于无损检测(ndt)的装备。
15.如本文所使用的，术语“电路”和“电路系统”是指物理电子部件(例如，硬件)以及任何软件和/或固件(“代码”)，该软件和/或固件可以配置硬件、由硬件执行和/或以其他方式与硬件相关联。如本文所使用的，例如，特定的处理器和存储器(例如，易失性或非易失性存储器设备、通用计算机可读介质等)可以在执行第一一行或多行代码时构成第一“电路”，并且在执行第二一行或多行代码时构成第二“电路”。附加地，电路可以包括模拟电路系统和/或数字电路系统。这种电路系统例如可以对模拟信号和/或数字信号进行操作。应当理解，电路可以在单个设备或芯片中、单个主板上、单个机箱中、单个地理位置的多个外壳中、分布在多个地理位置的多个外壳中，等。类似地，例如，术语“模块”可以指物理电子部件(例如，硬件)和可以配置硬件、由硬件执行的任何软件和/或固件(“代码”)，以及或以其他方式与硬件相关联。
16.如本文所使用的，当电路系统或模块包括执行功能所必需的硬件和代码(如果有必要)时，电路系统或模块“可操作”以执行该功能，而不管该功能的执行是被禁用还是未被启用(例如，通过使用者可配置的设定、出厂调节等)。
17.如本文所使用的，“和/或”是指列表中由“和/或”连接的多个项中的任何一项或多项。例如，“x和/或y”是指三元素集合{(x),(y),(x,y)}中的任何元素。换言之，“x和/或y”是指“x和y中的一个或两个”。作为另一示例，“x、y和/或z”是指七元素集合{(x),(y),(z),(x,
y),(x,z),(y,z),(x,y,z)}中的任何元素。换言之，“x、y和/或z”是指“x、y和z中的一个或多个”。如本文所使用的，术语“示例性”是指用作非限制性示例、实例、或图示。如本文所使用的，术语“例如(for example)”和“例如(e.g.)”引出一个或多个非限制性示例、实例、或例示的清单。
18.如本文所用的，“检查部件”包括被配置用于执行或促进制品的基于光照的无损检测(ndt)检查的机器或装置的任何部件。例如，“检查部件”可以包括以下任何一项：机器或装置的作为一个整体的结构或框架元件和/或执行检查的装备、被配置为固持被检查制品的固持器部件(并以特定方式将制品定位以进行检查)、被配置用于磁化被检查制品的磁化部件(在基于磁化的检查中)、被配置用于将无损检测(ndt)材料施加至制品的施加部件(例如，在基于渗透剂的检查中)、被配置为在检查期间发光的光源，等。
19.根据本公开内容的示例无损检测(ndt)装置可以包括：一个或多个检查部件，该一个或多个检查部件被配置用于对制品进行基于光照的无损检测(ndt)检查；一个或多个光传感器，该一个或多个光传感器被配置用于生成与紫外(uv)光和/或白光相关的传感数据；以及，一个或多个电路，该一个或多个电路被配置为：处理该传感数据；以及，基于该处理来生成与制品可以正在被检查的检查区域中和/或附近的紫外(uv)光和/或白光相关的光照数据。
20.在示例实施方式中，该装置可以包括反馈部件，该反馈部件被配置为在基于光照的无损检测(ndt)检查期间向系统的操作者提供反馈。反馈部件可以包括视觉输出设备。
21.在示例实施方式中，反馈部件可以被配置为基于与检查区域中和/或附近的紫外(uv)光和/或白光中的一者或两者相关的光照数据来提供光照相关的反馈。光照相关的反馈可以包括检查区域中和/或附近的紫外(uv)光和/或白光中的一者或两者的光强度水平。
22.在示例实施方式中，一个或多个电路可以被配置为基于光照数据生成光照相关的反馈。
23.在示例实施方式中，一个或多个电路中的至少一个电路可以并入反馈部件中。
24.在示例实施方式中，一个或多个光传感器中的至少一个光传感器可以被配置用于将传感数据和/或基于传感数据生成的数据传送到系统的至少一个其他部件。至少一个光传感器可以被配置用于经由有线连接和/或无线连接来传送传感数据和/或基于传感数据生成的数据。
25.在示例实施方式中，一个或多个电路中的至少一个电路可以被配置为将传感数据和/或基于传感数据生成的数据传送到系统的至少一个其他部件。
26.在示例实施方式中，一个或多个电路中的至少一个电路可以被配置为经由有线连接和/或无线连接来传送传感数据和/或基于传感数据生成的数据。
27.在示例实施方式中，一个或多个电路中的至少一个电路可以被配置为控制基于光照的无损检测(ndt)检查；该控制可以包括基于特定的光照相关标准停止基于光照的无损检测(ndt)检查。一个或多个电路中的至少一个电路可以被配置为基于传感数据和/或基于传感数据生成的数据来评估光照相关标准。
28.在示例实施方式中，一个或多个光传感器中的至少一个光传感器可以是固定的。
29.在示例实施方式中，一个或多个光传感器中的至少一个光传感器可以是可移动的，以使得系统的操作者能够在开始基于光照的无损检测(ndt)检查之前自适应地和/或选
择性地放置一个或多个光传感器中的至少一个光传感器。
30.在示例实施方式中，一个或多个电路中的至少一个电路可以并入一个或多个光传感器中的一个光传感器中。
31.在示例实施方式中，一个或多个电路中的至少一个电路可以并入一个或多个检查部件中的至少一个检查部件中。
32.在示例实施方式中，一个或多个检查部件可以被配置用于执行基于光照的磁粉检查(mpi)。
33.在示例实施方式中，一个或多个检查部件可以被配置用于执行基于光照的液体渗透检查(lpi)。
34.根据本公开内容，用于基于光照的无损检测(ndt)检查的示例方法可以包括：设置制品，以用于进行制品的基于光照的无损检测(ndt)检查，该设置包括将制品固定在特定位置，并将无损检测(ndt)相关的材料施加至制品，该材料被配置为在制品中对应于缺陷的区域处展现出一种或多种独特的光相关特征；设置一个或多个光传感器，该一个或多个光传感器被配置用于生成与紫外(uv)光和/或白光相关的传感数据，该设置包括放置和/或调整一个或多个光传感器中的至少一个光传感器的位置；以及，基于与检查区域中和/或附近的紫外(uv)光和/或白光相关的光照数据，对制品进行基于光照的无损检测(ndt)检查，该光照数据可以在基于光照的无损检测(ndt)检查期间基于由一个或多个光传感器生成的传感数据来生成。
35.图1展示了示例基于光照的无损检测(ndt)检查装备，其可以被配置用于根据本公开内容的操作。图1中示出了可以用于执行基于光照的ndt检查的ndt装备100。
36.ndt装备100可以包括被配置用于根据特定ndt检查方法和/或技术来对制品(例如，机械零件等)进行无损检测(ndt)检查的各种部件。具体地，ndt装备100可以被配置用于基于光照的ndt检查。在这方面，在基于光照的ndt检查中，可以在视觉上检测被检查制品中的缺陷，特别是通过使用光——例如环境光或投射在被检查制品上的光。
37.因此，在一些情况下，基于光照的ndt检查可能需要使用专门设计的光源(例如，灯)，该光源可以被配置为以特定方式发光。在这方面，所发射的光可以是白光、其他类型的光(例如，紫外(uv)光)或其任何组合。在一些情况下，基于光照的ndt检查可能需要使用ndt材料，该ndt材料被施加至待检查的制品。在这方面，可以基于例如颜色对比度或另一个与光相关的行为(可以由所应用的ndt材料引起或增强)来在视觉上识别缺陷。
38.使用各种基于光照的ndt检查技术。两种主要技术是“磁粉检查”(mpi)技术和“液体渗透检查”(lpi)技术，其中mpi技术典型地与黑色金属材料一起使用，而lpi技术典型地与有色金属材料(例如，铝、黄铜等)一起使用。无论采用哪种技术，目标都是在视觉上检查制品时(例如，在光源下)使缺陷可见。相应地，在各种实施方式中，ndt装备100可以被配置用于执行基于mpi的检查和/或基于lpi的检查。
39.如图1所示，ndt装备100包括光源(例如灯)110，该光源可以用于制品的无损检测(ndt)检查，这种检查使用由灯110发射或投射在这些制品上的光。灯110可以被附接到支撑结构120，使得灯可以将光向下投射到检查表面130上，制品(例如，机械零件)140可以被放置在该检查表面上、比如使用固持器150而被固定在特定位置，使得使用由灯110投射的光对该制品进行检查。
40.ndt装备100可以被配置为在基于光照的ndt检查中单独地或与白光(或可见光)组合地使用紫外(uv)。因此，灯110可以被配置用于产生和/或投射紫外(uv)光。在一些情况下，灯110还可以发射白光(或可见光)。替代地，如果需要，使用环境白光。灯110可以是任何合适的光源。在一些情况下，灯110可以根据于2018年7月30日提交的发明名称为“broad-beam ultraviolet(uv)inspection lamp for use in non-destructive testing(ndt)[用于无损检测(ndt)的宽束紫外(uv)检查灯]”的美国专利申请序列号16/049,567所描述的实施方式中的任何一个来实施。
[0041]
为了增强性能(例如，提高检测缺陷的能力)，可以使用检查外壳160。在这方面，检查外壳160可以用于用来进行检查的合适光照环境，比如通过阻挡或以其他方式限制环境光。可以这样做以确保ndt装备110内的大部分光源自灯110，从而允许用于检查的光照环境受控制。检查外壳160可以被配置为例如帐篷状结构或提供足够遮蔽的任何其他结构。进一步，检查外壳160可以是可调节的——例如，基于使用者的偏好、周围空间等。
[0042]
在一些情况下，基于光照的ndt检查的性能可能会受到某些光照相关的条件和/或问题的不利影响。例如，尽管使用了检查外壳160，但可能有足够的环境光泄漏到检查区域中(即使它可能未被使用者检测到)，这可能会影响其中执行的基于光照的ndt检查的准确性或可靠性。同样，在一些情况下，光源(例如，灯100)中可能存在由使用者无法检测到的问题或缺陷，这可能影响其中执行的基于光照的ndt检查的准确性或可靠性。因此，可以通过结合处理此类条件的措施来增强基于光照的ndt检查。
[0043]
因此，在根据本公开内容的各种实施方式中，可以通过结合用于监测光照条件和用于提供与其相关的合适动作(比如通知使用者、采取纠正措施等)的措施来增强基于光照的ndt检查。
[0044]
在一些示例实施方式中，这可以通过将光传感器结合到ndt装备中来实施。此类光传感器可以是固定的(例如，内置到ndt装备中的一些现有部件中)和/或可移动的，以给予使用者一定的灵活性来确定将这些光传感器放置在ndt装备内的位置，比如基于使用者偏好、与检查相关联的独特特征(例如，被检查的特定制品)等。光传感器可以被配置为基于检测到的光照条件生成传感信息。然后可以使用传感信息以增强在ndt装备内执行的基于光照的ndt检查。
[0045]
例如，可以基于传感信息获得光照相关的信息(例如，光强度数据)。光照相关的信息可以用于增强基于光照的ndt检查。例如，可以向使用者提供(例如，显示)光照相关的信息，以允许使用者确认与可靠检查一致的光条件。光照相关的信息也可以用作控制数据，以用于控制ndt装备中的一些其他部件(例如，灯)。
[0046]
关于图2描述了特定的示例实施方式。
[0047]
图2展示了根据本公开内容的具有集成光传感器的基于光照的示例无损检测(ndt)检查装备。图2中示出了可以用于执行基于光照的ndt检查的ndt装备200。
[0048]
ndt装备200可以包括被配置用于基于光照的无损检测(ndt)检查的各种部件，如关于图1所述的。在这方面，ndt装备200可以被配置用于执行基于mpi光照的检查和/或基于lpi光照的检查。
[0049]
如图2所示，ndt装备200包括光源(例如灯)210，该光源可以被配置用于将光发射和/或投射到被检查的制品上。灯210可以类似于关于图1所述的灯110。因此，灯210可以被
配置用于产生和发射紫外(uv)光。灯210可以被布置在ndt装备200内以将光发射和/或投射到检查表面230上，制品(例如，机械零件)240可以被放置在该检查表面上，比如使用固持器220而被固定在特定位置，使得可以使用由灯210投射的光对该制品进行检查。
[0050]
ndt装备200可以被配置用于监测光照条件，并且用于提供与其相关的合适动作以增强和/或优化其中执行的基于光照的ndt检查的性能，比如向使用ndt装备200的操作者提供光照相关的反馈，从而采取自主纠正措施等。在这方面，如关于图1说明的，某些光照相关条件和/或问题可能会影响基于光照的ndt检查，特别是其可靠性和准确性。例如，环境光可能会影响基于光照的ndt检查的结果(例如，导致错误通过或失败确定)。类似地，光源(例如，灯200)中未检测到或注意到的问题或缺陷也可能影响基于光照的ndt检查的结果(例如，类似地导致错误通过或失败确定)。
[0051]
例如，如图2中所展示的示例实施方式中所示，ndt装备200可以结合一个或多个光传感器250，可以在ndt装备200内使用以在基于光照的ndt检查期间监测光照条件，其中ndt装备200被配置为在这些基于光照的ndt检查期间使用基于这种监测而获得的信息。
[0052]
每个光传感器250可以包括合适的硬件(包括电路系统)，用于检测光和/或与其相关联的特定特征，并且用于生成相应的传感信息。例如，每个光传感器250可以包括合适的硬件，其被配置为响应于特定的光条件(例如，强度高于某个阈值的环境光)以特定的方式(例如，材料的化学变化、电磁特征的变化等)作出反应。由光传感器250生成的“传感信息”可以包括实际信息——即，一些类型的数据。在这方面，传感信息可能仅与某个条件发生时的指示一样基本；替代地，传感信息可以包括更复杂的信息——例如，对应于特定光照条件或特征的实际测量值、与条件或测量值相关联的相关数据(例如，时间、空间等)，等。尽管如此，本公开内容不限于此。因此，在一些实施方式中，传感信息可以仅是信号(例如，电脉冲)，其可以在满足某些检测条件时被触发，并且其(信号)可以通过接收信号的部件被解释为“信息”——例如，基于信号的特定特征(例如，振幅)。
[0053]
在一些情况下，光传感器250是固定的。在这方面，光传感器250可以嵌入、内置或以其他方式永久附接到ndt装备200中的其他部件之一，比如到固持器220、检查表面230等。
[0054]
然而，在一些实施方式中，光传感器250中的至少一个可以是可移动的和/或可调节的。这种可移动和/或可调节的传感器可以被配置为能够在ndt装备内临时放置和/或调整其位置。例如，可移动和/或可调节的传感器可以包括附接元件(例如，夹子状部件)以使得其能够附接到ndt装备200中的某些点。这可以允许使用者在确定将可移动和/或可调节的传感器放置在ndt装备200内的位置和方式时具有一定的灵活性，比如基于使用者偏好(例如，以确保传感器不会干扰检查)，以优化检查(例如，基于被检查的制品、检查参数等)，等。
[0055]
光传感器250可以被配置为与系统的至少一个其他部件通信。例如，光传感器250可以被配置用于支持有线和/或无线连接。因此，每个光传感器250可以包括用于促进这种连接和使用这些连接的通信的合适的电路系统。
[0056]
光传感器250可以被配置为使用可用连接(有线和/或无线)以将传感数据传送到系统的至少一个其他部件，其可以被配置为使用传感信息来增强基于光照的ndt检查。例如，可以对传感信息进行处理，比如生成或确定与正在执行检查的(例如，光投射的)区域和/或该检查区域附近相对应的相应光照相关的信息(例如，光强度数据，对应于白(视觉)
光和紫外(uv)光)。
[0057]
ndt装备200可以被配置用于执行基于传感信息采取的特定动作和/或其处理，这些动作被配置为增强基于光照的ndt检查。例如，可以向使用者提供光照相关的信息(或基于此的数据)，这可以允许使用者确认环境光条件与可靠的检查结果一致。光照相关的信息还可以被用作用于控制ndt装备中的一些其他部件(例如，灯210)的控制数据。
[0058]
传感信息的处理可以在除光传感器250之外的部件中执行。这种部件可以被配置为处理这种处理。在这方面，该部件可以包括用于执行必要处理的合适电路系统。例如，如图2所示，ndt装备200可以包括控制器260，其可以包括用于处理传感信息的处理、和/或用于执行和/或控制基于传感信息的处理而采取的任何动作的合适的电路系统。例如，控制器260可以结合屏幕或显示器270，其可以用于显示基于由光传感器获得的传感信息而计算的光强度水平。然而，本公开内容不限于此，因此可以支持其他组合或变化。例如，“控制器”可以包括已经包括的控制器电路系统(例如，用于灯210的控制器电路系统)，其可以被配置为执行一些所需的处理功能。进一步，在一些情况下，至少一些处理可以在光照传感器250中的至少一个内执行。在这种实施方式中，这种光照传感器可以包括用于处理所需处理的合适的电路系统。
[0059]
图3展示了根据本公开内容的多个方面的用于在与具有集成光传感器的检查灯结合使用的基于无损检测(ndt)的装备中使用的示例控制器。图3中示出了控制器系统300。
[0060]
控制器系统300可以包括用于实施本公开内容的多个不同方面的合适的电路系统，特别是用于支持关于图1描述的磁性湿式工作台中的自动样品收集。在这方面，控制器系统300可以表示图2的控制器单元260的示例实施方式。因此，控制系统300可以被配置为支持基于光照的ndt检查，特别是在结合了集成光传感器及其使用的装备中。例如，控制系统300可以被配置用于对由光传感器生成的传感信息执行至少一些处理，并且用于采取或支持基于传感信息采取的行动——例如，包括比如经由可用的输出设备(例如，显示器或屏幕)向使用者提供反馈。
[0061]
如图3所示，控制器系统300可以包括处理器302。在这方面，示例处理器302可以是来自任何制造商的任何通用中央处理单元(cpu)。然而，在一些示例实施方式中，处理器302可以包括一个或多个专用处理单元，比如具有arm核的risc处理器、图形处理单元、数字信号处理器、和/或芯片上系统(soc)。
[0062]
处理器302执行机器可读指令304，这些机器可读指令在处理器处(例如，在所包括的高速缓存或soc中)可以被本地存储在随机存取存储器(ram)306(或其他易失性存储器)中、在只读存储器(rom)308(或比如flash存储器等其他非易失性存储器)中、和/或在大容量存储设备310中。示例大容量存储设备310可以是硬盘驱动器、固态存储驱动器、混合驱动器、raid阵列和/或任何其他大容量数据存储设备。
[0063]
总线312支持处理器302、ram 306、rom 308、大容量存储设备310、网络接口314和/或输入/输出(i/o)接口316之间的通信。
[0064]
示例网络接口314包括硬件、固件和/或软件以将控制器系统300连接到比如因特网等通信网络318。例如，网络接口314可以包括符合ieee 202.x的用于发送和/或接收通信的无线和/或有线通信硬件。
[0065]
图3的示例i/o接口316包括硬件、固件和/或软件，用于将一个或多个使用者接口
设备320连接到处理器302，从而向处理器302提供输入和/或从处理器302提供输出。例如，i/o接口316可以包括用于与显示设备接口连接的图形处理单元、用于与一个或多个usb兼容设备接口连接的通用串行总线端口、firewire、现场总线和/或任何其他类型的接口。
[0066]
示例控制器系统300包括耦接到i/o接口316的使用者接口设备324。使用者接口设备324可以包括以下各项中的一项或多项：键盘、小键盘、物理按钮、鼠标、轨迹球、指点设备、麦克风、音频扬声器、光学介质驱动器、多点触摸屏、手势识别接口和/或任何其他类型的输入和/或输出设备或多种类型输入和/或输出设备的组合。尽管本文中的示例涉及一个使用者接口设备324，但是这些示例可以包括任意数量的输入和/或输出设备作为单个使用者接口设备324。其他(多个)示例i/o设备320可以包括光学介质驱动器、磁性介质驱动器、外围设备(例如，扫描仪、打印机等)和/或任何其他类型的输入和/或输出设备。
[0067]
示例控制器系统300可以经由i/o接口316和/或(多个)i/o设备320访问非暂态机器可读介质322。图3的机器可读介质322的示例包括：光盘(例如，光盘(cd)、数字通用/视频光盘(dvd)、蓝光光盘等)、磁性介质(例如，软盘)、便携式存储介质(例如，便携式闪存驱动器、安全数字(sd)卡等)和/或任何其他类型的可移除的和/或安装的机器可读介质。
[0068]
图4展示了根据本公开内容的多个方面的用于在具有集成光传感器的ndt检查装备中进行基于光照的无损检测(ndt)的示例过程的流程图。图4示出了流程图400，包括多个示例步骤(表示为框402-412)，其可以在合适的系统(例如，图2的装备200)中执行以提供根据本公开内容的基于光照的无损检测(ndt)检查。
[0069]
在开始步骤402中，基于光照的ndt检查装备被准备用于检查(例如，为其部件供电、设置封闭区域等)。
[0070]
在步骤404中，被检查的制品可以被设置用于制品的基于光照的无损检测(ndt)检查。设置制品可以包括，例如，将制品固定在特定位置，将任何必要的无损检测(ndt)相关的材料(例如，用于展现特定的光照相关特征)施加至制品，等。
[0071]
在步骤406中，可以设置集成光传感器用于检查。这可以包括放置和/或调整定位任何可移动的光传感器。在这方面，集成光传感器被配置用于在检查期间提供光照相关的监测，而不要求对检查环境进行任何改变(例如，不要求打开或以其他方式改变检查外壳内的光照条件)。
[0072]
在步骤408中，可以启动对检查外壳内的制品的基于光照的ndt检查。
[0073]
在步骤410中，光传感器在检查期间生成传感信息。当必要时，可以将传感信息或基于其获得的数据从光传感器传送到装备中的其他检查部件。
[0074]
在步骤412中，传感信息被处理(例如，在光传感器内、在装备内的其他检查部件中、或其任何组合)。该处理可以允许获得有用的光照相关数据——例如，与检查外壳内的光和/或光源相关的光照数据)
[0075]
在步骤414中，可以基于光照数据来管理基于光照的ndt检查——例如，通过向使用者提供与光照条件相关的反馈，以能够评估检查的可靠性等。
[0076]
根据本公开内容的其他实施方式可以提供非暂态计算机可读介质和/或存储介质、和/或非暂态机器可读介质和/或存储介质，其上存储有具有至少一个代码段的机器代码和/或计算机程序，该至少一个代码段可由机器和/或计算机执行，从而使机器和/或计算机执行本文所描述的过程。
[0077]
因此，可以以硬件、软件或硬件与软件的组合来实施根据本公开内容的各种实施方式。可以以集中方式在至少一个计算系统中实现本公开内容，或者以不同的元件遍布在若干互连计算系统上的分布式方式实现本公开内容。适用于执行本文所描述的方法的任何种类的计算系统或其他装置都是适合的。硬件与软件的典型组合可以是具有程序或其他代码的通用计算系统，该程序或其他代码当被加载和执行时控制该计算系统以使得该计算系统执行本文所描述的方法。另一个典型实施方式可以包括专用集成电路或芯片。
[0078]
根据本公开内容的各种实施方式也可以被嵌入到计算机程序产品中，该计算机程序产品包括使得能够实施本文描述的方法的所有特征，并且该计算机程序产品当被加载到计算机系统中时能够执行这些方法。计算机程序在本上下文中是指意图使一种具有信息处理能力的系统直接抑或在以下过程中任一个或两者之后执行一种特定功能的一组指令的以任何语言、代码或符号表示的任何表达：a)转换为另一种语言、代码或符号；b)以不同的材料形式复制。
[0079]
尽管已经参考某些实施方式描述了本公开内容，但是本领域普通技术人员将理解的是，在不脱离本公开内容的范围的情况下，可以进行各种改变并且可以用等效物代替。例如，所公开的示例的框和/或部件可以被组合、划分、重新布置和/或以其他方式被修改。附加地，在不脱离本公开内容范围的情况下，可以做出许多修改以使特定情况或材料适应于本公开内容的教导。因此，本公开内容不旨在局限于所公开的特定实施方式，而是本公开内容将包括落在所附权利要求的范围内的所有实施方式。