技术特征：
1.一种x射线分析装置，其中，该x射线分析装置具备：试样容器，其收纳试样；载置部，其能够载置所述试样容器；x射线照射源，其从所述载置部的下方对所述试样容器内的所述试样照射x射线；检测器，其在所述载置部的下方检测从所述试样产生的荧光x射线；以及支架，其载置于所述载置部，收纳所述试样容器，在所述载置部设有用于使从所述x射线照射源照射的x射线通过的开口部，所述试样容器具有：容器主体，其包围所述试样并且具有在下方开口的形状；以及容器膜，其封闭所述容器主体的开口并且支承所述试样，所述支架具有：包围筒，其具有比所述开口部大的外形且包围所述试样容器，并且具有在下方开口的形状；以及支架膜，其封闭所述包围筒的开口。2.根据权利要求1所述的x射线分析装置，其中，所述支架膜熔接于所述包围筒的下端部。3.根据权利要求1所述的x射线分析装置，其中，所述支架还具有安装于所述包围筒的周围的夹持环，所述夹持环将所述支架膜的缘部夹持在该夹持环的内周面与所述包围筒的外周面之间。4.根据权利要求1～3中任一项所述的x射线分析装置，其中，所述支架构成为能够从所述载置部卸下。5.根据权利要求1～4任一项所述的x射线分析装置，其中，所述容器主体的外形比所述开口部大。
技术总结
一种X射线分析装置，其具备：试样容器(10)，其收纳试样(S)；载置部(24)，其能够载置试样容器(10)；X射线照射源，其从载置部(24)的下方对试样(S)照射X射线；检测器，其在载置部的下方检测从试样(S)产生的荧光X射线；以及支架(50)，其载置于载置部(24)，收纳试样容器(10)，在载置部(24)设有开口部(24h)，试样容器(10)具有：容器主体(12)，其包围试样(S)并且具有在下方开口的形状；以及容器膜(14)，其封闭容器主体(12)的开口并且支承试样(S)，支架(50)具有：包围筒(52)，其具有比开口部(24h)大的外形且包围试样容器(10)，并且具有在下方开口的形状；以及支架膜(54)，其封闭包围筒(52)的开口。的开口。的开口。
技术研发人员：森久祐司 克里恩卡莫尔
受保护的技术使用者：株式会社岛津制作所
技术研发日：2020.07.01
技术公布日：2023/2/23