一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法

文档序号:25233764发布日期:2021-05-28 14:42阅读:687来源:国知局
一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法

本发明属于扫描电镜制样技术领域,具体涉及一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法。



背景技术:

微米级球形颗粒的截面样品一直缺乏高质量的制备手段。常规的手段包括包埋镶嵌研磨抛光法,此法程序繁琐、耗时长,且抛光液可能会对样品表面产生污染、腐蚀或破坏。改进的手段包括聚焦离子束切割法、超薄切片法、以及离子束抛光法,其中聚焦离子束切割法定位精确,对单个颗粒切割效率高,可以获得较好的观察表面,然而高能量的离子切割会不可避免的引入离子注入污染。另外,聚焦离子束切割设备成本高,造成此法推广困难。超薄切片法可以获得光洁平整的球形颗粒截面,适合高质量的扫描电镜观察,然而球形颗粒切割前,需要采用树脂包埋固化前处理,耗时长,效率低,每次制样仅仅可以获得数个颗粒截面。任博颖等人采用离子束抛光技术来制备颗粒截面样品,该方法获得的截面平整度好,区域大,可满足扫描电镜的观察需要(任博颖等,ncm颗粒截面样品的制备[j],分析仪器,2019,3:90-93);该法将球形颗粒与碳导电胶液混合后用铝箔包埋压片后切割,形成截面抛光样品,然后转移至离子抛光机进行截面抛光,抛光电压为6.5kv,时间为6h。

现有的离子束抛光技术制备截面样品存在以下不足,一是样品前处理步骤繁琐,且采用碳导电胶液作为分散剂、固定剂、填充剂,原料消耗大、成本高;二是离子抛光采用截面抛光模式,抛光时间长,效率低。



技术实现要素:

本发明的目的是针对上述问题,提供一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法。

本发明为了实现其目的,采用的技术方案是:

一种用于电镜观察的微米级球形颗粒截面的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)将导电胶带粘贴于导电金属基体上;

(2)取微米级球形颗粒粉末平铺粘在导电胶带上,并吹走多余粉末;

(3)将粘有粉末的导电金属基体置于离子束抛光机内进行抛光,采用平面抛光模式,抛光角度为0~2°,抛光电压和时间为5~8kv5~40min+3~5kv5~20min+0.5~2kv5~20min,即可获得满足扫描电镜观察的颗粒截面。

优选地,所述导电胶带为双面导电碳胶带或者铜胶带。

优选地,所述导电金属基体为铜或铝。

优选地,所述抛光电压和时间为5~8kv5~15min+3~5kv5~20min+0.5~2kv5~20min。

进一步优选地,所述抛光电压和时间为7kv5min+4kv10min+1kv10min。

优选地,所述导电金属基体大小为8mm×8mm。

优选地,所述微米级球形颗粒粉末直径为5-20μm。

优选地,所述微米级球形颗粒为金属、无机非金属或陶瓷球形颗粒。

进一步优选地,所述微米级球形颗粒为linicomno2电池正极材料或纯钛微球材料。

优选地,所述离子束抛光机为氩离子抛光机。

本发明的有益效果是:本发明采用直接将球形颗粒粉末平铺于金属基体上进行抛光前处理,不需要包埋处理,不用消耗额外的制样耗材。一是前处理步骤少,时间短,成本低,操作性强;二是离子抛光采用平面抛光模式,抛光时间短,耗时仅为截面抛光模式的十分之一,抛光效率高;三是平面抛光模式下获得的样品有效面积大,用于扫描电镜观察的可选择区域多。

附图说明

图1是linicomno2电池正极材料粉末离子抛光前球形颗粒表面的扫描电镜图。

图2是实施例1离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图。

图3是实施例2离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图。

图4是实施例3离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图。

图5是工业纯钛微球粉末离子抛光前球形颗粒表面的扫描电镜图。

图6是实施例4离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图。

图7是实施例5离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图。

具体实施方式

下面结合实施例对本发明作进一步说明,但并不因此而限制本发明。

下述实施例中的实验方法,如无特别说明,均为常规方法。

本发明实施例所用主要试剂和设备:

linicomno2电池正极材料:国内某锂离子电池正极材料生产商,粉末直径为5-20μm,其离子抛光前球形颗粒表面的扫描电镜图如图1所示。

工业纯钛微球材料:国内某金属粉末生产商,粉末直径为2-15μm,其离子抛光前球形颗粒表面的扫描电镜图如图5所示。

氩离子抛光机:品牌:gatan,型号:ilions697。

实施例1

制备用于扫描电镜观察的微米级球形颗粒截面,按照以下步骤操作:

(1)将双面导电碳胶带粘贴于大小为8mm×8mm的铝金属基体上;

(2)用牙签粘取少量linicomno2电池正极材料粉末平铺粘在导电胶带上,并用吹风机吹走多余粉末,只有粘在导电胶带上的粉末保留下来;

(3)将带有粉末的铝金属基体置于氩离子抛光机内进行抛光,采用平面抛光模式,离子枪角度2°,抛光电压和时间为7kv5min+4kv10min+1kv10min,即可获得满足扫描电镜观察的截面,离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图如图2所示。

实施例2

制备用于扫描电镜观察的微米级球形颗粒截面,按照以下步骤操作:

(1)将双面导电铜胶带粘贴于大小为8mm×8mm的铜金属基体上;

(2)用牙签粘取少量linicomno2电池正极材料粉末平铺粘在导电胶带上,并用吹风机吹走多余粉末;

(3)将带有粉末的铜金属基体置于氩离子抛光机内进行抛光,采用平面抛光模式,离子枪角度0.5°,抛光电压和时间为7kv5min+4kv10min+1kv10min,即可获得满足扫描电镜观察的截面,离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图如图3所示。

实施例3

制备用于扫描电镜观察的微米级球形颗粒截面,按照以下步骤操作:

(1)将双面导电铜胶带粘贴于大小为8mm×8mm的铝金属基体上;

(2)用牙签粘取少量linicomno2电池正极材料粉末平铺粘在导电胶带上,并用吹风机吹走多余粉末;

(3)将带有粉末的铜金属基体置于氩离子抛光机内进行抛光,采用平面抛光模式,离子枪角度0°,抛光电压和时间为7kv5min+4kv10min+1kv10min,即可获得满足扫描电镜观察的截面,离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图如图4所示。

实施例4

制备用于扫描电镜观察的工业纯钛微米级球形颗粒截面,按照以下步骤操作:

(1)将双面导电碳胶带粘贴于大小为8mm×8mm的铝金属基体上;

(2)用牙签粘取少量工业纯钛微球材料粉末平铺粘在导电胶带上,并用吹风机吹走多余粉末,只有粘在导电胶带上的粉末保留下来;

(3)将带有粉末的铝金属基体置于氩离子抛光机内进行抛光,采用平面抛光模式,离子枪角度0°,抛光电压和时间为8kv15min+4kv10min+1kv10min,即可获得满足扫描电镜观察的截面,离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图如图6所示。

实施例5

制备用于扫描电镜观察的工业纯钛微米级球形颗粒截面,按照以下步骤操作:

(1)将双面导电铜胶带粘贴于大小为8mm×8mm的铜金属基体上;

(2)用牙签粘取少量工业纯钛微球材料粉末平铺粘在导电胶带上,并用吹风机吹走多余粉末,只有粘在导电胶带上的粉末保留下来;

(3)将带有粉末的铜金属基体置于氩离子抛光机内进行抛光,采用平面抛光模式,离子枪角度0°,抛光电压和时间为8kv40min+4kv20min+1kv20min,即可获得满足扫描电镜观察的截面,离子抛光后球形颗粒截面的扫描电镜图如图7所示。

从图1-7的扫描电镜图可见,采用本技发明方法制得的实施例1-5的球形颗粒截面,获得的颗粒完整,没有破碎与污染,球形边缘清晰,内部组织可完整的显示出来。获得的截面样品有效面积大,理论上离子束抛光后可获得数十个平方厘米面积的截面,用于扫描电镜观察的可选择区域多。采用本发明方法经离子束抛光后,低观察倍数下,球形颗粒截面均可呈现。优化抛光参数,可获得平整度好的观察截面。高观察倍数下,可获得球形颗粒内部孔的尺寸和分布信息。

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