一种飞行时间传感器校准方法、装置及存储介质与流程

1.本公开涉及图像采集设备对焦技术领域，尤其涉及一种飞行时间传感器校准方法、装置及存储介质。


背景技术：

2.随着科学技术的发展，飞行时间(time offlight，tof)传感器作为一种常见的精准对焦手段，被人们所熟知。然而，在使用tof传感器进行对焦的过程中，常常会因为tof传感器存在的零点偏移(offset)和串扰(x-talk)影响对焦精度。相关技术中，通常需要对tof传感器进行零点偏移校准以及串扰校准，从而使tof能够得到较为准确的飞行时间数据。
3.相关技术中，能够对具有单个采集元件(例如，单光子雪崩二极管(single photon avalanche diode，spad))的tof传感器进行校准，但不能对具有采集元件阵列(例如spad阵列)的tof传感器进行校准。


技术实现要素：

4.为克服相关技术中存在的问题，本公开提供一种飞行时间传感器校准方法、装置及存储介质。
5.根据本公开实施例的第一方面，提供一种飞行时间传感器校准方法，其特征在于，所述飞行时间传感器的接收器中安装有单光子雪崩二极管采集元件阵列，所述飞行时间传感器校准方法包括：
6.控制所述飞行时间传感器对第一校准距离进行测距；在进行第一校准距离测距过程中，对所述采集元件阵列中各采集元件分别进行串扰校准，得到所述采集元件阵列的串扰校准参数，以及对所述采集元件阵列进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数；基于所述串扰校准参数以及所述零点偏移校准参数，校准所述飞行时间传感器。
7.一种实施方式中，所述对所述采集元件阵列中各采集元件分别进行串扰校准，包括：将所述采集元件阵列中任意一个采集元件作为基准采集元件，并对所述基准采集元件进行串扰校准，得到基准串扰校准参数；基于采集元件参考差异度对应关系，确定所述基准采集元件与所述采集元件阵列中其他采集元件之间的差异度对应关系，并基于所述差异度对应关系以及所述基准串扰校准参数，分别确定所述其他采集元件中各采集元件的串扰校准参数；将所述基准串扰校准参数以及所述其他采集元件中各采集元件的串扰校准参数，作为所述采集元件阵列的串扰校准参数。
8.一种实施方式中，所述采集元件参考差异度对应关系采用如下方式确定：控制具有所述采集元件阵列的多个飞行时间传感器，对第二校准距离进行测距；在所述多个飞行时间传感器进行第二校准距离测距过程中，采集各飞行时间传感器的采集元件阵列中各采集元件的测距脉冲；针对所述多个飞行时间传感器中的每一飞行时间传感器，分别基于所述各采集元件的测距脉冲之间的差异度，确定采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系，得到多个飞行时间传感器的采集元件差异度对应关系；将所述多个飞行时间传感器的
采集元件差异度对应关系进行归一化处理，得到所述采集元件参考差异度对应关系。
9.一种实施方式中，所述第二校准距离满足使所述多个飞行时间传感器的采集元件阵列中各采集元件均接收到测距脉冲，且接收到的各测距脉冲不重叠。
10.一种实施方式中，所述基于所述各采集元件的测距脉冲之间的差异度，确定采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系，包括：获取所述采集元件阵列中各采集元件的测距脉冲强度，确定所述测距脉冲强度之间的比例关系；基于所述测距脉冲强度之间的比例关系，确定所述采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系。
11.一种实施方式中，对所述采集元件阵列进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数，包括：获取所述采集元件阵列中任意一个采集元件的飞行时间数据；基于所述飞行时间数据进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数。
12.一种实施方式中，所述控制所述飞行时间传感器对第一校准距离进行测距，包括：将具有标准反射率材质的标准卡固定在第一校准距离位置处；控制所述飞行时间传感器向所述标准卡发射测距脉冲，并基于所述标准卡向所述采集元件阵列反射的测距脉冲，进行测距；其中，所述标准反射率满足使所述标准卡反射至所述采集元件的测距脉冲不重叠。
13.根据本公开实施例的第二方面，提供一种飞行时间传感器校准装置，其特征在于，所述飞行时间传感器的接收器中安装有单光子雪崩二极管采集元件阵列，所述飞行时间传感器校准装置包括：
14.控制单元，用于控制所述飞行时间传感器对第一校准距离进行测距；校准单元，用于在进行第一校准距离测距过程中，对所述采集元件阵列中各采集元件分别进行串扰校准，得到所述采集元件阵列的串扰校准参数，以及对所述采集元件阵列进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数；基于所述串扰校准参数以及所述零点偏移校准参数，校准所述飞行时间传感器。
15.一种实施方式中，所述校准单元采用如下方式对所述采集元件阵列中各采集元件分别进行串扰校准：将所述采集元件阵列中任意一个采集元件作为基准采集元件，并对所述基准采集元件进行串扰校准，得到基准串扰校准参数；基于采集元件参考差异度对应关系，确定所述基准采集元件与所述采集元件阵列中其他采集元件之间的差异度对应关系，并基于所述差异度对应关系以及所述基准串扰校准参数，分别确定所述其他采集元件中各采集元件的串扰校准参数；将所述基准串扰校准参数以及所述其他采集元件中各采集元件的串扰校准参数，作为所述采集元件阵列的串扰校准参数。
16.一种实施方式中，所述校准单元采用如下方式确定所述采集元件参考差异度对应关系：控制具有所述采集元件阵列的多个飞行时间传感器，对第二校准距离进行测距；在所述多个飞行时间传感器进行第二校准距离测距过程中，采集各飞行时间传感器的采集元件阵列中各采集元件的测距脉冲；针对所述多个飞行时间传感器中的每一飞行时间传感器，分别基于所述各采集元件的测距脉冲之间的差异度，确定采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系，得到多个飞行时间传感器的采集元件差异度对应关系；将所述多个飞行时间传感器的采集元件差异度对应关系进行归一化处理，得到所述采集元件参考差异度对应关系。
17.一种实施方式中，所述第二校准距离满足使所述多个飞行时间传感器的采集元件阵列中各采集元件均接收到测距脉冲，且接收到的各测距脉冲不重叠。
18.一种实施方式中，所述校准单元采用如下方式基于所述各采集元件的测距脉冲之间的差异度，确定采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系：获取所述采集元件阵列中各采集元件的测距脉冲强度，确定所述测距脉冲强度之间的比例关系；基于所述测距脉冲强度之间的比例关系，确定所述采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系。
19.一种实施方式中，所述校准单元采用如下方式对所述采集元件阵列进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数：获取所述采集元件阵列中任意一个采集元件的飞行时间数据；基于所述飞行时间数据进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数。
20.一种实施方式中，所述校准单元采用如下方式控制所述飞行时间传感器对第一校准距离进行测距：将具有标准反射率材质的标准卡固定在第一校准距离位置处；控制所述飞行时间传感器向所述标准卡发射测距脉冲，并基于所述标准卡向所述采集元件阵列反射的测距脉冲，进行测距；其中，所述标准反射率满足使所述标准卡反射至所述采集元件的测距脉冲不重叠。
21.根据本公开实施例第三方面，提供一种飞行时间传感器校准装置，包括：
22.处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；
23.其中，所述处理器被配置为：执行第一方面或者第一方面任意一种实施方式中所述的飞行时间传感器校准方法。
24.根据本公开实施例第四方面，提供一种存储介质，所述存储介质中存储有指令，当所述存储介质中的指令由处理器执行时，使得处理器能够执行第一方面或者第一方面任意一种实施方式中所述的飞行时间传感器校准方法。
25.本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：控制tof传感器对满足测距脉冲不重叠的标准卡进行测距，在进行测距的过程中，对采集元件阵列中各采集元件分别进行串扰校准，得到采集元件阵列的串扰校准参数，以及对采集元件阵列进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数。这样，通过得到的串扰校准参数和零点偏移校准参数就能校准tof传感器，以实现对具有采集元件阵列的tof传感器的校准。
26.应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。
附图说明
27.此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。
28.图1是根据一示例性实施例示出的一种具有单个采集元件的tof传感器的校准流程图。
29.图2是根据一示例性实施例示出的一种tof传感器校准方法的流程图。
30.图3是根据一示例性实施例示出的一种确定采集元件参考差异度对应关系的方法流程图。
31.图4是根据一示例性实施例示出的一种tof传感器接收器及采集元件参考差异度对应关系的示意图。
32.图5是根据一示例性实施例示出的一种对采集元件阵列进行串扰校准的方法流程图。
33.图6是根据一示例性实施例示出的一种采集元件阵列进行零点偏移校准的方法流程图。
34.图7是根据一示例性实施例示出的一种具有采集元件矩形阵列的tof传感器的校准流程图。
35.图8是根据一示例性实施例示出的一种对tof传感器校准的场景示意图。
36.图9是根据一示例性实施例示出的一种tof传感器校准装置框图。
37.图10是根据一示例性实施例示出的一种用于飞行时间传感器校准的装置的框图。
具体实施方式
38.这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。
39.本公开实施例提供的飞行时间传感器校准方法可以应用于手持、固定以及可移动图像采集设备进行对焦的场景中。其中，图像采集设备可以是例如手机、数码相机、平板电脑pad以及笔记本电脑等图像采集设备。
40.相关技术中，通常采用tof传感器进行图像采集设备的精准对焦。tof传感器是一种测量信号飞行时间的器件，通过红外激光发射器向目标物发射红外光线，经目标物反射后被红外接收器接收。由于其发射信号以及接收信号的速度不变，故，可以通过确定信号发射至接收的飞行时间，计算出发射地点与目标物之间的距离。相关技术中，具备对焦功能的tof传感器可以有多种类型，例如，可以是具有单个采集元件的tof传感器，当然，还可以是具有m*n个采集元件的矩阵式tof传感器。其中，矩阵式tof传感器可用于摄像头的精准对焦，由于其具有多个采集元件，可以使图像采集设备的对焦范围进一步增加。其中，上述涉及的采集元件可以是spad。
41.图像采集设备的tof传感器通常装配在玻璃盖板下，有油墨遮挡。由于tof传感器之间的性能差异、tof传感器装配位置、tof传感器至玻璃盖板的距离(airgap)、油墨透过率以及目标物反射率的差异，会使tof传感器产生零点偏移(offset)以及串扰(x-talk)，从而对tof传感器的对焦精度造成影响。
42.相关技术中，能够对具有单个采集元件的tof传感器进行校准。例如，如图1所示，可以在产线组装出厂时，对具有单个采集元件的tof传感器进行串扰校准以及零点偏移校准。并在测试验证通过后，将校准数据存储在存储芯片中。当使用校准后的tof传感器进行对焦时，可以调用存储芯片中的校准数据，对实时测距结果进行补偿。但相关技术中，无法对具有采集元件矩形阵列的tof传感器器件进行校准。
43.有鉴于此，本公开实施例提供了一种tof传感器校准方法。对采集元件阵列中的采集元件进行串扰校准，并对采集元件阵列中的采集元件进行零点偏移校准，得到tof传感器的串扰校准参数以及零点偏移校准参数。通过得到的串扰校准参数以及零点偏移校准参数对tof传感器进行校准，实现具有采集元件矩形阵列的tof传感器的校准。
44.图2是根据一示例性实施例示出的一种tof传感器校准方法的流程图，如图2所示，包括以下步骤。
45.在步骤s11中，控制tof传感器对第一校准距离进行测距。
46.本公开实施例中，控制tof传感器进行测距，可以是通过tof传感器的发射器发射测距脉冲，并通过tof传感器的接收器(接收器中安装的采集元件阵列)接收发射的测距脉冲，从而获取飞行时间数据。一示例中，第一校准距离可以是满足tof传感器测距条件的任意距离。
47.在步骤s12中，在进行第一校准距离测距过程中，对采集元件阵列中各采集元件分别进行串扰校准，得到采集元件阵列的串扰校准参数，以及对采集元件阵列进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数。
48.在步骤s13中，基于串扰校准参数以及零点偏移校准参数，校准tof传感器。
49.本公开实施例中，通过对tof传感器的采集元件阵列中的各采集元件进行串扰校准，得到采集元件阵列的串扰校准参数。通过对采集元件阵列进行零点偏移校准，得到采集元件阵列的零点偏移校准参数。通过得到的串扰校准参数以及零点偏移校准参数，对tof传感器进行校准，能够实现对具有采集元件阵列的tof传感器进行校准。
50.一示例中，控制tof传感器对第一校准距离进行测距，可以是将具有标准反射率材质的标准卡固定在第一校准距离位置处。控制tof传感器的发射器向标准卡发射测距脉冲，并通过标准卡向tof传感器的接收器(接收器中安装的采集元件阵列)反射的测距脉冲。其中，标准反射率满足使标准卡反射至采集元件的测距脉冲不重叠。
51.本公开实施例中，可以预先确定采集元件阵列中各采集元件之间的差异度对应关系。在对采集元件阵列中的各采集元件进行串扰校准时，可以将采集元件阵列中的任意一个采集元件作为基准采集元件，并对基准采集元件进行串扰校准，得到基准采集元件的串扰校准参数。通过基准采集元件的串扰校准参数以及预先确定的采集元件阵列中各采集元件之间的差异度对应关系，对采集元件阵列中除基准采集元件外的全部采集元件进行串扰校准，从而得到全部采集元件的串扰校准参数。
52.本公开实施例中，为描述方便将用于对采集元件阵列进行串扰校准的差异度对应关系称为采集元件参考差异度对应关系。一实施方式中，可以采用如下方式确定采集元件参考差异度对应关系。
53.图3是根据一示例性实施例示出的一种确定采集元件参考差异度对应关系的方法流程图，如图3所示，包括以下步骤：
54.在步骤s21中，控制具有采集元件阵列的多个tof传感器，对第二校准距离进行测距。
55.本公开实施例中，第二校准距离可以是满足使多个tof传感器的采集元件阵列中各采集元件均接收到测距脉冲，且接收到的各测距脉冲不重叠的校准距离，以便准确获取到各个采集元件之间的差异度对应关系。
56.在步骤s22中，在多个tof传感器进行第二校准距离测距过程中，采集各tof传感器的采集元件阵列中各采集元件的测距脉冲。
57.在步骤s23中，针对多个tof传感器中的每一tof传感器，分别基于各采集元件的测距脉冲之间的差异度，确定采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系，得到多个tof传感器的采集元件差异度对应关系。
58.在步骤s24中，将多个tof传感器的采集元件差异度对应关系进行归一化处理，得
到采集元件参考差异度对应关系。
59.一示例中，使用多个tof传感器进行第二校准距离的测距，并将得到的多组采集元件差异度对应关系进行归一化处理，能够减小因设备间差异带来的误差，从而进一步提高采集元件差异度对应关系的精度。
60.本公开实施例中，tof传感器的接收器可以为由m*n(m可以理解为采集元件矩形阵列的行数，n可以理解为采集元件矩形阵列的列数)个采集元件组成的采集元件阵列。
61.本公开实施例提供的tof传感器校准方法，预先确定采集元件参考差异度对应关系。图4是根据一示例性实施例示出的一种tof传感器接收器及采集元件参考差异度对应关系(串扰阵列形状)的示意图。如图4所示，tof接收面中每一方框可以理解为一个采集元件，采集元件参考差异度对应关系中每一柱状体可以理解为每一采集元件采集的测距脉冲，且柱状高度可以理解为采集元件采集的测距脉冲强度。
62.一实施方式中，可以获取采集元件阵列中各采集元件的测距脉冲强度，并确定各采集元件采集的测距脉冲强度之间的比例关系。一示例中，通过各采集元件采集的测距脉冲强度之间的比例关系，可以确定采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系。
63.本公开实施例中，可以在使用tof传感器进行测距的过程中，对采集元件阵列中的其中一个采集元件进行串扰校准，并通过采集元件参考差异度对应关系对其他全部采集元件进行串扰校准。
64.在本公开实施例提供的tof传感器校准方法中，可以基于采集元件参考差异度对应关系对tof传感器的采集元件阵列进行串扰校准。
65.本公开实施例中，在进行第一校准距离测距过程中，可以先对采集元件阵列中的其中一个采集元件进行串扰校准，然后通过采集元件参考差异度对应关系，确定该采集元件与采集元件阵列中其他全部采集元件之间的差异度对应关系，从而对采集元件阵列中的全部采集元件进行串扰校准。
66.图5是根据一示例性实施例示出的一种对采集元件阵列进行串扰校准的方法流程图，如图5所示，包括以下步骤：
67.在步骤s31中，将采集元件阵列中任意一个采集元件作为基准采集元件，并对基准采集元件进行串扰校准，得到基准串扰校准参数。
68.在步骤s32中，基于采集元件参考差异度对应关系，确定基准采集元件与采集元件阵列中其他采集元件之间的差异度对应关系，并基于差异度对应关系以及基准校准参数，分别确定其他采集元件中各采集元件的串扰校准参数。
69.在步骤s33中，将基准串扰校准参数以及其他采集元件中各采集元件的串扰校准参数，作为采集元件阵列的串扰校准参数。
70.一实施方式中，在进行第一校准距离测距过程中，可以获取采集元件阵列中任意一个采集元件的飞行时间数据，并通过该飞行时间数据进行零点偏移校准，从而得到零点偏移校准参数。
71.图6是根据一示例性实施例示出的一种采集元件阵列进行零点偏移校准的方法流程图。
72.在步骤s41中，获取采集元件阵列中任意一个采集元件的飞行时间数据。
73.在步骤s42中，基于飞行时间数据进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数。
74.一示例中，可以通过采集的飞行时间数据确定tof传感器的测距值，并将该测距值与tof传感器距第一校准距离的实际值进行比较，从而确定零点偏移校准参数。
75.本公开实施例中，在通过串扰校准参数以及零点偏移校准参数，对tof传感器进行校准之后。可以对tof传感器进行对焦精度的测试验证，若精度满足使用需求，则将tof传感器的校准数据存储在tof传感器所属的图像采集设备的存储芯片中。
76.图7是根据一示例性实施例示出的一种具有采集元件矩形阵列的tof传感器的校准流程图。如图7所示，预先确定tof传感器的采集元件参考差异度对应关系。对tof传感器进行串扰校准，得到tof传感器的串扰校准参数。对tof传感器进行零点偏移校准，得到tof传感器的零点偏移校准参数。使用得到的串扰校准参数以及零点偏移校准参数对tof传感器进行校准，得到tof传感器的校准数据。在测试验证通过后，将tof传感器的校准数据存储至存储芯片中。在后续进行tof传感器测距时，可以基于该校准数据进行数据校准。
77.本公开实施例以下结合实际应用对上述实施例涉及的tof传感器校准过程进行说明。
78.图8是根据一示例性实施例示出的一种对tof传感器校准的场景示意图。如图8所示，可以通过tof传感器的发射器发射测距脉冲，使用位于l1距离(第二校准距离)处的标准反射板1反射tof传感器发射的测距脉冲，并使用tof传感器的接收器(具有采集元件阵列的接收器)接收测距脉冲。其中，l1距离要满足使具有采集元件阵列的接收器各采集元件均能接收到测距脉冲，且接收到的各测距脉冲不重叠。标准反射板1要满足能够覆盖住tof传感器的整个视野范围(接收并反射完整的测距脉冲)，以使tof传感器能够接收到完整的测距脉冲。此外，可以通过tof传感器的发射器发射测距脉冲，使用位于l2距离(第一校准距离)处的标准反射板2反射tof传感器发射的测距脉冲，并使用tof传感器的接收器接收测距脉冲。其中，l2校准的目标反射率必须满足使标准反射板2反射至接收器的测距脉冲不重叠。一实施方式中，若反射至接收器的测距脉冲存在部分重叠，可以根据此前获取的采集元件参考差异度对应关系，估算出重叠部分的测距脉冲。
79.一示例中，tof传感器的接收器上安装的采集元件可以为spad。以下以spad阵列为例进行说明。一实施方式中，可以将tof传感器固定，并将由标准反射率材质做成的标准卡(标准反射板1)固定在距离tof传感器l1处，此时可以保证标准卡平面与tof传感器脉冲发射路径垂直。启动tof传感器的测距功能，通过spad阵列中各spad采集的测距脉冲，得到一组串扰阵列数据(spad差异度对应关系)。使用多个tof传感器采集串扰阵列数据，并将多个串扰阵列数据做平均处理，得到tof传感器的串扰阵列形状(spad参考差异度对应关系)。
80.另一实施方式中，可以在移动设备的批量生产中，对每个tof传感器进行校准。一示例中，可以将tof传感器固定，并将由标准反射率材质做成的标准卡(标准反射板2)固定在距离tof传感器l2处。启动tof传感器的测距功能，并通过spad采集发射的测距脉冲。通过tof传感器采集的串扰幅度(各spad采集的测距脉冲强度)，对spad阵列中任意一个spad进行串扰校准，并通过任意一个spad采集的飞行时间数据进行零点偏移校准。调用spad的串扰阵列形状(spad参考差异度对应关系)，对阵列中spad之间的差异进行参考spad校准(即，对除校准完成的spad外的其他全部spad进行串扰校准)。在校准完成之后，使用tof传感器进行测距，确定校准后tof传感器的对焦精度。并在校准数据满足对焦所需的条件后，将校准数据保存到存储芯片中。
81.本公开实施例提供的tof传感器校准方法，对tof传感器进行零点偏移校准时，可以将采集元件阵列作为一个整体进行零点偏移校准。一示例中，可以通过采集元件采集的飞行时间数据，对tof传感器进行零点偏移校准。
82.本公开实施例中，可以控制具有采集元件阵列的多个飞行时间传感器，对第二校准距离进行测距。在多个飞行时间传感器进行测距的过程中，可以采集各飞行时间传感器的采集元件阵列中各采集元件的测距脉冲。通过各采集元件的测距脉冲，确定采集阵列中各采集元件的差异度对应关系，从而得到多个飞行传感器的采集元件差异度对应关系。一示例中，采集元件差异度对应关系可以是通过采集元件的测距脉冲强度确定的。在确定采集元件差异度对应关系之后，可以对得到的多个飞行时间传感器的采集元件差异度对应关系进行归一化处理，得到采集元件参考差异度对应关系。其中，采集元件参考差异度对应关系可以用于具有采集元件阵列的tof传感器的串扰校准。一实施方式中，在使用tof传感器进行测距的过程中，先在采集元件阵列中选择一个采集元件作为基准采集元件。对基准采集元件进行串扰校准，得到基准采集元件的串扰校准参数。通过基准采集元件的串扰校准参数以及预先确定的采集元件参考差异度对应关系，确定采集元件阵列中除基准采集元件外其他全部采集元件的串扰校准参数，从而得到采集元件阵列的串扰校准参数。此外，可以通过采集元件阵列中任意一个采集元件采集的飞行时间数据进行零点偏移校准，从而得到零点偏移校准参数。通过得到的串扰校准参数以及零点偏移校准参数校准tof传感器。通过本公开可以实现对具有采集元件矩形阵列的tof传感器的校准。
83.基于相同的构思，本公开实施例还提供一种tof传感器校准装置。
84.可以理解的是，本公开实施例提供的tof传感器校准装置为了实现上述功能，其包含了执行各个功能相应的硬件结构和/或软件模块。结合本公开实施例中所公开的各示例的单元及算法步骤，本公开实施例能够以硬件或硬件和计算机软件的结合形式来实现。某个功能究竟以硬件还是计算机软件驱动硬件的方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。本领域技术人员可以对每个特定的应用来使用不同的方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本公开实施例的技术方案的范围。
85.图9是根据一示例性实施例示出的一种tof传感器校准装置框图。参照图9，该装置100包括控制单元101和校准单元102。
86.控制单元101，用于控制tof传感器对第一校准距离进行测距。校准单元102，用于在进行第一校准距离测距过程中，对采集元件阵列中各采集元件分别进行串扰校准，得到采集元件阵列的串扰校准参数，以及对采集元件阵列进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数。基于串扰校准参数以及零点偏移校准参数，校准tof传感器。
87.一种实施方式中，校准单元102采用如下方式对采集元件阵列中各采集元件分别进行串扰校准：将采集元件阵列中任意一个采集元件作为基准采集元件，并对基准采集元件进行串扰校准，得到基准串扰校准参数。基于采集元件参考差异度对应关系，确定基准采集元件与采集元件阵列中其他采集元件之间的差异度对应关系，并基于差异度对应关系以及基准串扰校准参数，分别确定其他采集元件中各采集元件的串扰校准参数。将基准串扰校准参数以及其他采集元件中各采集元件的串扰校准参数，作为采集元件阵列的串扰校准参数。
88.一种实施方式中，校准单元102采用如下方式确定采集元件参考差异度对应关系：
控制具有采集元件阵列的多个tof传感器，对第二校准距离进行测距。在多个tof传感器进行第二校准距离测距过程中，采集各tof传感器的采集元件阵列中各采集元件的测距脉冲。针对多个tof传感器中的每一tof传感器，分别基于各采集元件的测距脉冲之间的差异度，确定采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系，得到多个tof传感器的采集元件差异度对应关系。将多个tof传感器的采集元件差异度对应关系进行归一化处理，得到采集元件参考差异度对应关系。
89.一种实施方式中，第二校准距离满足使多个tof传感器的采集元件阵列中各采集元件均接收到测距脉冲，且接收到的各测距脉冲不重叠。
90.一种实施方式中，校准单元102采用如下方式基于各采集元件的测距脉冲之间的差异度，确定采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系：获取采集元件阵列中各采集元件的测距脉冲强度，确定测距脉冲强度之间的比例关系。基于测距脉冲强度之间的比例关系，确定采集元件阵列中各采集元件的差异度对应关系。
91.一种实施方式中，校准单元102采用如下方式对采集元件阵列进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数：获取采集元件阵列中任意一个采集元件的飞行时间数据。基于飞行时间数据进行零点偏移校准，得到零点偏移校准参数。
92.一种实施方式中，校准单元102采用如下方式控制tof传感器对第一校准距离进行测距：将具有标准反射率材质的标准卡固定在第一校准距离位置处。控制tof传感器向标准卡发射测距脉冲，并基于标准卡向采集元件阵列反射的测距脉冲，进行测距。其中，标准反射率满足使标准卡反射至采集元件的测距脉冲不重叠。
93.关于上述实施例中的装置，其中各个模块执行操作的具体方式已经在有关该方法的实施例中进行了详细描述，此处将不做详细阐述说明。
94.图10是根据一示例性实施例示出的一种用于飞行时间传感器校准的装置200的框图。例如，装置200可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个人数字助理等。
95.参照图10，装置200可以包括以下一个或多个组件：处理组件202，存储器204，电力组件206，多媒体组件208，音频组件210，输入/输出(i/o)接口212，传感器组件214，以及通信组件216。
96.处理组件202通常控制装置200的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件202可以包括一个或多个处理器220来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件202可以包括一个或多个模块，便于处理组件202和其他组件之间的交互。例如，处理组件202可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件208和处理组件202之间的交互。
97.存储器204被配置为存储各种类型的数据以支持在装置200的操作。这些数据的示例包括用于在装置200上操作的任何应用程序或方法的指令，联系人数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器204可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(sram)，电可擦除可编程只读存储器(eeprom)，可擦除可编程只读存储器(eprom)，可编程只读存储器(prom)，只读存储器(rom)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。
98.电力组件206为装置200的各种组件提供电力。电力组件206可以包括电源管理系
统，一个或多个电源，及其他与为装置200生成、管理和分配电力相关联的组件。
99.多媒体组件208包括在所述装置200和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(lcd)和触摸面板(tp)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或多个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件208包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置200处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。
100.音频组件210被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件210包括一个麦克风(mic)，当装置200处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器204或经由通信组件216发送。在一些实施例中，音频组件210还包括一个扬声器，用于输出音频信号。
101.i/o接口212为处理组件202和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。
102.传感器组件214包括一个或多个传感器，用于为装置200提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件214可以检测到装置200的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置200的显示器和小键盘，传感器组件214还可以检测装置200或装置200一个组件的位置改变，用户与装置200接触的存在或不存在，装置200方位或加速/减速和装置200的温度变化。传感器组件214可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件214还可以包括光传感器，如cmos或ccd图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件214还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。
103.通信组件216被配置为便于装置200和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置200可以接入基于通信标准的无线网络，如wifi，2g或3g，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件216经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件216还包括近场通信(nfc)模块，以促进短程通信。例如，在nfc模块可基于射频识别(rfid)技术，红外数据协会(irda)技术，超宽带(uwb)技术，蓝牙(bt)技术和其他技术来实现。
104.在示例性实施例中，装置200可以被一个或多个应用专用集成电路(asic)、数字信号处理器(dsp)、数字信号处理设备(dspd)、可编程逻辑器件(pld)、现场可编程门阵列(fpga)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子元件实现，用于执行上述方法。
105.在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器204，上述指令可由装置200的处理器220执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是rom、随机存取存储器(ram)、cd-rom、磁带、软盘和光数据存储设备等。
106.可以理解的是，本公开中“多个”是指两个或两个以上，其它量词与之类似。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存
在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
107.进一步可以理解的是，术语“第一”、“第二”等用于描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开，并不表示特定的顺序或者重要程度。实际上，“第一”、“第二”等表述完全可以互换使用。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。
108.进一步可以理解的是，除非有特殊说明，“连接”包括两者之间不存在其他构件的直接连接，也包括两者之间存在其他元件的间接连接。
109.进一步可以理解的是，本公开实施例中尽管在附图中以特定的顺序描述操作，但是不应将其理解为要求按照所示的特定顺序或是串行顺序来执行这些操作，或是要求执行全部所示的操作以得到期望的结果。在特定环境中，多任务和并行处理可能是有利的。
110.本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本技术旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。
111.应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。