技术特征：
1.一种应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于，包括：一针座，其包括有一上板及一下板，而于该上板与该下板之间贯通设有供复数探针定位的复数探针槽，该复数探针包括有直径较大且定位于该上板顶侧的一抵持头部，该抵持头部向一侧延伸有直径较小且定位于下板底侧的一针体，而该上板中还具有供复数弹性件容置的复数第一槽，于该复数第一槽的一侧设有由该上板延伸至该下板的复数第二槽；一可移动电路板，其设置于该上板的顶侧处且该上板之间具有一伸缩间隙，而对应该复数第二槽处设有供复数锁固元件穿置的复数穿孔，且该锁固元件的杆身穿置于该第二槽的该上板处，且该锁固元件末端具有外螺纹的锁合部锁固于该第二槽的该下板处，而该锁固元件的头部定位于该可移动电路板的上表面处；以及一伸缩膜，其周缘贴合于该可移动电路板的下表面，且该伸缩膜包覆贴合于该下板底侧且于对应该复数探针处设有复数导电顶块，而该伸缩膜底侧相隔一推移间隙设有一待测物，于该待测物中设有对应该复数导电顶块且能够形成电性连接的复数接点，而该可移动电路板朝向该针座方向移动且致使该复数弹性件被压缩，且该可移动电路板底面推移该复数探针朝向该待测物方向移动，而该复数探针抵持且推移该复数导电顶块且使该伸缩膜扩张，且该复数探针受到该可移动电路板的推挤及该伸缩膜的弹性回复力而形成侧弯的变形状态，并使该复数导电顶块与该待测物的该复数接点形成电性连接，并获取该待测物的该复数接点的导通状态信号后，再使该可移动电路板朝向该针座反向方向移动且该复数弹性件恢复原状，而该复数探针受到该伸缩膜的弹性回复力推移且朝向该可移动电路板方向移动，且该复数探针由侧弯状态回复至直立状态。2.如权利要求1所述的应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于：该可移动电路板的上表面贴覆有一强化垫，该强化垫能够使该可移动电路板被贴覆处形成结构性强化。3.如权利要求1所述的应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于：该伸缩膜与该下板底侧之间涂布有无粘性但具有高摩擦力的一止滑胶，该止滑胶由一丙烯酸类乳液树酯所构成。4.如权利要求1所述的应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于：该探针受到该可移动电路板推移距离范围是0.08mm～0.12mm。5.如权利要求1所述的应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于：该探针的该针体于远离该抵持头部处形成有呈圆弧状的一抵持圆点。6.如权利要求1所述的应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于：该导电顶块外观呈t字型，于该导电顶块与该探针接触处具有平整的一推压面，由该推压面向一侧窄缩延伸有呈圆弧状且与该待测物的该接点形成电性连接的一对接点。7.如权利要求1所述的应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于：该伸缩间隙距离大于该推移间隙距离，以使该复数探针被推移至该可移动电路板与该伸缩膜之间时形成侧弯的变形状态。8.如权利要求1所述的应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于：该导电顶块是一镍钯合金所构成。9.如权利要求1所述的应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于：该锁固元件是具有光滑杆身的一等高螺丝。10.如权利要求1所述的应用于高频测量的测试针座构造，其特征在于：该弹性件由一
弹簧所构成，而该弹性件一端伸入该伸缩间隙且其另一端抵持于该下板的顶面。
技术总结
本发明提供一种应用于高频测量的测试针座构造，包括：一针座，其包括有一上板、一下板、复数探针槽，于该复数探针槽中设有复数探针，于该上、下板之间具复数第一槽及复数第二槽；一可移动电路板，其设置于该上板的顶侧处且该上板之间具有一伸缩间隙，而对应该复数第二槽处设有供复数锁固元件穿置的复数穿孔；一伸缩膜，其周缘贴合于该可移动电路板的下表面，且该伸缩膜包覆贴合于该下板底侧且于对应该复数探针处设有复数导电顶块，而该伸缩膜底侧相隔一推移间隙设有一待测物。隔一推移间隙设有一待测物。隔一推移间隙设有一待测物。
技术研发人员：陈福全
受保护的技术使用者：冠铨科技实业股份有限公司
技术研发日：2021.04.15
技术公布日：2022/10/20