1.一种厚度检测装置，其特征在于，包括：
支架；
定位板，固定设置于所述支架的上方；
抵推机构，铰接设置于所述支架上，所述抵推机构远离铰接点的端部设置有圆弧状的抵推部；所述抵推部与所述定位板抵触、形成用于待测物体通过的检测通道；
转角检测机构，设置于所述抵推机构远离所述抵推部的另一端；所述转角检测机构用于在待测物体通过所述检测通道时，检测所述抵推机构转动的角度，以基于检测获得的所述角度确定待测物体的厚度。
2.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于，所述转角检测机构包括：
转盘，与所述抵推机构一体设置、跟随所述抵推机构围绕所述铰接点转动；所述转盘围绕所述铰接点交替设置有透光部以及非透光部；
遮光板，覆盖于所述转盘的第一表面、与所述支架固定连接，所述遮光板沿平行于所述透光部或非透光部的方向设置有呈扇形的透光条；所述透光条对应的圆心角小于或等于所述透光部正投影对应的圆心角、以及小于或等于所述非透光部正投影对应的圆心角；其中第一表面作为所述正投影的投影面；
光源，对应于所述遮光板的透光条固定设置于所述支架上；
光电池阵列，对应所述转盘的第二表面、固定设置于所述支架上，用于在所述转盘旋转至所述透光部与所述透光条对应的第一位置时，接收所述光源发出的光信号、获得高电平信号，在所述转盘旋转至所述非透光部与所述透光条对应的第二位置时，停止接收光信号、获得低电平信号；其中，所述第二表面与所述第一表面相对；
处理器，与所述光电池阵列电气连接，用于接收所述光电池阵列发送的高电平信号以及低电平信号，基于所述高电平信号的个数、所述低电平信号的个数、所述透光部正投影对应的圆心角以及所述非透光部正投影对应的圆心角确定所述转盘的旋转角度。
3.如权利要求2所述的厚度检测装置，其特征在于，
所述转盘按照预定旋转角度等间隔设置有条状凹槽，所述条状凹槽的纵截面呈倒立的等腰梯形状，所述条状凹槽的横截面呈扇形；所述转盘位于所述条状凹槽的侧壁区域构成所述非透光部，所述转盘位于所述条状凹槽的非侧壁区域构成透光部。
4.如权利要求3所述的厚度检测装置，其特征在于，所述凹槽的底角为135度；
所述透光部正投影对应的圆心角与所述非透光部正投影对应的圆心角的大小相等、且等于所述预定旋转角度；
所述凹槽顶部开口宽度是凹槽底部开口宽度的3倍。
5.如权利要求2所述的厚度检测装置，其特征在于，所述转角检测装置还包括：放大器以及比较器；
所述光电池阵列依次通过所述放大器、比较器与所述处理器电气连接。
6.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于，还包括用于对所述抵推机构进行复位的弹性件；
所述抵推机构通过铰接轴与所述支架铰接；
所述弹性件套设置在所述铰接轴上，所述弹性件的伸缩端与所述抵推机构固定的连接，用于在待测物体通过所述检测通道后，将所述抵推机构拉回至与所述定位板抵触的位置。
7.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于，还包括底座，所述支架固定设置在所述底座上。
8.如权利要求1所述的厚度检测装置，其特征在于，还包括用于容纳所述支架、定位板、抵推机构、转角检测机构的壳体；
所述壳体对应所述检测通道的位置设置有用于待测物体通过的缺口。