一种高数值孔径成像光谱仪及其成像方法

文档序号:25866282发布日期:2021-07-13 16:26阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种高数值孔径成像光谱仪,其特征在于:它的光学系统包括弯月透镜(2)、全息衍射光栅(4)、球面反射镜(3)和自由曲面反射镜(5);

所述弯月透镜(2)弯向光线入射方向,弯月透镜(2)的内表面(21)、外表面(22)为球面,内、外表面的曲率半径之比k1为0.7≤k1≤0.9;入射狭缝(1)和像平面(6)位于弯月透镜的内表面(21)一侧,球面反射镜(3)和自由曲面反射镜(5)位于弯月透镜的外表面(22)一侧;入射狭缝(1)和球面反射镜(3)位于弯月透镜光轴的一侧,自由曲面反射镜(5)和像平面(6)位于弯月透镜光轴的另一侧;全息衍射光栅(4)以弯月透镜的外表面(22)为基底制作,位于弯月透镜外表面的中心处,光栅槽型为等间距直线型或曲线型槽;

所述入射狭缝的长度s为20mm≤s≤35mm;

所述球面反射镜与弯月透镜共轴同心,球面反射镜与弯月透镜后表面的曲率半径之比k2为2≤k2≤3;

所述自由曲面反射镜(5)的面型z为xy多项式,方程式为:

其中,r=-96.852,c1=-2.947×10-3,c2=-3.000×10-4,c3=-0.055,c4=-0.096,c5=-2.277×10-4,c6=-0.069,c7=-3.002×10-4,c8=-0.033,c9=-6.111×10-3,c10=1.236×10-3,c11=-0.029,c12=1.253×10-5,c13=-0.016,c14=-3.306×10-3,c15=0.030。

2.根据权利要求1所述的一种高数值孔径成像光谱仪,其特征在于:光学系统的f数的取值范围为1.7﹤f﹤2.5。

3.根据权利要求1所述的一种高数值孔径成像光谱仪,其特征在于:光学系统的总长l为90mm≤l≤110mm。

4.根据权利要求1所述的一种高数值孔径成像光谱仪,其特征在于:光学系统的数值孔径na为0.2≤na≤0.3。

5.根据权利要求1所述的一种高数值孔径成像光谱仪,其特征在于:球面反射镜和自由曲面反射镜镀有高反射率膜。

6.根据权利要求1所述的一种高数值孔径成像光谱仪,其特征在于:线阵ccd传感器的成像面位于像平面上。

7.一种高数值孔径成像光谱仪的成像方法,其特征在于:长度s为20mm≤s≤35mm的入射狭缝获取入射的远心光线,依次经弯月透镜(2)光轴一侧的内表面(21)、外表面(22),折射后的光线由球面反射镜(3)反射,光束汇聚入射到位于弯月透镜外表面中心处的全息衍射光栅(4)上,经光栅分光后的发散光束依次经自由曲面反射镜(5)进行几何像差补偿后反射,经过像差平衡后的汇聚光线再依次经弯月透镜(2)光轴另一侧的外表面(22)、内表面(21),折射光线成像于像平面(6),得到低像散宽视场高光谱分辨率的像。


技术总结
本发明涉及一种高数值孔径成像光谱仪及其成像方法。长入射狭缝获取入射的远心光线,依次经弯月透镜光轴一侧的内表面、外表面,折射后的光线由球面反射镜反射,汇聚光束入射到位于弯月透镜外表面中心处的全息衍射光栅上,分光后的发散光束经自由曲面反射镜进行几何像差补偿后反射,再依次经弯月透镜光轴另一侧的外表面、内表面,在像平面上得到低像散宽视场高光谱分辨率的像。本发明提供的成像光谱系统具有宽视场、高分辨率、低像散、低光谱弯曲和低色畸变的特点,同时具有高数值孔径,集光本领强,且较好的控制了全波段全视场像差,光谱分辨率较高,并实现了极低的光谱弯曲和色畸变,满足宽视场、高分辨率、紧凑体积的遥感探测应用需求。

技术研发人员:季轶群;冯安伟;曾晨欣;谭奋利;韩继周
受保护的技术使用者:苏州大学
技术研发日:2021.05.18
技术公布日:2021.07.13
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