一种多通道LED灯珠的测试装置及其测试方法与流程

文档序号:26240801发布日期:2021-08-10 16:44阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种多通道led灯珠的测试装置,其特征在于:由mcu、模拟开关模块、检测模块和三套以上的测试组件装接构成,每套测试组件对应测试对象中任一单个led灯珠配套设置,且包含一个光敏电阻、一个遮光罩和一对抵接led灯珠正负极焊盘的探针,所述光敏电阻贴设于遮光罩内壁顶部,所述遮光罩全覆盖于led灯珠;所有探针接入模拟开关模块的输出端并受控通断相连接的led灯珠供电,所述检测模块接入mcu与模拟开关模块之间并交互包括模拟开关控制信号、led灯珠工作电流采样信号、光敏电阻反馈信号,所述mcu为可编程处理器并预设有工作电流及对应光敏电阻反馈信号判断灯珠亮度合格与否的阈值。

2.根据权利要求1所述多通道led灯珠的测试装置,其特征在于:所述测试对象为含有n个led灯珠的灯带,所述测试装置配设有m套测试组件,且满足n=(k-1)m+j,其中m、n为大于3的自然数,k为灯带使用所述测试装置分段测试的次数,j为灯带使用所述测试装置进行k-1次分段测试剩余的led灯珠零头个数且小于m。

3.根据权利要求1所述多通道led灯珠的测试装置,其特征在于:所述检测模块设有恒流/恒压电路、电流采样电路、运放电路和电阻测量电路,并直接面向模拟开关模块传递mcu输出的模拟开关控制信号,其中所述恒流/恒压电路受控于mcu向模拟开关模块单向发送信号并通过探针对led灯珠供电,所述电流采样电路接收得自于探针的第一反馈信号,并通过运放电路接入mcu,并且所述电阻测量电路在mcu和模拟开关模块之间接设为传递发送信号及接收第二反馈信号的回路。

4.根据权利要求3所述多通道led灯珠的测试装置,其特征在于:所述检测模块通过恒流/恒压电路面向每个探针输出电压信号,并通过电流采样电路面向每个探针接收第一反馈信号,且各条支路上分别设有受控于mcu启闭通断的各一个开关点位;所述检测模块通过电阻测量电路面向每个探针分别输出电压信号或接收第二反馈信号,且各条支路上分别设有受控于mcu启闭通断的各一个开关点位。

5.根据权利要求1所述多通道led灯珠的测试装置,其特征在于:所述mcu外接lcd显示屏、测试按钮或用于编程的键盘,所述led灯珠的测试结果交互呈现于lcd显示屏。

6.根据权利要求1所述多通道led灯珠的测试装置,其特征在于:所述mcu通过无线通信网络与平板电脑相连接,并通过平板电脑对mcu编程及阈值设定,且led灯珠的测试结果交互呈现于平板电脑。

7.一种多通道led灯珠的测试方法,基于权利要求1至6中任一项所述测试装置操作实施,其特征在于包括步骤:

s1,利用测试装置中预设套数的测试组件逐一与测试对象分段中的各led灯珠相对接,包括探针抵接正负极焊盘、内设有光敏电阻的遮光罩全覆盖led灯珠的发光范围;

s2,由mcu输出模拟开关控制信号接通恒流/恒压电路、电流采样电路与单个led灯珠或灯组,并驱动点亮连接范围内的各个led灯珠,由电流采样电路接收各个led灯珠电流性的第一反馈信号、转换并向mcu传递;

s3,由mcu驱动电阻测量电路对各个led灯珠所覆盖遮光罩内的光敏电阻阻值变化进行测量,并将第二反馈信号回传mcu;

s4,通过mcu预设工作电流及对应光敏电阻反馈信号判断灯珠亮度合格与否的阈值,对两部分反馈信号进行数值化比对,对各个led灯珠得出性能评估结果。

8.根据权利要求7所述多通道led灯珠的测试方法,其特征在于:步骤s2在电流采样电路与mcu之间接设一运放电路,对采样的电流信号转换为电压信号,并进行滤波放大后输入mcu的adc中处理,得到用于与阈值数值化比对的测试电流值。

9.根据权利要求7所述多通道led灯珠的测试方法,其特征在于:步骤s2中由mcu输出模拟开关控制信号,在探针抵接正负极焊盘保持不变的状态下,将恒流/恒压电路、电流采样电路与单个led灯珠或灯组的正负极反置,由电流采样电路接收得到灯珠漏电电流。

10.根据权利要求7所述多通道led灯珠的测试方法,其特征在于:所述muc外接lcd显示屏,且led灯珠的测试结果交互呈现于lcd显示屏。


技术总结
本发明揭示了一种多通道LED灯珠的测试装置,由MCU、模拟开关模块、检测模块和三套以上的测试组件装接构成,每套测试组件对应测试对象中任一单个LED灯珠配套设置,检测模块接入MCU与模拟开关模块之间并交互包括模拟开关控制信号、LED灯珠工作电流采样信号、光敏电阻反馈信号,MCU为可编程处理器并预设有工作电流及对应光敏电阻反馈信号判断灯珠亮度合格与否的阈值。通过MCU控制模拟开关模块切换所连接的待测灯珠并接收反馈的电流信号、电阻信号智能判断灯珠品质。应用本发明该测试解决方案,该测试装置具有成本低廉、过程自动化及灵活性提升、测试结果直观健康等优点,突破了测试空间的限制;而且测试方法由于MCU易于调整阈值满足测试要求,体现了通用性。

技术研发人员:韦献国;焦征
受保护的技术使用者:苏州清朗环保科技有限公司
技术研发日:2021.05.31
技术公布日:2021.08.10
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1