一种薄膜测厚仪的制作方法

1.本发明涉及测厚仪相关技术领域，具体为一种薄膜测厚仪。


背景技术：

2.薄膜测厚仪，一种用于测量量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料厚度的仪器，其中机械接触式薄膜测量仪因其结构简单，价格便宜而被应用的较为广泛，但是目前的机械接触式测量仪一般只具备测量薄膜厚度的功能，其无法很好的检测薄膜表面的平整度，若薄膜表面不平整有凸起或凹陷等瑕疵，则薄膜厚度测量结果也会因其受到影响。


技术实现要素：

3.本发明的目的在于提供一种薄膜测厚仪，用于克服现有技术中的上述缺陷。
4.根据本发明的一种薄膜测厚仪，包括主箱体，所述主箱体上端面上固定连接有前后对称的标记块底座，前后侧所述标记块底座内侧面上均固定连接有前后对称的测厚箱体固定块，所述主箱体上端面还固定连接有两个位于所述标记块底座右侧且前后对称的压紧轮支撑座，所述主箱体设有开口向上的传送带腔，所述传送带腔前端壁内转动配合连接有左右对称且向后延伸贯穿所述传送带腔至所述传送带腔后端壁内的带轮，所述带轮上转动配合连接有位于所述传送带腔内的带轮轴，左右侧所述带轮轴之间动力配合连接有薄膜传送带，所述传送带腔后侧设有与所述主箱体固定连接且位于右侧所述带轮后侧的电机，右侧所述带轮固定于所述电机前端面。
5.进一步的技术方案，左右所述测厚箱体固定块之间设置有分别与前侧所述测厚箱体固定块后端面以及后侧所述测厚箱体固定块前端面固定连接的测厚箱体，所述测厚箱体内设有开口向右的放大杆转动腔，所述放大杆转动腔前后端壁之间固定连接有放大杆转动轴，所述放大杆转动轴上转动配合有位于所述放大杆转动腔内且向右延伸至外界的量程放大杆，所述放大杆转动腔上下端壁之间固定连接有位于所述量程放大杆左侧的弧形金属杆，所述量程放大杆左端面固定连接有与所述弧形金属杆抵接的金属触头，所述量程放大杆上端面与所述放大杆转动腔上端壁之间固定有复位弹簧。
6.进一步的技术方案，所述测厚箱体内设有位于所述放大杆转动腔左侧且开口向左的指针转动腔，所述量程放大杆右侧末端转动配合有测厚滚柱座，所述测厚滚柱座内设有触点开关滑动腔，所述量程放大杆贯穿所述触点开关滑动腔，所述触点开关滑动腔内滑动配合有与所述量程放大杆螺纹配合连接的螺纹滑块，所述测厚滚柱座左端壁内转动配合有向右延伸贯穿所述触点开关滑动腔至外界的精度调整轴，所述精度调整轴右侧末端固定有精度调整盘，所述精度调整轴上螺纹配合连接有两个与所述触点开关滑动腔滑动配合连接且以所述螺纹滑块为中心左右对称的触点开关，所述测厚滚柱座下端面固定连接有滚柱底座，所述滚柱底座内转动配合有能够与所述薄膜传送带外表面抵接的滚柱。
7.进一步的技术方案，所述指针转动腔后侧设有磁铁固定腔，所述磁铁固定腔左端
壁内转动配合有向左延伸至所述指针转动腔内向右延伸至所述磁铁固定腔内的导电轴，所述导电轴左侧末端固定有指针转动腔，所述导电轴上转动配合有固定与所述磁铁固定腔左端壁内的导电环，所述磁铁固定腔上下端壁上均固定连接有以所述导电轴为中心上下对称的磁铁，所述导电轴右端面与所述磁铁固定腔右端壁之间固定有复位扭簧。
8.进一步的技术方案，所述标记块底座内设有开口向内的标记块滑动腔，所述标记块滑动腔上端壁上固定连接有标记电磁铁，前侧所述标记块滑动腔内滑动配合连接向后延伸至后侧所述标记块滑动腔内且与后侧所述标记块滑动腔滑动配合连接的磁性滑动座，所述磁性滑动座下端面固定有标记块，所述标记电磁铁与所述磁性滑动座之间固定有标记块弹簧。
9.进一步的技术方案，所述压紧轮支撑座内设有开口向内的轮轴座滑动腔，所述轮轴座滑动腔内滑动配合有轮轴座，所述轮轴座滑动腔上端壁上固定有压紧轮电磁铁，所述压紧轮电磁铁与所述轮轴座之间固定连接有压紧轮弹簧，前侧所述轮轴座内转动配合有向后延伸至后侧所述轮轴座内且与后侧所述轮轴座转动配合连接的压紧轮轴，所述压紧轮轴上固定连接有能够与所述薄膜传送带外表面抵接的薄膜压紧轮。
10.本发明的有益效果是：本发明通过量程放大杆带动金属触头抵接于弧形金属杆上的不同位置，使指针转动腔指向对应数值，从而方便的使用者观察度数，同时通过量程放大杆的杠杆作用，即使薄膜厚度发生较小的改变，使用者也能从指针转动腔上观察到薄膜厚度较为明显的变化，可绕量程放大杆转动的测厚滚柱座，使得薄膜表面的凸起或凹陷能通过滚柱检测到，并且可同时驱动标记块向下碰触薄膜，从而标记薄膜凸起位置，方便后续的修补作业。
附图说明
11.图1是本发明的一种薄膜测厚仪外观示意图；图2是本发明的一种薄膜测厚仪内部整体结构示意图；图3是本发明图2中a处局部放大示意图；图4是本发明图2中b处局部放大示意图；图5是本发明图3中c
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c的示意图；图6是本发明图2中d
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d的示意图；图7是本发明图2中e
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e的示意图；图8是本发明图2中f
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f的示意图；图9是本发明图2中g处局部放大示意图；图10是本发明中图8左视示意图。
具体实施方式
12.为了使本发明的目的及优点更加清楚明白，以下结合实施例对本发明进行具体说明，应当理解为以下文字仅仅用以描述本发明的一种薄膜测厚仪或几种具体的实施方式，并不对本发明具体请求的保护范围进行严格限定，如在本文中所使用，术语上下和左右不限于其严格的几何定义，而是包括对于机加工或人类误差合理和不一致性的容限，下面详尽说明该一种薄膜测厚仪的具体特征：
参照图1
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10，根据本发明的实施例的一种薄膜测厚仪，包括主箱体10，所述主箱体10上端面上固定连接有前后对称的标记块底座34，前后侧所述标记块底座34内侧面上均固定连接有前后对称的测厚箱体固定块38，所述主箱体10上端面还固定连接有两个位于所述标记块底座34右侧且前后对称的压紧轮支撑座45，所述主箱体10设有开口向上的传送带腔11，所述传送带腔11前端壁内转动配合连接有左右对称且向后延伸贯穿所述传送带腔11至所述传送带腔11后端壁内的带轮14，所述带轮14上转动配合连接有位于所述传送带腔11内的带轮轴13，左右侧所述带轮轴13之间动力配合连接有薄膜传送带12，所述传送带腔11后侧设有与所述主箱体10固定连接且位于右侧所述带轮14后侧的电机41，右侧所述带轮14固定于所述电机41前端面。
13.有益地，左右所述测厚箱体固定块38之间设置有分别与前侧所述测厚箱体固定块38后端面以及后侧所述测厚箱体固定块38前端面固定连接的测厚箱体18，所述测厚箱体18内设有开口向右的放大杆转动腔17，所述放大杆转动腔17前后端壁之间固定连接有放大杆转动轴15，所述放大杆转动轴15上转动配合有位于所述放大杆转动腔17内且向右延伸至外界的量程放大杆19，所述放大杆转动腔17上下端壁之间固定连接有位于所述量程放大杆19左侧的弧形金属杆20，所述量程放大杆19左端面固定连接有与所述弧形金属杆20抵接的金属触头22，所述量程放大杆19上端面与所述放大杆转动腔17上端壁之间固定有复位弹簧16。
14.有益地，所述测厚箱体18内设有位于所述放大杆转动腔17左侧且开口向左的指针转动腔21，所述量程放大杆19右侧末端转动配合有测厚滚柱座23，所述测厚滚柱座23内设有触点开关滑动腔30，所述量程放大杆19贯穿所述触点开关滑动腔30，所述触点开关滑动腔30内滑动配合有与所述量程放大杆19螺纹配合连接的螺纹滑块26，所述测厚滚柱座23左端壁内转动配合有向右延伸贯穿所述触点开关滑动腔30至外界的精度调整轴25，所述精度调整轴25右侧末端固定有精度调整盘24，所述精度调整轴25上螺纹配合连接有两个与所述触点开关滑动腔30滑动配合连接且以所述螺纹滑块26为中心左右对称的触点开关31，所述测厚滚柱座23下端面固定连接有滚柱底座29，所述滚柱底座29内转动配合有能够与所述薄膜传送带12外表面抵接的滚柱28。
15.有益地，所述指针转动腔21后侧设有磁铁固定腔48，所述磁铁固定腔48左端壁内转动配合有向左延伸至所述指针转动腔21内向右延伸至所述磁铁固定腔48内的导电轴51，所述导电轴51左侧末端固定有指针转动腔52，所述导电轴51上转动配合有固定与所述磁铁固定腔48左端壁内的导电环50，所述磁铁固定腔48上下端壁上均固定连接有以所述导电轴51为中心上下对称的磁铁49，所述导电轴51右端面与所述磁铁固定腔48右端壁之间固定有复位扭簧54。
16.有益地，所述标记块底座34内设有开口向内的标记块滑动腔35，所述标记块滑动腔35上端壁上固定连接有标记电磁铁37，前侧所述标记块滑动腔35内滑动配合连接向后延伸至后侧所述标记块滑动腔35内且与后侧所述标记块滑动腔35滑动配合连接的磁性滑动座36，所述磁性滑动座36下端面固定有标记块33，所述标记电磁铁37与所述磁性滑动座36之间固定有标记块弹簧32。
17.有益地，所述压紧轮支撑座45内设有开口向内的轮轴座滑动腔44，所述轮轴座滑动腔44内滑动配合有轮轴座46，所述轮轴座滑动腔44上端壁上固定有压紧轮电磁铁42，所
述压紧轮电磁铁42与所述轮轴座46之间固定连接有压紧轮弹簧47，前侧所述轮轴座46内转动配合有向后延伸至后侧所述轮轴座46内且与后侧所述轮轴座46转动配合连接的压紧轮轴53，所述压紧轮轴53上固定连接有能够与所述薄膜传送带12外表面抵接的薄膜压紧轮43。
18.初始状态下，量程放大杆19处于水平状态，复位弹簧16处于放松状态，滚柱28与薄膜传送带12外表面地接，螺纹滑块26位于触点开关滑动腔30中间位置，标记电磁铁37处于失电状态，标记块弹簧32处于拉伸状态。磁性滑动座36靠近测厚箱体18下端面，压紧轮电磁铁42处于失电状态，压紧轮弹簧47处于拉伸状态，复位扭簧54处于放松状态。
19.金属触头22通过导线分别与导电环50以及压紧轮电磁铁42连接，弧形金属杆20、金属触头22均为金属材质，弧形金属杆20通过导线与电源连接。
20.当需要进行薄膜厚度测量时，启动电机41，则电机41带动右侧带轮14转动，从而使得右侧带轮轴13转动，从而带动薄膜传送带12转动。
21.此时将薄膜放置于薄膜传送带12上，转动的薄膜传送带12带动薄膜向左运动，当薄膜通过滚柱28时，滚柱28在薄膜的推动下向上运动，从而使得测厚滚柱座23向上运动，从而带动量程放大杆19右侧末端向上运动，从而使得量程放大杆19左侧末端向下运动，进而使得金属触头22向下运动至与弧形金属杆20抵接，则使得电源的电流通过弧形金属杆20到达导电环50以及压紧轮电磁铁42，使得导电轴51在上下侧磁铁49之间的磁场作用下克服复位扭簧54的扭力而偏转，则带动指针转动腔52偏转，从而使得指针转动腔52指向对应厚度的数值，此时复位扭簧54处于扭转蓄力状态。
22.在此过程中，压紧轮电磁铁42得电排斥轮轴座46，使得轮轴座46克服压紧轮弹簧47的拉力向下运动，从而带动薄膜压紧轮43向下运动，从而使得压紧轮轴53向下运动至与薄膜抵接，从而使得通过测厚仪检测的薄膜均能保持稳定的运动状态，避免了检测环境中风力对薄膜测厚结果的影响。
23.若在薄膜测厚过程中，薄膜上出现凸起或凹陷，则当凸起通过滚柱28时，会使得滚柱28一侧向上运动，从而带动测厚滚柱座23一侧向上运动，从而使得测厚滚柱座23发生转动，则会使得螺纹滑块26向左或向右移动，若薄膜凸起过大，则螺纹滑块26移动的距离增大至碰触触点开关31，使得标记电磁铁37延时启动，进而使得标记电磁铁37得电排斥磁性滑动座36，使得磁性滑动座36克服标记块弹簧32的拉力向下运动。
24.当薄膜凸起部分运动至标记块33正下方时，磁性滑动座36带动标记块33向下运动至刚好碰触薄膜表面，则带颜料的标记块33会在薄膜凸起部分标下印记，从而便于后续的修补工作。
25.当标记块33碰触薄膜后，标记电磁铁37自动关闭，则标记块33在标记块弹簧32的拉力作用下向上运动至初始位置。
26.若针对不同薄膜需改变薄膜平整度的测量精度时，则转动精度调整轴25，使得左右侧触点开关31之间的间距改变，从改变螺纹滑块26从初始位置运动至碰触触点开关31所需的距离，进而改变此过程中测厚滚柱座23以量程放大杆19为中心转动的角度，从而达到调整检测薄膜表面平整度的测量精度。
27.当薄膜测厚完成时，量程放大杆19在复位弹簧16的拉力作用下向上转动至初始位置，金属触头22与弧形金属杆20脱离抵接，导电环50失电，导电轴51在复位扭簧54的扭力作
用下反转至初始状态。
28.本发明的有益效果是：本发明通过量程放大杆带动金属触头抵接于弧形金属杆上的不同位置，使指针转动腔指向对应数值，从而方便的使用者观察度数，同时通过量程放大杆的杠杆作用，即使薄膜厚度发生较小的改变，使用者也能从指针转动腔上观察到薄膜厚度较为明显的变化，可绕量程放大杆转动的测厚滚柱座，使得薄膜表面的凸起或凹陷能通过滚柱检测到，并且可同时驱动标记块向下碰触薄膜，从而标记薄膜凸起位置，方便后续的修补作业。
29.本领域的技术人员可以明确，在不脱离本发明的总体精神以及构思的情形下，可以做出对于以上实施例的各种变型。其均落入本发明的保护范围之内。本发明的保护方案以本发明所附的权利要求书为准。