开关磁阻电机及其故障检测方法、厨师机与流程

1.本发明涉及开关磁阻电机故障检测的技术领域，更具体地说，涉及一种开关磁阻电机及其故障检测方法、厨师机。


背景技术：

2.开关磁阻电机，如四相的开关磁阻电机，原则上每相绕组需要两个mos管控制，同时需要两个反并联的二极管。其中，连接母线电压vdc的mos管及二极管为上桥，连接地的mos管及二极管为下桥，基于成本及电路结构上考虑，一般采用图1所示的电路结构。如图1所示，a相和c相共用上桥mos管q1及二级管d5，b相和d相共用上桥mos管q5及二极管d6，电阻r1为检流电阻。由于开关磁阻电机的驱动特性，若检流r1短路，或者a相、b相、c相和d相四相中任意一相或者多相缺相时，均会导致电机控制器损坏。


技术实现要素：

3.本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种开关磁阻电机及其故障检测方法、厨师机。
4.本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种开关磁阻电机的故障检测方法，包括以下步骤：
5.在开关磁阻电机启动时，控制所述开关磁阻电机的驱动电路导通；
6.获取所述驱动电路的导通电流；
7.根据所述驱动电路的导通电流检测所述驱动电路是否异常。
8.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述控制所述开关磁阻电机的驱动电路导通包括：
9.在所述开关磁阻电机启动时，控制所述开关磁阻电机的驱动电路导通，并持续导通至预设时间段。
10.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述获取所述驱动电路的导通电流包括：
11.在所述驱动电路持续导通的预设时间段内，实时获取所述驱动电路在预设时间段内的电流；
12.在达到预设时间段后，控制所述驱动电路关闭，并从所述驱动电流在预设时间段内的电流中选取最大电流；
13.所述最大电流为所述导通电流。
14.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述根据所述驱动电路的导通电流检测所述驱动电路是否异常包括：
15.将所述导通电流与预设阈值进行比较；
16.若所述导通电流大于预设阈值，则判断所述驱动电路没有开路。
17.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述根据所述驱动电路的导通
电流检测所述驱动电路是否异常还包括：
18.若所述导通电流小于所述预设阈值，则控制所述驱动电路重新导通；
19.在所述驱动电路重新导通后，实时获取所述驱动电路的持续电流；
20.根据所述驱动电路的持续电流判断所述驱动电路是否异常。
21.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述根据所述驱动电路的持续电流判断所述驱动电路是否异常包括：
22.将所述驱动电路的持续电流与所述预设阈值进行比较；
23.若所述驱动电路的持续电流连续多次小于所述预设阈值，则判断所述驱动电路异常。
24.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，
25.所述开关磁阻电机包括：第一相、第二相、第三相和第四相；
26.所述第一相和所述第二相共用上桥，所述第三相和所述第四相共用上桥。
27.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述方法还包括：
28.若所述驱动电路没有开路，则：
29.检测所述驱动电路的上桥是否短路；
30.所述驱动电路的上桥包括：所述第一相和所述第二相共用的上桥，所述第三相和所述第四相共用的上桥。
31.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述检测所述驱动电路的上桥是否短路包括：
32.控制所述第一相和所述第二相共用的上桥关闭、以及控制所述第三相和所述第四相共用的上桥关闭；
33.控制所述第一相的下桥、所述第二相的下桥、所述第三相的下桥和所述第四相的下桥导通，并持续第一时长；
34.在所述第一相的下桥、所述第二相的下桥、所述第三相的下桥和所述第四相的下桥持续导通期间，持续检测下桥电流；
35.判断所述下桥电流是否小于阈值；
36.若是，则判断所述驱动电路的上桥正常；
37.若否，则判断所述下桥电流是否连续多次大于阈值；
38.若所述下桥电流连续多次大于阈值，则判断所述驱动电路的上桥短路。
39.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述方法还包括：
40.若所述驱动电路没有开路，则：
41.检测所述驱动电路的下桥是否短路；
42.所述驱动电路的下桥包括：所述第一相的下桥、所述第二相的下桥、所述第三相的下桥和所述第四相的下桥。
43.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述检测所述驱动电路的下桥是否短路包括：
44.控制所述第三相和所述第四相共用的上桥、所述第一相的下桥、所述第二相的下桥、所述第三相的下桥和所述第四相的下桥关闭；
45.控制所述第一相和所述第二相共用的上桥导通，并持续第二时长；
46.在所述第一相和所述第二相共用的上桥持续导通期间，持续检测下桥电流；
47.判断所述下桥电流是否小于阈值；
48.若是，则判断所述第一相的下桥和所述第二相的下桥正常；
49.若否，则判断所述下桥电流是否连续多次大于阈值；
50.若所述下桥电流连接多次大于阈值，则判断所述第一相的下桥和/或所述第二相的下桥短路。
51.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述方法还包括：
52.在所述第一相和所述第二相共用的上桥持续导通至所述第二时长时，记录所述第一相和所述第二相的当前电流值；所述当前的电流值为第一基准值。
53.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述检测所述驱动电路的下桥是否短路还包括：
54.控制所述第一相和所述第二相共用的上桥、所述第一相的下桥、所述第二相的下桥、所述第三相的下桥和所述第四相的下桥关闭；
55.控制所述第三相和所述第四相共用的上桥导通，并持续第二时长；
56.在所述第三相和所述第四相共用的上桥持续导通期间，持续检测下桥电流；
57.判断所述下桥电流是否小于阈值；
58.若是，则判断所述第三相的下桥和所述第四相的下桥正常；
59.若否，则判断所述下桥电流是否连续多次大于阈值；
60.若所述下桥电流连接多次大于阈值，则判断所述第三相的下桥和/或所述第四相的下桥短路。
61.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述方法还包括：
62.在所述第三相和所述第四相共用的上桥持续导通至所述第二时长时，记录所述第三相和所述第四相的当前电流值；所述第三相和所述第四相的当前电流值为第二基准值。
63.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述方法还包括：
64.若所述驱动电路没有开路且没有短路，则：
65.检测所述驱动电路是否缺相。
66.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述检测所述驱动电路是否缺相包括：
67.控制所述第二相的下桥、所述第三相的下桥、所述第四相的下桥、以及所述第三相和所述第四相共用的上桥关闭；
68.控制所述第一相和所述第二相共用的上桥、所述第一相的下桥导通，并持续第二时长；
69.在所述第一相和所述第二相共用的上桥、所述第一相的下桥持续导通至所述第二时长时，记录所述第一相的电流值；
70.根据所述第一相的电流值和所述第一基准值，判断所述第一相是否缺相。
71.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述根据所述第一相的电流值和所述第一基准值，判断所述第一相是否缺相包括：
72.将所述第一相的电流值与所述第一基准值作差，获得第一差值；
73.判断所述第一差值是否大于参考值；
74.若是，则判断所述第一相不缺相；
75.若否，则继续获取所述第一差值，并判断所述第一差值是否连续多次小于所述参考值；
76.若所述第一差值连续多次小于所述参考值，则判断所述第一相缺相。
77.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述检测所述驱动电路是否缺相还包括：
78.控制所述第一相的下桥、所述第三相的下桥、所述第四相的下桥、以及所述第三相和所述第四相共用的上桥关闭；
79.控制所述第一相和所述第二相共用的上桥、所述第二相的下桥导通，并持续第二时长；
80.在所述第一相和所述第二相共用的上桥、所述第二相的下桥持续导通至所述第二时长时，记录所述第二相的电流值；
81.根据所述第二相的电流值和所述第一基准值，判断所述第二相是否缺相。
82.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述根据所述第二相的电流值和所述第一基准值，判断所述第二相是否缺相包括：
83.将所述第二相的电流值与所述第一基准值作差，获得第二差值；
84.判断所述第二差值是否大于参考值；
85.若是，则判断所述第二相不缺相；
86.若否，则继续获取所述第二差值，并判断所述第二差值是否连续多次小于所述参考值；
87.若所述第二差值连续多次小于所述参考值，则判断所述第二相缺相。
88.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述检测所述驱动电路是否缺相还包括：
89.控制所述第一相和所述第二相共用的上桥、所述第一相的下桥、所述第二相的下桥、所述第四相的下桥关闭；
90.控制所述第三相和所述第四相共用的上桥、所述第三相的下桥导通，并持续第二时长；
91.在所述第三相和所述第四相共用的上桥、所述第三相的下桥持续导通至所述第二时长时，记录所述第三相的电流值；
92.根据所述第三相的电流值和所述第二基准值，判断所述第三相是否缺相。
93.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述根据所述第三相的电流值和所述第二基准值，判断所述第三相是否缺相包括：
94.将所述第三相的电流值与所述第二基准值作差，获得第三差值；
95.判断所述第三差值是否大于参考值；
96.若是，则判断所述第三相不缺相；
97.若否，则继续获取所述第三差值，并判断所述第三差值是否连续多次小于所述参考值；
98.若所述第三差值连续多次小于所述参考值，则判断所述第三相缺相。
99.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述检测所述驱动电路是否缺
相还包括：
100.控制所述第一相和所述第二相共用的上桥、所述第一相的下桥、所述第二相的下桥、所述第三相的下桥关闭；
101.控制所述第三相和所述第四相共用的上桥、所述第四相的下桥导通，并持续第二时长；
102.在所述第三相和所述第四相共用的上桥、所述第四相的下桥持续导通至所述第二时长时，记录所述第四相的电流值；
103.根据所述第四相的电流值和所述第二基准值，判断所述第四相是否缺相。
104.在本发明所述的开关磁阻电机的故障检测方法中，所述根据所述第四相的电流值和所述第二基准值，判断所述第四相是否缺相包括：
105.将所述第四相的电流值与所述第二基准值作差，获得第四差值；
106.判断所述第四差值是否大于参考值；
107.若是，则判断所述第四相不缺相；
108.若否，则继续获取所述第四差值，并判断所述第四差值是否连续多次小于所述参考值；
109.若所述第四差值连续多次小于所述参考值，则判断所述第四相缺相。
110.本发明还提供一种开关磁阻电机，包括存储器和处理器；
111.所述存储器用于存储计算机程序；
112.所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机程序以实现如上所述的开关磁阻电机的故障检测方法。
113.本发明还提供一种厨师机，包括以上所述的开关磁阻电机。
114.实施本发明的开关磁阻电机及其故障检测方法、厨师机，具有以下有益效果：包括以下步骤：在开关磁阻电机启动时，控制开关磁阻电机的驱动电路导通；获取驱动电路的导通电流；根据驱动电路的导通电流检测驱动电路是否异常。本发明可以有效检测出驱动电路是否缺相及驱动电路中的开关管是否短路等，可以避免开关磁阻电机的控制器因缺相或者短路被损坏，有效提高开关磁阻电机和厨师机的可靠性和稳定性。
附图说明
115.下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
116.图1是本发明实施例提供的四相开关磁阻电机的电路原理图；
117.图2是本发明实施例提供的开关磁阻电机的故障检测方法的流程示意图。
具体实施方式
118.为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。
119.参考图2，为本发明提供的开关磁阻电机的故障检测方法一可选实施例的流程示意图。
120.其中，该开关磁阻电机的故障检测方法可应用于图1结构的四相开关磁阻电机。当然，可以理解地，该开关磁阻电机的故障检测方法还可以应用于与图1的上桥和下桥结构相
同的六相、八相等开关磁阻电机。
121.具体的，如图2所示，该开关磁阻电机的故障检测方法包括以下步骤：
122.步骤s101、在开关磁阻电机启动时，控制开关磁阻电机的驱动电路导通。
123.一些实施例中，控制开关磁阻电机的驱动电路导通包括：在开关磁阻电机启动时，控制开关磁阻电机的驱动电路导通，并持续导通至预设时间段。
124.可选的，预设时间段可以为200us。当然，该预设时间段可以根据实际产品进行调整，以可满足流过图1的电流足够大，以可以被检测到且须保证电机未启动转速。
125.步骤s102、获取驱动电路的导通电流。
126.一些实施例中，获取驱动电路的导通电流包括：在驱动电路持续导通的预设时间段内，实时获取驱动电路在预设时间段内的电流；在达到预设时间段后，控制驱动电路关闭，并从驱动电流在预设时间段内的电流中选取最大电流；最大电流为导通电流。
127.进一步地，在达到预设时间段后，控制驱动电路关闭可维持一定时间，例如，可以为3ms。当然，该时间可以适当调整，只需满足电流续流到零即可。其中，如图1所示，对于驱动电路的关闭和导通可以通过控制图1中的六个mos管(即q1、q2、q3、q4、q5和q6)。具体的，当q1、q2、q3、q4、q5和q6全部打开时，驱动电路导通，当q1、q2、q3、q4、q5和q6全部关闭时，驱动电路关闭。
128.步骤s103、根据驱动电路的导通电流检测驱动电路是否异常。
129.一些实施例中，根据驱动电路的导通电流检测驱动电路是否异常包括：将导通电流与预设阈值进行比较；若导通电流大于预设阈值，则判断驱动电路没有开路。
130.可以理解地，当导通电流大于预设阈值时，则说明该开关磁阻电机的驱动电路没有开路。
131.进一步地，一些实施例中，根据驱动电路的导通电流检测驱动电路是否异常还包括：若导通电流小于预设阈值，则控制驱动电路重新导通；在驱动电路重新导通后，实时获取驱动电路的持续电流；根据驱动电路的持续电流判断驱动电路是否异常。
132.其中，根据驱动电路的持续电流判断驱动电路是否异常包括：将驱动电路的持续电流与预设阈值进行比较；若驱动电路的持续电流连续多次小于预设阈值，则判断驱动电路异常。可以理解地，持续电流为按照步骤s101和步骤s102重复执行后得到的导通电流，如果连续多次检测到的导通电流均小于预设阈值，则可判定检流电阻、或者电流检测电路和/或驱动电路异常。其中，可以为连续3次、连续4次、连续5次等，只要满足可稳定判定即可，从而提升故障检测的稳定性和可靠性。
133.该开关磁阻电机包括：第一相、第二相、第三相和第四相。第一相和第二相共用上桥，第三相和第四相共用上桥。其中，如图1所示，第一相为：a相，第二相为：c相，第三相为：b相；第四相为：d相。a相和c相共用上桥(q1)，b相和d相共用上桥(q5)。q3为a相的下桥，q4为c相的下桥，q6为b相的下桥，q2为d相的下桥。r1为检流电阻。
134.进一步地，一些实施例中，该开关磁阻电机的故障检测方法还包括：若驱动电路没有开路，则：检测驱动电路的上桥是否短路；驱动电路的上桥包括：第一相和第二相共用的上桥，第三相和第四相共用的上桥。
135.其中，检测驱动电路的上桥是否短路包括：控制第一相和第二相共用的上桥关闭、以及控制第三相和第四相共用的上桥关闭；控制第一相的下桥、第二相的下桥、第三相的下
桥和第四相的下桥导通，并持续第一时长；在第一相的下桥、第二相的下桥、第三相的下桥和第四相的下桥持续导通期间，持续检测下桥电流；判断下桥电流是否小于阈值；若是，则判断驱动电路的上桥正常；若否，则判断下桥电流是否连续多次大于阈值；若下桥电流连续多次大于阈值，则判断驱动电路的上桥短路。可以理解地，此时的下桥电流为q3、q4、q6和q2均打开，且q1和q5均关闭时，流过检流电阻的电流。
136.可选的，第一时长可以为1ms。
137.可以理解地，当在第一次检测到下桥电流大于阈值时，则重复上述步骤获取下桥电流，并判断重复获取的下桥电流是否都大阈值，若连续多次检测到的下桥电流均大于阈值，则可判定上桥短路。
138.进一步地，一些实施例中，该开关磁阻电机的故障检测方法还包括：若驱动电路没有开路，则：检测驱动电路的下桥是否短路；驱动电路的下桥包括：第一相的下桥、第二相的下桥、第三相的下桥和第四相的下桥。
139.其中，检测驱动电路的下桥是否短路包括：控制第三相和第四相共用的上桥、第一相的下桥、第二相的下桥、第三相的下桥和第四相的下桥关闭；控制第一相和第二相共用的上桥导通，并持续第二时长；在第一相和第二相共用的上桥持续导通期间，持续检测下桥电流；判断下桥电流是否小于阈值；若是，则判断第一相的下桥和第二相的下桥正常；若否，则判断下桥电流是否连续多次大于阈值；若下桥电流连接多次大于阈值，则判断第一相的下桥和/或第二相的下桥短路。
140.该实施例中，该下桥电流为：q1导通，q3关闭、q4关闭、q5关闭、q6关闭和q2关闭时，流过检流电阻的电流。即该实施例可判断a相和c相的下桥是否短路。
141.可选的，该第二时长可以为200us。
142.该实施例中，当第一次检测到a相和c相的下桥电流大于阈值时，则重复上述步骤获取a相和c相的下桥电流，并判断重复获取a相和c相的下桥电流是否都大阈值，若连续多次检测到的下桥电流均大于阈值，则可判定下桥短路。可选的，可连续判断3次、4次、5次等。
143.进一步地，该实施例中，在第一相和第二相共用的上桥持续导通至第二时长时，记录第一相和第二相的当前电流值。该当前的电流值为第一基准值。
144.进一步地，一些实施例中，检测驱动电路的下桥是否短路还包括：控制第一相和第二相共用的上桥、第一相的下桥、第二相的下桥、第三相的下桥和第四相的下桥关闭；控制第三相和第四相共用的上桥导通，并持续第二时长；在第三相和第四相共用的上桥持续导通期间，持续检测下桥电流；判断下桥电流是否小于阈值；若是，则判断第三相的下桥和第四相的下桥正常；若否，则判断下桥电流是否连续多次大于阈值；若下桥电流连接多次大于阈值，则判断第三相的下桥和/或第四相的下桥短路。
145.该实施例中，该下桥电流为：q5导通，q6关闭、q2关闭、q1关闭、q3关闭和q4关闭时，流过检流电阻的电流。即该实施例可判断b相和d相的下桥是否短路。
146.可选的，该第二时长可以为200us。
147.该实施例中，当第一次检测到b相和d相的下桥电流大于阈值时，则重复上述步骤获取b相和d相的下桥电流，并判断重复获取b相和d相的下桥电流是否都大阈值，若连续多次检测到的下桥电流均大于阈值，则可判定下桥短路。可选的，可连续判断3次、4次、5次等。
148.进一步地，该实施例中，在第三相和第四相共用的上桥持续导通至第二时长时，记
录第三相和第四相的当前电流值；第三相和第四相的当前电流值为第二基准值。
149.进一步地，一些实施例中，该开关磁阻电机的故障检测方法还包括：若驱动电路没有开路且没有短路，则：检测驱动电路是否缺相。
150.一些实施例中，检测驱动电路是否缺相包括：控制第二相的下桥、第三相的下桥、第四相的下桥、以及第三相和第四相共用的上桥关闭；控制第一相和第二相共用的上桥、第一相的下桥导通，并持续第二时长；在第一相和第二相共用的上桥、第一相的下桥持续导通至第二时长时，记录第一相的电流值；根据第一相的电流值和第一基准值，判断第一相是否缺相。
151.其中，根据第一相的电流值和第一基准值，判断第一相是否缺相包括：将第一相的电流值与第一基准值作差，获得第一差值；判断第一差值是否大于参考值；若是，则判断第一相不缺相；若否，则继续获取第一差值，并判断第一差值是否连续多次小于参考值；若第一差值连续多次小于参考值，则判断第一相缺相。
152.该实施例中，第一相的电流值为：q1导通和q3导通，q4关闭、q5关闭、q6关闭和q2关闭时，流过检流电阻的电流。
153.可选的，该实施例中，通过上述方法可以判断a相是否缺相。其中，当在第一次判定第一差值小于参考值时，为了保证判定结果的稳定性和可靠性，可重复多次获取第一差值，并将第一差值与参考值进行比较，若第一差值连续多次小于参考值，则可判定c相缺相。其中可以连续3次、4次、5次等。
154.一些实施例中，检测驱动电路是否缺相还包括：控制第一相的下桥、第三相的下桥、第四相的下桥、以及第三相和第四相共用的上桥关闭；控制第一相和第二相共用的上桥、第二相的下桥导通，并持续第二时长；在第一相和第二相共用的上桥、第二相的下桥持续导通至第二时长时，记录第二相的电流值；
155.根据第二相的电流值和第一基准值，判断第二相是否缺相。
156.根据第二相的电流值和第一基准值，判断第二相是否缺相包括：将第二相的电流值与第一基准值作差，获得第二差值；判断第二差值是否大于参考值；若是，则判断第二相不缺相；若否，则继续获取第二差值，并判断第二差值是否连续多次小于参考值；若第二差值连续多次小于参考值，则判断第二相缺相。
157.该实施例中，第二相的电流值为：q1导通和q4导通，q3关闭、q5关闭、q6关闭和q2关闭时，流过检流电阻的电流。
158.可选的，该实施例中，通过上述方法可以判断c相是否缺相。其中，当在第一次判定第二差值小于参考值时，为了保证判定结果的稳定性和可靠性，可重复多次获取第二差值，并将第二差值与参考值进行比较，若第二差值连续多次小于参考值，则可判定a相缺相。其中可以连续3次、4次、5次等。
159.一些实施例中，检测驱动电路是否缺相还包括：控制第一相和第二相共用的上桥、第一相的下桥、第二相的下桥、第四相的下桥关闭；控制第三相和第四相共用的上桥、第三相的下桥导通，并持续第二时长；在第三相和第四相共用的上桥、第三相的下桥持续导通至第二时长时，记录第三相的电流值；根据第三相的电流值和第二基准值，判断第三相是否缺相。
160.其中，根据第三相的电流值和第二基准值，判断第三相是否缺相包括：将第三相的
电流值与第二基准值作差，获得第三差值；判断第三差值是否大于参考值；若是，则判断第三相不缺相；若否，则继续获取第三差值，并判断第三差值是否连续多次小于参考值；若第三差值连续多次小于参考值，则判断第三相缺相。
161.该实施例中，第三相的电流值为：q5导通和q6导通，q2关闭、q1关闭、q3关闭和q4关闭时，流过检流电阻的电流。
162.可选的，该实施例中，通过上述方法可以判断b相是否缺相。其中，当在第一次判定第三差值小于参考值时，为了保证判定结果的稳定性和可靠性，可重复多次获取第三差值，并将第三差值与参考值进行比较，若第三差值连续多次小于参考值，则可判定b相缺相。其中可以连续3次、4次、5次等。
163.一些实施例中，检测驱动电路是否缺相还包括：控制第一相和第二相共用的上桥、第一相的下桥、第二相的下桥、第三相的下桥关闭；控制第三相和第四相共用的上桥、第四相的下桥导通，并持续第二时长；在第三相和第四相共用的上桥、第四相的下桥持续导通至第二时长时，记录第四相的电流值；根据第四相的电流值和第二基准值，判断第四相是否缺相。
164.其中，根据第四相的电流值和第二基准值，判断第四相是否缺相包括：将第四相的电流值与第二基准值作差，获得第四差值；判断第四差值是否大于参考值；若是，则判断第四相不缺相；若否，则继续获取第四差值，并判断第四差值是否连续多次小于参考值；若第四差值连续多次小于参考值，则判断第四相缺相。
165.该实施例中，第四相的电流值为：q5导通和q6q2导通，q6关闭、q1关闭、q3关闭和q4关闭时，流过检流电阻的电流。
166.可选的，该实施例中，通过上述方法可以判断d相是否缺相。其中，当在第一次判定第四差值小于参考值时，为了保证判定结果的稳定性和可靠性，可重复多次获取第四差值，并将第四差值与参考值进行比较，若第四差值连续多次小于参考值，则可判定d相缺相。其中可以连续3次、4次、5次等。
167.进一步地，本发明还提供一种开关磁阻电机，该开关磁阻电机可包括存储器和处理器；存储器用于存储计算机程序；处理器用于执行存储器中存储的计算机程序以实现本发明实施例公开的开关磁阻电机的故障检测方法。
168.进一步地，本发明还提供一种厨师机，该厨师机包括本发明实施例公开的开关磁阻电机。
169.本发明实施例的开关磁阻电机和厨师机通过采用本发明实施例公开的开关磁阻电机的故障检测方法可以有效检测出检流电阻短路、电流检测电路故障、缺相及mos管短路等故障，避免电机控制器因这些故障损坏，提高产品的可靠性、稳定性和安全性，提升产品竞争力。
170.本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
171.专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和
软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
172.结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(ram)、内存、只读存储器(rom)、电可编程rom、电可擦除可编程rom、寄存器、硬盘、可移动磁盘、cd
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rom、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
173.以上实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据此实施，并不能限制本发明的保护范围。凡跟本发明权利要求范围所做的均等变化与修饰，均应属于本发明权利要求的涵盖范围。