针对继电器过零开关实现校准检验的系统、方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质与流程

本发明涉及电子开关，特别涉及继电器过零开关，具体是指一种针对继电器过零开关实现校准检验的系统、方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质。

背景技术：

1、在现有用继电器作开关的电子开关中，继电器多是随意开启和关闭，或预置某种固定时间机制开关，或依赖于某种相位检测加通讯机制进行校准，或将外部检测信号专门引入电子开关控制电路中进行校准。

2、随意开关可能会出现浪涌电流过大及继电器触点寿命降低等问题，固定时间机制的开关难以解决不同继电器之间的开关反应时间等差异带来的问题。相位检测加通讯不能应对电子开关中没有可用通讯方式的情况。将外部检测信号专门引入电子开关控制电路中对大多数带壳的成品有困难。

技术实现思路

1、本发明的目的是克服了上述现有技术的缺点，提供了一种结构简单且易于实施的针对继电器过零开关实现校准检验的系统、方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质。

2、为了实现上述目的，本发明的针对继电器过零开关实现校准检验的系统、方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质如下：

3、该针对继电器过零开关实现校准检验的系统，其主要特点是，所述的系统包括：

4、被校验电子开关模块，用于接收控制信号并执行驱动继电器过零开关动作操作的处理；以及

5、外部校准处理模块，与所述的被校验电子开关模块相连接，用于向系统发送所述的控制信号，实现对所述的继电器过零开关的控制和校准处理。

6、较佳地，所述的控制信号具体包括：

7、校验开启信号以及基准时间信号。

8、较佳地，所述的被校验电子开关模块具体包括：

9、输入电压检测电路处理单元，与所述的外部校准处理模块相连接，用于接收并处理所述的外部校准处理模块发送的所述的校验开启信号以及基准时间信号；

10、微处理器及驱动电路处理单元，与所述的输入电压检测电路处理单元相连接，用于接收处理后的所述的校验开启信号以及基准时间信号，并根据所述的校验开启信号以及基准时间信号获取被校验电子开关的电压周期信息以及基准时间信息；以及

11、继电器开关，与所述的微处理器及驱动电路处理单元相连接，用于按照所述的基准时间信息规定的预设时长控制所述的继电器开关。

12、较佳地，所述的外部校准处理模块具体包括：

13、电压检测处理单元，与所述的继电器开关相连接，用于检测所述的继电器开关的电压通断持续时间；

14、微处理器及控制电路处理单元，与所述的电压检测处理单元相连接，用于将检测到的所述的继电器开关的电压通断持续时间与所述的基准时间信息规定的预设时长进行对比处理，获取所述的继电器开关的反应时间；以及

15、高速开关，与所述的微处理器及控制电路处理单元相连接，用于产生所述的校验开启信号以及基准时间信号，并将获取到的所述的继电器开关的反应时间进行系列开关操作传输至所述的微处理器及驱动电路处理单元的微处理器中。

16、该基于上述系统实现针对继电器过零开关校准检验的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：

17、（1）外部校准装置内部的高速开关对被校验电子开关装置执行开关控制命令以及工作状态检测的操作处理；

18、（2）所述的被校验电子开关装置内部设置的输入电压检测电路处理单元根据接收到的开关控制命令，进而控制其内部的继电器过零开关执行相应的控制处理；

19、（3）所述的外部校准装置将接收到的所述的继电器过零开关的控制处理结果与预设的开关控制命令中的基准信息进行对比，获取所述的继电器过零开关的反应时间；

20、（4）所述的外部校准装置将所述的继电器过零开关的反应时间信息通过系列开关操作方式发送给所述的被校验电子开关；

21、所述的被校验电子开关将接收到的所述的继电器过零开关的反应时间进行自定义处理并存储，从而完成对继电器过零开关的校准处理。

22、较佳地，所述的步骤（1）具体包括以下步骤：

23、（1.1）所述的外部校准装置打开内部的高速开关为所述的被校验电子开关装置供电；

24、（1.2）确保所述的被校验电子开关装置的内部电路工作稳定后，开始执行开关控制命令以及工作状态检测的操作处理。

25、较佳地，所述的开关控制命令具体为：

26、将所述的被校验电子开关装置发送特殊时间处理的系列开关操作作为所述的继电器过零开关的校验开启信号以及基准时间信号。

27、较佳地，所述的步骤（2）具体为：

28、所述的输入电压检测电路处理单元根据接收到的校验开启信号，按照基准时间延长协议约定的工作时长来控制所述的继电器过零开关的开启或者关闭，并生成相应的电源电压输入信号。

29、尤佳地，按照以下规则控制所述的继电器过零开关的开启或者关闭：

30、（a）系统工作时，所述的被校验电子开关装置内部的微处理器及驱动电路处理单元中的微处理器从所述的电源电压输入信号中获得电压周期或半波周期信息，以及过零时间基准始点；

31、（b）过零导通时，微处理器从所述的过零时间基准始点开始，延迟一个第一预设时间发出开信号，获得继电器过零导通开反应时间；

32、（c）过零关闭时，微处理器从所述的过零时间基准始点开始，延迟一个第二预设时间发出关信号，获得继电器过零关闭关反应时间。

33、更佳地，所述的第一预设时间需满足：延迟时间+开反应时间=电源电压半波周期整数倍。

34、更佳地，所述的第二预设时间需满足：延迟时间+关反应时间= 电源电压半波周期整数倍。

35、较佳地，所述的步骤（3）具体包括以下步骤：

36、（3.1）所述的被校验电子开关装置检测所述的继电器过零开关在约定的工作时长范围内输出的电压通断周期时间；

37、（3.2）将获取得到所述的电压通断周期时间与所述的基准时间信号预设的基准时间进行对比，以计算出所述的继电器过零开关的反应时间。

38、较佳地，所述的步骤（4）具体包括以下步骤：

39、（4.1）系统将获取得到的所述的继电器过零开关的反应时间采用模拟式或数字编码式的自定义时间处理；

40、（4.2）系统将处理完成后获取的继电器过零开关的反应时间值传输至所述的被校验电子开关装置内部的微处理器及控制电路处理单元的微处理器中；

41、（4.3）当所述的微处理器接收到所述的继电器过零开关的反应时间后，将反应时间值存储到非易失性存储器中，从而完成校准处理。

42、该用于实现针对继电器过零开关校准检验的装置，其主要特点是，所述的装置包括：

43、处理器，被配置成执行计算机可执行指令；

44、存储器，存储一个或多个计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被所述处理器执行时，实现上述所述的针对继电器过零开关校准检验的方法的各个步骤。

45、该针对继电器过零开关实现校准检验的处理器，其主要特点是，所述的处理器被配置成执行计算机可执行指令，所述的计算机可执行指令被所述的处理器执行时，实现上述所述的针对继电器过零开关校准检验的方法的各个步骤。

46、该计算机可读存储介质，其主要特点是，其上存储有计算机程序，所述的计算机程序可被处理器执行以实现上述所述的针对继电器过零开关校准检验的方法的各个步骤。

47、采用了本发明的该针对继电器过零开关实现校准检验的系统、方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质，在无需接触内部电路及无需使用额外通讯方式的情况下，对继电器电子开关进行开关反应时间校准，以实现电磁继电器在ac情况下近零电压触点导通及关闭。并且可根据不同电磁继电器开关反应速度及电源ac周期或频率调节，有利于延长继电器使用寿命，及减小开关时负载浪涌电流冲击。相较于有技术而言，具有更为广泛的适用范围。