技术特征：
1.一种计量芯片，其特征在于，包括：计算模块，用于根据电流检测机构的检测结果计算待测设备的目标电流；校准模块，用于对所述电流检测机构进行校准；地址位引脚，用于根据外接的配置电阻生成相应的芯片地址。2.如权利要求1所述的计量芯片，其特征在于，所述校准模块包括：电流输出电路、使能控制电路和逻辑电路；所述使能控制电路用于使能所述电流输出电路向所述电流检测机构输出校准电流；所述逻辑电路用于接收所述电流检测机构响应于所述校准电流的反馈信号，并基于所述校准电流和反馈信号，对所述电流检测机构进行校准。3.如权利要求2所述的计量芯片，其特征在于，所述电流检测机构包括磁芯、霍尔元件、副边补偿线圈、副边驱动模块、以及穿过所述磁芯设置的校准导线；所述电流输出电路用于向所述校准导线输出所述校准电流；所述逻辑电路用于获取所述副边驱动模块在所述校准导线的电流为所述校准电流时所输出的反馈信号，并基于所述反馈信号生成控制指令并发送至所述使能控制电路，以使所述使能控制电路根据所述控制指令控制所述电流输出电路向所述副边补偿线圈的输入端输出相应的电流。4.如权利要求3所述的计量芯片，其特征在于，所述校准模块还包括：基准电路，用于生成所述校准电流并传递给所述电流输出电路。5.如权利要求1所述的计量芯片，其特征在于，所述计量芯片还包括：模数转换模块，用于在所述计算模块根据所述电流检测机构的检测结果计算所述目标电流之前，对所述检测结果进行模数转换。6.如权利要求1所述的计量芯片，其特征在于，所述计算模块还用于根据所述目标电流以及所述待测设备的目标电压计算所述待测设备的性能参数。7.如权利要求1所述的计量芯片，其特征在于，所述计量芯片还包括用于提供电源的电源电路。8.如权利要求1所述的计量芯片，其特征在于，所述计量芯片还包括用于与外部控制器通信连接的通信接口。9.如权利要求8所述的计量芯片，其特征在于，所述计量芯片还包括与所述通信接口连接的时钟电路。10.一种测量系统，其特征在于，包括前述权利要求1
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9中任一项所述的计量芯片和电流检测机构。
技术总结
本发明公开了一种计量芯片以及测量系统，该计量芯片包括：计算模块，用于根据电流检测机构的检测结果计算待测设备的目标电流；校准模块，用于对电流检测机构进行校准；地址位引脚，用于根据外接的配置电阻生成相应的芯片地址。本发明的计量芯片既能够通过计算模块计算待测设备的目标电流，又能够通过校准模块实现与计量芯片相连的外部电流检测机构的自动校准，从而消除了电流检测机构中存在的误差，提高了检测精度；此外，当多个计量芯片同时集成到MCU的同一个接口时，通过地址位引脚的设置，可以自动识别每个计量芯片的芯片地址，便于MCU获取每个计量芯片的计量结果。MCU获取每个计量芯片的计量结果。MCU获取每个计量芯片的计量结果。
技术研发人员：王甲 阮颐 韩明
受保护的技术使用者：上海贝岭股份有限公司
技术研发日：2021.08.10
技术公布日：2021/12/17