技术特征：
1.一种电子器件分析测试仪器，包括箱体、红外传感器，其特征在于：所述箱体内设有分析腔及测试腔，所述测试腔远离所述分析腔的侧壁固定设有红外射灯，所述测试腔靠近所述分析腔的侧壁连通设有滑槽，所述滑槽滑动设有移动连接块，所述移动连接块一端位于所述测试腔，所述移动连接块设有开口朝向所述测试腔的三个接口，三个所述接口呈阵列分布，所述分析腔靠近所述测试腔的侧壁贯穿设有固定连接块，所述固定连接块一端位于所述分析腔内，所述固定连接块与所述移动连接块滑动连接，所述固定连接块位于所述分析腔内的一端固定设有检验设备，所述固定连接块设有开口朝向所述移动连接块且朝上的l型槽，所述移动连接块设有开口朝向所述l型槽的连接槽，所述连接槽与所述固定连接块之间滑动设有l型块。2.根据权利要求1所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述测试腔侧壁贯穿设有通槽，所述通槽与所述滑槽连通，所述通槽滑动设有挡板，所述挡板与所述通槽之间连接设有拉伸弹簧。3.根据权利要求1所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述接口侧壁设有两个弹簧槽，两个所述弹簧槽以所述接口为对称中心对称，所述弹簧槽滑动设有夹片，所述夹片一端位于所述接口内，所述夹片与所述弹簧槽之间连接设有压缩弹簧。4.根据权利要求1所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述移动连接块设有两个卡槽，所述卡槽位于所述滑槽内并与所述滑槽连通，两个所述卡槽以所述移动连接块为对称中心对称。5.根据权利要求1所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述滑槽靠近所述分析腔的侧壁连通设有两个转动槽，两个所述转动槽以所述固定连接块为对称中心对称，所述转动槽下侧壁转动设有转轴，所述转轴固定设有爪夹，所述爪夹另一端位于所述卡槽内。6.根据权利要求1所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述分析腔靠近所述测试腔的侧壁连通设有传动腔，所述传动腔与所述转动槽连通，所述传动腔与所述滑槽连通，所述传动腔位于所述固定连接块上侧，所述传动腔靠近所述测试腔的侧壁转动设有传动轴，所述传动轴上固定设有传动齿轮，所述移动连接块上端固定设有传动齿条，所述传动齿条与所述传动齿轮啮合连接。7.根据权利要求6所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述传动腔侧壁间转动设有从动轴，所述从动轴与所述传动轴之间连接设有第一锥齿轮组，所述从动轴上固定设有从动齿轮，所述l型块上端固定设有从动齿条，所述从动齿条与所述从动齿轮啮合连接，所述从动轴与所述转轴之间连接设有第二锥齿轮组。8.根据权利要求2所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述测试腔远离所述挡板的侧壁固定设有电动伸缩杆，所述电动伸缩杆与所述移动连接块固定连接。9.根据权利要求1所述的一种电子器件分析测试仪器，其特征在于：所述红外传感器一端固定设有三个引脚。
技术总结
本发明公开了一种电子器件分析测试仪器，包括箱体、红外传感器，所述箱体内设有分析腔及测试腔，所述测试腔远离所述分析腔的侧壁固定设有红外射灯，所述测试腔靠近所述分析腔的侧壁连通设有滑槽，所述滑槽滑动设有移动连接块，所述移动连接块一端位于所述测试腔，所述移动连接块设有开口朝向所述测试腔的三个接口，三个所述接口呈阵列分布，本发明用于红外传感器的分析测试或实验，也可通过更换红外射灯、检验设备及测试程序来对其他电子器件进行检测，应用范围广，并且为测试提供了一个密闭的空间，避免外界环境因素干扰，且减少了使用者与电子器件的接触，防止人为性的安装或其他类型失误导致结果不准确。类型失误导致结果不准确。类型失误导致结果不准确。
技术研发人员：高洁
受保护的技术使用者：广州皓景数码科技有限公司
技术研发日：2021.08.12
技术公布日：2021/11/8