技术特征：
1.一种产品的内部尺寸测量方法，该产品包括相对布置的第一边缘与第二边缘，其特征在于，包括如下步骤：对应第一边缘设置第一基准块，对应第二边缘设置第二基准块，所述第一基准块包括第一基准面，所述第二基准块包括第二基准面，第一基准面到第二基准面的距离为d；利用倾斜的3d轮廓仪扫描第一边缘与第二边缘，同步扫描第一基准面与第二基准面；获取3d轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点p1；获取3d轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点p3；获取第一特征点p1到第一基准面的距离a，获取第二特征点p3到第二基准面的距离b；根据距离a、b、d获取第一边缘到第二边缘的距离c。2.根据权利要求1所述的一种产品的内部尺寸测量方法，其特征在于，所述获取第一特征点p1到第一基准面的距离a包括：获取3d轮廓仪的数值中心点o；获取数值中心点o到第一基准面的距离s1；获取数值中心点o到第一辅助面的距离s2，其中第一辅助面与第一基准面平行且经过第一特征点p1；获取距离a。3.根据权利要求2所述的一种产品的内部尺寸测量方法，其特征在于：所述获取数值中心点o到第一基准面的距离s1以及获取数值中心点o到第一辅助面的距离s2包括：获取当前3d轮廓仪的倾斜角度θ，其中θ为3d轮廓仪的激光与第一基准块的第三基准面所形成的夹角；获取3d轮廓仪扫描的第一特征点p1的坐标值p1（x1，h1），获取同一时刻扫描第一基准面时的任意点p2，及点p2的坐标值p2（x2，h2）；获取数值中心点o到第一基准面的距离s1，s1=h1*cosθ+x1*sinθ；获取数值中心点o到第一辅助面的距离s2，s2=h2*cosθ+x2*sinθ。4.根据权利要求3所述的一种产品的内部尺寸测量方法，其特征在于，所述获取当前3d轮廓仪的倾斜角度θ包括：获取当前3d轮廓仪投影至第三基准面的任意两点的坐标值，利用反正切函数获取倾斜角度θ。5.根据权利要求2所述的一种产品的内部尺寸测量方法，其特征在于，所述获取距离a包括：当数值中心点o位于第一特征点p1与任意点p2之间时，a=|s1|+|s2|；当数值中心点o位于第一特征点p1与任意点p2两侧时，a=|| s1|
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| s2||。6.根据权利要求1
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5任一项所述的一种产品的内部尺寸测量方法，其特征在于，所述获取第二特征点p3到第二基准面的距离b与所述获取第一特征点p1到第一基准面的距离a的方法原理相同。7.根据权利要求1所述的一种产品的内部尺寸测量方法，其特征在于，所述第一特征点p1或第二特征点p3，位于产品的易变形区域。8.根据权利要求1所述的一种产品的内部尺寸测量方法，其特征在于，所述第一特征点p1、第二特征点p3分别位于产品的r角上；
第一特征点p1的提取过程包括：在3d轮廓仪扫描第一边缘得到的第一r角轮廓上的第一边获取任意两点b1、b2，并限定出第一直线，在第二边获取任意两点a1、a2，并限定出第二直线；取第一直线与第二直线的交角α的一半向第一r角轮廓做延长线，得到的交点r
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m1即为第一特征点p1；第二特征点p3的提取过程包括：在3d轮廓仪扫描第二边缘得到的第二r角轮廓上的第三边获取任意两点c1、c2，并限定出第三直线，在第四边获取任意两点d1、d2，并限定出第四直线；取第一直线与第二直线的交角β的一半向第二r角轮廓做延长线，得到的交点r
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m2即为第二特征点p3。9.根据权利要求1所述的一种产品的内部尺寸测量方法，其特征在于，所述第一特征点p1、第二特征点p3分别位于产品的r角上；第一特征点p1的提取过程包括：在3d轮廓仪扫描第一边缘得到的第一r角轮廓上的第一边获取任意两点e1、e2，并限定出第五直线；建立与第五直线平行的第一辅助线，第五直线与第一辅助线的间距为l1；第一辅助线与第一r角轮廓的交点r
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m3即为第一特征点p1；第二特征点p3的提取过程包括：在3d轮廓仪扫描第二边缘得到的第二r角轮廓上的第三边获取任意两点f1、f2，并限定出第六直线；建立与第六直线平行的第二辅助线，第六直线与第二辅助线的间距为l1；第二辅助线与第二r角轮廓的交点r
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m4即为第一特征点p3。10.一种产品的内部尺寸测量装置，其特征在于：包括测量部和计算部；所述测量部包括：测量基台，放置被测产品，所述被测产品包括相对布置的第一边缘与第二边缘；第一基准块，放置于测量基台上且对应第一边缘，包括第一基准面；第二基准块，放置于测量基台上且对应第二边缘，包括第二基准面；3d轮廓仪，可倾斜一定角度同时对产品、基准块进行扫描；所述计算部包括：获取模块，获取3d轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点p1、以及3d轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点p3；第一计算模块，获取第一特征点p1到第一基准面的距离a、以及第二特征点p3到第二基准面的距离b；第二计算模块，根据距离a、距离b以及第一基准面到第二基准面的距离d获取第一边缘到第二边缘的距离c。
技术总结
本发明涉及尺寸测量领域，具体提供了一种产品的内部尺寸测量方法及测量装置，包括如下步骤：对应第一边缘设置第一基准块，对应第二边缘设置第二基准块，所述第一基准块包括第一基准面，所述第二基准块包括第二基准面，第一基准面到第二基准面的距离为d；利用倾斜的3D轮廓仪扫描第一边缘与第二边缘，同步扫描第一基准面与第二基准面；获取3D轮廓仪扫描第一边缘时的第一特征点P1；获取3D轮廓仪扫描第二边缘时的第二特征点P3
技术研发人员：张庆祥 王临昌 潘冠健 周少峰 郑晓泽 唐小琦 陈英滔 谭辉 汤胜水
受保护的技术使用者：广东三姆森科技股份有限公司
技术研发日：2021.09.13
技术公布日：2021/10/15