一种半导体器件hi-pot测试装置的制作方法

1.本发明涉及hi-pot测试设备技术领域，更具体地说，涉及一种半导体器件hi-pot测试装置。


背景技术：

2.hi-pot测试即耐压测试，其基本原理是将被测产品在高压机输出的试验高电压下产生的漏电流与设置的判定电流相比较，若检出的漏电流值小于预设定值，则被测产品通过测试，当检出的漏电流大于判定电流时，试验电压瞬时切断并发出声光报警，从而测定被测件的耐压强度。而hi-pot测试的目的是一种无破坏性的测试，它用来检测经常发生的瞬态高压下产品的绝缘能力是否合格。它在-定时间内施加高压到被测试产品以确保测试产品的绝缘性能足够强。进行这项测试的另
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个原因是它也可以检出产品的一-些缺陷。现有技术公开号为cn211856791u的文献提供一种半导体器件hi-pot测试装置，该装置通过调节连接杆在驱动手柄上的位置，从而调节连接杆的摇动幅度和用力程度，当连接杆向远离驱动杆的方向移动调节时，通过连接杆转动驱动杆，连接杆与驱动手柄之间垂直分布，使得摇动连接杆既可同步带动驱动手柄进行旋转。
3.虽然该装置有益效果较多，但依然存在下列问题：该装置设置支架及压板对半导体器件进行挤压测试，需要逐一拆卸安装测试，降低了测试的效率，且使得测试不能连续的进行，不仅浪费人力物力，而且提高了成本，鉴于此，我们提出一种半导体器件hi-pot测试装置。


技术实现要素：

4.1.要解决的技术问题
5.本发明的目的在于提供一种半导体器件hi-pot测试装置，以解决上述背景技术中提出的问题。
6.2.技术方案
7.一种半导体器件hi-pot测试装置，包括工作台，所述工作台底面四角处均设有桌腿，所述工作台内部前侧开设有方形腔，所述方形腔下方一侧开设有机腔，所述工作台内部中间位置开设有方槽，所述工作台下方中部设有调节手轮,所述调节手轮螺纹端穿过工作台底面延伸至方槽内部并同轴连接有圆杆，所述圆杆圆周外壁套设有弹簧a，所述圆杆上端焊接有限位圆盘，所述圆杆上方设有三角调节块，所述三角调节块底面中部开设有圆槽，所述机腔内部设有电机a，所述电机a输出端穿过机腔内壁延伸至方形腔内部并套接有缺口圆盘，所述缺口圆盘外侧通过摇臂设有限位柱，所述方形腔中部通过转轴套接有槽轮，所述槽轮圆周外壁呈环形等间距开设有多个弧形槽，所述槽轮圆周外壁呈环形等间距开设有多个方形槽，所述转轴上端穿过方形腔内壁延伸至外部并套接有转盘，所述转盘上侧呈环形等间距滑动连接有多个固定块，所述固定块上方设有待测试器件，所述工作台上侧后端嵌设有检测箱，所述检测箱左侧前端设有检测计数器主体，所述检测箱左侧下端设有机箱，所述
机箱内部设有电机b，所述电机b输出端穿过机箱内壁延伸至检测箱内部并套接有扇形凸轮，所述扇形凸轮右侧设有骨型凸轮，所述骨型凸轮右侧通过轴挂接有弹簧b，所述弹簧b上端挂接有圆柱，所述圆柱左端固设有伸缩杆，所述伸缩杆右侧前端开设有滑槽，所述伸缩杆前端穿过检测箱内部延伸至外部并通过杆固设有锥形压块，所述检测箱内部右侧固设有限位方块，所述限位方块内部滑动连接有活动杆，所述活动杆下端通过销轴转动连接有滚轮b，所述检测箱左侧下端通过销轴转动连接有控制杆，所述控制杆中部通过销轴转动连接有滚轮c。
8.优选地，所述调节手轮螺纹端与所述工作台底面中部开设的螺纹孔螺纹连接，所述限位圆盘上端穿过三角调节块底面延伸至圆槽内部并与其转动连接。
9.优选地，所述缺口圆盘与弧形槽滑动连接，所述限位柱与方形槽滑动连接。
10.优选地，所述固定块底面穿过转盘内部延伸至外部并通过杆设有滚轮a，所述滚轮a与所述三角调节块外壁滚动连接。
11.优选地，所述扇形凸轮外壁与滚轮b滚动连接，所述骨型凸轮外壁与滚轮c滚动连接。
12.优选地，所述控制杆上端固设有滑柱，所述滑柱与滑槽。
13.3.有益效果
14.相比于现有技术，本发明的优点在于：
15.1.本发明通过在电机a输出端穿过机腔内壁延伸至方形腔内部并套接有缺口圆盘，缺口圆盘外侧通过摇臂设有限位柱，方形腔中部通过转轴套接有槽轮，槽轮圆周外壁呈环形等间距开设有多个弧形槽，槽轮圆周外壁呈环形等间距开设有多个方形槽，转轴上端穿过方形腔内壁延伸至外部并套接有转盘，转盘上侧呈环形等间距滑动连接有多个固定块，固定块上方设有待测试器件，结构间的紧密配合，使得该装置可以通过转盘的间歇转动，对待检测器件进行连续性的检测，避免了需要逐一拆卸安装测试，降低了测试的效率，且使得测试不能连续的进行，不仅浪费人力物力，而且提高了成本的情况。
16.2.本发明通过在工作台上侧后端嵌设有检测箱，电机b输出端穿过机箱内壁延伸至检测箱内部并套接有扇形凸轮，骨型凸轮右侧通过轴挂接有弹簧b，圆柱左端固设有伸缩杆，伸缩杆右侧前端开设有滑槽，伸缩杆前端穿过检测箱内部延伸至外部并通过杆固设有锥形压块，检测箱内部右侧固设有限位方块，通过扇形凸轮及骨型凸轮的巧妙设计，使得锥形压块可以在伸出后下降对待检测器件测试，同时配合槽轮的设计，使其在换位后，可以进行间歇下压动作，而在不适用时可以将锥形压块等收起到检测箱内部，不仅提高了检测的效率，而且延长了设备的使用寿命。
17.3.本发明通过在工作台下方中部设有调节手轮,调节手轮螺纹端穿过工作台底面延伸至方槽内部并同轴连接有圆杆，圆杆圆周外壁套设有弹簧a，圆杆上端焊接有限位圆盘，圆杆上方设有三角调节块，三角调节块底面中部开设有圆槽，使其可以通过转动调节手轮来调节三角调节块的伸出高度，从而可以在最高点时配合锥形压块的下压，从而可以根据情况调节下压的力度进行检测。
附图说明
18.图1为本发明的整体结构示意图；
19.图2为本发明的整体结构剖面图；
20.图3为本发明的检测箱内部结构展开图；
21.图4为本发明的骨型凸轮结构拆分图；
22.图5为本发明的三角调节块结构展开图；
23.图6为本发明的a处结构放大图；
24.图中标号说明：1、工作台；101、方形腔；102、机腔；103、方槽；2、桌腿；3、调节手轮；301、圆杆；302、弹簧a；303、限位圆盘；304、三角调节块；305、圆槽；4、电机a；401、缺口圆盘；402、限位柱；403、转轴；404、槽轮；405、弧形槽；406、方形槽；5、转盘；501、固定块；502、滚轮a；6、待测试器件；7、检测箱；701、限位方块；702、活动杆；703、滚轮b；704、控制杆；705、滚轮c；706、滑柱；8、检测计数器主体；9、机箱；901、电机b；902、扇形凸轮；903、骨型凸轮；904、弹簧b；905、圆柱；906、伸缩杆；907、滑槽；908、锥形压块。
具体实施方式
25.请参阅图1-6,本发明提供一种技术方案：
26.一种半导体器件hi-pot测试装置，包括工作台1，工作台1底面四角处均设有桌腿2，工作台1内部前侧开设有方形腔101，方形腔101下方一侧开设有机腔102，工作台1内部中间位置开设有方槽103，工作台1下方中部设有调节手轮3,调节手轮3螺纹端穿过工作台1底面延伸至方槽103内部并同轴连接有圆杆301，圆杆301圆周外壁套设有弹簧a302，圆杆301上端焊接有限位圆盘303，圆杆301上方设有三角调节块304，三角调节块304底面中部开设有圆槽305，机腔102内部设有电机a4，电机a4输出端穿过机腔102内壁延伸至方形腔101内部并套接有缺口圆盘401，缺口圆盘401外侧通过摇臂设有限位柱402，方形腔101中部通过转轴403套接有槽轮404，槽轮404圆周外壁呈环形等间距开设有多个弧形槽405，槽轮404圆周外壁呈环形等间距开设有多个方形槽406，转轴403上端穿过方形腔101内壁延伸至外部并套接有转盘5，转盘5上侧呈环形等间距滑动连接有多个固定块501，固定块501上方设有待测试器件6，工作台1上侧后端嵌设有检测箱7，检测箱7左侧前端设有检测计数器主体8，检测箱7左侧下端设有机箱9，机箱9内部设有电机b901，电机b901输出端穿过机箱9内壁延伸至检测箱7内部并套接有扇形凸轮902，扇形凸轮902右侧设有骨型凸轮903，骨型凸轮903右侧通过轴挂接有弹簧b904，弹簧b904上端挂接有圆柱905，圆柱905左端固设有伸缩杆906，伸缩杆906右侧前端开设有滑槽907，伸缩杆906前端穿过检测箱7内部延伸至外部并通过杆固设有锥形压块908，检测箱7内部右侧固设有限位方块701，限位方块701内部滑动连接有活动杆702，活动杆702下端通过销轴转动连接有滚轮b703，检测箱7左侧下端通过销轴转动连接有控制杆704，控制杆704中部通过销轴转动连接有滚轮c705。结构间的紧密配合，使得该装置可以通过转盘5的间歇转动，对待检测器件6进行连续性的检测，避免了需要逐一拆卸安装测试，降低了测试的效率，且使得测试不能连续的进行，不仅浪费人力物力，而且提高了成本的情况。
27.具体的，调节手轮3螺纹端与工作台1底面中部开设的螺纹孔螺纹连接，限位圆盘303上端穿过三角调节块304底面延伸至圆槽305内部并与其转动连接。通过转动调节手轮3上升，而限位圆盘303的设计，使得三角调节块304只进行上升动作，从而在最高点时配合锥形压块908的下压的力度。
28.进一步的，缺口圆盘401与弧形槽405滑动连接，限位柱402与方形槽406滑动连接。方形槽406的设计，使得限位柱402在滑动后可以带动槽轮404间歇转动。
29.再进一步的，固定块501底面穿过转盘5内部延伸至外部并通过杆设有滚轮a502，滚轮a502与三角调节块304外壁滚动连接。通过滚轮a502在三角调节块304外壁滚动，在到达三角调节块304最高点时，可以通过固定块带动待测试器件6到达最高点来增加锥形压块908的力度。
30.更进一步的，扇形凸轮902外壁与滚轮b703滚动连接，通过滚轮b703在扇形凸轮902的滑动，通过控制杆704可以使得伸缩杆906伸出或收回，骨型凸轮903外壁与滚轮c705滚动连接。通过弹簧b的拉动，使得滚轮c705在骨型凸轮903上的滚动且始终贴合，此时，通过活动杆702可以带伸缩杆906上升或下降。
31.值得说明的是，控制杆704上端固设有滑柱706，滑柱706与滑槽907。通过滑槽907的设计，使得控制杆704在进行弧形运动时，可以通过滑柱706自动适应距离的变化。
32.工作原理：当需要该半导体器件hi-pot测试装置时，首先，通过电机a4输出轴转动，由于电机a4输出端穿过机腔102内壁延伸至方形腔101内部并套接有缺口圆盘401，而缺口圆盘401与弧形槽405滑动连接，限位柱402与方形槽406滑动连接，方形槽406的设计，使得限位柱402在滑动后可以带动槽轮404间歇转动，此时，通过电机b901输出轴转动，由于电机b901输出端穿过机箱9内壁延伸至检测箱7内部并套接有扇形凸轮902，扇形凸轮902右侧设有骨型凸轮903，而扇形凸轮902外壁与滚轮b703滚动连接，通过滚轮b703在扇形凸轮902的滑动，通过控制杆704可以使得伸缩杆906伸出或收回，骨型凸轮903外壁与滚轮c705滚动连接，通过弹簧b的拉动，使得滚轮c705在骨型凸轮903上的滚动且始终贴合，此时，通过活动杆702可以带伸缩杆906上升或下降，而控制杆704上端固设有滑柱706，滑柱706与滑槽907，通过滑槽907的设计，使得控制杆704在进行弧形运动时，可以通过滑柱706自动适应距离的变化，此时，使得锥形压块908可以在伸出后下降对待检测器件6测试，当需要调节力度时，通过转动调节手轮3，由于调节手轮3螺纹端穿过工作台1底面延伸至方槽103内部并同轴连接有圆杆301，调节手轮3螺纹端与工作台1底面中部开设的螺纹孔螺纹连接，限位圆盘303上端穿过三角调节块304底面延伸至圆槽305内部并与其转动连接，通过转动调节手轮3上升，而限位圆盘303的设计，使得三角调节块304只进行上升动作，从而在最高点时配合锥形压块908的下压的力度，而弹簧a302的设计，在锥形压块908下压时，可以起到缓冲的作用，以保护调节手轮3本身的螺纹，故在固定块501底面穿过转盘5内部延伸至外部并通过杆设置滚轮a502，滚轮a502与三角调节块304外壁滚动连接，通过滚轮a502在三角调节块304外壁滚动，在到达三角调节块304最高点时，可以通过固定块带动待测试器件6到达最高点来增加锥形压块908的力度，即对压力的力度进行调节。