技术特征：
1.一种信号测试方法，其特征在于，包括：获取待测主控芯片的信号采样参数；调整所述待测主控芯片的信号采样参数，获取所述信号采样参数调整后的接收端信号；测试所述接收端信号对应的信号误码率；基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，评估所述待测主控芯片的接收端信号质量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，评估所述待测主控芯片的接收端信号质量，包括：基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，确定所述信号采样参数的目标变化范围；基于所述目标变化范围的值，评估所述待测主控芯片的接收端信号质量。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，确定所述信号采样参数的目标变化范围，包括：判断所述信号误码率是否超过所述误码率阈值；当所述信号误码率超过所述误码率阈值时，确定所述信号误码率对应的采样参数最小值以及采样参数最大值；将所述采样参数最小值以及采样参数最大值对应的区间确定为所述信号采样参数的目标变化范围。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调整所述待测主控芯片的信号采样参数，获取所述信号采样参数调整后的接收端信号，包括：获取所述信号采样参数的初始值以及调整顺序；基于所述调整顺序对所述信号采样参数的初始值进行依次调整，得到调整所述信号采样参数对应的接收端信号。5.根据权利要求4所述方法，其特征在于，所述调整顺序为：在所述信号采样参数的初始值的基础上依次增大，直至所述信号误码率超过所述误码率阈值停止增大；重新在所述信号采样参数的初始值的基础上依次减小，直至所述信号误码率超过所述误码率阈值停止减小。6.根据权利要求4所述方法，其特征在于，所述调整顺序为：在所述信号采样参数的初始值的基础上依次减小，直至所述信号误码率超过所述误码率阈值停止减小；重新在所述信号采样参数的初始值的基础上依次增大，直至所述信号误码率超过所述误码率阈值停止增大。7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述采样参数包括采样电平和采样时刻。8.一种信号测试装置，其特征在于，包括：获取模块，用于获取待测主控芯片的信号采样参数；调整模块，用于调整所述待测主控芯片的信号采样参数，获取所述信号采样参数调整后的接收端信号；
测试模块，用于测试所述接收端信号对应的信号误码率；评估模块，用于基于所述信号误码率与误码率阈值的关系，评估所述待测主控芯片的接收端信号质量。9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器和处理器，所述存储器和所述处理器之间互相通信连接，所述存储器中存储有计算机指令，所述处理器通过执行所述计算机指令，从而执行权利要求1-7任一项所述的信号测试方法。10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求1-7任一项所述的信号测试方法。
技术总结
本发明涉及芯片信号质量测试技术领域，公开了一种信号测试方法、装置、设备及可读存储介质。其中，该方法包括：获取待测主控芯片的信号采样参数；调整待测主控芯片的信号采样参数，获取信号采样参数调整后的接收端信号；测试接收端信号对应的信号误码率；基于信号误码率与误码率阈值的关系，评估待测主控芯片的接收端信号质量。通过实施本发明，能够直接获取待测主控芯片接收端信号，摆脱了依靠外部设备获取待测主控芯片内部信号的局限性，同时实现了待测主控芯片接收端信号质量的评估，满足了待测主控芯片的信号完整性测试。待测主控芯片的信号完整性测试。待测主控芯片的信号完整性测试。
技术研发人员：周新浩
受保护的技术使用者：苏州浪潮智能科技有限公司
技术研发日：2021.11.29
技术公布日：2022/4/12