技术特征：
1.一种无损检测的方法，其特征在于，所述方法包括：获取多个介电参数，其中，所述多个介电参数是通过对被检测材料进行检测获得的；根据所述多个介电参数，获得所述被检测材料的目标检测频率；使用所述目标检测频率对所述被检测材料进行无损检测，获得检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个介电参数，获得所述被检测材料的目标检测频率，包括：根据所述多个介电参数获得检测参数，其中，所述检测参数用于表征所述被检测材料的介电性能；在检测参数与目标检测频率映射表中查询所述检测参数，确认所述目标检测频率，其中，所述检测参数与目标检测频率映射表用于表征所述检测参数与所述目标检测频率之间的映射关系。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述检测参数包括损耗角正切值，所述多个介电参数包括所述被检测材料的储存电能量参数和损耗因子；所述根据所述多个介电参数获得检测参数，包括：将所述损耗因子与所述储存电能量参数相除，获得损耗角正切值，其中，所述储存电能量参数用于表征所述被检测材料储存电能量的能力，所述损耗因子用于表征所述被检测材料在电场中消耗能量的能力；所述在检测参数与目标检测频率映射表中查询所述检测参数，确认所述目标检测频率，包括：在所述检测参数与检测频率映射表中查询所述损耗角正切值，获得目标检测频率。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述在所述检测参数与检测频率映射表中查询所述损耗角正切值，获得目标检测频率，包括：若所述损耗角正切值小于或等于1，则将第一检测频率作为所述目标检测频率；或者，若所述损耗角正切值大于1，则将第二检测频率作为所述目标检测频率，其中，所述第一检测频率大于所述第二检测频率。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一检测频率为18ghz至26.5ghz。6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第二检测频率为8.2ghz至12.4ghz。7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述被检测材料是由单一材料构成的板材或管材；或者，所述被检测材料是由复合材料构成的板材或者管材。8.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述多个介电参数，获得所述被检测材料的目标检测频率，包括：根据所述多个介电参数，获得参考检测频率；在所述使用所述目标检测频率对所述被检测材料进行无损检测，获得检测结果之前，所述方法还包括：使用所述参考检测频率对所述被检测材料进行无损检测，获得参考检测结果，其中，所述参考检测结果通过图像进行表征；若所述图像不满足预设清晰度，则对所述参考检测频率进行微调；重复执行上述步骤，直至所述图像满足预设清晰度，获得所述目标检测频率。9.一种无损检测的装置，其特征在于，所述装置包括：
参数获取模块，被配置为获取多个介电参数，其中，所述多个介电参数是通过对被检测材料进行检测获得的；频率计算模块，被配置为根据所述多个介电参数，获得所述被检测材料的目标检测频率；无损检测模块，被配置为使用所述目标检测频率对所述被检测材料进行无损检测，获得检测结果。10.一种无损检测的系统，其特征在于，所述系统包括：参数采集单元，用于采集多个介电参数；无损检测单元，用于基于所述多个介电参数执行如权利要求1-8任一项所述的无损检测的方法。11.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器、存储器和总线；所述处理器通过所述总线与所述存储器相连，所述存储器存储有计算机可读取指令，当所述计算机可读取指令由所述处理器执行时，用于实现如权利要求1-8任一项所述方法。12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，该计算机程序被执行时实现如权利要求1-8任一项所述方法。
技术总结
本申请实施例提供一种无损检测的方法、系统、装置、设备及介质，该方法包括：获取多个介电参数，其中，所述多个介电参数是通过对被检测材料进行检测获得的；根据所述多个介电参数，获得所述被检测材料的目标检测频率；使用所述目标检测频率对所述被检测材料进行无损检测，获得检测结果。通过本申请实施例中的方法能够通过介电参数获得目标检测频率，进而使用目标检测频率对介电材料进行无损检测，提高检测质量。检测质量。检测质量。
技术研发人员：王世宏 朱丽丽 车飞 王一帆
受保护的技术使用者：北京西管安通检测技术有限责任公司
技术研发日：2021.12.28
技术公布日：2022/3/25