技术特征：
1.一种光扫描装置，其特征在于，具有：发光部，其发出光；光扫描部，其使所述光进行扫描；光接收部，其接收所述光扫描部的扫描光被物体反射或散射后的返回光；以及光扫描控制部，其控制所述光扫描部，所述光扫描部具有：旋转多面体，其包含多个反射面，一边绕第一轴旋转一边通过所述反射面反射所述光，由此使所述光绕所述第一轴扫描；支承部，其支承所述旋转多面体；以及旋转机构，其使所述支承部绕与所述第一轴交叉的第二轴旋转，由此使被所述反射面反射的所述光绕所述第二轴扫描。2.根据权利要求1所述的光扫描装置，其特征在于，所述光扫描控制部将所述旋转多面体的转速作为非控制对象。3.根据权利要求1或2所述的光扫描装置，其特征在于，具有：基座部；以及保持部，其保持所述发光部和所述光接收部，所述保持部和所述旋转机构设置在所述基座部上的不同区域。4.根据权利要求1或2所述的光扫描装置，其特征在于，所述光接收部接收被所述旋转多面体所包含的所述多个反射面中的预定的面反射的所述扫描光被所述物体反射或散射后再次被所述预定的面反射的所述返回光。5.根据权利要求1或2所述的光扫描装置，其特征在于，所述光扫描装置具有使所述返回光偏转的光偏转部，所述光偏转部包含使所述发光部发出的光通过的开口部。6.根据权利要求1或2所述的光扫描装置，其特征在于，所述发光部发出的光沿着所述第二轴入射到所述旋转多面体的所述反射面。7.根据权利要求1或2所述的光扫描装置，其特征在于，在与所述第一轴以及所述第二轴双方交叉的方向上，在与所述第二轴相分离的位置设置了所述第一轴。8.根据权利要求7所述的光扫描装置，其特征在于，所述旋转多面体是以所述第一轴为中心轴的正多棱柱，从所述第二轴到所述第一轴的从所述第二轴离开的位置为止的轴间距离d为所述正多棱柱中的正多边形的内切圆半径以下，且遵从以下式子所表示的条件，其中，θ表示成为所述旋转多面体的绕所述第一轴的扫描角度范围的中央值的角度方向与和所述第一轴及所述第二轴双方交叉的方向所成的角度，q表示所述正多边形的外接圆半径。9.根据权利要求8所述的光扫描装置，其特征在于，所述旋转多面体的位置沿着与所述第一轴以及所述第二轴双方交叉的方向，在所述轴
间距离d可取的范围内是可变的。10.根据权利要求1、2、8、9中的任意一项所述的光扫描装置，其特征在于，使所述旋转多面体旋转的旋转驱动部被设置在所述旋转机构。11.根据权利要求10所述的光扫描装置，其特征在于，所述光扫描装置具有供电部，该供电部通过基于电磁感应的非接触供电和基于旋转触点的供电中的任意一种向所述旋转机构进行供电。12.根据权利要求1、2、8、9、11中的任意一项所述的光扫描装置，其特征在于，所述光扫描装置具备：检测部，其检测所述旋转多面体的旋转角度；以及同步输出部，其根据所述旋转角度，输出与所述旋转多面体的旋转同步的同步信号，所述光扫描控制部基于所述同步信号来控制通过所述旋转机构进行的旋转。13.根据权利要求1、2、8、9、11中的任意一项所述的光扫描装置，其特征在于，所述光扫描控制部将所述旋转机构的转速控制为相对于所述旋转多面体的转速成为预定的比率。14.根据权利要求1、2、8、9、11中的任意一项所述的光扫描装置，其特征在于，所述旋转多面体的转速与所述旋转多面体所包含的所述反射面的反射面数量的乘积除以所述旋转机构的转速而得到的商为非整数。15.一种测距装置，其特征在于，具有：权利要求1至14中的任意一项所述的光扫描装置；以及输出部，其输出根据所述光扫描装置的所述扫描光被所述物体反射或散射后的所述返回光而取得的到所述物体的距离信息。
技术总结
本发明提供一种光扫描装置以及测距装置，其能够简化控制。本发明一个方式的光扫描装置具有：发光部(3)，其发出光(L1)；光扫描部(120)，其使所述光进行扫描；光接收部(8)，其接收所述光扫描部的扫描光(L2)被物体(200)反射或散射后的返回光(R)；以及光扫描控制部(150)，其控制所述光扫描部，所述光扫描部具有：旋转多面体(5)，其包含多个反射面(51)，一边绕第一轴(A1)旋转一边通过所述反射面反射所述光，由此使所述光绕所述第一轴扫描；支承部(9)，其支承所述旋转多面体；以及旋转机构(10)，其使所述支承部绕与所述第一轴交叉的第二轴(A2)旋转，由此使被所述反射面反射的所述光绕所述第二轴扫描。光绕所述第二轴扫描。光绕所述第二轴扫描。
技术研发人员：山田健介 西山隆彦 田中丰树 木村祐司
受保护的技术使用者：三美电机株式会社
技术研发日：2021.12.28
技术公布日：2022/6/30