一种多摄模组光轴测试方法、装置、设备和介质与流程

1.本发明涉及摄像设备技术领域，尤其涉及一种多摄模组光轴测试方法、装置、设备和介质。


背景技术：

2.随着摄像头技术的不断更新，从原来的单摄像头模组(简称单摄模组)已经发展到现在的多摄像头模组(简称多摄模组)。对于多摄像头模组来说，工艺设计要求相邻两个摄像头模组的光轴基本相互平行。然而，多摄模组在生产组装过程中，由于组装的工艺差异，会导致相邻两个摄像头之间的光轴处于非平行状态，即存在夹角，若夹角过大，可能会导致多摄模组的多摄融合失败。
3.相关技术中，主要通过专业的平台工具确定多摄模组中多颗摄像头之间的光轴的夹角，但是该方式需要满足平台工具较高的环境要求，例如，在使用某标定平台时，其对应的测试图需要由4个小的棋盘格拼接而成，如图1所示，4个小的棋盘格还需要满足如下要求(如下要求还需要根据被测试的多摄模组的型号的不同而不同，此处仅以其中一种型号对应的需求为例，以说明采用平台工具进行光轴测试所需要满足的要求较高)：
4.(1)图1中4个棋盘格中每个棋盘格内部的方格数量根据被测试的多摄模组的型号的不同而不同；
5.(2)图1中位于左上角的棋盘格与其他三个棋盘格的类型不相同，位于左下角、右上角和右下角的棋盘格需要按照一定的旋转方向排布；
6.(3)图1中四个棋盘格的形成的十字叉处对应的方格颜色需要满足预设要求。例如，图1中位于左上角的棋盘格对应的方格应当是黑色，其他三个棋盘格对应的方格应当是白色。
7.因此，通过专业的平台工具反而使得多摄模组的光轴测试难度增大。


技术实现要素：

8.本技术实施例通过提供一种多摄模组光轴测试方法、装置、设备和介质，解决了现有技术中只能在满足平台工具较高的环境要求的前提下，才能依赖于专业的平台工具实现多摄模组的光轴测试，导致多摄模组的光轴测试的难度较大的技术问题，实现了降低多摄模组的光轴测试难度的技术效果。
9.第一方面，本技术提供了一种多摄模组光轴测试方法，方法包括：
10.当测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上对应的第一感光图像；
11.当标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上对应的第二感光图像；
12.确定第一感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第一偏移量；
13.根据第一偏移量，确定测试模组是否通过光轴测试。
14.进一步地，当测试模组未通过光轴测试时，方法还包括：
15.确定测试模组中呈现第一感光图像的第一光路径，第一光路径与测试图的目标点对应；
16.确定标准模组中呈现第二感光图像的第二光路径，第二光路径与目标点对应；
17.根据第一光路径和第二光路径，对测试模组进行调整，并确定调整后的测试模组是否通过光轴测试。
18.进一步地，根据第一光路径和第二光路径，对测试模组进行调整，包括：
19.确定第一光路径和第二光路径之间的第一偏转角；
20.根据第一偏转角，确定测试模组中霍尔元器件的目标移动矢量；
21.控制霍尔元器件按照目标移动矢量移动，以调整测试模组。
22.进一步地，当调整后的测试模组通过光轴测试之后，方法还包括：
23.将目标移动矢量烧录至测试模组中，使得霍尔元器件按照目标移动矢量移动之后再控制测试模组执行拍摄操作。
24.进一步地，根据第一偏转角，确定测试模组中霍尔元器件的目标移动矢量，包括：
25.根据第一偏转角和测试模组的预设陀螺增益，确定目标移动矢量。
26.进一步地，确定第一光路径和第二光路径之间的第一偏转角，包括：
27.根据第一偏移量、像素尺寸、有效焦距和测试距离，确定第一偏转角，其中，测试距离是指相对位置关系中测试模组与测试图之间的拍摄距离。
28.进一步地，确定调整后的测试模组是否通过光轴测试，包括：
29.获取测试图在调整后的测试模组上对应的第三感光图像；
30.确定第三感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第二偏移量；
31.根据第二偏移量，确定调整后的测试模组是否通过光轴测试。
32.第二方面，本技术提供了一种多摄模组光轴测试装置，装置包括：
33.第一感光图像获取模块，用于当测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上对应的第一感光图像；
34.第二感光图像获取模块，用于当标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上对应的第二感光图像；
35.第一偏移量确定模块，用于确定第一感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第一偏移量；
36.光轴测试模块，用于根据第一偏移量，确定测试模组是否通过光轴测试。
37.第三方面，本技术提供了一种电子设备，包括：
38.处理器；
39.用于存储处理器可执行指令的存储器；
40.其中，处理器被配置为执行以实现一种多摄模组光轴测试方法。
41.第四方面，本技术提供了一种非临时性计算机可读存储介质，当存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行实现一种多摄模组光轴测试方法。
42.本技术实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
43.本技术在测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上的第一感光图像，在标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上的第二
感光图像，确定第一感光图像和第二感光图像的第一偏移量，进而根据第一偏移量确定测试模组是否通过光轴测试。因此，本技术可以在不依赖于专用平台工具的前提下，确定测试模组是否通过光轴测试，进而不用依赖平台工具商提供的算法，也不用满足平台工具的环境要求和设备要求，大大提高了光轴测试的灵活性，简化了光轴测试难度。
附图说明
44.为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
45.图1为某标定平台所要求的测试图的示意图；
46.图2为本技术提供的一种多摄模组光轴测试方法的流程示意图；
47.图3为十字图的示意图；
48.图4为两个摄像头的光轴平行的示意图；
49.图5为两个摄像头的光轴不平行的示意图；
50.图6为目标成像平面上第一点图像和第二点图像的位置关系示意图；
51.图7为测试模组中两摄像头的光轴的夹角示意图以及标准模组中两摄像头的光轴的夹角示意图；
52.图8为第一光路径和第二光路径的关系示意图；
53.图9为本技术提供的一种多摄模组光轴测试装置的结构示意图；
54.图10为本技术提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
55.本技术实施例通过提供一种多摄模组光轴测试方法，解决了现有技术中只能在满足平台工具较高的环境要求的前提下，才能依赖于专业的平台工具实现多摄模组的光轴测试，导致多摄模组的光轴测试的难度较大的技术问题。
56.本技术实施例的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
57.一种多摄模组光轴测试方法，方法包括：当测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上对应的第一感光图像；当标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上对应的第二感光图像；确定第一感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第一偏移量；根据第一偏移量，确定测试模组是否通过光轴测试。
58.本实施例在测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上的第一感光图像，在标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上的第二感光图像，确定第一感光图像和第二感光图像的第一偏移量，进而根据第一偏移量确定测试模组是否通过光轴测试。因此，本实施例可以在不依赖于专用平台工具的前提下，确定测试模组是否通过光轴测试，进而不用依赖平台工具商提供的算法，也不用满足平台工具的环境要求和设备要求，大大提高了光轴测试的灵活性，简化了光轴测试难度。
59.为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
60.首先说明，本文中出现的术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
61.相关技术中提供的多摄模组光轴测试方法主要依赖于专业的平台工具以及平台工具商提供的算法。此外，平台工具还需要测试模组必须满足较高的环境要求和设备要求，还会增加多余的烧录项数据。因此，使用平台工具测试多测模组中的光轴夹角的方式的灵活性较低，光轴测试难度较大。
62.本实施例为了解决上述问题，提供例如如图2所示的一种多摄模组光轴测试方法，方法包括：
63.步骤s21，当测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上对应的第一感光图像。
64.测试模组是指需要进行光轴夹角测试的多摄模组。测试图可以是如图3所示的十字图，也可以是圆点图，本实施例对此不作限制。目标位置关系可以根据实际情况进行设定，本实施例对此不作限制。
65.目标位置关系是指测试模块与测试图之间的相对位置关系。目标位置关系可以根据实际情况进行设定，本实施例对此不作限制。
66.在测试模组与测试图处于目标位置关系时，使用测试模组对测试图进行拍摄或者预览，可以在测试模组的成像传感器上得到第一感光图像。
67.步骤s22，当标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上对应的第二感光图像。
68.标准模组是指已经通过光轴夹角测试、且与测试模组属于相同型号的多摄模组。在理想状态下，标准模组是指其内部的多颗摄像头的光轴是相互平行的模组。例如，如图4所示，当标准模组是双摄模组时，两颗摄像头的光轴是相互平行的。
69.不过，多颗摄像头的光轴相互平行的条件较难达到，所以在实际操作时，标准模组可以采用其内部的多颗摄像头的光轴之间的夹角m(参考图8中两光轴交叉对应的∠m)小于或等于预设夹角的模组，其中，预设夹角可以根据实际情况设定。例如，如图5所示，当标准模组是双摄模组时，两颗摄像头的光轴可以不平行，但需要两个光轴之间的夹角小于或等于预设夹角。
70.在标准模组与测试图处于目标位置关系时，使用标准模组对测试图进行拍摄或预览，可以在标准模组的成像传感器上得到第二感光图像。
71.步骤s23，确定第一感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第一偏移量。例如，如图6中a1点与a2点之间的位置偏移关系，其中a1点为测试图中的目标点在第一感光图像中对应的第一点图像，a2点为测试图中的目标点在第二感光图像中对应的第二点图像。
72.第一感光图像和第二感光图像分别处于测试模组和标准模组的成像传感器上，意味着第一感光图像和第二感光图像不处于同一成像传感器上。为了能够比对第一感光图像和第二感光图像，需要将第一感光图像和第二感光图像置于同一参考平面中。
73.本实施例设定目标成像平面为第一感光图像和第二感光图像的参考平面，目标成像平面可以是第一感光图像对应的成像传感器所在的平面，也可以是第二感光图像对应的成像传感器所在的平面，当然，也可以是其他参考平面，本实施例对此不作限制。
74.需要注意的是，本实施例可以应用于摄像头数量超过1个的多摄模组的光轴测试，为了便于叙述，后续将以两个摄像头的多摄模组为例对方案进行示例性说明。
75.当测试模组中的两个摄像头的光轴之间的夹角(例如，如图7中左图所示，测试模组中的两个摄像头的光轴形成夹角∠n1)与标准模组中的两个摄像头的光轴之间的夹角(例如，如图7中右图所示，标准模组中两个摄像头的光轴形成夹角∠n2)相同，那么通过测试模组和标准模组获得的第一感光图像和第二感光图像置于目标成像平面上时应当重合，重合即不存在第一偏移量。
76.当测试模组中的两个摄像头的光轴之间的夹角与标准模组中的两个摄像头的光轴之间的夹角不相同，那么处于目标成像平面上的第一感光图像和第二感光图像不重合，不重合即存在第一偏移量。
77.在计算第一偏移量时，可以依据测试图中的某一目标点为参考点，确定目标点在第一感光图像中的第一点图像，以及目标点在第二感光图像中的第二点图像，通过测量第一点图像和第二点图像的偏移，确定第一偏移量。
78.其中，目标点可以是测试图中的任意一点，但为了简化计算，可以将测试图中具有某一特征的特殊点作为目标点。例如，可以是十字图中的十字中心，也可以是圆点图中的圆心，本实施例对此不作限制。
79.例如，以十字图为测试图，以十字图的十字中心为目标点，将十字中心在第一感光图像中的第一点图像记为a1，对应的坐标为(x1，y1)，将十字中心在第二感光图像中的第二点图像记为a2，对应的坐标为(x2，y2)，将第一感光图像和第二感光图像置于同一目标成像平面时，可以得到如图6所示的第一点图像和第二点图像的偏移关系。
80.第一偏移量可以是第一感光图像和第二感光图像的位置偏移量，也可以是与位置偏移量相关的参数量，例如可以是与位置偏移量相关的容差，本实施例对此不作限制。
81.其中，容差的公式可以参考公式(1)。
[0082][0083]
其中，c为容差，x1为第一点图像的横坐标，x2为第二点图像的横坐标，y1为第一点图像的纵坐标，y2为第二点图像的纵坐标。
[0084]
步骤s24，根据第一偏移量，确定测试模组是否通过光轴测试。
[0085]
将第一偏移量与预设偏移量进行比对，若第一偏移量小于等于预设偏移量，则认为测试模组中多摄像头的光轴之间的夹角小于等于预设夹角，测试模组通过光轴测试。若第一偏移量大于预设偏移量，则认为测试模组中多摄像头的光轴之间的夹角大于预设夹角，测试模组未通过光轴测试。
[0086]
综上所述，本实施例在测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上的第一感光图像，在标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上的第二感光图像，确定第一感光图像和第二感光图像的第一偏移量，进而根据第一偏移量确定测试模组是否通过光轴测试。因此，本实施例可以在不依赖于专用平台工具的前提下，确定测试模组是否通过光轴测试，进而不用依赖平台工具商提供的算法，也不用满足平台工具的环境要求和设备要求，大大提高了光轴测试的灵活性，简化了光轴测试难度。
[0087]
当第一偏移量大于预设偏移量，则认为测试模组中多摄像头的光轴之间的夹角大
于预设夹角，测试模组未通过光轴测试，此时需要对测试模组进行调整和标定。本实施例针对未通过光轴测试的测试模组，提供了如下技术方案，以对未通过光轴测试的测试模组进行调整和标定，具体包括步骤s31-步骤s33。
[0088]
步骤s31，当测试模组未通过光轴测试时，确定测试模组中呈现第一感光图像的第一光路径，第一光路径与测试图的目标点对应。
[0089]
步骤s32，确定标准模组中呈现第二感光图像的第二光路径，第二光路径与目标点对应。
[0090]
步骤s33，根据第一光路径和第二光路径，对测试模组进行调整，并确定调整后的测试模组是否通过光轴测试。
[0091]
从测试图中选择目标点，目标点可以是测试图中的任意一点，但为了简化计算，可以将测试图中具有某一特征的特殊点作为目标点。例如，可以是十字图中的十字中心，也可以是圆点图中的圆心，本实施例对此不作限制。
[0092]
确定目标点在第一感光图像中的第一点图像，以及目标点在第二感光图像中的第二点图像。其中，根据第一点图像与测试模组的光心，就能确定形成第一点图像的第一光路径。根据第二点图像与标准模组的光心，就能确定形成第二点图像的第二光路径。
[0093]
将第一点图像和第二点图像置于同一目标成像平面上，再根据第一点图像和第一光路径之间的关系，以及第二点图像和第二光路径之间的关系，确定第一光路径和第二光路径之间的夹角，进而可以对测试模组进行调整。针对调整后的测试模组，可以采用步骤s21-步骤s24的原理验证其是否通过光轴测试。
[0094]
例如，以图6所示的呈现在目标成像平面p的第一点图像a1和第二点图像a2为例，对应有如图8所示第一光路径l1和第二光路径l2的交叉关系，交点为m。其中，图6是目标成像平面的正视图，图8是目标成像平面的俯视图。
[0095]
具体地，根据第一光路径和第二光路径，对测试模组进行调整，包括步骤s41-步骤s43。
[0096]
步骤s41，确定第一光路径和第二光路径之间的第一偏转角。
[0097]
根据第一偏移量、像素尺寸、有效焦距和测试距离，可以确定第一偏转角(例如图8中的∠m)，其中，测试距离是指相对位置关系中测试模组与测试图之间的拍摄距离。
[0098]
具体地，可以通过公式(2)-公式(6)计算第一偏转角。
[0099]ax
＝(x
1-x2)*pixel size
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)
[0100]ay
＝(y
1-y2)*pixel size
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(3)
[0101][0102][0103][0104]
其中，a
x
为目标成像平面上x方向的偏移分量，pixel size为模组的像素尺寸，ay为目标成像平面上y方向的偏移分量，b为目标成像平面与第一光路径和第二光路径的交点之间的距离，f为模组的有效焦距，v为目标位置关系中模组与测试图之间的距离，α
x
为光轴沿
目标成像平面上x方向的偏转角度，αy为光轴沿目标成像平面上y方向的偏转角度
[0105]
由于测试模组和标准模组属于同型号的模组，因此两者的像素尺寸是相同的，两者的有效焦距也是相同的。
[0106]
步骤s42，根据第一偏转角，确定测试模组中霍尔元器件的目标移动矢量。
[0107]
根据第一偏转角和测试模组的预设陀螺增益，确定目标移动矢量。
[0108]
具体地，可以通过公式(7)-公式(8)计算目标移动矢量。
[0109]
x_hallcode＝α
x
*gyrogain*k
ꢀꢀꢀꢀꢀ
(7)
[0110]
y_hallcode＝αy*gyrogain*k
ꢀꢀꢀꢀꢀ
(8)
[0111]
其中，x_hallcode为霍尔元器件在x方向的移动量，gyrogain为预设陀螺增益，k为固定系数，y_hallcode为霍尔元器件在y方向的移动量。
[0112]
步骤s43，控制霍尔元器件按照目标移动矢量移动，以调整测试模组。
[0113]
将测试模组中的霍尔元器件按照目标移动矢量移动后，实现测试模组的调整，再针对调整后的测试模组，按照步骤s21-步骤s24的原理，确定调整后的测试模组是否通过光轴测试。
[0114]
例如，针对调整后的测试模组可以采用如下方案进行验证(包括步骤s51-步骤s53)
[0115]
步骤s51，获取测试图在调整后的测试模组上对应的第三感光图像。
[0116]
步骤s52，确定第三感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第二偏移量。
[0117]
步骤s53，根据第二偏移量，确定调整后的测试模组是否通过测试光轴测试。
[0118]
在执行步骤s53之后，确定调整后的测试模组通过光轴测试，则将目标移动矢量烧录至测试模组中，使得霍尔元器件按照目标移动矢量移动之后再控制测试模组执行拍摄操作。
[0119]
综上所述，本实施例可以在不依赖于专用平台工具的前提下，确定测试模组是否通过光轴测试，在测试模组没有通过光轴测试的前提下，可以通过测试模组中形成第一感光图像的第一光路径和标准模组中形成第二感光图像的第二光路径之间的夹角，确定测试模组中的霍尔元器件的目标移动矢量，以对测试模组进行调整，当调整后的测试模组通过光轴测试时，则将对应的目标移动矢量烧录至测试模组中，达到标定测试模组的目的。可见，本实施例可以不用依赖平台工具商提供的算法，也不用满足平台工具的环境要求和设备要求，也不用增加多余的烧录项数据，就可以对测试模组进行标定，大大提高了光轴测试的灵活性，简化了光轴标定难度。
[0120]
基于同一发明构思，本实施例提供了如图9所示的一种多摄模组光轴测试装置，装置包括：
[0121]
第一感光图像获取模块91，用于当测试模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在测试模组上对应的第一感光图像；
[0122]
第二感光图像获取模块92，用于当标准模组与测试图处于目标位置关系时，获取测试图在标准模组上对应的第二感光图像；
[0123]
第一偏移量确定模块93，用于确定第一感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第一偏移量；
[0124]
光轴测试模块94，用于根据第一偏移量，确定测试模组是否通过光轴测试。
[0125]
进一步地，装置还包括：
[0126]
第一光路径确定模块，用于当测试模组未通过测试时，确定测试模组中呈现第一感光图像的第一光路径，第一光路径与测试图的目标点对应；
[0127]
第二光路径确定模块，用于确定标准模组中呈现第二感光图像的第二光路径，第二光路径与目标点对应；
[0128]
调整模块，用于根据第一光路径和第二光路径，对测试模组进行调整，并确定调整后的测试模组是否通过光轴测试。
[0129]
进一步地，调整模块包括：
[0130]
第一偏转角确定子模块，用于确定第一光路径和第二光路径之间的第一偏转角；
[0131]
目标移动矢量确定子模块，用于根据第一偏转角，确定测试模组中霍尔元器件的目标移动矢量；
[0132]
调整子模块，用于控制霍尔元器件按照目标移动矢量移动，以调整测试模组。
[0133]
进一步地，装置还包括：
[0134]
烧录模块，用于当调整后的测试模组通过光轴测试之后，将目标移动矢量烧录至测试模组中，使得霍尔元器件按照目标移动矢量移动之后再控制测试模组执行拍摄操作。
[0135]
进一步地，目标移动矢量确定子模块用于根据第一偏转角和测试模组的预设陀螺增益，确定目标移动矢量。
[0136]
第一偏转角确定子模块用于根据第一偏移量、像素尺寸、有效焦距和测试距离，确定第一偏转角，其中，测试距离是指相对位置关系中测试模组与测试图之间的拍摄距离。
[0137]
光轴测试模块94还包括：
[0138]
第三感光图像获取子模块，用于获取测试图在调整后的测试模组上对应的第三感光图像；
[0139]
第二偏移量获取子模块，用于确定第三感光图像和第二感光图像在目标成像平面上的第二偏移量；
[0140]
光轴测试子模块，用于根据第二偏移量，确定调整后的测试模组是否通过光轴测试。
[0141]
基于同一发明构思，本实施例提供了如图10所示的一种电子设备，包括：
[0142]
处理器101；
[0143]
用于存储处理器101可执行指令的存储器102；
[0144]
其中，处理器101被配置为执行以实现一种多摄模组光轴测试方法。
[0145]
基于同一发明构思，本实施例提供了一种非临时性计算机可读存储介质，当存储介质中的指令由电子设备的处理器101执行时，使得电子设备能够执行实现一种多摄模组光轴测试方法。
[0146]
由于本实施例所介绍的电子设备为实施本技术实施例中信息处理的方法所采用的电子设备，故而基于本技术实施例中所介绍的信息处理的方法，本领域所属技术人员能够了解本实施例的电子设备的具体实施方式以及其各种变化形式，所以在此对于该电子设备如何实现本技术实施例中的方法不再详细介绍。只要本领域所属技术人员实施本技术实施例中信息处理的方法所采用的电子设备，都属于本技术所欲保护的范围。
[0147]
本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序
产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、cd-rom、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
[0148]
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
[0149]
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
[0150]
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
[0151]
尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
[0152]
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。