一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法与流程

1.本发明涉及镀膜检测技术领域，具体为一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法。


背景技术：

2.光学镀膜是指在光学零件表面上镀上一层(或多层)金属(或介质)薄膜的工艺过程，在光学零件表面镀膜的目的是为了达到减少或增加光的反射、分束、分色、滤光、偏振等要求。常用的镀膜法有真空镀膜(物理镀膜的一种)和化学镀膜。
3.在镀膜过程中，由于镀膜的种类不同，需要镀膜的物件不同，导致在镀膜过程中的厚度均匀不相同，从而导致镀膜的整体质量以及美观度，同时，现有的检测设备无法对镀膜的厚度均匀性进行检测，导致系统判定出现错误，无法依据镀膜时的相关影响因素进行数据分析，进而对镀膜进行数值转换的分析判断。
4.为此，我们提出一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法。


技术实现要素：

5.本发明的目的在于提供一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法，通过对镀膜的相关数据进行整合处理，处理得到相关的关联数据，依据相关的关联数据进行变量数值的分析处理，从而计算出各项数值的影响数值，并依据影响数值进行关联度计算，依据计算的数据进行比对判断，从而判定镀膜的均匀性，增加数据分析的精确性，提高工作效率；通过计算的相关数据依据采集的各类图像数值，对采集的影响进行识别处理，并依据识别处理的结果进行虚拟成像，并通过虚拟成像的数值进行虚实转化，从而判定出所需数据的实际值，节省数据分析所消耗的时间，增加识别的准确性。
6.本发明的目的可以通过以下技术方案实现：一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统，包括镀取单元、膜识单元、云储单元、处理器、镀分理单元、镀判处单元和镀警单元；
7.所述镀取单元用于实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据，并将实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据标定为实镀信息，并将实镀信息传输至膜识单元；
8.所述云储单元内存储有学镀膜机镀膜相关度的记膜信息，所述膜识单元用于从云储单元内获取记膜信息，并将记膜信息与实镀信息进行镀膜识别操作，将得到的膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据传输至处理器；
9.所述处理器用于对膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜耗数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据进行镀膜分理操作，将处理得到的膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同传输至镀判处单元；
10.所述镀判处单元用于对膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同进行镀膜判处操作，得到均匀信号和不均匀信号，并将均匀信号和不均匀信号传输至镀警单元；
11.所述镀警单元用于接收并显示均匀信号和不均匀信号，并发出对应的提示信号。
12.进一步的，镀膜识别操作的具体操作过程为：
13.获取实影数据、膜图数据以及膜图数据对应的膜机名数据，将实影数据和膜图数据进行匹配，得到选取信号和采集信号；
14.提取选取信号和采集信号，并对选取信号和采集信号进行识别，当识别到采集信号时，则将其发送至镀取单元，镀取单元依据采集信号进行数据的再次采集，当识别到选取信号时，则依据膜图数据提取对应的膜机名数据，并依据膜机名数据提取对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据。
15.进一步的，镀膜分理操作的具体操作过程为：
16.依据据膜机名数据，选取出对应的膜材数据，依据膜材数据选取出若干个对应的膜耗数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据；
17.提取若干个相同膜材数据对应的若干个膜厚数据，将若干个膜厚数据进行均值计算，计算出膜厚均值，将膜厚均值与若干个膜厚数据进行差值计算，从而计算出若干个膜厚差值，将若干个膜厚差值进行均值计算，计算出膜厚均差值；
18.将若干个相同膜材数据对应的若干个膜温数据、记温数据、记风数据和膜出数据按照膜厚均值的计算方式计算出对应的均值，并将其依次标记为膜温均值、记温均值、记风均值和膜出均值，将若干个相同膜材数据对应的若干个膜耗数据进行均值计算，计算出膜耗均值；
19.对若干个若干个膜耗均值与膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值进行变量处理，得到膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值和膜出初始值；
20.将膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子、膜温均值、记温均值、记风均值、膜厚均差值、和膜出均值带入到耗时评分计算式，计算出耗时评分值pr。
21.进一步的，变量处理的具体处理过程为：
22.将若干个膜耗均值标定为因变量，将膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次标定为自变量，只选取出其中一个自变量变化，保持其他的数值保持不变，选取出自变量的若干个对应数据，将若干个自变量进行两者之间的差值计算，从而计算出自变量差值，将若干个自变量对应的因变量进行两者之间的差值计算，计算出因变量差值，将其带入到计算式：因变量差值＝自变量差值*自变量影响因子，计算出自变量影响因子，将膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次标定为自变量，进行自变量影响因子的计算，从而计算出膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次对应的影响因子，并将膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次对应的影响因子依次标定为膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子和膜出因子；
23.将若干个自变量差值和因变量差值标定在虚拟直角坐标中，其中，自变量差值为x
轴数值，因变量差值为y轴数值，当自变量差值发生变化，但因变量差值没有发生变化的情况下，将对应的自变量差值标定为初始自变量，将初始自变量依据膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次标定为膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值和膜出初始值。
24.进一步的，耗时评分计算式的具体计算过程为：
[0025][0026]
其中，pr表示为耗时评分值，mwr表示为膜温均值，mcr表示为膜温初始值，u1表示为膜温因子，mhr表示为膜厚均差值，hcr表示为膜厚初始值，u4表示为膜厚因子，cmr表示为膜出均值，ccr表示为膜出初始值，u5表示为膜出因子，e1表示为膜温均值、膜厚均差值和膜出均值的积分偏差调节因子，jfr表示为记风均值，fcr表示为记风初始值，u3表示为记风因子，jwr表示为记温均值，jcr表示为记温初始值，u2表示为记风因子，e2表示为记风均值和记温初始值的积分偏差调节因子，且e1和e2为预设值。
[0027]
进一步的，镀膜判处操作的具体操作过程为：
[0028]
获取膜图数据、件图数据、件高数据和实影数据，将膜图数据、件图数据、件高数据和实影数据进行虚实处理，得到膜实值；
[0029]
将镀膜的两个时间点分别标定为第一时间和第二时间，选取出第一时间和第二时间内对应的膜实值、实温数据、环温数据、实风数据和实出数据，并将其分别进行均值计算，计算出膜实均值、实温均值、环温均值、实风均值和实出均值；
[0030]
依据耗时评分计算式将膜实均值、实温均值、环温均值、实风均值和实出均值与膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子和膜出因子进行耗时评分计算，计算出实际评分值；
[0031]
实际评分值与耗时评分值进行差值计算，计算出实耗值，设定一个实耗值的预设值，将实耗值的预设值标定为实预值，将实预值与实耗值进行比对，当实耗值小于实预值，则判定镀膜均匀性高，生成均匀信号，当实耗值大于等于实预值，则判定镀膜均匀性低，生成不均匀信号。
[0032]
进一步的，将膜图数据、件图数据、件高数据和实影数据进行虚实处理的具体过程为：
[0033]
将实影数据与件图数据进行识别，将识别到的实影数据在虚拟空间直角坐标系中进行坐标标记，从而标记出件图数据的影像，且件图数据的影像为水平放置，将件图数据的坐标点中z轴的最大值和最小值进行差值计算，计算出虚拟高度值，将虚拟高度值与件高数据进行比值计算，计算出虚实比值；
[0034]
识别出实影数据中的膜图数据，将膜图数据的z轴最大值和z轴最小值进行差值计算，计算出膜虚值，将膜虚值与虚实比值进行乘积计算，计算出膜实值，即膜的实际水平高度。
[0035]
一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统的方法，其特征在于，该方法具体包括下述步骤：
[0036]
步骤一：通过镀取单元实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据，并将实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据标定为实镀信息，并将实镀信息传输至膜识单元；
[0037]
步骤二：通过云储单元存储有学镀膜机镀膜相关度的记膜信息，所述膜识单元用于从云储单元内获取记膜信息，并将记膜信息与实镀信息进行镀膜识别操作，将得到的膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据传输至处理器；
[0038]
步骤三：通过处理器对膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜耗数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据进行镀膜分理操作，将处理得到的膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同传输至镀判处单元；
[0039]
步骤四：通过镀判处单元对膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同进行镀膜判处操作，得到均匀信号和不均匀信号，并将均匀信号和不均匀信号传输至镀警单元；
[0040]
步骤五：通过镀警单元接收并显示均匀信号和不均匀信号，并发出对应的提示信号。
[0041]
本发明的有益效果：
[0042]
(1)通过对镀膜的相关数据进行整合处理，处理得到相关的关联数据，依据相关的关联数据进行变量数值的分析处理，从而计算出各项数值的影响数值，并依据影响数值进行关联度计算，依据计算的数据进行比对判断，从而判定镀膜的均匀性，增加数据分析的精确性，提高工作效率；
[0043]
(2)通过计算的相关数据依据采集的各类图像数值，对采集的影响进行识别处理，并依据识别处理的结果进行虚拟成像，并通过虚拟成像的数值进行虚实转化，从而判定出所需数据的实际值，节省数据分析所消耗的时间，增加识别的准确性。
附图说明
[0044]
下面结合附图对本发明作进一步的说明。
[0045]
图1是本发明的系统框图。
具体实施方式
[0046]
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
[0047]
请参阅图1所示，本发明为一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统及方法，包括镀取单元、膜识单元、云储单元、处理器、镀分理单元、镀判处单元和镀警单元；
[0048]
所述镀取单元用于实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据，并将实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据标定为实镀信息，实镀信息包括实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据，实影数据指代实时检测光学镀膜机镀膜的影像数据，实温数据指
代实时检测光学镀膜机所镀膜的温度大小，环温数据指代实时检测光学镀膜机在镀膜时周围的环境温度大小，实风数据指代实时检测光学镀膜机在镀膜时环境中的风力大小，实出数据指代实时检测光学镀膜机镀膜时的出膜速度，时间数据指代实时检测光学镀膜机镀膜时每个时间点，将实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据传输至膜识单元；
[0049]
所述云储单元内存储有学镀膜机镀膜相关度的记膜信息，记膜信息包括膜机名数据、膜图数据、件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据，膜机名数据指代记录中的光学镀膜机的名称型号，膜图数据指代记录中光学镀膜机的样貌图像，膜材数据指代记录中光学镀膜机所使用的膜的材料，膜温数据指代记录中光学镀膜机所镀膜的温度大小，记温数据指代记录中光学镀膜机在镀膜时周围的环境温度大小，记风数据指代记录中光学镀膜机在镀膜时环境中的风力大小，件高数据指代记录中光学镀膜机多度工件的水平高度，件图数据指代记录中光学镀膜机所需要镀膜工件的外貌影像，膜厚数据指代记录中光学镀膜机镀膜时的厚度大小，膜出数据指代记录中光学镀膜机镀膜时的出膜速度，记时数据指代记录中光学镀膜机在镀膜时对应的时间点，膜耗数据指代记录中光学镀膜机在镀膜时的消耗时间长短；
[0050]
所述膜识单元从云储单元内获取膜机名数据、膜图数据、件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、膜耗数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据，并将膜机名数据、膜图数据、件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据进行镀膜识别操作，镀膜识别操作的具体操作过程为：
[0051]
获取实影数据、膜图数据以及膜图数据对应的膜机名数据，将实影数据和膜图数据进行匹配，具体为：当实影数据和膜图数据的匹配结果一致时，则判定实影数据中存在膜图数据中的其中一个镀膜机相匹配的影像，生成选取信号，当实影数据和膜图数据的匹配结果不一致时，则判定实影数据中不存在膜图数据中的其中一个镀膜机相匹配的影像，生成采集信号；
[0052]
提取选取信号和采集信号，并对选取信号和采集信号进行识别，当识别到采集信号时，则将其发送至镀取单元，镀取单元依据采集信号进行数据的再次采集，当识别到选取信号时，则依据膜图数据提取对应的膜机名数据，并依据膜机名数据提取对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据；
[0053]
依据实影数据将对应的实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据传输至镀判处单元；
[0054]
将依据膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据经处理器传输至镀分理单元；
[0055]
所述镀分理单元用于对据膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜耗数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据进行镀膜分理操作，镀膜分理操作的具体操作过程为：
[0056]
依据据膜机名数据，选取出对应的膜材数据，依据膜材数据选取出若干个对应的膜耗数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据；
[0057]
将若干个相同膜材数据对应的若干个膜厚数据，将若干个膜厚数据进行求和计
算，将求和计算后的数据除以若干个膜厚数据的个数，计算出膜厚均值，将膜厚均值与若干个膜厚数据进行差值计算，从而计算出若干个膜厚差值，将若干个膜厚差值进行求和计算，将求和计算后的数值除以若干个膜厚差值的个数，计算出膜厚均差值；
[0058]
将若干个相同膜材数据对应的若干个膜温数据、记温数据、记风数据和膜出数据按照膜厚均值的计算方式计算出对应的均值，并将其依次标记为膜温均值、记温均值、记风均值和膜出均值，将若干个相同膜材数据对应的若干个膜耗数据进行均值计算，计算出膜耗均值；
[0059]
将若干个膜耗均值标定为因变量，将膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次标定为自变量，只选取出其中一个自变量变化，保持其他的数值保持不变，选取出自变量的若干个对应数据，将若干个自变量进行两者之间的差值计算，从而计算出自变量差值，将若干个自变量对应的因变量进行两者之间的差值计算，计算出因变量差值，将其带入到计算式：因变量差值＝自变量差值*自变量影响因子，计算出自变量影响因子，将膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次标定为自变量，进行自变量影响因子的计算，从而计算出膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次对应的影响因子，并将膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次对应的影响因子依次标定为膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子和膜出因子；
[0060]
将若干个自变量差值和因变量差值标定在虚拟直角坐标中，其中，自变量差值为x轴数值，因变量差值为y轴数值，当自变量差值发生变化，但因变量差值没有发生变化的情况下，将对应的自变量差值标定为初始自变量，将初始自变量依据膜温均值、记温均值、膜厚均差值、记风均值和膜出均值依次标定为膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值和膜出初始值；
[0061]
将膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子、膜温均值、记温均值、记风均值、膜厚均差值、和膜出均值带入到耗时评分计算式：
[0062][0063]
其中，pr表示为耗时评分值，mwr表示为膜温均值，mcr表示为膜温初始值，u1表示为膜温因子，mhr表示为膜厚均差值，hcr表示为膜厚初始值，u4表示为膜厚因子，cmr表示为膜出均值，ccr表示为膜出初始值，u5表示为膜出因子，e1表示为膜温均值、膜厚均差值和膜出均值的积分偏差调节因子，jfr表示为记风均值，fcr表示为记风初始值，u3表示为记风因子，jwr表示为记温均值，jcr表示为记温初始值，u2表示为记风因子，e2表示为记风均值和记温初始值的积分偏差调节因子，且e1和e2为预设值；
[0064]
将膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同传输至镀判处单元；
[0065]
所述镀判处单元用于对膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同进行镀膜判处操作，镀膜判处操作的具体操作过程为：
[0066]
获取膜图数据、件图数据、件高数据和实影数据，将实影数据与件图数据进行识别，将识别到的实影数据在虚拟空间直角坐标系中进行坐标标记，从而标记出件图数据的影像，且件图数据的影像为水平放置，将件图数据的坐标点中z轴的最大值和最小值进行差值计算，计算出虚拟高度值，将虚拟高度值与件高数据进行比值计算，计算出虚实比值；
[0067]
识别出实影数据中的膜图数据，将膜图数据的z轴最大值和z轴最小值进行差值计算，计算出膜虚值，将膜虚值与虚实比值进行乘积计算，计算出膜实值，即膜的实际水平高度；
[0068]
将镀膜的两个时间点分别标定为第一时间和第二时间，选取出第一时间和第二时间内对应的膜实值、实温数据、环温数据、实风数据和实出数据，并将其分别进行均值计算，计算出膜实均值、实温均值、环温均值、实风均值和实出均值；
[0069]
耗时评分计算式将膜实均值、实温均值、环温均值、实风均值和实出均值与膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子和膜出因子进行耗时评分计算，计算出实际评分值；
[0070]
实际评分值与耗时评分值进行差值计算，计算出实耗值，设定一个实耗值的预设值，将实耗值的预设值标定为实预值，将实预值与实耗值进行比对，当实耗值小于实预值，则判定镀膜均匀性高，生成均匀信号，当实耗值大于等于实预值，则判定镀膜均匀性低，生成不均匀信号；
[0071]
将均匀信号和不均匀信号传输至镀警单元；
[0072]
所述镀警单元用于接收并显示均匀信号和不均匀信号，并发出对应的提示信号，且镀警单元具体为平板电脑。
[0073]
一种应用于一种智能检测光学镀膜机镀膜膜厚均匀性的系统的方法，该方法包括下述步骤：
[0074]
步骤一：通过镀取单元实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据，并将实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据标定为实镀信息，实镀信息包括实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据，将实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据传输至膜识单元；
[0075]
步骤二：通过云储单元存储有学镀膜机镀膜相关度的记膜信息，记膜信息包括膜机名数据、膜图数据、件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据；
[0076]
步骤三：通过膜识单元从云储单元内获取膜机名数据、膜图数据、件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、膜耗数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据，并将膜机名数据、膜图数据、件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据进行镀膜识别操作，将得到的膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据经处理器传输至镀分理单元；
[0077]
步骤四：通过镀分理单元对膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜耗数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据进行镀膜分理操作，将得到的膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初
始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同传输至镀判处单元；
[0078]
步骤五：通过镀判处单元对膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同进行镀膜判处操作，得到均匀信号和不均匀信号，并将均匀信号和不均匀信号传输至镀警单元；
[0079]
步骤六：通过镀警单元接收并显示均匀信号和不均匀信号，并发出对应的提示信号。
[0080]
本发明在工作时，通过镀取单元实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据，并将实时采集光学镀膜机镀膜相关的数据标定为实镀信息，实镀信息包括实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据，将实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据传输至膜识单元，通过云储单元存储有学镀膜机镀膜相关度的记膜信息，记膜信息包括膜机名数据、膜图数据、件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据，通过膜识单元从云储单元内获取膜机名数据、膜图数据、件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、膜耗数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据，并将膜机名数据、膜图数据、件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据进行镀膜识别操作，将得到的膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜厚数据、膜耗数据、膜出数据和记时数据经处理器传输至镀分理单元，通过镀分理单元对膜机名数据对应的括件高数据、件图数据、膜材数据、膜温数据、记温数据、记风数据、膜耗数据、膜厚数据、膜出数据和记时数据进行镀膜分理操作，将得到的膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同传输至镀判处单元，通过镀判处单元对膜图数据、件图数据、件高数据、膜温初始值、记温初始值、记风初始值、膜厚初始值、膜出初始值、膜温因子、记温因子、记风因子、膜厚因子、膜出因子和耗时评分值与实影数据、实温数据、环温数据、实风数据、实出数据和时间数据一同进行镀膜判处操作，得到均匀信号和不均匀信号，并将均匀信号和不均匀信号传输至镀警单元，通过镀警单元接收并显示均匀信号和不均匀信号，并发出对应的提示信号。
[0081]
以上内容仅仅是对本发明结构所作的举例和说明，所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离发明的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本发明的保护范围。