一种测试工具的测试校正方法、装置及电子设备与流程

1.本发明涉及测试技术领域，具体涉及一种测试工具的测试校正方法、装置及电子设备。


背景技术：

2.对小电流动态响应的主板的测试过程中，当主板内部芯片固件参数和硬件参数(电感，电容等)改动时需要再利用测试工具对主板的动态响应进行复测。如以测试工具为vrtt(voltage regulator test tool，电源控制器测试工具)为例，同一个或不同的vrtt即使每次按照相同大小的电流跨度(isetp)去拉载电流，实际上每次拉载的电流大小也都会有差异，微小的拉载电流差异会导致每次主板的动态响应的测量结果有或大或小的偏差；且差分探棒也会由于温漂等原因很多时候始终会和基准值有几毫伏的误差；尤其对主板的测试结果的余量(margin)很小的情况，每次复测前对测试工具的拉载电流和量测电压的偏差值的调测结果对测试结果通过(pass)或未通过(fail)影响很大，因此亟待提出一种测试工具的测试校正方法以提高对vrtt的加载电流和量测电压的调测结果的准确性。


技术实现要素：

3.因此，本发明提供一种测试工具的测试校正方法、装置及电子设备以提高对vrtt的加载电流和量测电压的调测结果的准确性。
4.根据第一方面，本发明实施例公开了一种测试工具的测试校正方法，应用于检测设备，所述检测设备分别与上位机、测试工具加载设备、示波器以及待测主板连接，所述示波器用于采集待测主板的电压值；所述方法包括：当需要对接入的待测主板进行复测时，从上位机中获取历史测试数据，其中所述历史测试数据包括对所述待测主板首次测试时采集并存储的多个拉载电流值、从所述待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的电流值以及从示波器采集的每一个拉载电流值对应的电压值，将所述电流值作为参考电流值，将所述电压值作为参考电压值；根据所述首次测试时使用的拉载电流值控制所述测试工具加载设备向所述待测主板响应所述拉载电流值的加载操作；从所述待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的实测电流值以及从示波器获取采集到的所述拉载电流值对应的实测电压值；分别将所述实测电流值与所述参考电流值进行比对得到第一比对结果以及将所述实测电压值与所述参考电压值进行比对得到第二比对结果；当所述第一比对结果不满足第一预设误差范围要求，对所述测试工具加载设备进行校正；当所述第二比对结果不满足第二预设误差范围要求，对所述示波器的探棒进行校正。
5.可选地，所述当需要对接入的待测主板进行复测时，从上位机中获取历史测试数据之前，所述方法还包括：当对接入的所述待测主板进行首测时，从所述上位机中获取预先配置的预设跨度范围内的拉载电流值和所述待测主板对应的基准电流值和基准电压值；在不拉载电流的情况下，对所述待测主板上电并获取当前待测主板对应的电流值和所述电流值对应的电压值；将所述电流值和所述基准电流值进行比对得到第三比对结果以及将所述
电流值对应的电压值和所述基准电压值进行比对得到第四比对结果；当所述第三比对结果满足所述第一预设误差范围要求且所述第四比对结果满足所述第二预设误差范围要求，控制所述上位机的gui界面显示测试通过信息并提示进行拉载测试；利用所述预设跨度范围内的拉载电流值进行首次拉载测试并采集首次拉载测试过程中的拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值；将所述每一个拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值保存到所述上位机中。
6.可选地，将所述每一个拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值保存到所述上位机中之前，所述方法还包括：在初次拉载时，向所述待测主板加载所述待测主板的基准电流值；将从所述待测主板采集到的拉载电流值与所述基准电流值进行比对得到第五比对结果，将从示波器采集到的当前待测主板的量测电压值与基准电压值进行比对得到第六比对结果；当所述第五比对结果满足所述第一预设误差范围要求且所述第六比对结果满足所述第二预设误差范围要求响应对所述预设跨度范围内的其他拉载电流值的加载以及对拉载结果的保存操作。
7.可选地，所述当所述第一比对结果不满足第一预设误差范围要求，对所述测试工具加载设备进行校正，包括：当所述第一比对结果不满足第一预设误差范围要求，对所述测试工具加载设备加载的拉载电流值进行调整直至满足所述预设第一预设误差范围要求；所述当所述第二比对结果不满足第二预设误差范围要求，对所述示波器的探棒进行校正，包括：当所述第二比对结果不满足第二预设误差范围要求，向所述示波器发送校正指令，使得所述示波器根据接收到的校正指令响应内部校正操作。
8.可选地，分别将所述实测电流值与参考电流值进行比对得到第一比对结果以及将所述实测电压值与参考电压值进行比对得到第二比对结果之后，所述方法还包括：当所述第一比对结果满足第一预设误差范围要求且所述第二比对结果满足第二预设误差范围要求，控制所述上位机的gui界面显示测试通过信息。
9.可选地，分别将所述实测电流值与参考电流值进行比对得到第一比对结果以及将所述实测电压值与参考电压值进行比对得到第二比对结果之后，所述方法还包括：当所述第一比对结果满足第一预设误差范围要求且所述第二比对结果满足第二预设误差范围要求，响应对需要进行复测的待测主板的复测提示操作。
10.根据第二方面，本发明实施例还公开了一种测试工具的测试校正装置，应用于检测设备，所述检测设备分别与上位机、测试工具加载设备、示波器以及待测主板连接，所述示波器用于采集待测主板的电压值；所述装置包括：第一获取模块，用于当需要对接入的待测主板进行复测时，从上位机中获取历史测试数据，其中所述历史测试数据包括对所述待测主板首次测试时采集并存储的多个拉载电流值、从所述待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的电流值以及从示波器采集的每一个拉载电流值对应的电压值，将所述电流值作为参考电流值，将所述电压值作为参考电压值；第一加载模块，用于根据所述首次测试时使用的拉载电流值控制所述测试工具加载设备向所述待测主板响应所述拉载电流值的加载操作；第二获取模块，用于从所述待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的实测电流值以及从示波器获取采集到的所述拉载电流值对应的实测电压值；第一比对模块，用于分别将所述实测电流值与所述参考电流值进行比对得到第一比对结果以及将所述实测电压值与所述参考电压值进行比对得到第二比对结果；第一校正模块，用于当所述第一比对结果
不满足第一预设误差范围要求，对所述测试工具加载设备进行校正；第二校正模块，用于当所述第二比对结果不满足第二预设误差范围要求，对所述示波器的探棒进行校正。
11.可选地，所述装置还包括：第三获取模块，用于当对接入的所述待测主板进行首测时，从所述上位机中获取预先配置的预设跨度范围内的拉载电流值和所述待测主板对应的基准电流值和基准电压值；第四获取模块，用于在不拉载电流的情况下，对所述待测主板上电并获取当前待测主板对应的电流值和所述电流值对应的电压值；第二比对模块，用于将所述电流值和所述基准电流值进行比对得到第三比对结果以及将所述电流值对应的电压值和所述基准电压值进行比对得到第四比对结果；第一提示模块，用于当所述第三比对结果满足所述第一预设误差范围要求且所述第四比对结果满足所述第二预设误差范围要求，控制所述上位机的gui界面显示测试通过信息并提示进行拉载测试；测试模块，用于利用所述预设跨度范围内的拉载电流值进行首次拉载测试并采集首次拉载测试过程中的拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值；保存模块，用于将所述每一个拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值保存到所述上位机中。
12.根据第三方面，本发明实施例还公开了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行如第一方面或第一方面任一可选实施方式所述的测试工具的测试校正方法的步骤。
13.根据第四方面，本发明实施方式还公开了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如第一方面或第一方面任一可选实施方式所述的测试工具的测试校正方法的步骤。
14.本发明技术方案，具有如下优点：
15.本发明提供的测试工具的测试校正方法/装置，包括：当需要对接入的待测主板进行复测时，检测设备从上位机中获取历史测试数据，将从待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的电流值作为参考电流值，将从示波器采集的对应的电压值作为参考电压值；根据首次测试时使用的拉载电流值控制测试工具加载设备向待测主板响应拉载电流值的加载操作；从待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的实测电流值和实测电压值；分别将实测电流值与参考电流值进行比对得到第一比对结果、将实测电压值与参考电压值进行比对得到第二比对结果；根据第一比对结果以及第二比对结果响应对应的校正操作。在对待测主板进行复测时，通过获取首次测试时的相关测试数据来作为比对参考的数据来对测试工具的加载电流和量测电压进行可靠调试，使得不论是使用与首次测试同一个或不同的测试工具时均可在同一测试参数水平下进行测试，避免了由于加载工具或示波器等外部因素造成的误差影响对待测主板的复测结果。
附图说明
16.为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
17.图1为本发明实施例中测试工具的测试校正方法的一个具体示例的流程图；
18.图2为本发明实施例中测试工具的测试校正方法的一个具体示例的结构示意图；
19.图3为本发明实施例中测试工具的测试校正装置的一个具体示例的原理框图；
20.图4为本发明实施例中电子设备的一个具体示例图。
具体实施方式
21.下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
22.在本发明的描述中，需要说明的是，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
23.此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。
24.本发明实施例公开了一种测试工具的测试校正方法，应用于检测设备，如图2所示，该检测设备1分别与上位机2、测试工具加载设备3、示波器4以及待测主板5连接，其中示波器4通过探棒接到检测设备1上用于采集待测主板5的电压值，检测设备内部设置有mcu13、电流采集模块11和电压采集模块12，电流采集模块11和电压采集模块12通过pmbus(power management bus,电源管理总线)从待测主板5中读取相应的电流值和电压值，上位机2与检测设备1之间可以通过usb连接并实现数据传输。如图1所示，该方法包括如下步骤：
25.步骤101，当需要对接入的待测主板进行复测时，从上位机中获取历史测试数据，其中历史测试数据包括对待测主板首次测试时采集并存储的多个拉载电流值、从待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的电流值以及从示波器采集的每一个拉载电流值对应的电压值，将电流值作为参考电流值，将电压值作为参考电压值。
26.示例性地，用户可以通过上位机的gui界面输入测试指令，上位机接收到测试指令时可以通过usb协议与检测设备进行通信，将测试指令发送至检测设备，如当用户在上位机发送复测指令时，检测设备接收到该复测指令则判定当前需要对接入的待测主板进行复测，并从上位机中获取对该待测主板进行首次拉载测试时的历史测试数据。
27.步骤102，根据首次测试时使用的拉载电流值控制测试工具加载设备向待测主板响应拉载电流值的加载操作；示例性地，该测试工具加载设备可以包括vrtt加载工具。本技术实施例对该首次拉载测试时所使用的拉载电流值不作限定，本领域技术人员可以根据实际需要在上位机中设备一个预设跨度范围(istep)内电流值作为进行拉载操作的拉载电流值。根据预设跨度范围内的拉载电流值进行加载操作时，istep拉载电流时预设跨度范围内的电流值有最小电流值a和最大电流值b，分别先拉载最小电流值a和最大电流值b，再拉动态的预设跨度范围内的其他isetp电流。
28.步骤103，从待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的实测电流值以及从示波器获取采集到的拉载电流值对应的实测电压值；
29.步骤104，分别将实测电流值与参考电流值进行比对得到第一比对结果以及将实测电压值与参考电压值进行比对得到第二比对结果；
30.步骤105，当第一比对结果不满足第一预设误差范围要求，对测试工具加载设备进
行校正；示例性地，本技术实施例对该第一预设误差范围不作限定，本领域技术人员可以根据实际需要确定，本技术实施例中该第一预设误差范围以参考电流值为基础上下浮动0.2％，当比对后的误差在该范围内，则表示第一比对结果满足第一预设误差范围要求，当比对后的误差不在该范围内，则表示第一比对结果不满足该第一预设误差范围要求。
31.作为本发明一个可选实施方式，步骤105包括：当第一比对结果不满足第一预设误差范围要求，对测试工具加载设备加载的拉载电流值进行调整直至满足预设第一预设误差范围要求；具体地，当第一比对结果不满足第一预设误差范围要求，可以通过检测设备不断调整测试工具加载设备所加载的拉载电流值以保证从待测主板获取的实测电流值与参考电流值的比对结果满足要求。
32.步骤106，当第二比对结果不满足第二预设误差范围要求，对示波器的探棒进行校正。示例性地，本技术实施例对该第二预设误差范围不作限定，本领域技术人员可以根据实际需要确定，本技术实施例中该第二预设误差范围以参考电压值为基础上、下浮动0.2％，当比对后的误差在该范围内，则表示第二比对结果满足第二预设误差范围要求，当比对后的误差不在该范围内，则表示第二比对结果不满足该第二预设误差范围要求。
33.作为本发明一个可选实施方式，步骤106，包括：当第二比对结果不满足第二预设误差范围要求，向示波器发送校正指令，使得示波器根据接收到的校正指令响应内部校正操作。具体地，当第二比对结果不满足第二预设误差范围要求，可以通过检测设备向示波器发送校正指令，使得示波器根据接收到的校正指令响应内部校正操作直至满足预设第二预设误差范围要求，以保证从示波器获取采集到的拉载电流值对应的实测电压值与参考电压值的比对结果满足要求。
34.本发明提供的测试工具的测试校正方法，在对待测主板进行复测时，通过获取首次测试时的相关测试数据来作为比对参考的数据来对测试工具的加载电流和量测电压进行可靠调试，使得不论是使用与首次测试同一个或不同的测试工具时均可在同一测试参数水平下进行测试，避免了由于加载工具或示波器等外部因素造成的误差影响对待测主板的复测结果。
35.作为本发明一个可选实施方式，步骤101之前，该方法还包括：
36.当对接入的待测主板进行首测时，从上位机中获取预先配置的预设跨度范围内的拉载电流值和待测主板对应的基准电流值和基准电压值；
37.示例性地，对接入的待测主板的首测指令的获取方式与上述复测指令的获取方式相同，在此不再限定。对于需要进行测试的任一待测主板，根据其类型的不同对应不同的基准电流值和基准电压值，同样该基准电流值与基准电压值可以上位机上传并交互得到。
38.在不拉载电流的情况下，对待测主板上电并获取当前待测主板对应的电流值(imon)和电流值(imon)对应的电压值；示例性地，给待测主板上电，示波器的探棒接到检测设备上，由检测设备转接到待测主板上读取当前待测主板的电压值(即vboot启动电压值)，并可以将电压值通过上位机的gui界面显示。
39.将电流值和基准电流值进行比对得到第三比对结果以及将电流值对应的电压值和基准电压值进行比对得到第四比对结果；当第三比对结果满足第一预设误差范围要求且第四比对结果满足第二预设误差范围要求，控制上位机的gui界面显示测试通过信息并提示进行拉载测试；利用预设跨度范围内的拉载电流值进行首次拉载测试并采集首次拉载测
试过程中的拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值；将每一个拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值保存到上位机中，以用于后续的复测前的调试过程的参数校正。
40.作为本发明一个可选实施方式，将每一个拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值保存到上位机中之前，该方法还包括：
41.在初次拉载时，向待测主板加载待测主板的基准电流值；将从待测主板采集到的拉载电流值与所述基准电流值进行比对得到第五比对结果，将从示波器采集到的当前待测主板的量测电压值与基准电压值进行比对得到第六比对结果；当第五比对结果满足第一预设误差范围要求且第六比对结果满足第二预设误差范围要求响应对预设跨度范围内的其他拉载电流值的加载以及对拉载结果的保存操作。
42.示例性地，在首次拉载测试过程中，先利用待测主板的基准电流值进行拉载操作，将拉载结果与基准电流值以及基准电压值进行比对后，在满足相应的误差范围要求后再加载其他拉载电流值进行测试，实现了对待测主板本身的故障筛查后再执行其他拉载电流值的测试操作，避免了直接进行全部拉载电流值的测试后由于待测主板本身故障导致全部测试结果无效，继而影响测试效率。
43.作为本发明一个可选实施方式，步骤104之后，该方法还包括：当第一比对结果满足第一预设误差范围要求且第二比对结果满足第二预设误差范围要求，控制上位机的gui界面显示测试通过信息。本技术实施例对测试通过信息的显示类型不作限定。
44.作为本发明一个可选实施方式，步骤104之后，该方法还包括：当第一比对结果满足第一预设误差范围要求且第二比对结果满足第二预设误差范围要求，响应对需要进行复测的待测主板的复测提示操作，使得可以对待测主板进行扫频测试。本技术实施例对复测提示操作的提示方式不作限定。
45.在因调试时，需要多次复测动态结果的情况下或换了不同的vrtt工具和示波器的设备时，本技术实施例提供的测试工具的测试校正方法以第一次测试时的数据为参考值去进行后续的复测工作，保证了测试结果的一致性；且在复测时，当采集到的电压、电流值误差超过0.2％时，检测设备会控制vrtt工具或示波器进行调整直至满足误差要求，且拉载电流值为最小电流值(如0a)、最大电流值b，以及最小电流值a与最大电流值b之间任意拉载电流值和其对应的实测电流值与实测电压值均有采集并比对且均需满足误差要求才可以进行复测，提高了测试结果的准确性。
46.本发明实施例还公开了一种测试工具的测试校正装置，应用于检测设备，所述检测设备分别与上位机、测试工具加载设备、示波器以及待测主板连接，所述示波器用于采集待测主板的电压值；如图3所示，该装置包括：
47.第一获取模块201，用于当需要对接入的待测主板进行复测时，从上位机中获取历史测试数据，其中所述历史测试数据包括对所述待测主板首次测试时采集并存储的多个拉载电流值、从所述待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的电流值以及从示波器采集的每一个拉载电流值对应的电压值，将所述电流值作为参考电流值，将所述电压值作为参考电压值；具体参见上述实施例，在此不再赘述。
48.第一加载模块202，用于根据所述首次测试时使用的拉载电流值控制所述测试工具加载设备向所述待测主板响应所述拉载电流值的加载操作；具体参见上述实施例，在此
不再赘述。
49.第二获取模块203，用于从所述待测主板获取对应每一个拉载电流值对应的实测电流值以及从示波器获取采集到的所述拉载电流值对应的实测电压值；具体参见上述实施例，在此不再赘述。
50.第一比对模块204，用于分别将所述实测电流值与所述参考电流值进行比对得到第一比对结果以及将所述实测电压值与所述参考电压值进行比对得到第二比对结果；具体参见上述实施例，在此不再赘述。
51.第一校正模块205，用于当所述第一比对结果不满足第一预设误差范围要求，对所述测试工具加载设备进行校正；具体参见上述实施例，在此不再赘述。
52.第二校正模块206，用于当所述第二比对结果不满足第二预设误差范围要求，对所述示波器的探棒进行校正。具体参见上述实施例，在此不再赘述。
53.本发明提供的测试工具的测试校正装置，在对待测主板进行复测时，通过获取首次测试时的相关测试数据来作为比对参考的数据来对测试工具的加载电流和量测电压进行可靠调试，使得不论是使用与首次测试同一个或不同的测试工具时均可在同一测试参数水平下进行测试，避免了由于加载工具或示波器等外部因素造成的误差影响对待测主板的复测结果。
54.作为本发明一个可选实施方式，所述装置还包括：第三获取模块，用于当对接入的所述待测主板进行首测时，从所述上位机中获取预先配置的预设跨度范围内的拉载电流值和所述待测主板对应的基准电流值和基准电压值；第四获取模块，用于在不拉载电流的情况下，对所述待测主板上电并获取当前待测主板对应的电流值和所述电流值对应的电压值；第二比对模块，用于将所述电流值和所述基准电流值进行比对得到第三比对结果以及将所述电流值对应的电压值和所述基准电压值进行比对得到第四比对结果；第一提示模块，用于当所述第三比对结果满足所述第一预设误差范围要求且所述第四比对结果满足所述第二预设误差范围要求，控制所述上位机的gui界面显示测试通过信息并提示进行拉载测试；测试模块，用于利用所述预设跨度范围内的拉载电流值进行首次拉载测试并采集首次拉载测试过程中的拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值；保存模块，用于将所述每一个拉载电流值以及每一个拉载电流值对应的待测主板电流值和示波器采集的电压值保存到所述上位机中。具体参见上述实施例，在此不再赘述。
55.作为本发明一个可选实施方式，该装置还包括：第二加载模块，用于在初次拉载时，向所述待测主板加载所述待测主板的基准电流值；第三比对模块，用于将从所述待测主板采集到的拉载电流值与所述基准电流值进行比对得到第五比对结果，将从示波器采集到的当前待测主板的量测电压值与基准电压值进行比对得到第六比对结果；响应模块，用于当所述第五比对结果满足所述第一预设误差范围要求且所述第六比对结果满足所述第二预设误差范围要求响应对所述预设跨度范围内的其他拉载电流值的加载以及对拉载结果的保存操作。具体参见上述实施例，在此不再赘述。
56.作为本发明一个可选实施方式，第一校正模块205，包括：第一校正子模块，用于当所述第一比对结果不满足第一预设误差范围要求，对所述测试工具加载设备加载的拉载电流值进行调整直至满足所述预设第一预设误差范围要求；第二校正模块206，包括：第二校
正子模块，用于当所述第二比对结果不满足第二预设误差范围要求，向所述示波器发送校正指令，使得所述示波器根据接收到的校正指令响应内部校正操作。具体参见上述实施例，在此不再赘述。
57.作为本发明一个可选实施方式，该装置还包括：当所述第一比对结果满足第一预设误差范围要求且所述第二比对结果满足第二预设误差范围要求，控制所述上位机的gui界面显示测试通过信息。具体参见上述实施例，在此不再赘述。
58.作为本发明一个可选实施方式，该装置还包括：第二提示模块，用于当所述第一比对结果满足第一预设误差范围要求且所述第二比对结果满足第二预设误差范围要求，控制所述上位机的gui界面显示测试通过信息。具体参见上述实施例，在此不再赘述。
59.作为本发明一个可选实施方式，该装置还包括：第三提示模块，用于当所述第一比对结果满足第一预设误差范围要求且所述第二比对结果满足第二预设误差范围要求，响应对需要进行复测的待测主板的复测提示操作。具体参见上述实施例，在此不再赘述。
60.本发明实施例还提供了一种电子设备，如图4所示，该电子设备可以包括处理器401和存储器402，其中处理器401和存储器402可以通过总线或者其他方式连接，图4中以通过总线连接为例。
61.处理器401可以为中央处理器(central processing unit，cpu)。处理器401还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(digital signal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现场可编程门阵列(field-programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。
62.存储器402作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的测试工具的测试校正方法对应的程序指令/模块。处理器401通过运行存储在存储器402中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的测试工具的测试校正方法。
63.存储器402可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器401所创建的数据等。此外，存储器402可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器402可选包括相对于处理器401远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器401。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
64.所述一个或者多个模块存储在所述存储器402中，当被所述处理器401执行时，执行如图1所示实施例中的测试工具的测试校正方法。
65.上述电子设备具体细节可以对应参阅图1所示的实施例中对应的相关描述和效果进行理解，此处不再赘述。
66.本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(read-only memory，rom)、随机存储记忆体(randomaccessmemory，
ram)、快闪存储器(flash memory)、硬盘(hard disk drive，缩写：hdd)或固态硬盘(solid-state drive，ssd)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
67.虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下作出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。