具有释放发射功能装置的内腔发射功能检测装置的制作方法

1.本技术涉及具有释放发射功能装置的检测技术领域，特别是涉及一种具有释放发射功能装置的内腔发射功能检测装置。


背景技术：

2.具有释放发射功能装置，要顺利实现释放发射功能，其内腔发射功能检测极为关键。
3.具有释放发射功能装置的内腔一般呈细长筒状结构，内腔发射功能检测主要包括内腔接口尺寸、释放路径和释放开关检测。其中，针对释放路径的检测，通常采用一周向侧壁装有钉钮的检测盘进行检测，检测时，检测人员手动慢慢将检测盘旋入待检测装置的内腔，并使钉钮沿内腔壁的释放路径旋入，当到达内腔底部时，用直支撑勾架用力推入，再勾住检测盘中心孔用力将检测盘拔出，检测费时费力，容易漏检。同时，目前内腔发射功能检测需要分别使用3种专用检测工装，逐项开展检测，检测效率低，而且，内腔发射功能检测需要由两位检测人员配合完成，配合检测误差较高。
4.目前针对具有释放发射功能装置的内腔发射功能检测效率低且误差高的问题，尚未提出有效的解决方案。


技术实现要素：

5.本技术实施例提供了一种具有释放发射功能装置的内腔发射功能检测装置，以至少解决具有释放发射功能装置的内腔发射功能检测效率低且误差高的问题。
6.本技术实施例提供了一种具有释放发射功能装置的内腔发射功能检测装置，其特征在于，包括：
7.一连接筒体，所述连接筒体的一端伸入待检测装置内腔中；
8.一接口检测底盖，所述接口检测底盖连接于所述连接筒体伸入所述待检测装置内腔的一端；
9.多个钉钮，所述钉钮连接于所述接口检测底盖的周向外壁，以在所述连接筒体和接口检测底盖伸入所述待检测装置内腔过程中使所述钉钮对应旋入所述待检测装置内腔壁的多条释放路径。
10.在其中一些实施例中，所述接口检测底盖周向侧壁开设有供所述待检测装置的释放开关穿过的检测孔，所述连接筒体的周向内壁和所述接口检测底盖的周向内壁开设有自所述连接筒体远离所述接口检测底盖的轴向一端延伸至所述接口检测底盖的一检测观测通槽，所述检测观测通槽连通所述检测孔，以观测所述释放开关超过所述检测观测通槽处壁厚的长度。
11.在其中一些实施例中，所述检测观测通槽沿所述连接筒体的轴向延伸。
12.在其中一些实施例中，所述接口检测底盖的尺寸与所述待检测装置的内腔接口设计尺寸相匹配以与所述内腔接口对接。
13.在其中一些实施例中，所述连接筒体的长度大于所述待检测装置内腔的长度。
14.在其中一些实施例中，所述钉钮的端部呈倒圆角设置。
15.在其中一些实施例中，所述接口检测底盖周向外壁开设有钉钮安装孔，所述钉钮螺纹连接于所述钉钮安装孔。
16.在其中一些实施例中，所述连接筒体靠近所述接口检测底盖的一端设有与所述接口检测底盖插接的承插部。
17.在其中一些实施例中，所述承插部设有朝向所述连接筒体内凸出的多个连接耳，所述接口检测底盖通过紧固件连接于所述连接耳。
18.在其中一些实施例中，所述连接筒体远离所述接口检测底盖的轴向端部设有用于握持的把手。
19.相比于相关技术，本技术实施例提供的具有释放发射功能装置的内腔发射功能检测装置，通过利用连接筒体、接口检测底盖和钉钮装配构成的筒状装配式结构，解决了具有释放发射功能装置的内腔发射功能检测效率低且误差高的问题，实现了内腔发射功能的高效检测。
20.本技术的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本技术的其他特征、目的和优点更加简明易懂。
附图说明
21.此处所说明的附图用来提供对本技术的进一步理解，构成本技术的一部分，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中：
22.图1是根据本技术实施例的内腔发射功能检测装置的结构示意图；
23.图2是根据本技术实施例的钉钮的结构示意图；
24.图3是根据本技术实施例的接口检测底盖的结构示意图；
25.图4是根据本技术实施例的接口检测底盖背离连接筒体一侧的结构示意图；
26.图5是根据本技术实施例的连接筒体靠近接口检测底盖一端的结构示意图；
27.图6是根据本技术实施例的连接筒体的透视图；
28.图7是根据本技术实施例的连接筒体远离接口检测底盖一端的结构示意图。
29.附图说明：1、连接筒体，11、承插部，12、连接耳，13、把手，2、接口检测底盖，21、钉钮安装孔，22、检测孔，3、连接孔，3、钉钮，4、检测观测通槽延伸段，5、检测观测通槽主段。
具体实施方式
30.为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行描述和说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。基于本技术提供的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
31.显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本技术应用于其他类似情景。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本技术公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本技术揭
露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本技术公开的内容不充分。
32.在本技术中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域普通技术人员显式地和隐式地理解的是，本技术所描述的实施例在不冲突的情况下，可以与其它实施例相结合。
33.除非另作定义，本技术所涉及的技术术语或者科学术语应当为本技术所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本技术所涉及的“一”、“一个”、“一种”、“该”等类似词语并不表示数量限制，可表示单数或复数。本技术所涉及的术语“包括”、“包含”、“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含；例如包含了一系列步骤或元件的方法或产品没有限定于已列出的步骤或元件，而是可以还包括没有列出的步骤或元件，或可以还包括对于这些方法或产品固有的其它步骤或元件。本技术所涉及的“多个”是指两个或两个以上。
34.本实施例提供了一种具有释放发射功能装置的内腔发射功能检测装置。图1是根据本技术实施例的内腔发射功能检测装置的结构示意图。如图1所示，内腔发射功能检测装置由连接筒体1、接口检测底盖2和钉钮3三种零件装配而成，其能够完成释放路径、内腔接口尺寸和释放开关3项检测。
35.下面结合每项检测，具有说明内腔发射功能检测装置的结构设计：
36.1、释放路径检测
37.以内腔壁设有两条释放路径的具有释放发射功能装置为例，其两条释放路径一般呈180度对称，要确保旋转释放路径的路径顺利，相对角度的检测极为关键。本技术中，通过在接口检测底盖2设置两个与待检测装置旋转释放路径角度一致的钉钮3，实现释放路径的检测。
38.具体地，图3是根据本技术实施例的接口检测底盖2的结构示意图。
39.如图1和图3所示，内腔发射功能检测装置中，连接筒体1的一端用于伸入待检测装置内腔中；接口检测底盖2连接于连接筒体1伸入待检测装置内腔的一端；接口检测底盖2周向外壁开设有钉钮安装孔21，钉钮3设置有外螺纹，钉钮3螺纹连接于钉钮安装孔21；钉钮3的数量与待检测装置内腔壁的释放路径数量一致，钉钮3在接口检测底盖2周向外壁的分布方式与释放路径在待检测装置内腔壁的设计分布方式相同，以在连接筒体1和接口检测底盖2伸入待检测装置内腔过程中使钉钮3沿释放路径旋入。
40.检测时，通过连接筒体1将接口检测底盖2送入待检测装置内腔，并在送入过程中通过接口检测底盖2周向外壁设置的多个钉钮3能否沿待检测装置内腔壁的释放路径对应旋入的方式校对释放路径，若多个钉钮3能对应旋入释放路径，则释放路径合格。
41.图2是根据本技术实施例的钉钮3的结构示意图。如图2所示，为保障钉钮3顺利滑入释放路径且不划伤待检测装置内腔，钉钮3进行倒圆角处理，根据释放路径的宽度，圆角半径一般设定在2～5mm。
42.2、内腔接口尺寸检测
43.本技术中，通过接口检测底盖2与待检测装置的内腔接口对接，实现对内腔接口尺
寸的检测。
44.具体地，内腔发射功能检测装置中，接口检测底盖2的尺寸与内腔接口的设计尺寸相匹配，检测时，通过连接筒体1将接口检测底盖2送入至待检测装置内腔，检测接口检测底盖2背离连接筒体1的一端与内腔接口能否对接，若能对接，则内腔接口合格。
45.图4是根据本技术实施例的接口检测底盖2背离连接筒体1一侧的结构示意图，图5是根据本技术实施例的连接筒体1靠近接口检测底盖2一端的结构示意图。由于具有释放发射功能装置的内腔通常很深，为了确保接口检测底盖2与连接筒体1连接牢固，如图4和图5所示，接口检测底盖2均布有连接孔3，连接筒体1靠近接口检测底盖2的一端设有与接口检测底盖2插接的承插部11，承插部11设有朝向连接筒体1内凸出的多个连接耳12，接口检测底盖2通过穿过连接孔3的紧固件连接于连接耳12。
46.3、释放开关检测
47.为使具有释放发射功能装置达到顺利开展释放启动功能的特殊要求，具有释放发射功能装置的释放开关落入装置内腔长度有一定数值要求，一般在2mm
‑
5mm之间。因而，为了要顺利实现释放发射功能，释放开关落入内腔长度检测极为关键。本技术中，通过开设一检测观测通槽，观测比对检测观测通槽的壁厚与释放开关落入待检测装置内腔长度，实现对释放开关的检测。
48.具体地，图3是根据本技术实施例的接口检测底盖2的结构示意图，图6是根据本技术实施例的连接筒体1的透视图。如图3和图6所示，内腔发射功能检测装置中，接口检测底盖2周向侧壁开设有供释放开关穿过的检测孔22，连接筒体1的周向内壁和接口检测底盖2的周向内壁开设有自连接筒体1远离接口检测底盖2的轴向一端延伸至接口检测底盖2的一检测观测通槽(包括位于连接筒体1内的检测观测通槽主段5，以及位于接口检测底盖2内的检测观测通槽延伸段4)，检测观测通槽连通检测孔22以观测释放开关超过检测观测通槽处壁厚的长度，检测观测通槽处的壁厚与释放开关落实内腔长度的检测下限值一致。
49.检测时，通过连接筒体1将接口检测底盖2送入至待检测装置内腔底部，将释放开关穿入检测孔22，通过检测观测通槽观测能否看到释放开关，若能看到释放开关，则释放开关落入待检测装置内腔的长度合格。
50.优选的，检测观测通槽沿连接筒体1的轴向延伸，以便于从连接筒体1位于待检测装置外的一端直接进行观测。
51.本实施例中，检测观测通槽的壁厚设置为2mm，如图5所示，承插部11对应检测观测通槽处为一缺口，释放开关在穿过接口检测底盖2检测孔22后从该缺口处落入。
52.还需要说明的是，由于上述3项检测中，均需要通过连接筒体1将接口检测底盖2送入到待检测装置内腔中以实现内腔发射功能检测，因而，连接筒体1的长度要比待检测装置的内腔更长，一般具有释放发射功能装置的内腔为400mm，连接筒体1的长度必须大于400mm，为避免连接筒体1太重，连接筒体1的厚度优选控制在5mm以下。
53.此外，图7是根据本技术实施例的连接筒体1远离接口检测底盖2一端的结构示意图。如图7所示，连接筒体1远离接口检测底盖2的轴向端部设有用于握持的把手13，便于检测人员将连接筒体1送入待检测装置内腔。优选的，把手13为两个，两个把手13相对于连接筒体1的中轴线对称设置。
54.上述内腔发射功能检测装置利用连接筒体1、接口检测底盖2和钉钮3装配构成的
筒状装配式结构，可直接、同时开展内腔发射功能的释放路径、内腔接口尺寸和释放开关三项检测，实现了一名检测人员操作检测一步到位、简单直接、使用方便，实用性强。
55.以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
56.以上所述实施例仅表达了本技术的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本技术构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本技术的保护范围。因此，本技术专利的保护范围应以所附权利要求为准。