天线测试系统的制作方法

文档序号:28119994发布日期:2021-12-22 15:07阅读:75来源:国知局
天线测试系统的制作方法

1.本实用新型涉及天线测试技术领域,具体涉及一种天线测试系统。


背景技术:

2.由于pcb(printed circuit board,印刷电路板)制造等制约条件,实际使用的天线性能和仿真出的天线性能可能有较大差异,所以天线性能测试和验证是天线设计中必不可少的一个步骤。通过测试结果与仿真结果的对比,找出由于制造工艺、天线设计中的问题,进而找到天线仿真的方向,进行快速迭代,最终得到符合性能要求的天线。
3.但是目前的测试方式都需要借助专业的测量仪器,价格昂贵,测试成本高,且测试步骤复杂。


技术实现要素:

4.本实用新型为解决上述技术问题,提供了一种天线测试系统,设置两个雷达,一个作为发射端雷达,一个作为接收端雷达,可以实现发射端雷达的发射天线的幅频测试,无需使用专门的测量仪器,降低了测试成本,并且简化了测试步骤,确保测试的准确性,同时优化了测试时间,在短时间内完成测试,及时为测试人员提供测试数据。
5.本实用新型采用的技术方案如下:
6.一种天线测试系统,包括:上位机、第一待测雷达和第二待测雷达,所述上位机分别与所述第一待测雷达和所述第二待测雷达通讯连接,其中,所述第一待测雷达用于发射单频连续波;所述第二待测雷达用于接收所述第一待测雷达发送的单频连续波,并将接收的数据发送至所述上位机;所述上位机用于对所述第一待测雷达和所述第二待测雷达的测试频率进行设置,并接收所述第二待测雷达发送的数据并进行处理,以获得频率对应的幅值。
7.根据本实用新型的一个实施例,所述上位机在对所述第一待测雷达和所述第二待测雷达的测试频率进行设置后,还用于,延时第一预设时间,判断是否接收到所述第二待测雷达发送的数据;如果未接收到所述第二待测雷达发送的数据时,则对所述第一待测雷达和所述第二待测雷达的测试频率进行重新设置。
8.根据本实用新型的一个实施例,所述上位机还用于,在连续预设次数内均未接收到所述第二待测雷达发送的数据时,输出故障提醒。
9.根据本实用新型的一个实施例,所述第一待测雷达和所述第二待测雷达之间的距离处于预设距离阈值范围内。
10.根据本实用新型的一个实施例,所述上位机通过连接线分别与所述第一待测雷达和所述第二待测雷达相连。
11.根据本实用新型的一个实施例,所述第一待测雷达还用于接收单频连续波,所述第二待测雷达还用于发射单频连续波,其中,当所述第二待测雷达用于发射单频连续波时,所述第一待测雷达用于接收单频连续波,所述上位机用于接收所述第一待测雷达发送的数
据并进行处理,以获得频率对应的幅值。
12.本实用新型的有益效果:
13.本实用新型的天线测试系统,设置两个雷达,一个作为发射端雷达,一个作为接收端雷达,可以实现发射端雷达的发射天线的幅频测试,无需使用专门的测量仪器,降低了测试成本,并且简化了测试步骤,确保测试的准确性,同时优化了测试时间,在短时间内完成测试,及时为测试人员提供测试数据。
附图说明
14.图1为本实用新型实施例的天线测试系统的方框示意图;
15.图2为本实用新型一个实施例的天线测试系统的测试结果图;
16.图3为本实用新型一个实施例的测量设备的测试结果图。
具体实施方式
17.下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
18.图1为本实用新型实施例的天线测试系统的方框示意图。
19.如图1所示,本实用新型实施例的天线测试系统,可包括:上位机10、第一待测雷达20和第二待测雷达30。
20.其中,上位机10分别与第一待测雷达20和第二待测雷达30通讯连接,第一待测雷达20用于发射单频连续波。第二待测雷达20用于接收第一待测雷达发送的单频连续波,并将接收的数据发送至上位机。上位机10用于对第一待测雷达20和第二待测雷达30的测试频率进行设置,并接收第二待测雷达30发送的数据并进行处理,以获得频率对应的幅值。
21.其中,在本实用新型的一个实施例中,上位机10通过连接线分别与第一待测雷达20和第二待测雷达30相连。第一待测雷达20和第二待测雷达30之间的距离处于预设距离阈值范围内,其中,预设距离阈值可根据实际情况进行标定。需要说明的是,上位机可以为pc机。
22.具体而言,由第一待测雷达20和第二待测雷达30组成收发系统,第一待测雷达20作为发射雷达,第二待测雷达30作为接收雷达,第一待测雷达20和第二待测雷达30保持正面相对,且两个待测雷达之间的距离在两米左右,上位机10使用连接线分别与第一待测雷达20和第二待测雷达30相连,实现第一待测雷达20、第二待测雷达30和上位机10之间相互通讯,可以完成发射雷达的发射天线的幅频测试。具体地,在启动测试后,通过上位机10对第一待测雷达20的发射端的发射频率进行设置,并对第二待测雷达30的接收端的接收频率进行设置,发射频率和接收频率相同。第一待测雷达20的发射端发射单频连续波,第二待测雷达30的接收端接收单频连续波,并将接收的数据发送给上位机10,上位机10对接收到的信号进行滤波处理,可以得到第一待测雷达20发射天线在该频率下的幅值。
23.同样地,在本实用新型的一个实施例中,第一待测雷达20还用于接收单频连续波,第二待测雷达30还用于发射单频连续波,其中,当第二待测雷达30用于发射单频连续波时,
第一待测雷达20用于接收单频连续波,上位机10用于接收第一待测雷达20发送的数据并进行处理,以获得频率对应的幅值。也就是说,第一待测雷达20也可以作为接收雷达,相应的第二待测雷达30作为发射雷达,即,第二待测雷达30的发射端用于发射单频连续波,第一待测雷达20的接收端用于接收单频连续波,在多个雷达待测量的情况下,可以一次测试出两个雷达,优化了测试时间,在短时间内完成测试。同时,两个雷达之间还可以实现相互校验。
24.需要说明的是,当第一待测雷达作为发射雷达,第二待测雷达作为接收雷达时,第一待测雷达的接收端不接收单频连续波,第二待测雷达的发射端不发射单频连续波;同样地,当第一待测雷达作为接收雷达,第二待测雷达作为发射雷达时,第一待测雷达的发射端不发射单频连续波,第二待测雷达的接收端不接收单频连续波。
25.根据本实用新型的一个实施例,上位机10在对第一待测雷达20和第二待测雷达30的测试频率进行设置后,还用于,延时第一预设时间,判断是否接收到第二待测雷达30发送的数据;如果未接收到第二待测雷达发送30的数据时,则对第一待测雷达20和第二待测雷达30的测试频率进行重新设置。其中,第一预设时间可根据实际情况进行标定。
26.进一步地,根据本实用新型的一个实施例,上位机10还用于,在连续预设次数内均未接收到第二待测雷达30发送的数据时,输出故障提醒。其中,预设次数可根据实际情况进行标定,例如,预设次数可以为3次。
27.具体而言,在对第一待测雷达20和第二待测雷达30的测试频率设置完成后,第一待测雷达20的发射天端开始发送单频连续波,由于第二待测雷达30的接收频率和第一待测雷达20的发射频率相同,所以第二待测雷达30的接收端可以接收到第一待测雷达20发射端发送的单频连续波。第二待测雷达30的接收端在接收到单频连续波时,会将接收到的数据发送给上位机10,如果在上位机10对第一待测雷达20和第二待测雷达30的测试频率进行设置后的第一预设时间后,未接收到测试结果,则重新对测试频率进行设置,并记录未接收到测试结果的次数,如果连续预设次数(3次)均未接收到测试结果,则认为测试系统失效,此时输出故障提醒。
28.在本实用新型的一个实施例中,上位机10还用于对测试结果(频率对应的幅值,即幅频)进行显示,以便于技术人员对测试结果进行分析。
29.如图2所示,发射天线的幅值随着频率的变化曲线,横坐标表示频率,纵坐标表示幅值,图3是通过专业的测量设备获取的发射天线的功率随着频率的变化曲线,横坐标表示频率,纵坐标表示功率,可以理解的是,幅值和功率存在类似正比例的关系,由图2和图3对比可知,通过本系统获得的测试结果和经过专业的测量设备获取的测试结果基本一致。
30.综上所述,本实用新型的天线测试系统,设置两个雷达,一个作为发射端雷达,一个作为接收端雷达,可以实现发射端雷达的发射天线的幅频测试,无需使用专门的测量仪器,降低了测试成本,并且简化了测试步骤,确保测试的准确性,同时优化了测试时间,在短时间内完成测试,及时为测试人员提供测试数据。
31.在本实用新型的描述中,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
32.在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固
定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
33.在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
34.在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必针对相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
35.尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本实用新型的限制,本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
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