技术特征：
1.tpfs
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1a半球发射率检测仪，其特征在于，包括：机箱(1)，所述机箱(1)上设置有用于连接辐射计探测器(2)和热沉(3)的探测器接口(11)和热沉控制接口(12)，还设置有用于与外部设备连接的usb接口(15)以及用于控制所述机箱(1)启动的开关(14)；其中，所述辐射计探测器(2)主要由探头壳体(21)和测量探头(22)组成，所述测量探头(22)设置于所述探头壳体(21)的内部，所述测量探头(22)包括探头基座(223)，设置于所述探头壳体(21)的内部并用于安装测温元件(222)，所述测温元件(222)的顶端固设有测温模块(221)，用于测量高低辐射区温差并输出电压信号；所述热沉(3)的输入端与所述热沉控制接口(12)的输出端相连接，用于试验时放置被测样品和标准板(4)，所述热沉(3)的上表面设有用于提供恒温的加热片(31)，以使试验过程中标准板与测试样品保持相同、稳定的温度。2.根据权利要求1所述的tpfs
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1a半球发射率检测仪，其特征在于：所述测量探头(22)输出的电压信号与被测样品的半球发射率呈线性关系。3.根据权利要求1所述的tpfs
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1a半球发射率检测仪，其特征在于：所述热沉(3)采用铝散热片材质并且表面进行氧化黑色处理。4.根据权利要求1所述的tpfs
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1a半球发射率检测仪，其特征在于：所述标准板(4)包含高发射率标准板和低发射率标准板各一件。5.根据权利要求4所述的tpfs
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1a半球发射率检测仪，其特征在于：所述高发射率标准板采用铝合金并氧化黑色，所述低发射率标准板采用不锈钢并表面抛光。6.根据权利要求1所述的tpfs
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1a半球发射率检测仪，其特征在于：所述机箱(1)上设置有用于显示检测数据的显示屏(13)。7.根据权利要求1所述的tpfs
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1a半球发射率检测仪，其特征在于：所述探头基座(223)采用铝合金氧化黑制作。
技术总结
本实用新型属于发射率检测技术领域，尤其为TPFS
技术研发人员：刘振翰
受保护的技术使用者：天津市拓普仪器有限公司
技术研发日：2021.03.29
技术公布日：2021/11/9