一种硅碳棒电阻老化测试仪器的制作方法

1.本实用新型涉及测试仪器技术领域，具体为一种硅碳棒电阻老化测试仪器。


背景技术：

2.压敏电阻、热敏电阻、电容等等生产设备全部采用双推板式隧道电阻炉，使用温度高达1300摄氏度左右，加热元件全部采用的是硅碳棒，硅碳棒虽然是耗材，但是价格昂贵，寿命短、容易老化，因此需要对硅碳棒老化程度进行测试，现有一般都是通过万用表对硅碳棒的电阻进行测试，如型号为vc79的万用表，根据测试出的电阻数值判断电阻的老化状况，但是该万用表的表盘、按钮以及屏幕裸入在外面，这样很容易造成万用表在不使用时出现误差的情况，甚至万用表的屏幕出现刮花的情况，影响了万用表的正常使用。


技术实现要素：

3.(一)解决的技术问题
4.针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种硅碳棒电阻老化测试仪器，具备万用表具有防护功能等优点，解决了万用表不具有防护功能的问题。
5.(二)技术方案
6.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种硅碳棒电阻老化测试仪器，包括万用表本体，所述万用表本体的上表面固定连接有承载块，承载块的后侧表面转动连接有后置盖板，后置盖板的下表面转动连接有安装底板，安装底板远离后置盖板的一端上转动连接有前置盖板，前置盖板面向万用表本体的一侧表面上开设有安装腔，安装腔面向万用表本体的一侧内壁上分别固定连接有两组缠绕块，前置盖板面向万用表本体的一侧表面上设置有固定机构。
7.优选的，一组所述缠绕块的数量为两个，两个缠绕块的结构均为“l”字状且镜像形式设置。
8.优选的，所述固定机构包括结构为直角三角状的对接块，对接块的横面固定连接在前置盖板面向万用表本体的一侧表面上，承载块的前侧表面开设有对接槽，承载块内开设有位于对接槽上方的内置腔，内置腔内滑动连接有下端贯穿进对接槽内并与承载块内壁滑动连接的卡接杆，对接块的斜面上开设有与卡接杆相吻合的卡接槽。
9.优选的，所述卡接杆位于内置腔的一端上固定连接有限位板，限位板的下表面固定连接有活动套接在卡接杆上且下端固定连接在内置腔底部内壁上的复位拉簧。
10.优选的，所述限位板的上表面固定连接有上端贯穿出承载块上表面并与承载块内壁滑动连接的拉杆，拉杆的上端固定连接有拉块。
11.优选的，所述卡接杆的下端设置为半球状。
12.(三)有益效果
13.与现有技术相比，本实用新型提供了一种硅碳棒电阻老化测试仪器，具备以下有益效果：
14.1、该硅碳棒电阻老化测试仪器，通过设置有后置盖板、安装底板、前置盖板以及固定机构，通过这种方式达到万用表在不使用时对万用表的表盘、按钮以及屏幕达到防护的效果，避免了在不使用时万用表出现误触甚至损坏的情况，同时也对屏幕也具有很好的防护效果，因此保障了万用表在测试硅碳棒的使用效果，同时固定机构操作简单，降低了工作人员在使用时的操作难度。
15.2、该硅碳棒电阻老化测试仪器，通过将两个缠绕块的结构均为“l”字状且镜像形式设置，因此当不需要使用万用表本体时，将测试线由万用表本体上拆除，将测试线沿着两个缠绕块的相对面进行缠绕，通过这种方式避免了测试线出现乱发的情况，方便了后期对万用表本体的使用。
16.3、该硅碳棒电阻老化测试仪器，将卡接杆的下端设置为半球状，这种方式增加了卡接杆与对接块斜面之间接触面的光滑程度，因此降低了两者之间滑动时形成的摩擦力，这样防止了出现机械卡死的情况，保障了该机构运行时的流畅性以及稳定性。
17.4、该硅碳棒电阻老化测试仪器，由后置盖板达到对万用表本体进行支撑，通过这种方式方便了工作人员在对万用表本体上的数值查看，避免了工作人员弯腰查看万用表本体上显示的数值，降低了工作人员在长时间检测过程中的疲劳度。
附图说明
18.图1为本实用新型一种硅碳棒电阻老化测试仪器结构示意图；
19.图2为本实用新型硅碳棒电阻老化测试仪器第二状态右视平面图；
20.图3为本实用新型承载块的局部剖视图。
21.图中：1万用表本体、2承载块、3后置盖板、4安装底板、5前置盖板、6安装腔、7缠绕块、8对接块、9对接槽、10内置腔、11卡接杆、12卡接槽、13限位板、14复位拉簧、15拉杆、16拉块。
具体实施方式
22.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
23.请参阅图1
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图3，本实用新型提供一种新的技术方案：一种硅碳棒电阻老化测试仪器，包括有万用表本体1，万用表本体1为现有结构在此不做过多的赘述，当需要对硅碳棒电阻老化测试时，万用表本体1上通过测试线连通两个表笔，万用表本体1扭转到欧姆档测量，将万用表本体1上的两个表笔分别与硅碳棒的冷端表面的金属铝接触，因此万用表本体1可以测试出硅碳棒的电阻数据，这样根据电阻数据就可以得出硅碳棒的老化程度；
24.万用表本体1的上表面固定连接有承载块2，承载块2的后侧表面转动连接有后置盖板3，后置盖板3的下表面转动连接有安装底板4，安装底板4远离后置盖板3的一端上转动连接有前置盖板5，通过这种方式设置由前置盖板5对万用表本体1的前侧表面重合，后置盖板3对万用表本体1的后侧表面重合，这样达到对万用表本体1进行防护，前置盖板5面向万用表本体1的一侧表面上开设有安装腔6，安装腔6面向万用表本体1的一侧内壁上分别固定
连接有两组缠绕块7，一组缠绕块7的数量为两个，且两个缠绕块7的结构均为“l”字状且镜像形式设置，因此当不需要使用万用表本体1时，将测试线由万用表本体1上拆除，将测试线沿着两个缠绕块7的相对面进行缠绕，通过这种方式避免了测试线出现乱发的情况，方便了后期对万用表本体1的使用；
25.进一步参考图2，在本方案中在使用万用表本体1的过程中通过将万用表本体1的下端延伸进安装腔6内，同时万用表本体1的下端抵住前侧缠绕块7的后侧表面，同时后置盖板3呈远离万用表本体1的一侧倾斜，且安装底板4以前置盖板5为支撑点对后置盖板3形成支撑，因此后置盖板3达到对万用表本体1进行支撑，通过这种方式方便了工作人员在对万用表本体1上的数值查看，避免了工作人员弯腰查看万用表本体1上显示的数值，降低了工作人员在长时间检测过程中的疲劳度；
26.前置盖板5面向万用表本体1的一侧表面上固定连接有结构为直角三角状的对接块8，承载块2的前侧表面开设有对接槽9，因此当前置盖板5以安装底板4为转动点进行顺时针方向转动时，这样对接块8的斜角延伸进对接槽9内，在本实施例中对接槽9的实际面积大于对接块8的面积，因此避免了对接块8以圆弧状态进入到对接槽9内时出现机械卡死的问题，进一步参考图3，承载块2内开设有位于对接槽9上方的内置腔10，内置腔10内滑动连接有下端贯穿进对接槽9内并与承载块2内壁滑动连接的卡接杆11，对接块8的斜面上开设有与卡接杆11相吻合的卡接槽12，卡接杆11位于内置腔10的一端上固定连接有限位板13，限位板13的下表面固定连接有活动套接在卡接杆11上且下端固定连接在内置腔10底部内壁上的复位拉簧14，限位板13的上表面固定连接有上端贯穿出承载块2上表面并与承载块2内壁滑动连接的拉杆15，拉杆15的上端固定连接有拉块16；
27.因此根据上述结构可达到以下运行结果：对接块8在延伸进对接槽9内时，对接块8的斜面对卡接杆11的下端接触，因此对接块8在逐渐进入到对接槽9内时，这样卡接杆11沿着对接块8的斜面滑动，使得卡接杆11逐渐收缩进内置腔10内，限位板13同步对复位拉簧14进行拉伸，当前置盖板5与万用表本体1的前侧重合，卡接杆11与卡接槽12处于同一垂直位置，因此卡接杆11在复位拉簧14的回弹力下恢复至初始位置，这样卡接杆11对对接块8形成限制效果，使得前置盖板5与万用表本体1之间固定在一块，当需要使用万用表时，通过对拉块16进行拉扯，这样使得卡接杆11延伸出卡接槽12，因此不在对对接块8形成限制效果，从而可以对前置盖板5进行翻转；
28.在本实施例中进一步将卡接杆11的下端设置为半球状，这种方式增加了卡接杆11与对接块8斜面之间接触面的光滑程度，因此降低了两者之间滑动时形成的摩擦力，这样防止了出现机械卡死的情况，保障了该机构运行时的流畅性以及稳定性。
29.工作原理：当一种硅碳棒电阻老化测试仪器使用时，前置盖板5以安装底板4为转动点进行顺时针方向转动，对接块8延伸进对接槽9内，对接块8的斜面对卡接杆11的下端接触，因此对接块8在逐渐进入到对接槽9内时，这样卡接杆11沿着对接块8的斜面滑动，使得卡接杆11逐渐收缩进内置腔10内，限位板13同步对复位拉簧14进行拉伸，当前置盖板5与万用表本体1的前侧重合，卡接杆11与卡接槽12处于同一垂直位置，因此卡接杆11在复位拉簧14的回弹力下恢复至初始位置，这样卡接杆11对对接块8形成限制效果，使得前置盖板5与万用表本体1之间固定在一块，当需要使用万用表时，通过对拉块16进行拉扯，这样使得卡接杆11延伸出卡接槽12，因此不在对对接块8形成限制效果，从而可以对前置盖板5进行翻
转。
30.尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。