技术特征：
1.一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，包括测量组件和校准件，所述测量组件包括测量台和检测表；所述测量台的顶部开设有凹槽，所述凹槽的开口直径与被测零部件的基圆直径相同；所述检测表具有测量头，所述测量头延伸出所述测量台的顶部，所述测量头用于与所述被测零部件的基准面和所述校准件抵触。2.根据权利要求1所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述校准件可拆卸置于所述测量台的顶部，所述校准件具有用于与所述测量头抵触的校准壁，所述校准壁到所述测量台顶壁的距离与所述被测零部件上基圆到基准面的标准距离相同。3.根据权利要求2所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述测量台的顶部开设有通孔，所述检测表安装于所述通孔。4.根据权利要求3所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述检测表活动连接于所述通孔。5.根据权利要求4所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述检测表包括轴套，所述测量头滑动延伸出所述轴套，所述轴套的外侧壁与所述通孔螺纹连接。6.根据权利要求4所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述测量台的侧壁开设有螺孔，所述螺孔延伸进所述通孔，所述螺孔旋合有螺纹件；所述检测表包括轴套，所述轴套外套设有固定套，所述螺纹件的端部与所述固定套的外侧壁抵接。7.根据权利要求2所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述检测表安装在所述测量台的边缘。8.根据权利要求1所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述检测表的数量为多个。9.根据权利要求1所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述凹槽的侧壁与所述被测零部件的侧壁贴合。10.根据权利要求1所述的一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，其特征在于，所述测量台的底部具有支撑底座，所述测量台的边沿延伸出所述支撑底座，所述检测表置于所述测量台延伸出所述支撑底座的边沿。
技术总结
本实用新型提出了一种用于检测锥体基圆到基准面距离的检具，涉及检具技术领域，包括测量组件和校准件，测量组件包括测量台和检测表；测量台的顶部开设有凹槽，凹槽的开口直径与被测零部件的基圆直径相同；检测表具有测量头，测量头延伸出测量台的顶部，测量头用于与被测零部件的基准面和校准件抵触。该检具仅通过校准件、测量台和检测表即可完成检测工作，重复性和稳定性好，满足测量系统分析；且该检具制作成本低，并对测量环境要求不高，无需专门设置恒温实验室进行测量，对于小型加工单位的性价比较高；同时，该检具所需检测时间短，解决了大批量产品检测时间长的问题；此外，该检具便于携带，解决了现场产品的质量及时管控的问题。问题。问题。
技术研发人员：谢岳军
受保护的技术使用者：谢岳军
技术研发日：2021.09.03
技术公布日：2022/1/11