一种晶体振荡器的测试系统的制作方法

1.本实用新型实施例涉及自动测试技术，尤其涉及一种晶体振荡器的测试系统。


背景技术：

2.随着电子技术的快速发展，各种电子设备对晶体振荡器需求量越来越多，但是晶体振荡器的生产测试工序多，流程繁琐，导致产品在各个工序流转频繁，导致成本增加，生产周期延长。
3.现有的晶体振荡器生产测试流程是通信调试-温度测试-老化测试，每个工位都需要上下测试架流转。三个连续工序之间的产品流转，上下架都需要耗费过多的时间和人力。三个工序的测试架测试功能单一，无法完成所有测试项目，设备投入较多。并且由于晶体振荡器对温度比较敏感，常温调试、老化测试会因为环境气候温度的波动，导致测试数据中引入干扰因子，影响产品数据判定。并且测试过程中无法及时监控环境，导致无法保证测试安全。


技术实现要素：

4.本实用新型提供一种晶体振荡器的测试系统，以实现对晶体振荡器的高效测试。
5.本实用新型实施例提供了一种晶体振荡器的测试系统，所述系统包括：控制终端、测试控制装置、测试板、老化室控温装置、加热器件、高低温老化室、烟雾感应器；
6.所述控制终端，与所述测试控制装置和老化室控温装置连接，用于向所述测试控制装置发送测试指令以及向所述老化室控温装置发送温度控制指令，并接收所述测试控制装置反馈的测试数据，根据所述测试数据确定测试结果；
7.所述测试控制装置，与所述测试板连接，用于根据所接收的所述测试指令控制所述测试板工作；
8.所述测试板，与至少一个待测晶体振荡器连接，用于向各所述待测晶体振荡器供电，采集各所述待测晶体振荡器输出的晶体频率信号并反馈给所述测试控制装置，以便所述测试控制装置根据各所述晶体频率信号生成测试数据；
9.所述老化室控温装置，与所述加热器件连接，用于根据所接收的所述温度控制指令控制所述加热器件的工作状态；
10.所述加热器件，用于在工作状态为启动工作时提供热能；
11.所述高低温老化室，用于对所述加热器件、测试版、烟雾感应器和各待测晶体振荡器进行密封；
12.所述烟雾感应器，与所述老化室控温装置连接，用于对所述高低温老化室进行烟雾检测，并将检测结果反馈给所述老化室控温装置。
13.本实用新型实施例提供了一种晶体振荡器的测试系统，包括：控制终端，与测试控制装置和老化室控温装置连接，用于向测试控制装置发送测试指令以及向老化室控温装置发送温度控制指令，并接收测试控制装置反馈的测试数据，根据测试数据确定测试结果；测
试控制装置，与测试板连接，用于根据所接收的测试指令控制测试板工作；测试板，与至少一个待测晶体振荡器连接，用于向各待测晶体振荡器供电，采集各待测晶体振荡器输出的晶体频率信号并反馈给测试控制装置，以便测试控制装置根据各晶体频率信号生成测试数据；老化室控温装置，与加热器件连接，用于根据所接收的温度控制指令控制加热器件的工作状态；加热器件，用于在工作状态为启动工作时提供热能；高低温老化室，用于对加热器件、测试版、烟雾感应器和各待测晶体振荡器进行密封；烟雾感应器，与老化室控温装置连接，用于对高低温老化室进行烟雾检测，并将检测结果反馈给老化室控温装置。通过将不同类型的测试工序集成到同一个测试控制装置，统一由测试控制装置控制测试板进行测试，无需在不同工序中流转，避免了重复上架和下架导致浪费时间和人力的问题。将通信调试、温度测试和老化测试集中在高低温老化室内进行，可以控制室内温度，避免由于环境气候温度波动引入干扰因子，导致数据不准确，影响测试结果的情况发生。通过烟雾感应器进行烟雾检测，可以及时监控高温老化室内是否有火灾发生，保证测试安全。
附图说明
14.图1是本实用新型实施例一中的一种晶体振荡器的测试系统的结构示意图；
15.图2是本实用新型实施例二中的一种晶体振荡器的测试系统的结构示意图。
具体实施方式
16.为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本技术实施例方式作进一步地详细描述。应当明确，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
17.下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本技术相一致的所有实施方式。相反，它们仅是如所附权利要求书中所详述的、本技术的一些方面相一致的装置和方法的例子。
18.在本技术的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序，也不能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。此外，在本技术的描述中，除非另有说明，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，同时存在a和b，单独存在b这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
19.实施例一
20.图1给出了本技术实施例一提供的一种晶体振荡器的测试系统的结构示意图，该系统包括：控制终端101、测试控制装置102、至少一个测试板103、老化室控温装置104、加热器件105、高低温老化室106、烟雾感应器107；
21.控制终端101，与测试控制装置102和老化室控温装置104连接，用于向测试控制装置102发送测试指令以及向老化室控温装置104发送温度控制指令，并接收测试控制装置102反馈的测试数据，根据测试数据确定测试结果；
22.测试控制装置102，与测试板103连接，用于根据所接收的测试指令控制测试板103工作；
23.测试板103，与至少一个待测晶体振荡器201连接，用于向各待测晶体振荡器201供电，采集各待测晶体振荡器201输出的晶体频率信号并反馈给测试控制装置102，以便测试控制装置102根据各晶体频率信号生成测试数据；
24.老化室控温装置104，与加热器件105连接，用于根据所接收的温度控制指令控制加热器件105的工作状态；
25.加热器件105，用于在工作状态为启动工作时提供热能；
26.高低温老化室106，用于对加热器件105、测试版、烟雾感应器107和各待测晶体振荡器201进行密封；
27.烟雾感应器107，与老化室控温装置104连接，用于对高低温老化室106进行烟雾检测，并将检测结果反馈给老化室控温装置104。
28.在本实施例中，控制终端101具体可以理解为具有数据处理能力的计算机设备，例如，pc终端、智能手机、平板电脑等。测试控制装置102具体可以理解为用于测试晶体振荡器的数据处理装置，可以采用微控制单元mcu、上位机等。测试板103具体可以理解为测试晶体振荡器的硬件电路板。高低温老化室106具体可以理解为实现密封功能的密闭空间，由隔热防火材料制作。老化室控温装置104具体可以理解为控制高低温老化室106内温度的数据处理装置。加热器件105具体可以理解为通过工作散发热量的元器件。烟雾感应器107具体可以理解为通过传感器检测烟雾浓度的器件。
29.在本实施例中，测试指令具体可以理解为指示测试控制装置102工作，完成对晶体振荡器测试的计算机控制指令。由于晶体振荡器在进行不同测试时采用的方式以及执行的程序很大程度上是不同的，因此在进行不同类型的测试时，例如，通信测试、温度测试或老化测试，测试指令可以是不同的。温度控制指令具体可以理解为控制高低温老化室106温度的指令。测试数据具体可以理解为测试控制装置102在通过测试板103测试晶体振荡器时采集到的晶体振荡器反馈的数据，例如，晶体振荡器的频率。
30.具体的，控制终端101与测试控制装置102和老化室控温装置104通信连接，在进行晶体振荡器的测试时，可以预先设置测试流程，例如，通过代码脚本的方式将流程以及测试过程中所需的参数预先定义好，然后通过执行脚本进行测试，测试人员可以通过手动触发运行脚本。还可以手动操作控制终端101，实现对晶体振荡器的测试。在测试过程中，控制终端101首先根据当前进行的测试类型生成测试指令，然后将测试指令发送给测试控制装置102，通过测试控制装置102对晶体振荡器进行测试，并接收测试控制装置102反馈的测试数据，通过对测试数据进行分析，确定测试结果。例如，在进行老化测试时，分析一段时间内晶体振荡器的老化漂移(老化速度)是否早正常范围内，若在正常范围内，则可以确定晶体振荡器的测试结果为正常；否则，测试结果为异常。控制终端101根据测试类型生成温度控制指令，通过温度控制指令控制高低温老化室106的室内温度，使高低温老化室106的室温可控，使温度可以达到测试要求。
31.测试控制装置102在接收到测试指令后，启动工作，根据测试指令中包含的信息控制测试板103工作，启动测试。测试过程中，根据测试需求控制测试板103，例如，控制测试板103中的元器件按照要求进行工作。
32.在本实施例中，待测晶体振荡器201具体可以理解为具有测试需求的晶体振荡器。本技术实施例在对晶体振荡器进行测试时，可以同时测试多个待测晶体振荡器201。一个测试板103上可以连接多个待测晶体振荡器201进行测试，在高低温老化室106内可以有一个或者多个测试板103。晶体频率信息具体可以理解为晶体振荡器输出的信号。
33.具体的，各待测晶体振荡器201连接在测试板103上，测试板103向待测晶体振荡器201进行供电，待测晶体振荡器201根据输入的电压进行工作，输出晶体频率信号，并将晶体频率信号反馈给测试控制装置102，测试控制装置102根据各晶体频率信号生成测试数据，测试数据可以包括各待测晶体振荡器201的频率。确定待测晶体振荡器201的频率的方式可以是根据各晶体频率信号与频标源的频率信号进行比对。
34.具体的，老化室控温装置104接收控制终端101发送的温度控制指令，根据温度控制指令确定加热器件105是否需要启动工作。加热器件105的工作状态包括启动工作和停止工作。例如，温度控制指令指示温度需要升高，则控制加热器件105启动工作；温度控制指令指示温度需要降低，则控制加热器件105停止工作。或者，温度控制指令指示高低温老化室106内的温度需达到80℃，但是高低温老化室106内当前温度为30℃，则控制加热器件105启动工作。
35.加热器件105响应于老化室控温装置104的控制启动工作或停止工作，加热器件105在启动工作时产生热量，提供热能。
36.高低温老化室106对加热器件105、测试版、烟雾感应器107和各待测晶体振荡器201进行密封，保证老化室内部环境和外部环境隔离，避免晶体振荡器测试过程中由于环境温度变化引起的测试结果不准确的情况发生。
37.在本实施例中，检测结果可以是烟雾浓度，也可以是在烟雾浓度高于一定阈值时，产生的烟雾报警。烟雾感应器107设置在高低温老化室106中，对高低温老化室106进行烟雾检测，检测是否发生火灾，并将检测结果反馈给老化室控温装置104。反馈检测结果时，可以选择实时反馈，也可以选择仅当检测结果为发生火灾(烟雾浓度超标)时进行反馈。
38.本实用新型实施例提供了一种晶体振荡器的测试系统，包括：控制终端、测试控制装置、测试板、老化室控温装置、加热器件、高低温老化室、烟雾感应器。通过将不同类型的测试工序集成到同一个测试控制装置，统一由测试控制装置控制测试板进行测试，无需在不同工序中流转，避免了重复上架和下架导致浪费时间和人力的问题。将通信调试、温度测试和老化测试集中在高低温老化室内进行，可以控制室内温度，避免由于环境气候温度波动引入干扰因子，导致数据不准确，影响测试结果的情况发生。通过烟雾感应器进行烟雾检测，可以及时监控高温老化室内是否有火灾发生，保证测试安全。
39.实施例二
40.图2为本实用新型实施例二提供的一种晶体振荡器的测试系统的结构示意图。本实用新型实施例以上述实施例为基础进行优化，如图2所示，本实用新型对测试系统进一步优化，该系统还包括：可控排风子系统108；
41.可控排风子系统108，设置在所述高低温老化室106内，与所述老化室控温装置104连接，用于接收并响应所述老化室控温装置104在所述检测结果为烟雾浓度超标时发送的关闭指令。
42.在本实施例中，可控排风子系统108具体可以理解为可通过指令或者手动控制的
用于排风的器件构成的子系统。可控排风子系统108安装在高低温老化室106内，使高低温老化室106的室内空气流通。可控排风子系统108与老化室控温装置104连接。老化室控温装置104在检测结果为烟雾浓度超标时生成并向可控排风子系统108发送关闭指令，控制可控排风子系统108关闭，使内部形成一个密封腔体，防止火势蔓延。
43.进一步地，该系统还包括：至少一个温度传感器109；
44.温度传感器109，设置在高低温老化室106内，与老化室控温装置104连接，用于采集高低温老化室106内的室内温度，并发送给老化室控温装置104。
45.在本实施例中，温度传感器109可以采用任意一种类型的温度传感器109，只要可以保证此类型的温度传感器109的温度采集范围和精度符合要求即可。在高低温老化室106内设置一个或多个温度传感器109，采集高低温老化室106内的室内温度，并发送给与其通信连接的老化室控温装置104。实现对高低温老化室106内的室内温度的实时监控，老化室控温装置104可以根据室内温度控制加热器件105的工作状态或者进行功率调节，使内部环境温度变化可控。
46.进一步地，该系统还包括：制冷器件110；
47.制冷器件110，设置在高低温老化室106内，与老化室控温装置104连接，用于接收并响应老化室控温装置104发送的制冷控制指令。
48.在本实施例中，制冷器件110可以由多个元器件组合，通过配合工作实现制冷。制冷控制指令可以是老化室控温装置104检测到高低温老化室106内温度过高生成的指令，也可以是控制终端101指示老化室控温装置104生成的。制冷器件110设置在高低温老化室106内，接收老化室控温装置104发送的制冷控制指令，启动工作，进行制冷，实现高低温老化室106内温度可控。
49.进一步地，该系统还包括：供电子系统111，用于供电；
50.供电子系统111对晶体震荡器的测试系统中的任意需要供电的装置进行供电，例如，对老化室控温装置104进行供电。
51.进一步地，该系统还包括：测试部分供电控制装置112；
52.测试部分供电控制装置112，与供电子系统111、测试板103以及测试控制装置102连接，用于接收测试控制装置102发送的电压控制指令，根据电压控制指令对供电子系统111输出的电压进行调整，并根据调整后的电压向测试板103供电。
53.在本实施例中，测试部分供电控制装置112具体可以理解为对测试时需要供电的各模块进行供电控制的装置，实现待测晶体振荡器201测试过程中，供电电压、电流的可控。电压控制指令具体可以理解为控制输出电压大小的控制指令。
54.具体的，测试控制装置102或控制终端101根据当前进行的测试类型确定测试板103所需的电压大小，测试控制装置102根据所需的电压大小生成电压控制指令并发送给测试部分供电控制装置112。测试部分供电控制装置112根据电压控制质量对供电子系统111输出的电压进行调整，例如，24v降为5v，根据调整后的电压向测试板103供电。
55.进一步地，测试部分供电控制装置112与老化室控温装置104连接，测试部分供电控制装置112还用于接收并响应老化室控温装置104在室内温度异常时发送的断电指令。
56.具体的，测试部分供电控制装置112与老化室控温装置104通信连接。老化室控温装置104在室内温度异常时生成并发送断电指令，控制测试部分供电控制装置112停止为测
试板103供电。测试部分供电控制装置112响应于断电指令，停止供电。测试部分供电控制装置112还可以向测试控制系统发送指令，提醒测试控制系统结束测试，或者测试控制系统在监测到测试板103断电后，自动结束测试。
57.需要知道的是，本技术在对晶体振荡器进行测试时，测试顺序优先为通信调试、温度测试和老化测试。在进行通信调试时，控制通信调试温度在固定温度点进行调试，测试完成后直接进而高低温温度特征测试，在温度特征测试完成后关闭老化室控温装置104，控制加热器件105停止工作。晶体振荡器在工作过程中会产生一定热量，使高低温老化室106温度稳定，并进入老化测试。因为恒温晶体振荡器的工作原理，需要将自身温度稳定在一个较高的温度点，(75℃以上，具体温度根据产品特性而定)，所以长期老化过程中不需要控制老化房的温度，因为老化房的隔热特性，因晶体振荡器发热导致内部环境温度会慢慢上升并稳定在一个平衡点，这个平衡点会接近晶体振荡器的工作需要温度，这样提高恒温晶体振荡器的工作环境温度，热散失减小，可以降低晶体振荡器的老化工作电流，节省测试成本。
58.本实用新型实施例提供了一种晶体振荡器的测试系统，包括：控制终端、测试控制装置、至少一个测试板、老化室控温装置、加热器件、高低温老化室、烟雾感应器、可控排风子系统、至少一个温度传感器、制冷器件、供电子系统以及测试部分供电控制装置。通过将不同类型的测试工序集成到同一个测试控制装置，统一由测试控制装置控制测试板进行测试，无需在不同工序中流转，避免了重复上架和下架导致浪费时间和人力的问题，同时减少了各类测试设备的投入。将通信调试、温度测试和老化测试集中在高低温老化室内进行，测试过程中环境温度可控，避免由于环境气候温度波动引入干扰因子，导致数据不准确，影响测试结果的情况发生。通过烟雾感应器进行烟雾检测，可以及时监控高温老化室内是否有火灾发生，保证测试安全。
59.注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。