一种表面光源成像尺寸测量装置的制作方法

1.本实用新型涉及瓷砖生产设备技术领域，更具体地说，它涉及一种表面光源成像尺寸测量装置。


背景技术：

2.瓷砖尺码检测设备一般采用传感器或镜头垂直拍照检测法。前者须要借助对钢针反射产生信号反馈，因此钢针尺寸和安装位置须要比较精准，同时负责传送瓷砖的皮带不能比最小规格瓷砖要小，否则无法完成信号反馈。后者瓷砖下方镜头拍照位置也要配有光源及挡光板，传送皮带要比最小规格瓷砖要小，且皮带与瓷砖颜色要有明显色差区别，才有边角阴影产生。
3.当瓷砖规格较多时，两者借助的反射物都会受到机台位置的限制。而且规格幅宽相差大时，会出现瓷砖两侧越出皮带面很多，致瓷砖两侧有下弯现象，影响平整度检测的精度，造成一台检测设备不能同时检测平整度和尺码功能，须分成两台设备完成，直接提高了设备成本，因此还有待改进的空间。


技术实现要素：

4.针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种表面光源成像尺寸测量装置，具有能够在不影响瓷砖平整度检测的前提下对瓷砖的尺码进行检测的优点。
5.本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的：一种表面光源成像尺寸测量装置，包括：机架、用于照射瓷砖边线的光源组件、用于接收瓷砖边缘反射光线的棱镜仓、用于接受棱镜仓反射光线的镜头组件、及控制器；所述棱镜仓的一侧开设有第一导光孔；在所述棱镜仓上且位于与所述第一导光孔相邻的一侧开设有用于接收瓷砖边缘反射光线的第二导光孔；所述棱镜仓设置在所述机架上；所述镜头组件设置在所述机架上；所述镜头组件正对所述第一导光孔；所述光源组件设置在所述棱镜仓上且正对所述第二导光孔；所述光源组件和镜头组件均与所述控制器电连接。
6.可选的，所述棱镜仓包括：遮光外壳和棱镜块；所述遮光外壳设置在所述机架上；所述第一导光孔设置在所述遮光外壳的一侧；所述第二导光孔设置在所述遮光外壳的下端；所述镜头组件设置在所述遮光外壳的上端；所述棱镜块设置在所述遮光外壳内。
7.可选的，所述棱镜块为斜面朝向第一导光孔和第二导光孔的三角棱镜；所述棱镜块上开设有供光源组件透过光线的让位槽。
8.可选的，所述光源组件包括：电源线和led灯；所述电源线与所述led灯电连接；所述电源线与所述控制器电连接。
9.可选的，所述镜头组件包括：镜头和通讯接口；所述镜头设置在所述机架上；所述通讯接口设置在镜头上；所述通讯接口与所述镜头电连接；所述通讯接口与所述控制器电连接。
10.综上所述，本实用新型具有以下有益效果：由于第一导光孔和第二导光孔垂直，光
源组件正对第二导光孔，故光源组件所发出的光不会影响镜头组件的成像，且光源组件、镜头组件一体式设置，能够减少安装占位，并在棱镜仓下方经过瓷砖时，由于光源组件对瓷砖表面进行照射，瓷砖面会将光源组件发出的光进行反射，并在棱镜仓的作用下反射至镜头组件内，而瓷砖收到光源组件的照射，产生对应的阴影投射在传送带上，传送带的表面与瓷砖表面在光源组件的作用下产生明显的光暗界限，镜头组件能够获取该光暗界限并发生至控制器，控制器可通过多个表面光源成像尺寸侧梁装置的镜头组件进行分析计算得到对应的瓷砖尺寸，因此传送带无需小于瓷砖尺寸，使得瓷砖可以平铺在传送带上，故能够在不影响瓷砖平整度检测的前提下对瓷砖的尺码进行检测。
附图说明
11.图1是本实用新型的结构示意图；
12.图2是本实用新型平视角度的结构示意图；
13.图3是本实用新型俯视角度的结构示意图；
14.图4是本实用新型的电路模块图。
15.图中：1、机架；2、光源组件；21、电源线；22、led灯；3、棱镜仓；31、遮光外壳；32、棱镜块；4、镜头组件；41、镜头；42、通讯接口；5、控制器；6、第一导光孔；7、第二导光孔；8、让位槽。
具体实施方式
16.为使本实用新型的目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。附图中给出了本实用新型的若干实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。
17.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
18.在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的，而不是指示或暗示所指装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
19.下面结合附图和实施例，对本实用新型进行详细描述。
20.本实用新型提供了一种表面光源成像尺寸测量装置,如图1-4所示，包括：机架1、
用于照射瓷砖边线的光源组件2、用于接收瓷砖边缘反射光线的棱镜仓3、用于接受棱镜仓3反射光线的镜头组件4、及控制器5；所述棱镜仓3的一侧开设有第一导光孔6；在所述棱镜仓3上且位于与所述第一导光孔6相邻的一侧开设有用于接收瓷砖边缘反射光线的第二导光孔7；所述棱镜仓3设置在所述机架1上；所述镜头组件4设置在所述机架1上；所述镜头组件4正对所述第一导光孔6；所述光源组件2设置在所述棱镜仓3上且正对所述第二导光孔7；所述光源组件2和镜头组件4均与所述控制器5电连接。在实际应用中，棱镜仓3为立方体，且由于第一导光孔6和第二导光孔7垂直，光源组件2正对第二导光孔7，故光源组件2所发出的光不会影响镜头组件4的成像，且光源组件2、镜头组件4一体式设置，能够减少安装占位，并在棱镜仓3下方经过瓷砖时，由于光源组件2对瓷砖表面进行照射，瓷砖面会将光源组件2发出的光进行反射，并在棱镜仓3的作用下反射至镜头组件4内，而瓷砖收到光源组件2的照射，产生对应的阴影投射在传送带上，传送带的表面与瓷砖表面在光源组件2的作用下产生明显的光暗界限，镜头组件4能够获取该光暗界限并发生至控制器5，控制器5可通过多个表面光源成像尺寸侧梁装置的镜头组件4进行分析计算得到对应的瓷砖尺寸，因此传送带无需小于瓷砖尺寸，使得瓷砖可以平铺在传送带上，故能够在不影响瓷砖平整度检测的前提下对瓷砖的尺码进行检测。
21.进一步地，所述棱镜仓3包括：遮光外壳31和棱镜块32；所述遮光外壳31设置在所述机架1上；所述第一导光孔6设置在所述遮光外壳31的一侧；所述第二导光孔7设置在所述遮光外壳31的下端；所述镜头组件4设置在所述遮光外壳31的上端；所述棱镜块32设置在所述遮光外壳31内。遮光外壳31能够限制镜头组件4所能接收的光线，避免镜头组件4受到外界光线的干扰。
22.可选的，所述棱镜块32为斜面朝向第一导光孔6和第二导光孔7的三角棱镜；所述棱镜块32上开设有供光源组件2透过光线的让位槽8。在本实施例中，光源组件2设置在遮光外壳31的一顶点处，棱镜块32为45度角的三角棱镜，且切除棱镜块32上正对光源组件2的棱镜，使得光源组件2发出的光线不会受到棱镜块32的影响而折射。
23.可选地，所述光源组件2包括：电源线21和led灯22；所述电源线21与所述led灯22电连接；所述电源线21与所述控制器5电连接。控制器5通过电源线21对led灯22供电，进而控制led灯22的启闭。
24.进一步地，所述镜头组件4包括：镜头41和通讯接口42；所述镜头41设置在所述机架1上；所述通讯接口42设置在镜头41上；所述通讯接口42与所述镜头41电连接；所述通讯接口42与所述控制器5电连接。镜头41在获取到瓷砖表面与传送带的光暗界限后通过通讯接口42发送至控制器5，方便控制器5进行实时分析。
25.本实用新型的一种表面光源成像尺寸测量装置，能够在不影响瓷砖平整度检测的前提下对瓷砖的尺码进行检测。
26.以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，本实用新型的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本实用新型思路下的技术方案均属于本实用新型的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理前提下的若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。